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cristal

cristal, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en cristal son: Equipo medico, Pesticidas y otros agroquímicos, Componentes electrónicos en general., Dispositivos semiconductores, Optoelectrónica. Equipo láser, químicos inorgánicos, Química analítica, Filtros electricos, Estandarización. Reglas generales, ingeniería de energía nuclear, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Pruebas eléctricas y electrónicas., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Hornos industriales, Terminal de TI y otros equipos periféricos, Materiales semiconductores, ingeniería de energía solar, Pilas y baterías galvánicas., Óptica y medidas ópticas., Minerales no metalíferos, Cerámica, Educación, Vocabularios, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Sistemas de vehículos de carretera, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Cinematografía, Joyería, Metales no ferrosos, Mediciones de radiación, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Herramientas de corte, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Símbolos gráficos, Equipo de trabajo sin chip, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Plástica, Vaso, herramientas de mano, Residuos, Químicos orgánicos, pruebas de metales, Metales ferrosos.


American National Standards Institute （ANSI), cristal

ES-UNE, cristal

  • UNE-EN 120003:1992 BDS: FOTOTRANSISTORES, TRANSISTORES FOTOCARLINGTON, Matrices de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 168100:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
  • UNE-EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2019.)
  • UNE-EN 168200/A1:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 168200:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Accesorio de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2017.)

SE-SIS, cristal

RO-ASRO, cristal

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, cristal

  • GB 9558-2001 Cristalo-dimetoato
  • GB/T 3352-1994 Cristal de cuarzo sintético
  • GB/T 3351~353-1982 cristal de cuarzo artificial
  • GB/T 8553-2023 Especificaciones generales para cajas de cristal.
  • GB/T 6628-1996 Cristal de cuarzo sintético enmaderado.
  • GB/T 7895-2008 Cristal de cuarzo sintético de grado óptico.
  • GB 6430-1986 Nomenclatura del modelo de caja de cristal
  • GB/T 16863-1997 Método para probar el índice de refracción de cristales.
  • GB 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo Especificación genérica para
  • GB/T 3353-1995
  • GB/T 31958-2015 Vidrio de sustrato para dispositivo de visualización de cristal líquido con transistor de película delgada
  • GB/T 22319.7-2015 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de caídas de actividad de unidades de cristal de cuarzo.
  • GB/T 16468-1996 Programas en serie para transistores de inducción estática.
  • GB/T 43612-2023 Mapa de defectos del material de cristal de carburo de silicio
  • GB 51136-2015 Especificaciones para el diseño de fábrica de pantalla de cristal líquido con transistor de película delgada
  • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
  • GB/T 31958-2023 Vidrio de sustrato para pantalla de cristal líquido de transistor de película delgada de silicio amorfo
  • GB/T 22319.8-2008 Medición de los parámetros de la unidad de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.

Professional Standard - Medicine, cristal

Professional Standard - Machinery, cristal

  • JB/T 9495.1-1999 Cristales ópticos
  • JB/T 10789-2007 Hornos de crecimiento de cristales de alta presión. Hornos de crecimiento de cristales de alta presión de la serie TDR-GY mediante el método czoctn-alski encapsulado en líquido
  • JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
  • JB/T 8951.1-1999 Transistor Bipolar de Puerta Aislada
  • JB/T 11375-2013 Pantalla de proyección de cristal ultramicro
  • JB/T 9395.3-1999 Método de medición de la transmitancia de cristal óptico.
  • JB/T 9495.3-1999 Método de medición de la transmitancia de cristal óptico.
  • JB/T 9495.2-1999 Método de medición del índice de refracción de cristales ópticos.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, cristal

German Institute for Standardization, cristal

  • DIN EN 120003:1996 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores; Versión alemana EN 120003:1992
  • DIN EN 120003:1996-11 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores; Versión alemana EN 120003:1992
  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
  • DIN IEC 60679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
  • DIN EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
  • DIN EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 11979-10:2006-11
  • DIN EN 60444-9:2007-12 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
  • DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO/DIS 11979-7:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 11979-7:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-03-03*Previsto como reemplazo...
  • DIN EN 60444-8:2017-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2016); Versión alemana EN 60444-8:2017 / Nota: DIN EN 60444-8 (2004-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 19 de enero de 2020.
  • DIN IEC 60679-2:1997-09 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
  • DIN 4000-19:1988-12 Diseños tabulares de características de artículos para transistores y tiristores.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, cristal

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, cristal

Lithuanian Standards Office , cristal

  • LST EN 120003-2001 Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • LST EN ISO 11979-10:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)

Association Francaise de Normalisation, cristal

  • NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • NF EN 120003:1992 Especificación de marco especial: fototransistores, transistores fotodarlington, redes de fototransistores
  • NF EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
  • NF S94-750-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: lentes intraoculares fáquicas.
  • NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 9: medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • NF C93-601/AM1:1976 COMPONENTES PARA EQUIPOS ELECTRÓNICOS. DISPOSITIVOS PIEZOELÉCTRICOS. SOPORTES DE CRISTAL.
  • NF C57-203*NF EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares.
  • NF C93-621-8*NF EN 60444-8:2017 Medición de los parámetros de las unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.

SCC, cristal

  • DANSK DS/EN 120003:2016 Especificación detallada en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • IEC 60758:1983 Cristal de cuarzo sintético - Capítulo I: Especificación para el cristal de cuarzo sintético - Capítulo II: Guía para el uso del cristal de cuarzo sintético
  • BS EN ISO 11979-10:2006+A1:2014 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares-Lentes intraoculares fáquicas
  • IEC 60758:1983/AMD1:1983 Enmienda 1 - Cristal de cuarzo sintético - Capítulo I: Especificación para el cristal de cuarzo sintético - Capítulo II: Guía para el uso del cristal de cuarzo sintético
  • ANSI Z80.13-2007(R2017) Oftálmica - Lentes intraoculares fáquicas
  • BS 2271-3:1965 Especificación para unidades de cristal oscilador de cuarzo-Guía para el uso de cristales osciladores de cuarzo
  • BS IEC 60747-4-1:2000 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos: diodos y transistores de microondas. Transistores de efecto de campo de microondas. Especificación detallada en blanco: BDS para transistores de efecto de campo de microondas
  • DANSK DS/EN ISO 11979-10/A1:2006 Implantes oftálmicos – Lentes intraoculares – Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas
  • IEC 60122-2:1962 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 2: Guía para el uso de cristales de oscilador de cuarzo
  • DANSK DS/EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada – Parte 4: Unidades de cristal con termistores
  • CEI EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 4: Unidades de cristal con termistores
  • IEC 60458:1974 Balastros transistorizados para lámparas fluorescentes
  • NS-EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)
  • AENOR UNE-EN ISO 11979-10:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas. (ISO 11979-10:2006)
  • AENOR UNE-EN ISO 11979-10/A1:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas. (ISO 11979-10:2006)
  • DANSK DS/EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico.
  • CEI EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
  • CEI EN 60444-9:2009 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • UNE 20541-1:1974 TENSIONES DE ALIMENTACIÓN PARA INSTRUMENTOS NUCLEARES TRANSISTORIZADOS
  • BS 9300 C328:1971 Especificación detallada para el transistor de alta frecuencia npn de silicio
  • CAN/CGSB 2.47-1994 Producto de limpieza para inodoros (gránulos o cristales)
  • NS-EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018)
  • DANSK DS/EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos – Lentes intraoculares – Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018)
  • IEC 60122-2:1962/AMD1:1969 Enmienda 1 - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 2: Guía para el uso de cristales de oscilador de cuarzo
  • DANSK DS/EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie

HU-MSZT, cristal

CZ-CSN, cristal

Professional Standard - Light Industry, cristal

Professional Standard - Building Materials, cristal

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), cristal

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), cristal

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, cristal

轻工业部, cristal

Group Standards of the People's Republic of China, cristal

  • T/CSTM 00316-2022 Monocristales optoeléctricos: monocristales de tantalato de litio para detección infrarroja piroeléctrica
  • T/CECA 48-2021 Elemento de microbalanza de cristal de cuarzo
  • T/QGCML 1655-2023 LCD de transistores de película delgada
  • T/CPIA 0037-2022 Especificaciones para obleas cristalinas fotovoltaicas
  • T/HEBQIA 135-2022 Oscilador de cristal de temperatura constante OC1409
  • T/VSAC 001-2023 Valoración de piedras ornamentales de cristales minerales
  • T/CAB 0180-2022 Método de medición de parámetros característicos del cristal GAGG y la matriz de cristales.
  • T/SZBX 061-2021 Módulo fotovoltaico de silicio cristalino de baja degradación
  • T/CSTM 00035-2020 Cristal de centelleo de oxiortosilicato de itrio dopado con cerio
  • T/ZZB 0091-2016 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino
  • T/ZZB 0514-2018 Película reflectora óptica para pantalla de panel TFT-LCD
  • T/CSTM 00584-2022 Tejas fotovoltaicas de silicio cristalino en edificios
  • T/CSTM 00036-2020 Cristal de centelleo de granate, galio, aluminio, gadolinio y dopado con cerio
  • T/CPIA 0043-2022 Directrices para el desguace de módulos fotovoltaicos de silicio cristalino
  • T/ZPP 020-2022 Especificaciones del resonador de cristal de diapasón
  • T/CPIA 0048.1-2022 Directrices de fabricación de células fotovoltaicas estándar de silicio cristalino para líneas de producción Parte 1: Células fotovoltaicas de silicio cristalino homogéneo
  • T/CPIA 0048.2-2023 Directrices para la fabricación de células fotovoltaicas de silicio cristalino estándar para líneas de producción Parte 2: Células fotovoltaicas de silicio cristalino heterogéneo
  • T/ZJCX 0021-2022 Resonador de cristal de cuarzo para electrónica automotriz.

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., cristal

  • IEEE 176-1949 NORMAS SOBRE CRISTALES PIEZOELÉCTRICOS
  • IEEE 180-1962 NORMAS SOBRE CRISTALES PIEZOELÉCTRICOS Y FERROELÉCTRICOS: DEFINICIONES DE TÉRMINOS DE CRISTAL FERROELÉCTRICO 1962 (62 IRE 14.S1)
  • IEEE 218-1956 MÉTODOS ESTÁNDAR DE PRUEBA DE TRANSISTORES

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, cristal

U.S. Military Regulations and Norms, cristal

Professional Standard - Education, cristal

British Standards Institution (BSI), cristal

  • BS EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Lentes intraoculares fáquicas
  • BS EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • BS EN ISO 11979-7:2024 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares: investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • BS EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • BS EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Unidades de cristal con termistores
  • BS EN 120003:1986 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación detallada en blanco - Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • BS EN 120003:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • BS EN 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
  • BS EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
  • BS PD ISO/TS 23151:2021 Nanotecnologías. Distribución del tamaño de partículas de nanocristales de celulosa. Distribución del tamaño de partículas para nanocristales de celulosa.
  • BS EN 60444-7:2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo
  • BS EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo.
  • BS EN ISO 11979-10:2018 Cambios rastreados. Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
  • 23/30453001 DC BS EN ISO 11979-7. Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares - Parte 7. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia

YU-JUS, cristal

  • JUS N.R9.071-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema de dos portacristales, tipo 18
  • JUS N.R9.070-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Soporte de cristal de dos clavijas, tipo 09
  • JUS N.R9.073-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos hilos, tipo 17
  • JUS N.R9.069-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Contorno de dos portacristales piri, tipo 07
  • JUS N.R9.064-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema del soporte de cristal de dos hilos. Tipos 11, 14 y 15
  • JUS N.R1.373-1980 Yodos semiconductores. Clasificaciones y características esenciales. Diodos de señal de baja potencia
  • JUS N.R1.390-1979 Tnmmton bipolar. Clasificaciones y características esenciales: transistores de señal de potencia bw
  • JUS N.R1.450-1981 Transistores bipolares. Métodos de medición
  • JUS N.R1.471-1985 Transistores bipolares. Métodos de medición de referencia.
  • JUS A.A4.303-1990 Diseños tabulares de características de artículos para transistores y tiristores.

TR-TSE, cristal

Professional Standard - Electron, cristal

  • SJ/T 11199-1999 Piezas en bruto de cristal de cuarzo piezoeléctrico
  • SJ/Z 9155.2-1987 Oscilador de cristal de cuarzo Parte 2: Guía para el uso del oscilador de cristal de cuarzo
  • SJ/T 10639-1995 Términos unitarios de cristal de cuarzo
  • SJ 1852-1981 Términos para osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
  • SJ/T 2217-2014 Especificación técnica para fototransistor de silicio.
  • SJ 51648/5-1997 Tipo ZC 503, osciladores, cristal, especificación detallada para
  • SJ/T 10638-1995 Métodos de medición para osciladores de cristal de cuarzo.
  • SJ 51648.4-1995 Oscilador, cristal, tipo ZC505E, especificación detallada para
  • SJ 2816.1-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados) para el tipo J1
  • SJ 2816.3-1987 Especificación detallada para soportes (cajas) de cristal (soldados) para el tipo J3
  • SJ 51648/1-1994 Oscilador, cristal, especificación detallada tipo ZF507 para
  • SJ 51648/2-1994 Oscilador, tipo cristal ZD509, especificación detallada para
  • SJ/T 11516-2015 Especificación para máscara de transistor de película delgada (TFT)
  • SJ/T 11550-2015 Cinta de inmersión de soldadura a base de estaño utilizada para módulos fotovoltaicos (PV) de silicio cristalino

PL-PKN, cristal

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, cristal

  • GB/T 37398-2019 Cristal de centelleo de fluoruro de bario
  • GB/T 8756-2018 Colección de metalografías sobre defectos del cristal de germanio.
  • GB/T 39131-2020 Términos y definiciones de materiales de cristal sintético.
  • GB/T 37896-2019 Vidrio laminado fotovoltaico (PV) de silicio cristalino ligero

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, cristal

工业和信息化部, cristal

AR-IRAM, cristal

GSO, cristal

  • GSO ISO 11979-10:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas
  • BH GSO ISO 11979-10:2016 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas
  • GSO IEC 60679-2:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo - Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • OS GSO IEC 60679-2:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo - Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • BH GSO IEC 60679-2:2016 Osciladores controlados por cristal de cuarzo - Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • GSO IEC 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie

International Electrotechnical Commission (IEC), cristal

  • IEC 60679-2:1981 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • IEC 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores
  • IEC 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
  • IEC 60444-8:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie

United States Navy, cristal

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, cristal

Defense Logistics Agency, cristal

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, cristal

  • GJB 1648-1993 Especificaciones generales para osciladores de cristal.
  • GJB 1787-1993 Especificaciones para cristales de cuarzo artificiales
  • GJB 1648-2-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
  • GJB 1648A-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
  • GJB 2138-1994 Especificaciones generales para componentes de cristal de cuarzo.
  • GJB 1508A-2021 Especificaciones generales para filtros de cristal.
  • GJB 2138A-2015 Especificaciones generales para componentes de cristal de cuarzo.
  • GJB 1508-1992 Especificaciones generales para filtros de cristal de cuarzo.

KR-KS, cristal

  • KS C IEC 60679-2-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60679-2-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60122-4-2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
  • KS C IEC 60444-9-2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancia espuria de unidades de cristal piezoeléctrico.
  • KS C IEC 60444-8-2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.

Danish Standards Foundation, cristal

European Committee for Standardization (CEN), cristal

  • EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
  • EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)
  • EN ISO 11979-7:2024 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2024)
  • EN ISO 11979-10:2006/A1:2014 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014)

Indonesia Standards, cristal

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, cristal

  • GB/T 35316-2017 Colección de metalografías sobre defectos del cristal de zafiro.
  • GB/T 22319.9-2018 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico.

Professional Standard - Agriculture, cristal

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), cristal

未注明发布机构, cristal

  • IEEE Std 176-1987 Estándares IEEE sobre cristales piezoeléctricos
  • DIN EN ISO 11979-10 E:2017-02 Implantes oftálmicos Lentes intraoculares Parte 10: Implantación de lentes intraoculares fáquicas (borrador)
  • DIN IEC 679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo; Parte 2; Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.

GOST, cristal

CEN - European Committee for Standardization, cristal

  • EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores

International Organization for Standardization (ISO), cristal

  • ISO/FDIS 11979-7:2011 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • ISO/DIS 11979-7 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, cristal

  • EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • HD 302-1975 Balasto transistorizado para lámparas fluorescentes

IN-BIS, cristal

  • IS 4570 Pt.11-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 11 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS PINES, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DQ
  • IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK
  • IS 10184-1982 ESPECIFICACIÓN PARA CRISTAL DE CUARZO SINTÉTICO MADERADO
  • IS 8899-1978 GUÍA PARA EL USO DEL CRISTAL DE CUARZO SINTÉTICO
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 5 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 4 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 04
  • IS 4570 Pt.6-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 6 METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE DOS PINES TIPO CX
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 3 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 03
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 2 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 1 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 01
  • IS 4570 Pt.7-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 7 MICROMINIATURA, METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPO DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 12 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS, MICROMINIATURA, METÁLICO, SOLDADO EN FRÍO, TIPO EB
  • IS 4570 Pt.3-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 3 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL TIPO TUBO (VIDRIO) TIPOS AP, AR, AS, AT Y AU

AENOR, cristal

RU-GOST R, cristal

  • GOST 18604.8-1974 Transistores. Método para medir la conductividad de salida.
  • GOST 5279-1974 Grafito cristal para fundición. Especificaciones
  • GOST 5639-1982 Aceros y aleaciones. Métodos para la detección y determinación del tamaño de grano.

General Motors Corporation (GM), cristal

  • GM 9984415-1994 Refinador de cristal, sistema de fosfato de zinc, revisión A

Association of German Mechanical Engineers, cristal

Ningxia Provincial Standard of the People's Republic of China, cristal

  • DB64/T 1971-2023 Especificaciones de reciclaje de módulos fotovoltaicos de silicio cristalino.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, cristal

  • YS/T 1655-2023 Deposición química de vapor de cristales de sulfuro de zinc.

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, cristal

Professional Standard - Chemical Industry, cristal

  • HG/T 4357-2012 Polarizador para transistor de película delgada-Pantalla de cristal líquido (TFT-LCD)

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