ZH
EN
ES

Оптические и сканирующие микроскопы

Оптические и сканирующие микроскопы, Всего: 481 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Оптические и сканирующие микроскопы, являются: Цветные металлы, Оптическое оборудование, Воски, битумные материалы и другие нефтепродукты, Линейные и угловые измерения, Аналитическая химия, Словари, Качество воздуха, Оптика и оптические измерения, Станочные системы, Образование, Термодинамика и измерения температуры, Качество, Электронные устройства отображения, Медицинское оборудование, Защита от преступности, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электрические провода и кабели, Обработка поверхности и покрытие, Строительные материалы, Неразрушающий контроль, Механические испытания, Фотография, Анализ размера частиц. просеивание, Микробиология, Краски и лаки, Угли, Продукция текстильной промышленности, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Изделия из железа и стали, Испытание металлов, Керамика, Физика. Химия, Жидкостные энергетические системы, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Ингредиенты краски.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Оптические и сканирующие микроскопы

KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS B ISO 8576-2006(2016) Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS M 2617-2007(2017) Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 15227:2013 Оптика и оптические приборы ― микроскопы ― испытания стереомикроскопов
KS B ISO 15227:2003 Оптика и оптические приборы-Микроскопы-Испытание стереомикроскопов
KS B ISO 15227:2018 Оптика и оптические приборы — Микроскопы — Испытание стереомикроскопов
KS M 2617-2007(2022) Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS B ISO 8576:2006 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Справочная система микроскопии в поляризованном свете
KS B ISO 10934-1:2004 Оптика и оптические приборы－Словарь по микроскопии－Часть 1:Световая микроскопия
KS B ISO 10934-1:2019 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
KS B ISO 8576-2006(2021) Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B ISO 8036-1:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 8036-1:2008 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS B ISO 10934-2-2011(2021) Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
KS B ISO 10934-2-2011(2016) Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
KS B ISO 10934-2:2011 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS B ISO 8578-2016(2021) Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Маркировка объективов и окуляров
KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
KS P ISO 10936-2:2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
KS B ISO 8039:2006 Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS B ISO 8039-2016(2021) Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS B ISO 8039:2016 Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D 2714-2006 Сканирующий зондовый микроскоп. Метод микроскопа боковой силы.
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS B ISO 8040:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Размеры соединений предметных стекол и пазов для пробирок
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS B ISO 12853:2006 Оптика и оптические приборы-Микроскопы-Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 12853-2016(2021) Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 12853:2016 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 15362:2006 Оптика и оптические приборы-Стереомикроскопы-Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 8040-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 15362-2016(2021) Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 8478-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 8478-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS B ISO 15362:2016 Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 8040-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS B ISO 8038-1:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Винтовая резьба для объективов и соответствующих револьверов－Часть 1: Винтовая резьба типа RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма)
KS B ISO 8038-2:2006 Оптика и оптические инструменты. Резьба для объективов микроскопа и револьверов. Часть 2. Тип резьбы M25×0,75 мм.
KS B ISO 8038-2-2006(2016) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы М25 × 0,75 мм.
KS B ISO 8038-2-2006(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы М25 × 0,75 мм.
KS B ISO 10936-1:2006 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 10936-1-2006(2016) Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 10936-1-2006(2021) Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 14880-2:2013 Оптика и фотоника ― Массивы микролинз ― Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта
KS B ISO 14880-2:2008 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
KS B ISO 8038-1-2006(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма).
KS B ISO 8038-1-2006(2016) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма).
KS B ISO 9345-1-2016(2021) Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS I ISO 4407:2017 Силовая часть гидравлической жидкости－Загрязнение жидкости－Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа
KS I ISO 4407-2017(2022) Силовая часть гидравлической жидкости－Загрязнение жидкости－Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа
KS B ISO 9345-1:2006 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-1:2016 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-1-2023 Расстояние изображения оптических и оптических инструментальных микроскопов относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1: длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-2:2006 Оптика и оптические инструменты-Микроскопы:Расстояния изображения относительно механических плоскостей отсчета.Часть 2:Оптические системы с коррекцией на бесконечность
KS B ISO 9345-2:2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS I ISO 8672:2006 Качество воздуха – определение количественной концентрации переносимых по воздуху неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии (метод мембранного фильтра).

Professional Standard - Commodity Inspection, Оптические и сканирующие микроскопы

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 3798-2014 Определение асбеста в строительных и автомобильных материалах. Поляризационный микроскоп.
SN/T 3129.2-2013 Правила проверки оптических приборов при ввозе и вывозе. Часть 2: Биологические микроскопы.
SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Оптические и сканирующие микроскопы

JIS K 2400:2010 Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.
JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 2400 AMD 1:2015 Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии (поправка 1)
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS B 7144:1995 Микроскоп. Соединение конденсаторов проходящего света с муфтами для предметного столика.
JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
JIS B 7132-2:2022 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

International Organization for Standardization (ISO), Оптические и сканирующие микроскопы

ISO 8036:2015 Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 21073:2019 Микроскопы — Конфокальные микроскопы — Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для получения биологических изображений
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 15227:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Испытание стереомикроскопов
ISO 8576:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Эталонная система микроскопии в поляризованном свете
ISO 10934-1:2002 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
ISO 10934:2020 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
ISO 8038:1985 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Резьба для объективов
ISO 10934-2:2007 Оптика и оптические инструменты. Словарь микроскопии. Часть 2. Передовые методы световой микроскопии.
ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
ISO 9344:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Сетки для окуляров
ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO 10937:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Диаметр сменных окуляров
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 11884-1:1998 Оптика и оптические инструменты. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
ISO 8036-1:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии.
ISO 8578:1997/Cor 1:2002 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Маркировка объективов и окуляров; Техническое исправление 1
ISO 8040:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
ISO 8040:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Присоединительные размеры направляющих и пазов для трубок
ISO 10936-2:2001 Оптика и оптические инструменты. Операционные микроскопы. Часть 2. Опасность света от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 8038-2:2001 Оптика и оптические инструменты. Винтовые резьбы для объективов микроскопов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы M25 x 0,75 мм.
ISO 19012-2:2009 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 10935:1996 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Межфазное соединение типа С
ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO 19012-1:2007 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
ISO 15362:1998 Оптика и оптические приборы - Стереомикроскопы - Информация, предоставляемая пользователю
ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 10936-1:2017 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовые матрицы - Часть 1: Словарь; Техническое исправление 2
ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь и общие свойства.
ISO 10936-1:2000 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
ISO 8037-1:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Слайды; Часть 1: Размеры, оптические свойства и маркировка
ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
ISO 8255-1:2011 Микроскопы. Покровные стекла. Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства.
ISO 8255-1:2017 Микроскопы. Покровные стекла. Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства.
ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 8255-1:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Покровные стаканы; Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства.
ISO/CD 4407 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
ISO 9345-1:1996 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
ISO 4407:2002 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 3. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
ISO 9345:2019 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
ISO 8672:1993 Качество воздуха; определение количественной концентрации находящихся в воздухе неорганических волокон методом фазово-контрастной оптической микроскопии; метод мембранного фильтра
ISO 8672:2014 Качество воздуха. Определение количественной концентрации неорганических волокон в воздухе методом фазово-контрастной оптической микроскопии. Метод мембранного фильтра.

British Standards Institution (BSI), Оптические и сканирующие микроскопы

BS ISO 10934:2020 Микроскопы. Словарь по световой микроскопии
BS 7012-10.2:1997 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы.
BS 7012-12:1997 Световые микроскопы. Эталонная система микроскопии поляризованного света
BS ISO 10934-1:2003 Оптика и оптические приборы. Словарь по микроскопии. Световая микроскопия.
19/30387825 DC BS ISO 10934. Микроскопы. Словарь по световой микроскопии
BS 7012-14:1997 Световые микроскопы. Маркировка стереомикроскопов
BS ISO 8036:2015 Отслеживаемые изменения. Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS 7012-10.1:1998 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 21073:2019 Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации
BS 7012-8:1997 Световые микроскопы - Сетки для окуляров
BS ISO 15227:2000 Оптика и оптические приборы - Микроскопы - Испытание стереомикроскопов
BS 7012-1:1998 Световые микроскопы. Спецификация на увеличивающую силу компонентов микроскопа, обеспечивающих получение изображений.
BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
BS ISO 10934-2:2007 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Передовые методы световой микроскопии.
BS 7012-15:1997 Световые микроскопы - Маркировка объективов и окуляров
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
18/30339977 DC BS ISO 21073. Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации
BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Опасность света от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
BS 7012-4.1:1998 Световые микроскопы. Спецификация винтовой резьбы объектива и револьверной насадки микроскопа. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма x 1/36 дюйма)
BS 7012-10.4:1998 Световые микроскопы. Минимальные требования к стереомикроскопам. Информация, предоставляемая пользователю.
BS 7012-6:1998 Световые микроскопы. Спецификация спектральных фильтров
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовая решетка - Словарь
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
BS ISO 8040:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS 7012-11:1998 Световые микроскопы - Информация, предоставляемая пользователю
BS 7012-0:1989 Световые микроскопы. Общее введение
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
BS 7012-3:1997 Световые микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета для трубки длиной 160 мм.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
BS ISO 10936-1:2002 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний
BS 7011 Sec.2.1:1989 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Слайды. Спецификация размеров и оптических свойств
BS ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS EN ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас и общие свойства
BS ISO 10936-1:2000 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний.
BS ISO 8255-1:2017 Отслеживаемые изменения. Микроскопы. Накройте стаканы. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
BS 7012-9:1997 Световые микроскопы. Спецификация для интерфейсного соединения типа C
BS ISO 8255-1:2011 Микроскопы. Накройте стаканы. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства
BS EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний геометрических свойств.
BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS 7011-1-1.1:1998 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Иммерсионные масла. Спецификация на иммерсионные масла общего назначения.
BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 10936-1:2017 Отслеживаемые изменения. Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний
BS 7011-0:1989 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Общее введение
12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
BS 7011-2.2:1998 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Слайды. Спецификация на материалы и качество отделки
BS 7012-13:1997 Световые микроскопы. Интерфейсное соединение для 35-мм зеркальных фотокамер (адаптация Т-образной резьбы)
BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния визуализации, связанные с механическими базовыми плоскостями. Оптические системы с коррекцией на бесконечность
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
BS 7011-2.1:1989 Расходные принадлежности для световых микроскопов - Слайды - Спецификация размеров и оптических свойств
BS ISO 4407:2002 Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Оптические и сканирующие микроскопы

ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM E1813-96e1 Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2002) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E1813-96(2007) Стандартная практика измерения и регистрации формы кончика зонда в сканирующей зондовой микроскопии
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM D8075-16 Стандартное руководство по классификации микроструктурных и микротекстурных особенностей, наблюдаемых на оптических микрофотографиях графита
ASTM D8075-16(2021) Стандартное руководство по классификации микроструктурных и микротекстурных особенностей, наблюдаемых на оптических микрофотографиях графита
ASTM E1951-98 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-02 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-01 Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM E1951-14(2019) Стандартное руководство по калибровке сеток и увеличений светового микроскопа
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM F1438-93(1999) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1438-93(2020) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM F1438-93(2012) Стандартный метод испытаний для определения шероховатости поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии компонентов газораспределительной системы
ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии

PT-IPQ, Оптические и сканирующие микроскопы

E E 15-1971 Оптический микроскоп

Military Standards (MIL-STD), Оптические и сканирующие микроскопы

DOD A-A-54970-1994 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ
DOD A-A-54868-1993 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ СТЕРЕОСКОПИЧЕСКИЙ
DOD A-A-50852 A-1985 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ БИНОКЛЯРНЫЙ
DOD A-A-51796 A-1991 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ (БИНОКЛЯРНЫЙ)
DOD A-A-54386-1991 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ (БИНОКЛЯРНЫЙ, СВЕТЛОПОЛЕ)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Оптические и сканирующие микроскопы

GB/T 27668-2023 Терминология световой микроскопии микроскопа
GB/T 26600-2011 Микроскопы. Иммерсионные жидкости для световой микроскопии.
GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)
GB/T 20082-2006 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.

KR-KS, Оптические и сканирующие микроскопы

KS B ISO 15227-2018 Оптика и оптические приборы — Микроскопы — Испытание стереомикроскопов
KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS B ISO 10934-1-2019 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
KS B ISO 8576-2023 Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете.
KS B ISO 8036-1-2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Часть 1: Иммерсионное масло для общего использования в световой микроскопии
KS B ISO 8578-2016 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Маркировка объективов и окуляров
KS B ISO 8039-2016 Оптика и оптические приборы Микроскопы Увеличение
KS P ISO 10936-2-2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 12853-2016 Оптика и оптические приборы－Микроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
KS B ISO 15362-2016 Оптика и оптические приборы－Стереомикроскопы－Информация, предоставляемая пользователю
KS B ISO 8040-2023 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
KS K 5578-2023 Обнаружение волокон перьев сухопутных птиц в оперении — Метод световой микроскопии
KS B ISO 10936-1-2023 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
KS B ISO 8038-2-2023 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 2. Тип винтовой резьбы М25 × 0,75 мм.
KS B ISO 8038-1-2023 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма × 1/36 дюйма).
KS I ISO 4407-2017 Силовая часть гидравлической жидкости－Загрязнение жидкости－Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа
KS B ISO 9345-2-2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-2-2023 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

German Institute for Standardization, Оптические и сканирующие микроскопы

DIN ISO 8576:2002-06 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете (ISO 8576:1996)
DIN ISO 8577:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Спектральные фильтры (ISO 8577:1997).
DIN 58629-1:2006 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия.
DIN ISO 8576:2002 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Эталонная система микроскопии в поляризованном свете (ISO 8576:1996)
DIN ISO 10937:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Диаметр сменных окуляров (ISO 10937:2000)
DIN ISO 8040:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов для пробирок (ISO 8040:2001)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN ISO 12853:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Информация, предоставляемая пользователю (ISO 12853:1997)
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN 58959-4:1997 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
DIN ISO 8038-2:2006 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Резьба для объективов и револьверов. Часть 2. Тип резьбы M 25 x 0,75 мм (ISO 8038-2:2001); Английская версия DIN ISO 8038-2:2006.
DIN 58959-4:1997-06 Менеджмент качества в медицинской микробиологии. Часть 4. Требования к исследованиям с использованием световых микроскопов
DIN ISO 8038-1:2006 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Винтовые резьбы для объективов и соответствующих револьверов. Часть 1. Тип винтовой резьбы RMS (4/5 дюйма x 1/36 дюйма) (ISO 8038-1:1997); Английская версия DIN ISO 8038-1. :2006
DIN ISO 8037-1:2003 Оптика и оптические приборы - Микроскопы; Слайды. Часть 1. Размеры, оптические свойства и маркировка (ISO 8037-1:1986)
DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта (ISO 14880-2:2006); Английская версия DIN EN ISO 14880-2:2007-03
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
DIN ISO 8037-1:2003-05 Оптика и оптические приборы - Микроскопы; Слайды. Часть 1. Размеры, оптические свойства и маркировка (ISO 8037-1:1986)
DIN EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств (ISO 14880-4:2006). Английская версия DIN EN ISO 14880-4:2006-08.
DIN ISO 9345-2:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность (ISO 9345-2:2003)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Оптические и сканирующие микроскопы

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

Professional Standard - Machinery, Оптические и сканирующие микроскопы

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 9333-1999 Микроскопы. Иммерсионное масло общего назначения в световой микроскопии.
JB/T 8230.1-1999 Световой микроскоп.Словарь
JB/T 7398.2-1994 Размеры оптического соединения микроскопа

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Оптические и сканирующие микроскопы

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Оптические и сканирующие микроскопы

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

Defense Logistics Agency, Оптические и сканирующие микроскопы

DLA MIL-M-37869-1978 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ БИНОКЛЯРНЫЙ
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.
DLA A-A-50207 A-1988 МИКРОСКОП ОПТИЧЕСКИЙ: МОНОКУЛЯРНЫЙ, ФИКСИРОВАННЫЙ ФОКУС, КАРМАННОГО ТИПА, УВЕЛИЧЕНИЕ ОТ 40Х ДО 60Х.

机械工业部, Оптические и сканирующие микроскопы

JB/T 8230.1-1995 Терминология световой микроскопии

Association Francaise de Normalisation, Оптические и сканирующие микроскопы

NF S10-500*NF ISO 21073:2020 Микроскопы - Конфокальные микроскопы - Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологических изображений
NF ISO 21073:2020 Микроскопы - Конфокальные микроскопы - Оптические данные конфокальных флуоресцентных микроскопов для биологических изображений
X11-660:1983 Анализ размера частиц методом оптического микроскопа. Общие показания к микроскопу.
NF X11-660:1983 Размер частиц - Анализ размера частиц методом оптической микроскопии - Общие сведения о микроскопе.
NF S12-023:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. ПРИСОЕДИНИТЕЛЬНЫЕ РАЗМЕРЫ ТРУБНЫХ НАПРАВЛЯЮЩИХ И ТРУБНЫХ ПНЕВ.
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
NF X11-661:1990 Анализ размера частиц. Определение размера частиц порошков. Метод оптического микроскопа.
NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
NF S12-024-1:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. ПОКРЫТИЕ СТЕКЛА. ЧАСТЬ 1: ДОПУСКИ НА РАЗМЕРЫ, ТОЛЩИНА И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА.
NF S10-132-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1: словарь и общие свойства.
NF S12-021-1:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. СЛАЙДЫ. ЧАСТЬ 1: РАЗМЕРЫ, ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА И МАРКИРОВКА.
NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фонотика - Массивы микролинз - Часть 4: методы испытаний геометрических свойств.
FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Professional Standard - Medicine, Оптические и сканирующие микроскопы

YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов

Professional Standard - Education, Оптические и сканирующие микроскопы

JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

Group Standards of the People's Republic of China, Оптические и сканирующие микроскопы

T/QGCML 1940-2023

RO-ASRO, Оптические и сканирующие микроскопы

STAS 6851/2-1975 МИКРОСКОПЫ Основные оптические размеры
STAS 7353/4-1982 МИКРОСКОПЫ Основные оптические размеры
STAS 7353/5-1982 МИКРОСКОПЫ Основные оптические параметры
STAS SR ISO 8040 Оптика и дополнительные инструменты. Микроскопы. Присоединительные размеры предметных стекол и слотов для пробирок.
STAS SR ISO 8037-1:1995 Оптика и оптические приборы Микроскопы. Слайды Часть 1: Размеры, оптические свойства и маркировка
STAS SR ISO 8255-1:1995 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Защитные стекла Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства

RU-GOST R, Оптические и сканирующие микроскопы

GOST 4.451-1986 Система индексов качества продукции. Световые микроскопы. Номенклатура индексов
GOST 28489-1990 Световые микроскопы. Понятия и определения
GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST 29214-1991 Оптика и оптические приборы. Микроскопы. Присоединительные размеры направляющих и пазов для трубок
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST R 56169-2014 Оптика и оптические приборы. Операционный микроскоп. Требования и методы испытаний
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
GOST 15114-1978 Телескопическая система для оптических приборов. Визуальный метод определения пределов разрешения
GOST ISO 4407-2006 Промышленная чистота. Определение загрязненности жидкости счетным методом с использованием оптического микроскопа
GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

PL-PKN, Оптические и сканирующие микроскопы

PN N53040-1988 Световые микроскопы Оптико-механические размеры
PN H04951-1986 Порошковая металлургия. Определение крупности частиц порошка методом оптического микроскопа.
PN-ISO 4407-2021-03 P Гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.

Professional Standard - Petroleum, Оптические и сканирующие микроскопы

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Оптические и сканирующие микроскопы

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

国家能源局, Оптические и сканирующие микроскопы

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Оптические и сканирующие микроскопы

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Judicatory, Оптические и сканирующие микроскопы

SF/T 0139-2023

IN-BIS, Оптические и сканирующие микроскопы

IS 5258-1969 Определение размера частиц порошка методом оптической микроскопии

Professional Standard - Public Safety Standards, Оптические и сканирующие микроскопы

GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Danish Standards Foundation, Оптические и сканирующие микроскопы

DS/ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

TIA - Telecommunications Industry Association, Оптические и сканирующие микроскопы

TIA-573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
TIA/EIA-573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
EIA-546A000-1989 Технические характеристики полевого портативного оптического микроскопа для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств

SE-SIS, Оптические и сканирующие микроскопы

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), Оптические и сканирующие микроскопы

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника. Микролинзовая решетка. Часть 1. Словарь.
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
EN ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.

American National Standards Institute （ANSI), Оптические и сканирующие микроскопы

ANSI/TIA/EIA 573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии

工业和信息化部, Оптические и сканирующие микроскопы

SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

ES-UNE, Оптические и сканирующие микроскопы

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)

未注明发布机构, Оптические и сканирующие микроскопы

JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.

Association of German Mechanical Engineers, Оптические и сканирующие микроскопы

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем
VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
DVS 2310-1-1984 Инструкция по изготовлению шлифов и оценке термонапыленных слоев под светооптическим микроскопом
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.

Professional Standard - Aviation, Оптические и сканирующие микроскопы

HB/Z 110-1986 Технические инструкции по дисплею наблюдения оптического микроскопа для разрушения плексигласа

AENOR, Оптические и сканирующие микроскопы

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Оптические и сканирующие микроскопы

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

Standard Association of Australia （SAA）, Оптические и сканирующие микроскопы

AS 2856.1:2000(R2013) Подготовка проб угля для падающей световой микроскопии петрографии угля.
AS 2856.1:2000 Петрография угля. Подготовка проб угля для микроскопии падающего света.

AT-ON, Оптические и сканирующие микроскопы

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, Оптические и сканирующие микроскопы

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Indonesia Standards, Оптические и сканирующие микроскопы

SNI ISO 10936-1:2008 Микроскоп для хирургии. Часть 1. Технические характеристики и метод испытаний.

ZA-SANS, Оптические и сканирующие микроскопы

SANS 6154:2006 Стеклосодержание гранулированного металлургического шлака (метод микроскопии в проходящем свете)

GOSTR, Оптические и сканирующие микроскопы

PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

未注明发布机构, Оптические и сканирующие микроскопы

JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.

VN-TCVN, Оптические и сканирующие микроскопы

TCVN 6504-1999 Качество воздуха.Определение количественной концентрации неорганических волокон в воздухе методом фазово-контрастной оптической микроскопии.Мембранный фильтрационный метод.