ZH
EN
ES

Принципы и методы тестирования интегральных схем

Принципы и методы тестирования интегральных схем, Всего: 210 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Принципы и методы тестирования интегральных схем, являются: Интегральные схемы. Микроэлектроника, Полупроводниковые приборы, Телеуправление. Телеметрия, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Применение информационных технологий, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Космические системы и операции, Словари, Электромагнитная совместимость (ЭМС), Радиосвязь, Системы промышленной автоматизации, Медицинское оборудование, Керамика.

Professional Standard - Electron, Принципы и методы тестирования интегральных схем

SJ/T 10735-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ТТЛ-схем.
SJ/T 10736-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения HTL-схем.
SJ/T 10737-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ЭСЛ-схем.
SJ/T 10741-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП схем.
SJ/T 10741-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП-схем.
SJ/T 10803-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения линейных цепей.
SJ 20961-2006 Общие принципы методов измерения аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей для интегральных схем
SJ/T 11005-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем аудиоканалов.
SJ/T 11006-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения для схем строчной и вертикальной развертки.
SJ/T 11004-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем канала изображения.
SJ/T 10804-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения преобразователя уровня.
SJ/T 10805-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
SJ/T 10401-1993 Общие принципы методов измерения стабилизаторов скорости двигателей полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10402-1993 Общие принципы методов измерения автоматических музыкальных селекторов полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10400-1993 Общие принципы методов измерения графических эквалайзеров полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 11007-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем обработки видеосигналов и сигналов цветности.
SJ/T 10882-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения линейных усилителей.
SJ/T 10427.1-1993 Grneral Принципы методов измерения FM-преобразователя для полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10427.2-1993 Общие принципы методов измерения усилителей промежуточной частоты для полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10738-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения операционных усилителей (напряжения)
SJ/T 10805-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
SJ/T 10804-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения для преобразователей уровней.
SJ/T 10739-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения МОП-памяти с произвольным доступом.
SJ/T 10800-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения усилителей считывания.
SJ/T 10802-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов периферийных устройств.
SJ/T 10806-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов дисплеев.
SJ/T 10881-1996 Полупроводниковые интегральные аудиосхемы. Общие принципы методов измерения стереодекодеров.
SJ/T 10740-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения биполярных запоминающих устройств с произвольным доступом.
SJ 2480-1984 Общие принципы статических измерений цифро-аналоговых преобразователей для гибридных интегральных схем
SJ/T 10880-1996 Полупроводниковые интегральные аудиосхемы. Общие принципы методов измерения стереодекодеров.
SJ 2481-1984 Общие принципы статических измерений аналого-цифровых преобразователей для гибридных интегральных схем
SJ/T 10879-1996 Полупроводниковые интегральные звуковые схемы. Общие принципы методов измерения звуковых предусилителей.
SJ/T 10801-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов магнитной памяти.
SJ/Z 2926-1988 Методы испытаний свойств масочного оборудования для производства микросхем
SJ 20646-1997 Методы измерения преобразователей постоянного тока для гибридных интегральных схем
SJ/T 11430-2010 Технические требования и методы испытаний микросхемы обработки основной полосы GPS-приемника
SJ/T 10818-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей нелинейных цепей.
SJ/T 11222-2000 Общие спецификации для карт с интегральной схемой. Часть 3. Методы испытаний.
SJ/T 10745-1996 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых интегральных схем
SJ/T 10196-1991 Методы измерения тестеров статических параметров цифровых микросхем MSI и SSI
SJ 21147.1-2016 Измерение электромагнитного излучения для военных интегральных схем. Часть 1. Общие положения и определения.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Принципы и методы тестирования интегральных схем

GB/T 14030-1992 Общие принципы методов измерения таймерных схем полупроводниковых интегральных схем
GB 14030-1992 Основные принципы методов временного тестирования полупроводниковых интегральных схем
GB/T 15136-1994 Общие принципы методов измерения кварцевых часов и часовых схем полупроводниковых интегральных схем
GB/T 6798-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения
GB/T 4377-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения регуляторов напряжения
GB/T 14029-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых умножителей для полупроводниковых интегральных схем
GB 14029-1992 Основные принципы методов тестирования аналоговых умножителей полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14028-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых ключей для полупроводниковых интегральных схем
GB 14028-2018 Основные принципы методов испытаний аналоговых переключателей полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14031-1992 Общие принципы методов измерения аналоговой фазовой петли для полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14032-1992 Общие принципы методов измерения цифровой фазовой автоподстройки частоты для полупроводниковых интегральных схем
GB 14031-1992 Основные принципы методов тестирования аналоговых фазовой автоподстройки частоты полупроводниковых интегральных схем
GB 14032-1992 Основные принципы методов цифровой фазовой автоподстройки частоты полупроводниковых интегральных схем
GB 3442-1986 Основные принципы методов испытаний операционных усилителей (напряжения) полупроводниковых интегральных схем
GB/T 12843-1991 Общие принципы методов измерения параметров микропроцессоров и цепей периферийного интерфейса полупроводниковых интегральных схем
GB 12843-1991 Основные принципы методов контроля электрических параметров полупроводниковых интегральных схем микропроцессоров и схем периферийных интерфейсов
GB/T 14115-1993 Общие принципы методов измерения усилителей выборки/хранения для полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14114-1993 Общие принципы методов измерения преобразователей V/F и F/V для полупроводниковых интегральных схем
GB/T 42838-2023 Метод испытания схемы Холла полупроводниковой интегральной схемы
GB/T 6800-1986 Общие принципы методов измерения усилителей мощности звука для полупроводниковых интегральных аудиосхем
GB/T 43063-2023 Метод тестирования КМОП-датчика изображения на интегральной схеме
GB/T 42975-2023 Методы тестирования драйверов полупроводниковых интегральных схем
GB/T 42970-2023 Методы тестирования схем видеокодирования и декодирования полупроводниковых интегральных схем
GB/T 4377-2018 Полупроводниковые интегральные схемы. Метод измерения регуляторов напряжения.
GB/T 43061-2023 Метод тестирования ШИМ-контроллера полупроводниковой интегральной схемы
GB 35007-2018 Метод тестирования дифференциальной сигнальной цепи низкого напряжения на полупроводниковой интегральной схеме
GB/T 36477-2018 Полупроводниковая интегральная схема. Методы измерения флэш-памяти.
GB/T 43040-2023 Метод испытания преобразователя переменного/постоянного тока полупроводниковой интегральной схемы
GB/T 42848-2023 Метод испытаний прямого цифрового синтезатора частоты полупроводниковой интегральной схемы
GB/T 14862-1993 Методы испытаний термостойкости переход-корпус корпусов полупроводниковых интегральных схем
GB/T 15651.3-2003 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы Часть 5-3: Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
GB/T 43226-2023 Метод однособытийного тестирования мягких ошибок во временной области для полупроводниковых интегральных схем, используемых в аэрокосмических приложениях.
GB/T 17554.3-2006 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты интегральных схем с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Принципы и методы тестирования интегральных схем

KS C 5113-1983(1998) МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ДЛЯ МОП-ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
KS C 5113-1983 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ДЛЯ МОП-ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
KS C 6050-1985(2000) МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ДЛЯ БИПОЛЯРНЫХ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
KS C 6050-1985 МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ДЛЯ БИПОЛЯРНЫХ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем
KS C 6049-1980(2020) Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем
KS C IEC 62528:2015 Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра
KS C IEC 60747-5-3:2004 Полупроводниковые приборы－Дискретные устройства－Часть 5－3:оптоэлектронные устройства－Метод измерения
KS C IEC 60747-5-3:2020 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
KS B ISO 10303-31:2005 Системы промышленной автоматизации и интеграция. Представление и обмен данными о продукции. Часть 31. Методика и структура тестирования на соответствие. Общие понятия.
KS X ISO/IEC 10373-3:2007 Идентификационные карты. Методы испытаний. Часть 3. Карты интегральных схем с контактами и соответствующим интерфейсным устройством.
KS X ISO/IEC 10373-3:2022 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карточки на интегральных схемах с контактами и соответствующим интерфейсным устройством

RO-ASRO, Принципы и методы тестирования интегральных схем

STAS 10630-1976 ЦИФРОВЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ Методы измерения выходных величин

Professional Standard - Aerospace, Принципы и методы тестирования интегральных схем

QJ 257-1977 Метод тестирования полупроводниковых интегральных цифровых схем TTL
QJ 1528-1988 Метод испытания временной развертки полупроводниковых интегральных схем
QJ 260-1977 器件
QJ/Z 33-1977 Метод испытания схем цифровой интеграции на основе полевого эффекта (P-MOS)
QJ 1460-1988 Метод испытаний широкополосного усилителя полупроводниковой интегральной схемы
QJ 2491-1993 Методы испытаний операционных усилителей в полупроводниковых интегральных схемах
QJ 20008-2011 Требования к производительности и методы тестирования микросхемы обработки основной полосы приемника GNSS
QJ 2660-1994 Метод испытаний широтно-импульсного модулятора импульсного источника питания на полупроводниковых интегральных схемах
QJ 3044-1998 Полупроводниковая интегральная схема цифро-аналогового преобразователя и метод испытания аналого-цифрового преобразователя
QJ 1526-1988 器件
QJ 20009-2011 Требования к характеристикам и методы испытаний REIC приемника ГНСС

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Принципы и методы тестирования интегральных схем

GB/T 35006-2018 Полупроводниковые интегральные схемы. Метод измерения преобразователя уровня.
GB/T 14028-2018 Полупроводниковые интегральные схемы. Метод измерения аналогового переключателя.
GB/T 35007-2018 Полупроводниковые интегральные схемы. Метод измерения схем дифференциальной сигнализации низкого напряжения.

工业和信息化部, Принципы и методы тестирования интегральных схем

SJ/T 10805-2018 Метод испытания компаратора напряжения полупроводниковой интегральной схемы
SJ/T 11702-2018 Метод испытаний последовательного периферийного интерфейса полупроводниковой интегральной схемы
YD/T 3514-2019 Метод тестирования платформы удаленного управления встроенной универсальной интегральной схемы (eUICC) (фаза 1)
SJ/T 11706-2018 Метод испытания программируемой вентильной матрицы для полупроводниковых интегральных схем
YD/T 3515-2019 Метод тестирования встроенной универсальной интегральной схемы (eUICC), поддерживающий удаленное управление (фаза 1)
YD/T 3037.2.2-2016 Метод испытания характеристик интерфейса USB между универсальной платой интегральной схемы (UICC) и терминалом. Часть 2: UICC
YD/T 3037.1.1-2016 Метод проверки характеристик интерфейса USB между универсальной платой интегральной схемы (UICC) и терминалом. Часть 1: Терминал

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Принципы и методы тестирования интегральных схем

JEDEC JESD51-8-1999 Условия окружающей среды, метод теплового испытания интегральной схемы — переход к плате
JEDEC JESD51-6-1999 Метод термического испытания интегральной схемы. Условия окружающей среды – принудительная конвекция (движущийся воздух)
JEDEC JESD51-2A-2008 Метод термического испытания интегральных схем Условия окружающей среды – естественная конвекция (неподвижный воздух)
JEDEC JESD22-A120-2001 Метод испытаний для измерения коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Принципы и методы тестирования интегральных схем

GJB 9147-2017 Методы испытаний операционных усилителей полупроводниковых интегральных схем
GJB 9388-2018 Методы испытаний аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей интегральных схем

RU-GOST R, Принципы и методы тестирования интегральных схем

GOST 19799-1974 Аналоговые интегральные схемы. Методы измерения электрических параметров и определения откликов
GOST 24613.18-1977 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптроны. Методы измерения сопротивления изоляции
GOST 24613.9-1983 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптроны. Метод измерения времени переключения
GOST 24613.1-1981 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптроны. Метод измерения входной-выходной емкости
GOST 24613.2-1981 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары. Метод измерения тока утечки
GOST 24613.3-1981 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары. Метод измерения входного напряжения
GOST 24613.6-1981 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптроны. Метод измерения напряжения изоляции
GOST 27780-1988 Интегральные схемы. Мультиплексоры и коммутаторы. Методы измерения электрических параметров
GOST 24613.19-1977 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптроны. Метод измерения коэффициента передачи тока
GOST 24613.8-1983 Оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения диэлектрического напряжения
GOST 23089.1-1983 Интегральные схемы. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
GOST 23089.3-1983 Интегральные схемы. Методы измерения напряжения смещения нуля и ЭДС операционных усилителей и компараторов напряжения
GOST 24613.4-1981 Электронные интегральные микросхемы. Методика измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
GOST 23089.13-1986 Интегральные микросхемы. Методы измерения частоты среза и частоты унитарного усиления операционных усилителей
GOST 24613.5-1981 Оптоэлектронные интегральные микросхемы. Методика измерения напряжения переопределения нуля коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
GOST R ISO/IEC 10373-3-2011 Идентификационные карты. Методы испытаний. Часть 3. Платы интегральные с контактами и сопутствующими интерфейсными устройствами
GOST 23089.5-1983 Интегральные схемы. Метод измерения тока и мощности потребления операционных усилителей и компараторов напряжения
GOST 24613.11-1977 Оптоэлектронные интегральные микросхемы. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
GOST 24613.12-1977 Оптоэлектронные интегральные микросхемы. Метод измерения выходного напряжения для низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
GOST 23089.10-1983 Интегральные схемы. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
GOST 23089.4-1983 Интегральные схемы. Метод измерения входных токов и входных токов смещения операционных усилителей и компараторов напряжения
GOST 23089.8-1983 Интегральные схемы. Метод измерения среднетемпературного дрейфа напряжения операционных усилителей и ЭДС смещения нуля
GOST 23089.11-1983 Интегральные схемы. Методы измерения коэффициента подавления входного синфазного напряжения операционных усилителей и компараторов напряжения
GOST 23089.9-1983 Интегральные схемы. Метод измерения температурного дрейфа входного тока смещения операционных усилителей и входных токов
GOST 24613.10-1977 Оптоэлектронные интегральные микросхемы. Метод измерения шумового тока и шумового напряжения для переключателей логических сигналов низкого и высокого уровня

International Organization for Standardization (ISO), Принципы и методы тестирования интегральных схем

ISO/IEC 18328-2:2015 Идентификационные карты. Устройства, управляемые ICC. Часть 2. Физические характеристики и методы испытаний карточек с устройствами.
ISO/IEC 10373-3:2018 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами
ISO/IEC 10373-3:2001 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты интегральных схем с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами
ISO 10303-31:1994 Системы промышленной автоматизации и интеграция. Представление данных о продукции и обмен ими. Часть 31. Методика и структура тестирования на соответствие. Общие понятия.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Принципы и методы тестирования интегральных схем

JIS C 7022:1979 Методы экологических испытаний и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем
JIS X 6305-3:2002 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карточки на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами
JIS X 6305-3:2012 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, Принципы и методы тестирования интегральных схем

TR 101 667-1999 Методы тестирования и спецификации (МТС); Сетевое интеграционное тестирование (NIT); взаимосвязь; Причины и цели глобального подхода к тестированию сервисов (V1.1.2)

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Принципы и методы тестирования интегральных схем

IEEE 1181-1991 Рекомендуемая практика для методов испытаний с защелкой для определения характеристик процессов интегральных схем КМОП и БиКМОП

British Standards Institution (BSI), Принципы и методы тестирования интегральных схем

BS IEC 60747-5-3:1998 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения
BS EN 60747-5-3:1998 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения
BS EN 60747-5-3:2001 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Оптоэлектронные приборы. Методы измерений.
DD ENV 1292-1995 Системы удостоверений личности. Платы на интегральных схемах и интерфейсные услуги. Дополнительные методы испытаний
BS EN ISO 11608-3:2022 Отслеживаемые изменения. Игольчатые инъекционные системы для медицинского применения. Требования и методы испытаний. Контейнеры и интегрированные пути подачи жидкости
BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM
BS EN 14425-3:2010 Передовая техническая керамика. Методы испытаний для определения вязкости разрушения монолитной керамики. Метод шевронной надрезной балки (CNB).

IET - Institution of Engineering and Technology, Принципы и методы тестирования интегральных схем

TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008 Тестирование и диагностика аналоговых смешанных и радиочастотных интегральных схем: подход «система на кристалле»

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Принципы и методы тестирования интегральных схем

IEEE Std 1181-1991 Рекомендуемая IEEE практика для методов тестирования с защелкой для определения характеристик процессов интегральных схем КМОП и БиКМОП
IEEE P1500/D1.4, November 2021 Проект стандарта IEEE «Метод проверки для встроенных интегральных схем на базе ядра»
IEEE 1500-2022 Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра
IEEE Std 1500-2005 Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра
IEEE Std 1500-2022 Стандартный метод тестирования IEEE для встроенных интегральных схем на базе ядра
IEEE P1500/D1.5, February 2022 Утвержденный IEEE проект стандартного метода тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра
IEEE Std P1500/D11, Jan 06 Проект стандарта IEEE «Метод проверки для встроенных интегральных схем на базе ядра»
IEEE P1500/D1.3, May 2021 Проект стандарта IEEE «Метод проверки для встроенных интегральных схем на базе ядра»
IEEE/IEC 62528-2007 МЭК 62528 Ред. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра.
IEC 62528:2007 (E) МЭК 62528 Ред. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра.

未注明发布机构, Принципы и методы тестирования интегральных схем

BS IEC 62528:2007(2010) Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра
BS EN 60747-5-3:2001(2003) Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5–3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.

Society of Automotive Engineers (SAE), Принципы и методы тестирования интегральных схем

SAE J1752-1-2006 Процедуры измерения электромагнитной совместимости интегральных схем. Процедуры измерения ЭМС интегральных схем. Общие положения и определения.

GOSTR, Принципы и методы тестирования интегральных схем

GOST R 57394-2017 Интегральные схемы и полупроводниковые приборы. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Danish Standards Foundation, Принципы и методы тестирования интегральных схем

DS/ISO/IEC 10373-3:2011 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами
DS/ISO/IEC 10373-3/Cor 1:2013 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами
DS/EN 60747-5-3/A1:2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
DS/EN 60747-5-3:2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.

Indonesia Standards, Принципы и методы тестирования интегральных схем

SNI ISO/IEC 10373-3:2015 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами

American Society for Testing and Materials (ASTM), Принципы и методы тестирования интегральных схем

ASTM F744M-97(2003) Стандартный метод испытаний для измерения порога мощности дозы при выходе из строя цифровых интегральных схем [метрическая система]
ASTM F744M-97 Стандартный метод испытаний для измерения порога мощности дозы при выходе из строя цифровых интегральных схем
ASTM F744M-16 Стандартный метод испытаний для измерения порога мощности дозы при выходе из строя цифровых интегральных схем (метрических)
ASTM F744M-10 Стандартный метод испытаний для измерения порога мощности дозы при выходе из строя цифровых интегральных схем [метрическая система]
ASTM D3382-95 Стандартные методы испытаний для измерения энергии и комплексного переноса заряда вследствие частичных разрядов (коронного разряда) с использованием мостовых методов
ASTM D3382-95(2001)e1 Стандартные методы испытаний для измерения энергии и комплексного переноса заряда вследствие частичных разрядов (коронного разряда) с использованием мостовых методов
ASTM F1260M-96 Стандартный метод испытаний для оценки медианного времени до отказа и сигмы металлизации интегральных схем при электромиграции [метрика]
ASTM F1260M-96(2003) Стандартный метод испытаний для оценки медианного времени до отказа электромиграции и сигмы металлизации интегральных схем [метрика]

Association Francaise de Normalisation, Принципы и методы тестирования интегральных схем

NF C96-005-3*NF EN 60747-5-3:2001 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
NF C96-005-3/A1*NF EN 60747-5-3/A1:2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
NF EN 60747-5-3:2001 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
NF EN 60747-5-3/A1:2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
NF EN ISO 11608-3:2022 Игольчатые инъекционные системы для медицинского применения. Требования и методы испытаний. Часть 3. Контейнеры и интегрированные пути подачи жидкости.
NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.

KR-KS, Принципы и методы тестирования интегральных схем

KS C IEC 60747-5-3-2020 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
KS X ISO/IEC 10373-3-2022 Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карточки на интегральных схемах с контактами и соответствующим интерфейсным устройством

ES-UNE, Принципы и методы тестирования интегральных схем

UNE-EN 60747-5-3:2001 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения. (Одобрено AENOR в октябре 2001 г.)
UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения (Одобрено AENOR в ноябре 2002 г.)
UNE-EN ISO 11608-3:2022 Игольчатые инъекционные системы для медицинского применения. Требования и методы испытаний. Часть 3. Контейнеры и интегрированные пути подачи жидкости (ISO 11608-3:2022, исправленная версия 2023-01).
UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).
UNE-EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в январе 2006 г.)

International Electrotechnical Commission (IEC), Принципы и методы тестирования интегральных схем

IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.
IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения.

PL-PKN, Принципы и методы тестирования интегральных схем

PN T01302-03-1991 Полупроводниковые приборы Цифровые интегральные схемы Методы измерения [Перевод публикации IEC 748-2 (1985), гл. IV, В]

AENOR, Принципы и методы тестирования интегральных схем

UNE 199031-2:2011 Оборудование для управления дорожным движением. Станции сбора данных. Методы испытаний и доказательств. Часть 2: Электромагнитная совместимость

German Institute for Standardization, Принципы и методы тестирования интегральных схем

DIN EN ISO 11608-3:2022-09 Игольчатые инъекционные системы для медицинского применения. Требования и методы испытаний. Часть 3. Контейнеры и интегрированные пути прохождения жидкости (ISO 11608-3:2022); Немецкая версия EN ISO 11608-3:2022.
DIN EN ISO 11608-3:2022 Игольчатые инъекционные системы для медицинского применения. Требования и методы испытаний. Часть 3. Контейнеры и интегрированные пути прохождения жидкости (ISO 11608-3:2022).

ZA-SANS, Принципы и методы тестирования интегральных схем

SANS 10373-3:2004 Идентификационные карты. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами.

ANSI - American National Standards Institute, Принципы и методы тестирования интегральных схем

INCITS/ISO/IEC 10373-3:2001 Идентификационные карты. Методы испытаний. Часть 3. Карточки на интегральных схемах с контактами и соответствующими интерфейсными устройствами (принято INCITS)

Professional Standard - Post and Telecommunication, Принципы и методы тестирования интегральных схем

YD/T 1763.1-2011 Методы тестирования цифровой сотовой сети мобильной связи TD-SCDMA/WCDMA для интерфейса UICC-ME (Cu). Часть 1: физические, электрические и логические характеристики ME

IEC - International Electrotechnical Commission, Принципы и методы тестирования интегральных схем

PAS 62307-2002 Метод испытаний для измерения коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах (издание 1.0; Jedec JESD22-A120: июнь 2001 г.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Принципы и методы тестирования интегральных схем

GB/T 36474-2018 Полупроводниковая интегральная схема — методы измерения синхронной динамической оперативной памяти с двойной скоростью передачи данных 3 (DDR3 SDRAM).

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Принципы и методы тестирования интегральных схем

EN 60747-5-3:2001 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения (включает поправку A1: 2002 г.)

Lithuanian Standards Office , Принципы и методы тестирования интегральных схем

LST EN 60747-5-3+A1-2002 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные устройства. Методы измерения (IEC 60747-5-3:1997+A1:2002)