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表面仪 表面 分析
本专题涉及表面仪 表面 分析的标准有500条。
国际标准分类中，表面仪 表面 分析涉及到化工设备、分析化学、词汇、长度和角度测量、信息技术应用、声学和声学测量、光学和光学测量、道路工程、电工器件、建筑物中的设施、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、造船和海上构筑物综合、轴承、试验、糖、糖制品、淀粉、太阳能工程、化工产品、电子显示器件、教育、辐射测量、半导体分立器件、计量学和测量综合、电工和电子试验、辐射防护、电学、磁学、电和磁的测量、玻璃、IT终端和其他外围设备、热力学和温度测量、工业自动化系统、环境试验、真空技术、建筑材料、冶金设备、表面处理和镀涂、运动设备和设施、烟草、烟草制品和烟草工业设备、机床装置、无损检测、核能工程。
在中国标准分类中，表面仪 表面 分析涉及到投影器、幻灯机、、化工专用仪器仪表、物理学与力学、量具与量仪、基础标准与通用方法、实验室基础设备、化学助剂、化学、公路工程、经济管理、计算机应用、滑动轴承、仪器、仪表用材料和元件、作业设备与仪器仪表、筑路材料、太阳能、加工工艺综合、电离辐射计量、教学专用仪器、地球科学仪器、通用电子测量仪器设备及系统、电测模拟指示仪表、其他物质成份分析仪器、辐射防护监测与评价、放大镜与显微镜、环境监测仪器及其成套装置、辐射防护仪器、物性分析仪器、辐射防护与监测综合、放射性物质与放射强度分析测试方法、计量综合、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、放射源、铸造、表面活性剂基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、特种玻璃、温度与压力仪表、显示记录仪表、工业自动化与控制装置综合、真空技术与设备、测绘综合、特殊炭素材料、供气器材设备、材料防护、体育设施及器械、半金属及半导体材料分析方法、制烟机械、长度计量。
美国国防后勤局，关于表面仪 表面 分析的标准
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767-1983 表面光洁度分析仪
中国团体标准，关于表面仪 表面 分析的标准
- T/ZSA 110-2022 比表面积及孔径分析仪
- T/HBJLXH 009-2023 表面振动压实仪校准方法
- T/GDAQI 102-2023 筛查用红外人体表面温度测量仪
行业标准-化工，关于表面仪 表面 分析的标准
- HG/T 6138-2023 比表面积及孔径分析仪
韩国科技标准局，关于表面仪 表面 分析的标准
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
- KS D ISO 18115:2006 表面化学分析.词汇
- KS D ISO 18115-2006(2021) 表面化学分析词汇
- KS D ISO 18115-2006(2016) 表面化学分析词汇
- KS D ISO 18115-2021 表面化学分析 词汇
- KS B 0502-1976 表面粗糙度测量仪器（表面粗糙度指示法）
- KS D ISO 14975:2011 表面化学分析.信息格式
- KS D ISO 14975-2011(2016) 表面化学分析信息格式
- KS D ISO 14975-2011(2021) 表面化学分析信息格式
- KS D ISO 14975-2021 表面化学分析 信息格式
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO TR 15969-2011(2021) 表面化学分析深度剖面溅射深度测量
- KS D ISO TR 15969-2011(2016) 表面化学分析深度剖面测量溅射深度
- KS D ISO 17973-2021 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准
- KS D ISO 14976:2011 表面化学分析.数据传输格式
- KS C IEC 61725-2005(2020) 日常太阳能剖面分析表达式
- KS D ISO 14976-2011(2016) 表面化学分析数据传输格式
- KS D ISO 14976-2011(2021) 表面化学分析数据传输格式
- KS D ISO 14976-2021 表面化学分析 数据传输格式
- KS C IEC 61725-2020 每日太阳剖面的分析表达式
- KS D ISO TR 15969:2011 表面化学分析.深度剖面.溅涂深度的测量
- KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正
- KS D ISO TR 15969-2021 表面化学分析 深度分析 溅射深度测量
- KS B 0501-2001 针式表面粗糙度测定仪
- KS A 4441-2001 放射性表面污染测量仪
- KS D ISO 19319-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析仪观察到的样品面积的测定
- KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化学分析——中分辨率俄歇电子光谱仪——元素分析用能标的校准
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 15471-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数说明
- KS A 4441-2001(2011) 便携式放射性表面污染仪
- KS A 4039-1982 闪烁校准表面污染监测仪
- KS A ISO 7503-2-2003(2018) 表面污染测定 第二部分 氚表面污染
- KS D ISO 17973:2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- KS C IEC 61554-2013(2018) 面板安装设备电测量仪表面板安装尺寸
- KS B 0506-1975 光干涉式表面粗糙度测定仪
- KS B 0506-2016 干涉法测量表面粗糙度仪器
- KS B 0503-1976 表面粗糙度测量仪器（光切法）
- KS B 0505-1975 表面粗糙度测量仪器（电容法）
- KS D ISO 17974-2021 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准
- KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述
- KS D ISO 15470-2020 表面化学分析 X射线光电子能谱 所选仪器性能参数说明
- KS A ISO 7503-2:2003 表面污染的评估.第2部分:氚的表面污染
- KS D ISO 14706:2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
- KS C IEC 61207-6-2019 气体分析仪性能表示 第6部分：光度分析仪
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS B 0506-2021 干涉法测量表面粗糙度的仪器
- KS D ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS B ISO 25178-1:2017 几何产品规格（Gps） - 表面纹理:面积 - 第1部分:表面纹理指示
- KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化学分析——高分辨率俄歇电子光谱仪——元素和化学状态分析用能标的校准
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
- KS C IEC 61207-6-2014(2019) 气体分析仪的性能表达 - 第6部分:光度分析仪
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS M ISO 894-2007(2018) 表面活性剂工业烷基硫酸钠分析方法
- KS M ISO 893-2007(2018) 表面活性剂工业烷烃磺酸盐分析方法
- KS M ISO 893-2023 表面活性剂 工业烷烃磺酸盐 分析方法
- KS B 0162-1999 表面粗糙度术语.第1部分:表面及粗糙度变数
- KS B 0162-1999(2009) 表面粗糙度 - 术语 - 第1部分:表面和粗糙度参数
- KS B ISO 25178-1-2022 产品几何规范（GPS） 表面纹理：面积 第1部分：表面纹理的指示
- KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS B 0501-2021 用触针法测量表面粗糙度的仪器
- KS B 0506-2016(2021) 用干涉法测量表面粗糙度的仪器
- KS B 0504-1975 表面粗糙度测量仪器（nf粗糙度法）
- KS M ISO 456:2007 表面活性剂.肥皂分析.游离苛性碱的测定
- KS M ISO 893:2007 表面活性剂.工业用链烷磺酸钠.分析方法
- KS M ISO 456-2007(2017) 表面活性剂 - 肥皂分析 - 游离苛性碱的含量
- KS M ISO 895-2007(2018) 表面活性剂工业仲烷基硫酸钠分析方法
- KS M ISO 456-2007(2022) 表面活性剂－肥皂分析－游离苛性碱的测定
- KS M ISO 894-2023 表面活性剂 工业伯烷基硫酸钠 分析方法
- KS M ISO 895-2023 表面活性剂 工业仲烷基硫酸钠 分析方法
- KS D ISO 17974:2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
- KS B ISO 25178-1-2017(2022) 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:区域.第1部分:表面结构的表示
- KS A 4614-2006(2011) 测量仪利用电离辐射的表面的容器
- KS B 0501-2016 触针法表面粗糙度测量仪器轮廓法
- KS A 4614-1985 测量仪利用电离辐射的表面的容器
国际卡车和发动机联合会（US-INTERN改名为US-NAVISTAR)，关于表面仪 表面 分析的标准
- NAVISTAR CEMS DT-14-2009 通过 ALSA 分析仪定义表面波纹度
- NAVISTAR CEMS DT-14-2016 VOID 通过 ALSA 分析仪定义表面波纹度
KR-KS，关于表面仪 表面 分析的标准
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
- KS D ISO 14707-2003(2023) 表面化学分析-辉光放电发射光谱仪（GD-OES）-简介
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
- KS B ISO 25178-1-2017 几何产品规格（Gps） - 表面纹理:面积 - 第1部分:表面纹理指示
- KS M ISO 893-2007(2023) 表面活性剂工业烷烃磺酸盐分析方法
- KS M ISO 894-2007(2023) 表面活性剂工业伯烷基硫酸钠分析方法
- KS M ISO 895-2007(2023) 表面活性剂工业仲烷基硫酸钠分析方法
国家质检总局，关于表面仪 表面 分析的标准
- GB/T 13592-1992 表面分析术语
- GB/T 22461-2008 表面化学分析.词汇
- GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 21007-2007 表面化学分析 信息格式
- GB/T 28894-2012 表面化学分析.分析前样品的处理
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 28892-2024 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述
- GB/T 19499-2004 表面化学分析 数据传输格式
- GB/T 29732-2013 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 29557-2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
- GB/T 15222-1994 表面污染测定 第2部分 氚表面污染
- GB/T 14056.2-2011 表面污染测定.第2部分：氚表面污染
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准
- GB/T 8997-2008 α、β表面污染测量仪与监测仪的校准
- GB 5202-1985 α、β 和α-β表面污染测量仪与监测仪
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 19146-2010 红外人体表面温度快速筛检仪
- GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
- GB/T 30815-2014 表面化学分析 分析样品的制备和安装方法指南
- GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
国际标准化组织，关于表面仪 表面 分析的标准
- ISO/DIS 20579-2:2024 表面化学分析
- ISO 18118:2022 表面化学分析
- ISO/CD 20289:2017 表面化学分析
- ISO/CD 20579-2:2023 表面化学分析
- ISO/CD 24237:2023 表面化学分析
- ISO/CD 13473-4 利用表面轮廓表征路面结构 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
- ISO 18115:2001 表面化学分析 词汇
- ISO/TS 13473-4:2008 表面外观路面结构的特性.第4部分:表面轮廓的光谱分析
- ISO/DIS 13473-4 利用表面轮廓表征路面结构 第4部分：表面轮廓的三分之一倍频程光谱分析
- ISO 18117:2009 表面化学分析.样品处理前分析
- ISO 14975:2000 表面化学分析 信息格式
- ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 - 纳米结构材料的表征
- ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准
- ISO 18115:2001/Amd 1:2006 表面化学分析.词汇.修改件1
- ISO 18115:2001/Amd 2:2007 表面化学分析.词汇.修改件2
- ISO 14976:1998 表面化学分析 数据传输格式
- ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化学分析.硅晶片加工标准物质表面元素收集用化学方法和及其光分析仪(TXRF)光谱学测定.修改件1
- ISO 24465:2023 表面化学分析.表面等离子体共振装置最小可检测性的测定
- ISO 18115-3:2022 表面化学分析.词汇.第3部分:光学界面分析中使用的术语
- ISO/TR 15969:2021 表面化学分析 - 深度分析 - 溅射深度的测量
- ISO/CD 17973 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准
- ISO 7503-2:1988 表面污染评价 第2部分:氚表面污染
- ISO/PAS 13473-6:2021 利用表面轮廓表征路面结构. 第6部分: 路面结构测量用激光轮廓仪性能的验证
- ISO 17973:2016 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- ISO 17973:2002 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 20289:2018 表面化学分析.水的全反射X射线荧光分析
- ISO 18116:2005 表面化学分析.分析用试样的制备和装配指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 25178-1:2016 几何产品技术规格 (GPS). 表面结构: 平面式. 第1部分: 表面结构的表示
- ISO/TR 14187:2011 表面化学分析.纳米结构材料的特性
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO/TR 22335:2007 表面化学分析.深度剖面.溅射速率测量:使用机械光针式轮廓仪的网眼复制法
- ISO 15471:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 25178-6:2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:表面的.第6部分:表面纹理测量方法的分类
- ISO/TR 15969:2001 表面化学分析 深度描述 溅射深度测量
- ISO/TS 15338:2020 表面化学分析 - 辉光放电质谱 - 操作程序
- ISO 893:1978 表面活性剂 工业烷烃磺酸钠 分析方法
- ISO 893:1989 表面活性剂 工业烷烃磺酸盐 分析方法
- ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
- ISO 14706:2000 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
- ISO 14706:2014 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
- ISO 25178-2:2012 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:表面的.第2部分:术语,定义和表面纹理参数
- ISO 13473-3:2002 表面外观路面结构的特性.第3部分:轮廓测定仪的规范和分类
- ISO 894:1977 表面活性剂 工业伯烷基硫酸钠 分析方法
- ISO 895:1977 表面活性剂 工业仲烷基硫酸钠 分析方法
- ISO 17974:2002 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
AT-ON，关于表面仪 表面 分析的标准
- ONORM M 1113-1982 技术曲面．表面分析方法
- ONORM M 1114-1982 用接触式（触针）仪器测量表面粗糙度
RO-ASRO，关于表面仪 表面 分析的标准
- STAS 11195-1987 表面剂分析方法
- SR 110-9-1995 糖．分析方法．测定表面质量
- STAS 5730/4-1987 表面情况．使用触针式仪器测定表面粗糙度的方法
- STAS SR CEI 776-1983 逻辑分析仪表现
- STAS ISO 1879:1993 剖面法测量表面粗糙度的仪器．词汇
- STAS SR ISO 7503-2:1996 表面污染的评价．第2部分：氚表面污染
- STAS SR ISO 3274:1995 轮廓发对表面粗糙度进行测量的仪器．轮廓顺序转换的接触（触针）式仪器．接触表面测量仪，系统M
日本工业标准调查会，关于表面仪 表面 分析的标准
- JIS B 0651:1996 表面纹理.表面纹理评定用仪器.断面法
- JIS K 0147:2004 表面化学分析.词汇
- JIS K 0142:2000 表面化学分析.信息格式
- JIS K 0141:2000 表面化学分析.数据传送格式
- JIS B 0681-6:2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 表面. 第6部分: 表面纹理测量方法分类
- JIS K 0165:2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- JIS K 0181:2021 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
- JIS K 0154:2017 表面化学分析. 分析用试样制备和安装指南
- JIS B 0660:1998 表面粗糙度.术语.第1部分:表面及其参数
- JIS K 0161:2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K 0164:2023 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度分析方法
- JIS B 0681-1:2023 产品几何规格（GPS） 表面纹理：面积 第1部分：表面纹理的指示
- JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K 0148:2005 表面化学分析.用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面主要污染物
- JIS K 0166:2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
YU-JUS，关于表面仪 表面 分析的标准
- JUS H.E0.005-1979 表面活性剂．词汇．分析列表
- JUS M.A1.024-1981 工业产品表面粗糙程度．刮痕表面的分类
- JUS M.A1.027-1981 工业产品表面粗糙程度．刮痕表面的分类
- JUS M.A1.032-1980 仪器分类及表面加工几何参数测量及估测仪器
GSO，关于表面仪 表面 分析的标准
- GSO ISO 14976:2013 表面化学分析 数据传输表
- GSO ISO/TS 13473-4:2014 使用表面轮廓表示路面结构 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- GSO ISO 14975:2013 表面化学分析 数据模型
- GSO ISO/TR 14187:2013 表面化学分析 纳米结构材料的表征
- GSO ISO 7503-2:2016 表面污染评估 第2部分：氚表面污染
- GSO ISO 10810:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析说明
- GSO IEC 61207-3:2014 气体分析仪 性能表达 第3部分：顺磁氧分析仪
- GSO ISO 15472:2013 表面化学分析 X射线光谱 能量计校准
- GSO ISO 25178-1:2021 产品几何规范 (GPS) 表面纹理：面积 第1部分：表面纹理的指示
- GSO ISO 893:2015 表面活性物质烷烃磺酸盐技术分析方法
- GSO ISO 13424:2015 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果报告
德国标准化学会，关于表面仪 表面 分析的标准
- DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 使用表面轮廓表征路面纹理 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- DIN ISO/TS 13473-4:2009 通过使用表面轮廓表征路面结构.第4部分:表面轮廓的光谱分析
- DIN VDE 0603-2-1:2017 仪表面板. 第2-1部分: 最高63 A的直接测量用仪表面板
- DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 仪表面板 第 3-3 部分：仪表的端子连接器；勘误表 1
- DIN ISO 13473-3:2004-07 使用表面轮廓表征路面纹理 第3部分：轮廓仪的规格和分类
- DIN ISO 13473-3:2004 用表面外观表征路面结构.第3部分:轮廓测定仪的规范和分类
- DIN 43700:1982 测量与控制.仪表板上安装的测量和控制仪表.标称面板正面尺寸和截面尺寸
- DIN VDE 0603-3-2:2017 仪表面板. 第3 - 2部分：家用电表安装连接装置
- DIN EN 61098:2008 辐射防护仪器仪表.固定式个人表面污染监测装置
- DIN ISO 13473-2:2004 使用表面外观表征路面结构.第2部分:与路面结构外观分析相关的术语和基本要求
- DIN ISO 13473-2:2004-07 使用表面轮廓表征路面纹理 第2部分：与路面纹理轮廓分析相关的术语和基本要求
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN EN 14670:2005 表面活性剂.十二基硫酸钠.分析方法
- DIN EN 61725:1998-03 每日太阳剖面的分析表达式 (IEC 61725:1997)
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- DIN EN 61207-6:1995 气体分析仪性能表示.第6部分:光度分析仪
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