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espectroscopia fotoelectrónica xps
espectroscopia fotoelectrónica xps, Total: 9 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en espectroscopia fotoelectrónica xps son: Química analítica.
Association Francaise de Normalisation, espectroscopia fotoelectrónica xps
- NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).
British Standards Institution (BSI), espectroscopia fotoelectrónica xps
- BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- BS ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
International Organization for Standardization (ISO), espectroscopia fotoelectrónica xps
- ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o densidad de corriente para el perfilado de profundidad en AES y XPS
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, espectroscopia fotoelectrónica xps
- GB/T 33502-2017 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS)
RU-GOST R, espectroscopia fotoelectrónica xps
- GOST R ISO 16243-2016 Sistema estatal para asegurar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
American Society for Testing and Materials (ASTM), espectroscopia fotoelectrónica xps
- ASTM E2735-13 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)