ZH
EN
ES

Инструменты электронной микроскопии

Инструменты электронной микроскопии, Всего: 125 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Инструменты электронной микроскопии, являются: Качество воздуха, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Метрология и измерения в целом, Словари, Сварка, пайка и пайка, Образование, Электронные компоненты в сборе, Линейные и угловые измерения, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные компоненты в целом, Испытание металлов, Атомная энергетика, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Электронные устройства отображения, Материалы для армирования композитов.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Инструменты электронной микроскопии

ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Инструменты электронной микроскопии

KS B 5602-1995 Микроскопы для инструментальных мастеров
KS B 5602-1995(2021) Микроскопы для инструментальных мастеров
KS B 5602-1995(2016) Микроскопы для инструментальных мастеров
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Machinery, Инструменты электронной микроскопии

JB/T 10573-2006 Инструментальный микроскоп
JB/T 10573-2013 инструментальный микроскоп
JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

CNS 11276-1985 Инструментальные микроскопы

全国标准信息公共服务平台, Инструменты электронной микроскопии

GB/T 3719-1988 инструментальный микроскоп

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

JJG 56-2000 Регламент поверки универсальных измерительных микроскопов и микроскопов производителей
JJG(航天) 50-1988 Правила калибровки инструментальных микроскопов
JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

RU-GOST R, Инструменты электронной микроскопии

GOST 8.003-1983 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки
GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
GOST 8.003-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Процедура проверки
GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы

International Organization for Standardization (ISO), Инструменты электронной микроскопии

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Инструменты электронной микроскопии

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

British Standards Institution (BSI), Инструменты электронной микроскопии

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

KR-KS, Инструменты электронной микроскопии

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп

Association Francaise de Normalisation, Инструменты электронной микроскопии

NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

Professional Standard - Education, Инструменты электронной микроскопии

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Инструменты электронной микроскопии

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Инструменты электронной микроскопии

DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
DVS 2804-1975 Сварка горячим инструментом (термокомпрессионная сварка) в микроскопии (обзор)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Инструменты электронной микроскопии

GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Инструменты электронной микроскопии

IPC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов
IPC TM-650 2.6.22-1995 Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

Professional Standard - Petroleum, Инструменты электронной микроскопии

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Инструменты электронной микроскопии

JEDEC J-STD-035-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах

International Electrotechnical Commission (IEC), Инструменты электронной микроскопии

IEC PAS 62191:2000 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов

国家能源局, Инструменты электронной микроскопии

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

German Institute for Standardization, Инструменты электронной микроскопии

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.

工业和信息化部, Инструменты электронной микроскопии

YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Инструменты электронной микроскопии

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Nuclear Industry, Инструменты электронной микроскопии

EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа

Professional Standard - Judicatory, Инструменты электронной микроскопии

SF/T 0139-2023

SE-SIS, Инструменты электронной микроскопии

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), Инструменты электронной микроскопии

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

Danish Standards Foundation, Инструменты электронной микроскопии

DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.