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Herramientas de microscopía electrónica
Herramientas de microscopía electrónica, Total: 125 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Herramientas de microscopía electrónica son: Calidad del aire, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Metrología y medición en general., Vocabularios, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Educación, Conjuntos de componentes electrónicos., Medidas lineales y angulares., Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general., pruebas de metales, ingeniería de energía nuclear, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dibujos tecnicos, Tratamiento superficial y revestimiento., Dispositivos de visualización electrónica., Materiales para el refuerzo de composites..
American Society for Testing and Materials (ASTM), Herramientas de microscopía electrónica
- ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
- ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E3143-18a Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
- ASTM E3143-18 Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
- ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E3143-18b Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
- ASTM D7201-06(2020) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Herramientas de microscopía electrónica
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- KS B 5602-1995(2021) Microscopios para fabricantes de herramientas
- KS B 5602-1995(2016) Microscopios para fabricantes de herramientas
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- KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
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- KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
- KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
- KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
Professional Standard - Machinery, Herramientas de microscopía electrónica
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- JB/T 10573-2013 microscopio herramienta
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- JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
- JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
- JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Herramientas de microscopía electrónica
全国标准信息公共服务平台, Herramientas de microscopía electrónica
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- JJG(航天) 50-1988 Reglamento de calibración para microscopios de herramientas
- JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
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- JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
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- GOST 8.003-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de fabricación de herramientas. Procedimiento de verificación
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- ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
- ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
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- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
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- JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
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- BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
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KR-KS, Herramientas de microscopía electrónica
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中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Herramientas de microscopía electrónica
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General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Herramientas de microscopía electrónica
- GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
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- GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
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国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Herramientas de microscopía electrónica
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Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Herramientas de microscopía electrónica
Professional Standard - Petroleum, Herramientas de microscopía electrónica
- SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Herramientas de microscopía electrónica
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(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Herramientas de microscopía electrónica
International Electrotechnical Commission (IEC), Herramientas de microscopía electrónica
- IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.
国家能源局, Herramientas de microscopía electrónica
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
German Institute for Standardization, Herramientas de microscopía electrónica
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
工业和信息化部, Herramientas de microscopía electrónica
- YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Herramientas de microscopía electrónica
- DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno
Professional Standard - Nuclear Industry, Herramientas de microscopía electrónica
- EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante
Professional Standard - Judicatory, Herramientas de microscopía electrónica
SE-SIS, Herramientas de microscopía electrónica
European Committee for Standardization (CEN), Herramientas de microscopía electrónica
- EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
Danish Standards Foundation, Herramientas de microscopía electrónica