ZH
EN
ES
фотоэлектронная спектроскопия XPS
фотоэлектронная спектроскопия XPS, Всего: 9 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к фотоэлектронная спектроскопия XPS, являются: Аналитическая химия.
Association Francaise de Normalisation, фотоэлектронная спектроскопия XPS
- NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
British Standards Institution (BSI), фотоэлектронная спектроскопия XPS
- BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
- BS ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
International Organization for Standardization (ISO), фотоэлектронная спектроскопия XPS
- ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
- ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, фотоэлектронная спектроскопия XPS
- GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
RU-GOST R, фотоэлектронная спектроскопия XPS
- GOST R ISO 16243-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
American Society for Testing and Materials (ASTM), фотоэлектронная спектроскопия XPS
- ASTM E2735-13 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)