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Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

Principios y métodos de prueba de circuitos integrados., Total: 210 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Principios y métodos de prueba de circuitos integrados. son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos semiconductores, Telecontrol. Telemetría, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Aplicaciones de la tecnología de la información., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Optoelectrónica. Equipo láser, Sistemas y operaciones espaciales., Vocabularios, Compatibilidad electromagnética (CEM), Radiocomunicaciones, Sistemas de automatización industrial, Equipo medico, Cerámica.

Professional Standard - Electron, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

SJ/T 10735-1996 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos TTL
SJ/T 10736-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos HTL
SJ/T 10737-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos ECL
SJ/T 10741-2000 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
SJ/T 10741-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
SJ/T 10803-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para circuitos de línea.
SJ 20961-2006 Principios generales de los métodos de medida de convertidores A/D y D/A para circuitos integrados.
SJ/T 11005-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos de canales de audio.
SJ/T 11006-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de barrido horizontal y vertical.
SJ/T 11004-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de canales de imágenes.
SJ/T 10804-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición para traductores de nivel.
SJ/T 10805-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de métodos de medida para comparadores de tensión.
SJ/T 10401-1993 Principios generales de métodos de medición para estabilizadores de velocidad de motores de circuitos integrados de audio semiconductores.
SJ/T 10402-1993 Principios generales de métodos de medición para selectores automáticos de música de circuitos integrados de audio semiconductores.
SJ/T 10400-1993 Principios generales de los métodos de medición para ecualizadores gráficos de circuitos integrados de audio semiconductores.
SJ/T 11007-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de procesamiento de señales de video y señales de crominancia.
SJ/T 10882-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para amplificadores lineales.
SJ/T 10427.1-1993 Principios generales de los métodos de medición del convertidor FM para circuitos integrados de audio semiconductores.
SJ/T 10427.2-1993 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores de frecuencia intermedia para circuitos integrados de audio semiconductores.
SJ/T 10738-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para amplificadores operacionales (de tensión)
SJ/T 10805-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.
SJ/T 10804-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz: principios generales de métodos de medición para traductores de nivel.
SJ/T 10739-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio MOS.
SJ/T 10800-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para amplificadores de detección.
SJ/T 10802-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores periféricos.
SJ/T 10806-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores de pantalla.
SJ/T 10881-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para decodificadores estéreo.
SJ/T 10740-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio bipolares.
SJ 2480-1984 Principios generales de medición estática para convertidores D/A para circuitos integrados híbridos.
SJ/T 10880-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para decodificadores estéreo.
SJ 2481-1984 Principios generales de medición estática para convertidores A/D para circuitos integrados híbridos.
SJ/T 10879-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para preamplificadores de audio
SJ/T 10801-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores de memoria magnética.
SJ/Z 2926-1988 Métodos de prueba para determinar las propiedades de los equipos de fabricación de máscaras para la fabricación de circuitos integrados.
SJ 20646-1997 Los métodos de medición de convertidores CC/CC para circuitos integrados híbridos.
SJ/T 11430-2010 Requisitos técnicos y métodos de prueba para el procesamiento de banda base IC del receptor GPS
SJ/T 10818-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para convertidores D/A y A/D de circuitos no lineales.
SJ/T 11222-2000 Especificación general para tarjetas de circuitos integrados. Parte 3: Métodos de prueba.
SJ/T 10745-1996 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para circuitos integrados de semiconductores.
SJ/T 10196-1991 Métodos de medición de los probadores de parámetros estáticos de IC digitales MSI y SSI
SJ 21147.1-2016 Medición de emisiones electromagnéticas para circuitos integrados militares.Parte 1: Condiciones generales y definiciones.

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GB 14030-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de circuitos basados en el tiempo de circuitos integrados de semiconductores.
GB/T 15136-1994 Principios generales de los métodos de medición para relojes de cuarzo y circuitos de vigilancia de circuitos integrados semiconductores.
GB/T 6798-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.
GB/T 4377-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición del regulador de voltaje.
GB/T 14029-1992 Principios generales de los métodos de medición del multiplicador analógico para circuitos integrados semiconductores.
GB 14029-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de multiplicadores analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
GB/T 14028-1992 Principios generales de los métodos de medición de interruptores analógicos para circuitos integrados semiconductores.
GB 14028-2018 Principios básicos de los métodos de prueba de interruptores analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
GB/T 14031-1992 Principios generales de los métodos de medición del bucle de fase analógico para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 14032-1992 Principios generales de los métodos de medición de bucles digitales de fase bloqueada para circuitos integrados semiconductores.
GB 14031-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de bucles de bloqueo de fase analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
GB 14032-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de bucles digitales de fase bloqueada para circuitos integrados de semiconductores.
GB 3442-1986 Principios básicos de los métodos de prueba de amplificadores operacionales (voltaje) de circuitos integrados de semiconductores.
GB/T 12843-1991 Principio general de los métodos de medición de parámetros de microprocesadores y circuitos de interfaz periféricos para circuitos integrados de semiconductores.
GB 12843-1991 Principios básicos de los métodos de prueba de parámetros eléctricos para microprocesadores de circuitos integrados semiconductores y circuitos de interfaz periféricos.
GB/T 14115-1993 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores Sample/Hold para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 14114-1993 Principios generales de los métodos de medición de convertidores V/F y F/V para circuitos integrados semiconductores.
GB/T 42838-2023 Método de prueba de circuito Hall de circuito integrado de semiconductores
GB/T 6800-1986 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores de potencia de audio para circuitos integrados de audio semiconductores.
GB/T 43063-2023 Método de prueba del sensor de imagen CMOS de circuito integrado
GB/T 42975-2023 Métodos de prueba de controladores de circuitos integrados de semiconductores.
GB/T 42970-2023 Métodos de prueba de circuitos de codificación y decodificación de vídeo de circuitos integrados semiconductores.
GB/T 4377-2018 Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje.
GB/T 43061-2023 Método de prueba del controlador PWM de circuito integrado semiconductor
GB 35007-2018 Método de prueba de circuito de señal diferencial de bajo voltaje de circuito integrado semiconductor
GB/T 36477-2018 Circuito integrado semiconductor. Métodos de medición para memoria flash.
GB/T 43040-2023 Método de prueba del convertidor CA/CC del circuito integrado de semiconductores
GB/T 42848-2023 Método de prueba para sintetizador de frecuencia digital directo de circuito integrado semiconductor.
GB/T 14862-1993 Métodos de prueba de resistencia térmica de unión a caja de paquetes para circuitos integrados de semiconductores
GB/T 15651.3-2003 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos Métodos de medición
GB/T 43226-2023 Método de prueba en el dominio del tiempo de error suave de un solo evento para circuitos integrados de semiconductores utilizados en aplicaciones aeroespaciales
GB/T 17554.3-2006 Tarjetas de identificación. Métodos de prueba. Parte 3: Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos y dispositivos de interfaz relacionados.

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KS C 5113-1983(1998) MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES MOS
KS C 5113-1983 MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES MOS
KS C 6050-1985(2000) MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES BIPOLARES
KS C 6050-1985 MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES BIPOLARES
KS C 6049-1980 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para circuitos integrados de semiconductores
KS C 6049-1980(2020) Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para circuitos integrados de semiconductores
KS C IEC 62528:2015 Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos incorporados
KS C IEC 60747-5-3:2004 Dispositivos semiconductores－Dispositivos discretos－Parte 5－3：Dispositivos optoelectrónicos－Método de medición
KS C IEC 60747-5-3:2020 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
KS B ISO 10303-31:2005 Integración y sistemas de automatización industrial－Representación e intercambio de datos de productos－Parte 31: Marco y metodología de pruebas de conformidad: Conceptos generales
KS X ISO/IEC 10373-3:2007 Tarjetas de identificación－Métodos de prueba－Parte 3: Tarjetas de circuitos integrados con contactos y dispositivo de interfaz relacionado
KS X ISO/IEC 10373-3:2022 Tarjetas de identificación. Métodos de prueba. Parte 3: Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos y dispositivo de interfaz relacionado.

RO-ASRO, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

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Professional Standard - Aerospace, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

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QJ 1528-1988 Método de prueba de base de tiempo de circuito integrado semiconductor
QJ 260-1977 dispositivo
QJ/Z 33-1977 Método de prueba del circuito de integración digital de efecto de campo (P-MOS)
QJ 1460-1988 Método de prueba para amplificador de banda ancha de circuito integrado semiconductor.
QJ 2491-1993 Métodos de prueba para amplificadores operacionales en circuitos integrados semiconductores.
QJ 20008-2011 Requisitos de rendimiento y métodos de prueba para el chip de procesamiento de banda base del receptor GNSS
QJ 2660-1994 Método de prueba para modulador de ancho de pulso de fuente de alimentación conmutada de circuito integrado semiconductor
QJ 3044-1998 Método de prueba del convertidor D/A y del convertidor A/D del circuito integrado de semiconductores
QJ 1526-1988 dispositivo
QJ 20009-2011 Requisitos de rendimiento y métodos de prueba para REIC del receptor GNSS

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

GB/T 35006-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición del convertidor de nivel.
GB/T 14028-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición de interruptores analógicos.
GB/T 35007-2018 Circuitos integrados semiconductores: método de medición de circuitos de señalización diferencial de bajo voltaje.

工业和信息化部, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

SJ/T 10805-2018 Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor
SJ/T 11702-2018 Método de prueba de interfaz periférica serie de circuito integrado semiconductor
YD/T 3514-2019 Método de prueba de plataforma de gestión remota de tarjeta de circuito integrado universal integrada (eUICC) (Fase 1)
SJ/T 11706-2018 Método de prueba de matriz de puertas programables en campo de circuito integrado semiconductor
YD/T 3515-2019 Método de prueba de tarjeta de circuito integrado universal integrado (eUICC) que admite gestión remota (Fase 1)
YD/T 3037.2.2-2016 Método de prueba de características de la interfaz USB entre la tarjeta de circuito integrado universal (UICC) y el terminal Parte 2: UICC
YD/T 3037.1.1-2016 Método de prueba para las características de la interfaz USB entre la tarjeta de circuito integrado universal (UICC) y el terminal Parte 1: Terminal

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

JEDEC JESD51-8-1999 Método de prueba térmica de circuito integrado Condiciones ambientales: unión a placa
JEDEC JESD51-6-1999 Método de prueba térmica de circuito integrado Condiciones ambientales: convección forzada (aire en movimiento)
JEDEC JESD51-2A-2008 Método de prueba térmica de circuitos integrados Condiciones ambientales: convección natural (aire en calma)
JEDEC JESD22-A120-2001

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Principios y métodos de prueba de circuitos integrados.

GJB 9147-2017 Métodos de prueba de amplificador operacional de circuito integrado de semiconductores.
GJB 9388-2018 Métodos de prueba para convertidores analógico-digital y digital-analógico de circuitos integrados.

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GOST 24613.9-1983 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir los tiempos de conmutación.
GOST 24613.1-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la capacitancia de entrada a salida.
GOST 24613.2-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir la corriente de fuga.
GOST 24613.3-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir el voltaje de entrada.
GOST 24613.6-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la tensión de aislamiento.
GOST 27780-1988 Circuitos integrados. Multiplexores y conmutadores. Métodos de medición de parámetros eléctricos.
GOST 24613.19-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la relación de transferencia de corriente.
GOST 24613.8-1983 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Métodos para medir la tasa de cambio crítico del voltaje dieléctrico.
GOST 23089.1-1983 Circuitos integrados. Método de medición de la ganancia de amplificadores operacionales y comparadores de voltaje.
GOST 23089.3-1983 Circuitos integrados. Métodos de medición de amplificadores operacionales y comparadores de tensión, tensión de compensación cero y fem.
GOST 24613.4-1981 Microcircuitos electrónicos integrados. Método de medición del tiempo de encendido y apagado de conmutadores de señales analógicas y carga.
GOST 23089.13-1986 Microcircuitos integrados. Métodos de medición de la frecuencia de corte y la frecuencia de ganancia unitaria de los amplificadores operacionales.
GOST 24613.5-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método de medición de voltaje de reasignación cero de conmutadores de señales analógicas y carga.
GOST R ISO/IEC 10373-3-2011 Tarjetas de identificación. Métodos de prueba. Parte 3. Tarjetas de circuitos integrados con contactos y dispositivos de interfaz relacionados.
GOST 23089.5-1983 Circuitos integrados. Método de medición de amplificadores operacionales y comparadores de voltaje, consumo de corriente y potencia.
GOST 24613.11-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir el voltaje de entrada para niveles bajos y altos de interruptores de señales lógicas.
GOST 24613.12-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir el voltaje de salida para niveles bajos y altos de interruptores de señal lógica.
GOST 23089.10-1983 Circuitos integrados. Método para medir la velocidad y el tiempo máximos de acumulación del voltaje de salida de los amplificadores operacionales
GOST 23089.4-1983 Circuitos integrados. Método de medición de las corrientes de entrada y la corriente de polarización de entrada de amplificadores operacionales y comparadores de voltaje.
GOST 23089.8-1983 Circuitos integrados. Método de medición de la deriva de voltaje de temperatura promedio de los amplificadores operacionales y la fem de compensación cero
GOST 23089.11-1983 Circuitos integrados. Métodos para medir la relación de rechazo de voltaje en modo común de entrada de amplificadores operacionales y comparadores de voltaje
GOST 23089.9-1983 Circuitos integrados. Método de medición de la deriva de temperatura de la corriente de polarización de entrada de los amplificadores operacionales y las corrientes de entrada
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ISO/IEC 10373-3:2001 Tarjetas de identificación. Métodos de prueba. Parte 3: Tarjetas de circuito(s) integrado(s) con contactos y dispositivos de interfaz relacionados.
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BS EN 60747-5-3:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados - Dispositivos optoelectrónicos - Métodos de medida
DD ENV 1292-1995 Sistemas de tarjetas de identificación. Tarjetas de circuito(s) integrado(s) y servicios de interfaz. Métodos de prueba adicionales
BS EN ISO 11608-3:2022 Cambios rastreados. Sistemas de inyección basados en agujas para uso médico. Requisitos y métodos de prueba. Contenedores y rutas de fluidos integradas.
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TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008 Prueba y diagnóstico de circuitos integrados de RF y señales mixtas analógicas: el enfoque del sistema en chip

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IEEE 1500-2022 Método de prueba estándar IEEE para circuitos integrados basados en núcleos integrados
IEEE Std 1500-2005 Método de prueba estándar IEEE para circuitos integrados basados en núcleos integrados
IEEE Std 1500-2022 Método de prueba estándar IEEE para circuitos integrados basados en núcleos integrados
IEEE P1500/D1.5, February 2022 Método de prueba estándar en borrador aprobado por IEEE para circuitos integrados basados en núcleos incorporados
IEEE Std P1500/D11, Jan 06 Borrador del método de prueba estándar del IEEE para circuitos integrados basados en núcleos incorporados
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ASTM F744M-97(2003) Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales [métrico]
ASTM F744M-97 Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales
ASTM F744M-16 Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales (métrico)
ASTM F744M-10 Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales [métrico]
ASTM D3382-95 Métodos de prueba estándar para medición de energía y transferencia integrada de carga debido a descargas parciales (corona) utilizando técnicas de puente
ASTM D3382-95(2001)e1 Métodos de prueba estándar para medición de energía y transferencia integrada de carga debido a descargas parciales (corona) utilizando técnicas de puente
ASTM F1260M-96 Método de prueba estándar para estimar el tiempo medio hasta falla de electromigración y sigma de metalizaciones de circuitos integrados [métrico]
ASTM F1260M-96(2003) Método de prueba estándar para estimar el tiempo medio de falla de electromigración y sigma de metalizaciones de circuitos integrados [métrico]

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NF C96-005-3/A1*NF EN 60747-5-3/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
NF EN 60747-5-3:2001 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
NF EN 60747-5-3/A1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
NF EN ISO 11608-3:2022 Sistemas de inyección con aguja para uso médico. Requisitos y métodos de prueba. Parte 3: recipientes y vías de fluido integradas.
NF EN 62132-2:2011 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 2: medición de la inmunidad radiada - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
NF EN 61967-2:2006 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 2: medición de emisiones radiadas - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha

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