集成电路测试原理和方法

本专题涉及集成电路测试原理和方法的标准有229条。

国际标准分类中，集成电路测试原理和方法涉及到集成电路、微电子学、半导体分立器件、遥控、遥测、电学、磁学、电和磁的测量、电子电信设备用机电元件、信息技术应用、光电子学、激光设备、航天系统和操作装置、词汇、电磁兼容性(EMC)、医疗设备、无线通信、工业自动化系统、陶瓷。

在中国标准分类中，集成电路测试原理和方法涉及到半导体集成电路、技术管理、微电路综合、混合集成电路、加工专用设备、半导体光敏器件、卫星通信设备、电子元器件、电力半导体器件、部件、数据媒体、电子测量与仪器综合、无线电通信设备、各种通信业务服务、光电子器件综合、电磁兼容、工业控制机与计算技术应用装置、通信网设备互通技术要求和通信网接口、电工绝缘材料及其制品。

行业标准-电子，关于集成电路测试原理和方法的标准

SJ/T 10735-1996 半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
SJ/T 10736-1996 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理
SJ/T 10737-1996 半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 10741-1996 半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
SJ/T 10803-1996 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理
SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
SJ/T 11005-1996 半导体电视集成电路伴音通道电路测试方法的基本原理
SJ/T 11006-1996 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
SJ/T 11004-1996 半导体电视集成电路图象通道电路测试方法的基本原理
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路.电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路.电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10401-1993 半导体集成音响电路马达稳速电路.测试方法的基本原理
SJ/T 10402-1993 半导体集成音响电路自动选曲电路.测试方法的基本原理
SJ/T 10400-1993 半导体集成音响电路图示均衡电路.测试方法的基本原理
SJ/T 11007-1996 半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理
SJ/T 10882-1996 半导体集成电路线性放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10805-1996 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10804-1996 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理
SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10802-1996 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理
SJ/T 10806-1996 半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理
SJ/T 10881-1996 半导体集成音响电路电平指示驱动器测试方法的基本原理
SJ/T 10740-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理
SJ 2480-1984 混合集成电路数字.模拟转换器静态测试方法的基本原理
SJ/T 10880-1996 半导体集成音响电路立体声解码器测试方法的基本原理
SJ 2481-1984 混合集成电路模拟.数字转换器静态测试方法的基本原理
SJ/T 10879-1996 半导体集成音响电路音频前置放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10801-1996 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
SJ/Z 2926-1988 集成电路制版设备性能测试方法
SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
SJ/T 11430-2010 GPS接收机基带处理集成电路技术要求及测试方法
SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范.第3部分：测试方法
SJ/T 10745-1996 半导体集成电路机械和气候试验方法
SJ/T 10196-1991 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪.测试方法
SJ 21147.1-2016 军用集成电路电磁发射测量方法第1部分：通用条件和定义

国家质检总局，关于集成电路测试原理和方法的标准

GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB 3442-1986 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
GB/T 12843-1991 半导体集成电路　微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
GB 12843-1991 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法
GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法
GB/T 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法
GB/T 42970-2023 半导体集成电路视频编解码电路测试方法
GB/T 4377-2018 半导体集成电路电压调整器测试方法
GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法
GB 35007-2018 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
GB/T 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法
GB/T 43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
GB/T 42848-2023 半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法
GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 17554.3-2006 识别卡.测试方法.第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备

韩国科技标准局，关于集成电路测试原理和方法的标准

KS C 5113-1983(1998) MOS数字集成电路的测试方法
KS C 5113-1983 MOS数字集成电路的测试方法
KS C 6050-1985(2000) 双极数字集成电路的测试方法
KS C 6050-1985 双极数字集成电路的测试方法
KS C 6049-2020 半导体集成电路的环境测试方法和耐久性测试方法
KS C 6049-1980 半导体集成电路试验法和耐久性能试验方法
KS C 6049-1980(2020) 环境试验方法和耐久性试验方法半导体集成电路
KS C IEC 62528:2015 嵌入式核心集成电路的标准可测试性方法
KS C IEC 62528-2020 基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法
KS C IEC 60747-5-3:2004 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测试方法
KS C IEC 60747-5-3:2020 分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法
KS B ISO 10303-31:2005 工业自动化系统和集成.产品数据表示和交换.第31部分:一致性测试方法与框架:基本原理
KS X ISO/IEC 10373-3:2007 识别卡.试验方法.第3部分:带触点的集成电路卡和有关接口装置
KS X ISO/IEC 10373-3:2022 识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口装置的集成电路卡

RO-ASRO，关于集成电路测试原理和方法的标准

STAS 10630-1976 数字集成电路输出量的测试方法

行业标准-航天，关于集成电路测试原理和方法的标准

QJ 257-1977 半导体TTL集成数字电路测试方法
QJ 1528-1988 半导体集成电路时基器测试方法
QJ/Z 33-1977 埸效应数字集成（P-MOS）电路测试方法
QJ 260-1977 半导体集成相敏整流电路测试方法
QJ 1460-1988 半导体集成电路宽带放大器测试方法
QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
QJ 20008-2011 卫星导航接收机基带处理集成电路性能要求及测试方法
QJ 2660-1994 半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法
QJ 3044-1998 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法
QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法
QJ 20009-2011 卫星导航接收机射频集成电路性能要求及测试方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于集成电路测试原理和方法的标准

GB/T 35006-2018 半导体集成电路电平转换器测试方法
GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法
GB/T 35007-2018 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

工业和信息化部，关于集成电路测试原理和方法的标准

SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路串行外设接口测试方法
YD/T 3514-2019 嵌入式通用集成电路卡（eUICC）远程管理平台测试方法（第一阶段）
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
YD/T 3515-2019 支持远程管理的嵌入式通用集成电路卡（eUICC）测试方法(第一阶段)
YD/T 3037.2.2-2016 通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法第2部分：UICC
YD/T 3037.1.1-2016 通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法第1部分：终端

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于集成电路测试原理和方法的标准

JEDEC JESD51-8-1999 集成电路热测试方法环境条件－Junction-to-Board
JEDEC JESD51-6-1999 集成电路热测试方法环境条件强制对流(流动空气)
JEDEC JESD51-2A-2008 集成电路热测试方法环境条件自然对流（静止空气）
JEDEC JESD22-A120-2001 集成电路用有机物质中潮气弥漫性和水溶解度测量的试验方法

国家军用标准-总装备部，关于集成电路测试原理和方法的标准

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法
GJB 9388-2018 集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法

RU-GOST R，关于集成电路测试原理和方法的标准

GOST 19799-1974 模拟集成电路.电参数的测量方法和特性测定方法
GOST 24613.18-1977 光电集成微电路和光耦.绝缘电阻测量方法
GOST 24613.9-1983 光电集成微电路和光耦.时间参数测量方法
GOST 24613.1-1981 光电微型集成电路和光耦.过渡电容测量方法
GOST 24613.2-1981 光电微型集成电路和光耦.泄漏电流测量方法
GOST 24613.3-1981 光电微型集成电路和光耦.输入电压测量方法
GOST 24613.6-1981 光电微型集成电路和光耦.绝缘电压测量方法
GOST 27780-1988 集成微型电路.转换器和开关.电参数测量方法
GOST 24613.19-1977 光电集成微电路和光耦.电流传输系数测量方法
GOST 24613.8-1983 光电集成微电路和光耦.绝缘电压变化极限速度测量方法
GOST 23089.1-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器的放大系数测量方法
GOST 23089.3-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器零位移电动势和电压测量方法
GOST 24613.4-1981 光电微型集成电路.模拟信号转换器的通断时间和负载的测量方法
GOST 23089.13-1986 微型集成电路.运算放大器单元放大频率和截止频率测量方法
GOST R ISO/IEC 10373-3-2011 识别卡. 试验方法. 第3部分. 带触点和相关接口设备的集成电路卡
GOST 24613.5-1981 光电微型集成电路.模拟信号转换器输出剩余零电压和负载的测量方法
GOST 23089.5-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器的消耗电流和消耗功率的测量方法
GOST 24613.11-1977 光电集成微电路.逻辑信号的转换开关低电平和高电平的输入电压测量方法
GOST 24613.12-1977 光电集成微电路.逻辑信号的转换开关低电平和高电平的输出电压测量方法
GOST 23089.10-1983 微型集成电路.运算放大器输出电压上升时间和最大速度的测量方法
GOST 23089.4-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器的输入电流差与输入电流测量方法
GOST 23089.8-1983 微型集成电路.运算放大器零位移电压和电动势的平均温度漂移测量方法
GOST 23089.11-1983 微型集成电路.运算放大器和电压比较器同相输入电压衰减系数测量方法
GOST 23089.9-1983 微型集成电路.运算放大器输入电流差异和输入电流平均温度漂移测量方法
GOST 24613.10-1977 光电集成微电路.逻辑信号的转换开关低电平和高电平干扰电压与电流的测量方法

GSO，关于集成电路测试原理和方法的标准

GSO IEC 62528:2014 基于内核的集成电路可测试性的标准方法
OS GSO IEC 62528:2014 基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法
BH GSO IEC 62528:2016 基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法
OS GSO IEC 60747-5-3:2014 分立半导体器件和集成电路第5-3部分：光电器件测量方法
GSO IEC 60747-5-3:2014 分立半导体器件和集成电路第5-3部分：光电器件测量方法
GSO IEC 62132-2:2013 集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
BH GSO IEC 62132-2:2016 集成电路电磁抗扰度的测量第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
GSO IEC 61967-2:2015 集成电路电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室方法和宽带 TEM 室
OS GSO IEC 61967-2:2015 集成电路电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
BH GSO IEC 61967-2:2016 集成电路电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法

国际标准化组织，关于集成电路测试原理和方法的标准

ISO/IEC 18328-2:2015 识别卡. 集成电路卡管理设备. 第2部分: 卡与设备的物理特性和测试方法
ISO/IEC 10373-3:2018 识别卡 - 测试方法第3部分:带触点和相关接口设备的集成电路卡
ISO/IEC 10373-3:2001 识别卡测试方法第3部分：带触点的集成电路卡及相关器件
ISO 10303-31:1994 工业自动化系统和集成.产品数据表示和交换.第31部分:一致性测试方法与框架:基本原理

SCC，关于集成电路测试原理和方法的标准

IEC 60147-2J:1978 补充 J 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理第2部分：测量方法的一般原理第 7 章：模拟集成电路
IEC 60147-2L:1979 补充L 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原理第2部分：测量方法的一般原理第 6 章：数字集成电路
CAN/CSA-ISO/IEC 10373-3:2002(R2006) 识别卡测试方法第3部分：带触点和相关接口设备的集成电路卡
IEC PAS 62307:2002 集成电路用有机材料的水分扩散率和水溶性的测量方法
ISO/IEC 10373-3:2010/COR1:2013 勘误表 1 识别卡测试方法第3部分：带触点和相关接口设备的集成电路卡

ETSI - European Telecommunications Standards Institute，关于集成电路测试原理和方法的标准

TR 101 667-1999 测试和规范方法（MTS）；网络集成测试（NIT）；互连;全球服务测试方法（V1.1.2）的原因和目标

英国标准学会，关于集成电路测试原理和方法的标准

BS IEC 60747-5-3:1998 分立半导体器件和集成电路.光电器件.测量方法
BS EN 60747-5-3:1998 半导体分立器件和集成电路光电器件测量方法
BS EN 60747-5-3:2001 半导体分立器件和集成电路.光电器件.测量方法
BS IEC 62528:2007(2010) 基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法
DD ENV 1292-1995 身份证系统.集成电路卡和界面设备.附加的试验方法
BS EN ISO 11608-3:2022 医用针头注射系统要求和测试方法容器和集成流体路径
BS EN 60747-5-3:2001(2003) 分立半导体器件和集成电路第5-3部分：光电器件测量方法
BS EN 62132-2:2011 集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法
BS EN 14425-3:2010 高级工业陶瓷.单片集成电路陶瓷的断裂韧性的测定试验方法.人字切口横梁(CNB)法

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于集成电路测试原理和方法的标准

IEEE 1181-1991 CMOS 和 BiCMOS 集成电路工艺表征的闩锁测试方法的推荐实践

IET - Institution of Engineering and Technology，关于集成电路测试原理和方法的标准

TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008 模拟混合信号和射频集成电路的测试和诊断：片上系统方法

美国电气电子工程师学会，关于集成电路测试原理和方法的标准

IEEE P1500/D1.4, November 2021 嵌入式内核集成电路的 IEEE 标准可测试性方法草案
IEEE Std 1181-1991 CMOS 和 BiCMOS 集成电路工艺特性的闩锁测试方法的 IEEE 推荐规程
IEEE 1500-2022 基于嵌入式内核的集成电路的 IEEE 标准可测试性方法
IEEE Std 1500-2005 基于嵌入式内核的集成电路的 IEEE 标准可测试性方法
IEEE Std 1500-2022 基于嵌入式内核的集成电路的 IEEE 标准可测试性方法
IEEE P1500/D1.5, February 2022 IEEE 批准的嵌入式内核集成电路标准可测试性方法草案
IEEE Std P1500/D11, Jan 06 基于嵌入式内核的集成电路的 IEEE 标准可测试性方法草案
IEEE P1500/D1.3, May 2021 基于嵌入式内核的集成电路的 IEEE 标准可测试性方法草案
IEEE/IEC 62528-2007 IEC 62528 版 1（IEEE Std 1500（TM）-2005）：基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法
IEC 62528:2007 (E) IEC 62528 版 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005)：基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法

国际电工委员会，关于集成电路测试原理和方法的标准

IEC 60747-5-3:1997 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法
IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 分立半导体器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测量方法
IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV 分立半导体器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测量方法

GOSTR，关于集成电路测试原理和方法的标准

GOST R 57394-2017 集成电路和半导体器件无故障运行加速试验方法

美国机动车工程师协会，关于集成电路测试原理和方法的标准

SAE J1752-1-2006 集成电路电磁兼容性(EMC)测量方法总则和定义用电磁兼容性(EMC)测量方法

丹麦标准化协会，关于集成电路测试原理和方法的标准

DS/ISO/IEC 10373-3:2011 识别卡测试方法第3部分：带触点和相关接口设备的集成电路卡
DS/ISO/IEC 10373-3/Cor 1:2013 识别卡测试方法第3部分：带触点和相关接口设备的集成电路卡
DS/EN 60747-5-3/A1:2002 分立半导体器件和集成电路第 5-3 部分：光电器件测量方法
DS/EN 60747-5-3:2002 分立半导体器件和集成电路第 5-3 部分：光电器件测量方法

印度尼西亚标准，关于集成电路测试原理和方法的标准

SNI ISO/IEC 10373-3:2015 识别卡测试方法第3部分：带触点和相关接口设备的集成电路卡

美国材料与试验协会，关于集成电路测试原理和方法的标准

ASTM F744M-97(2003) 测量数字集成电路翻转剂量率阈值的标准试验方法[米制]
ASTM F744M-97 数字集成电路的干扰用剂量阈值测量的标准试验方法(米制)
ASTM F744M-16 测量数字集成电路 (米制) 混乱用剂量率阀值的标准试验方法
ASTM F744M-10 数字集成电路扰乱的剂量速率阙值测定的标准试验方法【公制单位】
ASTM D3382-95 使用桥梁技术测量部分放电（电晕）的能量和集成电荷转移的标准测试方法
ASTM D3382-95(2001)e1 使用桥梁技术测量部分放电（电晕）的能量和集成电荷转移的标准测试方法

法国标准化协会，关于集成电路测试原理和方法的标准

NF C96-005-3*NF EN 60747-5-3:2001 分立半导体器件和集成电路第 5-3 部分：光电器件测量方法
NF C96-005-3/A1*NF EN 60747-5-3/A1:2002 分立半导体器件和集成电路第 5-3 部分：光电器件测量方法
NF EN 60747-5-3:2001 分立半导体器件和集成电路 - 第 5-3 部分：光电器件 - 测量方法
NF EN 60747-5-3/A1:2002 分立半导体器件和集成电路 - 第 5-3 部分：光电器件 - 测量方法
NF EN ISO 11608-3:2022 医用针注射系统 - 要求和测试方法 - 第 3 部分：容器和集成流体路径
NF EN 62132-2:2011 集成电路 - 电磁抗扰度的测量 - 第 2 部分：辐射抗扰度的测量 - TEM 池方法和宽带 TEM 池
NF EN 61967-2:2006 集成电路 - 电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：辐射发射测量 - TEM 室方法和宽带 TEM 室

KR-KS，关于集成电路测试原理和方法的标准

KS C IEC 60747-5-3-2020 分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法
KS X ISO/IEC 10373-3-2022 识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口装置的集成电路卡

ES-UNE，关于集成电路测试原理和方法的标准

UNE-EN 60747-5-3:2001 分立半导体器件和集成电路第5-3部分：光电器件测量方法
UNE-EN 60747-5-3:2001/A1:2002 分立半导体器件和集成电路第5-3部分：光电器件测量方法
UNE-EN ISO 11608-3:2022 医用针注射系统要求和测试方法第3部分：容器和集成流体路径
UNE-EN 62132-2:2011 集成电路电磁抗扰度的测量第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
UNE-EN 61967-2:2005 集成电路电磁辐射测量 150kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法

PL-PKN，关于集成电路测试原理和方法的标准

PN T01302-03-1991 半导体器件数字集成电路测试方法[翻译出版IEC 748-2 （1985）．第IV，V章]

AENOR，关于集成电路测试原理和方法的标准

UNE 199031-2:2011 道路交通管理设备数据采集站测试和证明方法第2部分：电磁兼容性

德国标准化学会，关于集成电路测试原理和方法的标准

DIN EN ISO 11608-3:2022-09 医用针式注射系统要求和测试方法第3部分：容器和集成流体路径
DIN EN ISO 11608-3:2022 医用针注射系统要求和测试方法第 3 部分：容器和集成流体路径 (ISO 11608-3:2022)

ZA-SANS，关于集成电路测试原理和方法的标准

SANS 10373-3:2004 识别卡．试验方法．第3部分：带触点的集成电路卡和有关接口装置

日本工业标准调查会，关于集成电路测试原理和方法的标准

JIS X 6305-3:2002 识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口器件的集成电路卡
JIS X 6305-3:2012 识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口器件的集成电路卡

未注明发布机构，关于集成电路测试原理和方法的标准

CSA ISO/IEC 10373-3:2019 识别卡试验方法第3部分：带触点的集成电路卡和相关接口装置
DIN EN ISO 11608-3 E:2020-05 医用针式注射系统要求和测试方法第3部分：容器和集成流体路径（草案）
DIN EN ISO 11608-3 E:2011-01 医用针式注射系统要求和测试方法第3部分：容器和集成流体路径（草案）

ANSI - American National Standards Institute，关于集成电路测试原理和方法的标准

INCITS/ISO/IEC 10373-3:2001 识别卡测试方法第3部分：带有触点和相关接口设备的集成电路卡（由 INCITS 采用）

行业标准-邮电通信，关于集成电路测试原理和方法的标准

YD/T 1763.1-2011 TD-SCDMA/WCDMA数字蜂窝移动通信网.通用集成电路卡（UICC）与终端间Cu接口测试方法.第1部分：物理、电气和逻辑特性
YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第2部分：UICC
YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第1部分：终端

IEC - International Electrotechnical Commission，关于集成电路测试原理和方法的标准

PAS 62307-2002 用于测量集成电路中有机材料的水分扩散率和水溶性的测试方法（1.0 版；Jedec JESD22-A120：2001年6月）

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于集成电路测试原理和方法的标准

GB/T 36474-2018 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

欧洲电工标准化委员会，关于集成电路测试原理和方法的标准

EN 60747-5-3:2001 分立半导体器件和集成电路.第5-3部分:光电设备.测量方法;包含修改件A1-2002

立陶宛标准局，关于集成电路测试原理和方法的标准

LST EN 60747-5-3+A1-2002 分立半导体器件和集成电路第5-3部分：光电器件测量方法（IEC 60747-5-3:1997+A1:2002）