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Medidor de espesor de oblea de silicio

Medidor de espesor de oblea de silicio, Total: 188 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medidor de espesor de oblea de silicio son: Fluidos aislantes, Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, ingeniería de energía solar, pruebas de metales, Medidas lineales y angulares., Química analítica, Equipos para la industria papelera., Plástica, Equipo medico, Pinturas y barnices, Farmacia, Productos de hierro y acero., Sistemas de vehículos de carretera, Minerales no metalíferos, Fotografía, Productos de caucho y plástico., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Medición del flujo de fluido., Tratamiento superficial y revestimiento., Equipo óptico, Circuitos integrados. Microelectrónica, Maquinaria rotativa, Materiales para la construcción aeroespacial., ingeniería de energía nuclear, Productos de la industria textil., Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones..


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • GB/T 6618-1995
  • GB/T 6618-2009 Método de prueba para el espesor y la variación del espesor total de rodajas de silicio.
  • GB/T 30867-2014 Método de prueba para medir el espesor y la variación total del espesor de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 30869-2014 Método de prueba para determinar el espesor y la variación del espesor total de obleas de silicio para células solares
  • GB/T 29507-2013 Método de prueba para medir la planitud, el espesor y la variación del espesor total en obleas de silicio. Escaneo automatizado sin contacto
  • GB/T 31225-2014 Método de prueba para el espesor del óxido de silicio sobre sustrato de Si mediante elipsómetro
  • GB/T 25188-2010 Mediciones de espesor para capas ultrafinas de óxido de silicio en obleas de silicio Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • GB/T 30857-2014 Método de prueba estándar para espesor y variación de espesor en sustratos de zafiro
  • GB/T 6619-1995
  • GB/T 6619-2009 Método de prueba para el arco de obleas de silicio.
  • GB/T 15615-1995 Método de prueba para medir la resistencia a la flexión de láminas de silicio.
  • GB/T 20220-2006 Plástico. Películas y láminas. Determinación del espesor medio de una muestra, y del espesor medio y rendimiento de un rollo, mediante técnicas gravimétricas (grosor gravimétrico)
  • GB/T 6621-2009 Métodos de prueba para determinar la planitud de la superficie de rodajas de silicio.
  • GB/T 42905-2023 Método de reflexión infrarroja para medir el espesor de la capa epitaxial de carburo de silicio
  • GB/T 42789-2023 Método de prueba para determinar el brillo superficial de una oblea de silicio.
  • GB/T 11378-2005 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método perfilométrico.
  • GB/T 6620-1995
  • GB/T 6621-1995
  • GB/T 6620-2009 Método de prueba para medir la deformación en rodajas de silicio mediante escaneo sin contacto
  • GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
  • GB/T 6672-2001 Películas y láminas de plástico Determinación del espesor mediante escaneo mecánico
  • GB/T 42897-2023 Método de prueba de resistencia a la tracción de película nanogruesa MEMS basada en tecnología de sistemas microelectromecánicos (MEMS)
  • GB/T 32280-2015 Método de prueba para la deformación de obleas de silicio. Método de escaneo automatizado sin contacto.
  • GB/T 30859-2014 Método de prueba para determinar la deformación y la ondulación de obleas de silicio para células solares
  • GB/T 29505-2013 Método de prueba para medir la rugosidad de la superficie en superficies planas de oblea de silicio.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • KS D 0259-2012(2017) Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
  • KS D 0259-2012(2022) Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
  • KS D 0259-2012 Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
  • KS B ISO 9339-1:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación del espesor-Parte 1:Lentes de contacto rígidas
  • KS B ISO 9339-1:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación del espesor. Parte 1: Lentes de contacto rígidas.
  • KS B ISO 9339-2:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación del espesor-Parte 2:Lentes de contacto de hidrogel
  • KS B ISO 9339-2:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación del espesor. Parte 2: Lentes de contacto de hidrogel.
  • KS M 3089-2009 Método de prueba para el espesor de películas y láminas de plástico.
  • KS M 3089-1994 Método de prueba para el espesor de películas y láminas de plástico.
  • KS M 3089-2013 Método de prueba para el espesor de películas y láminas de plástico.
  • KS D ISO 4518-2012(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método perfilométrico
  • KS M ISO 4591:2007 Plásticos-Películas y láminas-Determinación del espesor medio de una muestra, y del espesor medio y rendimiento de un rollo, mediante técnicas gravimétricas(grosor gravimétrico)
  • KS D ISO 4519:2009 Recubrimientos metálicos electrodepositados y acabados relacionados－Procedimientos de muestreo para inspección por atributos
  • KS L 5106-1995 Método de prueba para determinar la finura del cemento Portland mediante un aparato de permeabilidad al aire.
  • KS D ISO 3497-2002(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Métodos espectrométricos de rayos X

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • JIS H 0611:1994 Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
  • JIS K 7130:1999 Plásticos - Películas y láminas - Determinación del espesor
  • JIS K 7130:1992 Métodos de prueba para el espesor de películas y láminas de plástico.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • ASTM F533-96 Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio
  • ASTM F533-02 Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio
  • ASTM F1530-94 Método de prueba estándar para medir la planitud, el espesor y la variación del espesor en obleas de silicio mediante escaneo automatizado sin contacto
  • ASTM F534-97 Método de prueba estándar para arco de obleas de silicio
  • ASTM F1527-00 Guía estándar para la aplicación de materiales de referencia estándar de silicio y obleas de referencia para la calibración y control de instrumentos para medir la resistividad del silicio
  • ASTM D4166-99 Método de prueba estándar para medir el espesor de materiales no magnéticos mediante un instrumento digital de intensidad magnética

German Institute for Standardization, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 Obleas solares - Parte 2-1: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Espesor de la oblea
  • DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 Obleas solares - Parte 2-2: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Variaciones de espesor
  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Obleas solares - Parte 3: Daño por corrosión alcalina de obleas de silicio cristalino - Método para determinar la velocidad de corrosión de obleas de silicio mono y multicristalinas (tal como se cortan)
  • DIN 50933:1987 Medición del espesor del recubrimiento mediante medición diferencial utilizando un instrumento de lápiz
  • DIN 50933:2015 Medición de espesores de recubrimiento: medición del espesor de recubrimientos mediante medición diferencial utilizando un instrumento de lápiz
  • DIN 50933:2015-08 Medición de espesores de recubrimiento: medición del espesor de recubrimientos mediante medición diferencial utilizando un instrumento de lápiz
  • DIN 50441-1:1996 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 1: Espesor y variación de espesor.
  • DIN ISO 4593:2019-06 Plásticos. Películas y láminas. Determinación del espesor mediante escaneo mecánico (ISO 4593:1993).
  • DIN IEC 61336:1999-05 Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba (IEC 61336:1996).

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • GB/T 40279-2021 Método de prueba para determinar el espesor de películas sobre la superficie de una oblea de silicio: método de reflexión óptica
  • GB/T 37361-2019 Determinación del espesor de la película: método de medición de espesor por ultrasonidos
  • GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
  • GB/T 32280-2022 Método de prueba para la deformación y el arco de obleas de silicio: método de escaneo automatizado sin contacto

Professional Standard - Light Industry, Medidor de espesor de oblea de silicio

CZ-CSN, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • CSN 64 0181-1986 Plástica. Métodos de determinación del espesor de películas y láminas.
  • CSN ISO 4518:1994 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. método perfilométrico
  • CSN ISO 1879:1993 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Terminología
  • CSN ST SEV 1379-1978 ¿ELECTRICO? ¿ESTROJE A?IV? ¿KOMUT?TOROVA LAMELOV? IZOLACE Sada tlou?těk
  • CSN ISO 1880:1993 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Instrumentos de contacto (stylus) de transformación progresiva del perfil. Instrumentos de grabación de perfiles.

PL-PKN, Medidor de espesor de oblea de silicio

HU-MSZT, Medidor de espesor de oblea de silicio

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • JJF(纺织) 020-2010 Especificación de calibración para instrumentos de espesor de tela.
  • JJF(纺织)020-2010 Especificación de calibración para instrumentos de espesor de tela
  • JJF 1965-2022 Especificación de calibración para instrumentos de inspección de pasta de soldadura
  • JJF(纺织) 13-1985 Método de verificación del medidor de espesor de tela Y531
  • JJF(纺织) 101-2021 Especificación de calibración para probadores de espesor de tipo palanca para geosintéticos
  • JJF 1224-2009 Especificación de calibración para medidor de cobertura de hormigón armado y probador de espesor de losas de piso
  • JJF(纺织)101-2021 Especificación de calibración para probadores de espesor de tipo palanca para geosintéticos
  • JJF(纺织) 025-2015 Especificación de calibración para clasificador grapador de peine de fibra de lana
  • JJF(纺织)025-2015 Especificación de calibración para clasificador grapador de peine de fibra de lana
  • JJF(纺织) 025-2006 Especificación de calibración para analizador de longitud de lana tipo peine

Professional Standard - Machinery, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • JB/T 20104-2007 Probador de dureza
  • JB/T 8393-1996 Instrumento de medición de corrientes de Foucault y magnéticas para medir el espesor del recubrimiento.

工业和信息化部, Medidor de espesor de oblea de silicio

Society of Automotive Engineers (SAE), Medidor de espesor de oblea de silicio

SAE - SAE International, Medidor de espesor de oblea de silicio

The Society for Protective Coatings (SSPC), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • SSPC PA 9-2015 Medición del espesor del recubrimiento seco mediante medidores ultrasónicos
  • SSPC PA 9-2008 Medición del espesor de recubrimiento seco sobre sustratos cementosos mediante medidores ultrasónicos

SSPC - The Society for Protective Coatings, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • PA 9-2015 Medición del espesor del recubrimiento seco mediante medidores ultrasónicos
  • PA 9-2008 Medición del espesor de recubrimiento seco sobre sustratos cementosos mediante medidores ultrasónicos
  • PA GUIDE 9-2008 Medición del espesor de recubrimiento seco sobre sustratos cementosos mediante medidores ultrasónicos

Group Standards of the People's Republic of China, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • T/CAMS 127-2023 Probador de espesor de aislamiento de cables
  • T/IAWBS 007-2018 Método de prueba para determinar el espesor de capas homoepitaxiales de carburo de silicio 4H mediante reflectancia infrarroja

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • CNS 6499-1980 Bloques, adelgazamientos, películas y escisiones de mica: medición de espesor
  • CNS 13923-1997 Método de prueba para determinar el espesor de películas y láminas de plástico.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • YB/T 045-2005 Método de prueba para el espesor del grafito en escamas.
  • YB/T 045-1993 Método para medir el espesor del grafito en escamas.

GM Daewoo, Medidor de espesor de oblea de silicio

UNKNOWN, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • YB/T 045-93 Método para medir el espesor del grafito en escamas.

SE-SIS, Medidor de espesor de oblea de silicio

Professional Standard - Chemical Industry, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • HG/T 3009-1999 Película fotográfica y base de película: determinación del espesor mediante escaneo mecánico.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • GJB 3766-1999 Método para medir el espesor de la lámina explosiva de base dura de detonadores de disco de impacto - Método del perfilómetro de superficie
  • GJB 3766-1999(XG1-2015) Método para medir el espesor de láminas explosivas de base dura en detonadores de disco de impacto: hoja de modificación del método del perfilómetro de superficie 1-2015
  • GJB 8687-2015 Procedimientos de calibración para probadores de espesor e índice de refracción de películas ópticas.

BR-ABNT, Medidor de espesor de oblea de silicio

Defense Logistics Agency, Medidor de espesor de oblea de silicio

British Standards Institution (BSI), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • BS 5806:1979 Método de medición de espesor para bloques, adelgazamientos, películas y escisiones de mica.
  • BS EN ISO 4518:1980 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método perfilométrico
  • BS TA 57:1974
  • BS ISO 8255-1:2011 Microscopios. Cubre vasos. Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
  • BS IEC 61336:1996 Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiaciones ionizantes. Definiciones y métodos de prueba.
  • BS 2782-6 Method 631A:1993 Métodos de ensayo de plásticos. Propiedades dimensionales. Determinación de espesor gravimétrico y rendimiento de lámina flexible.

ES-UNE, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • UNE-ISO 3034:2016 Tablero de fibra corrugado. Determinación del espesor de una sola hoja.

International Organization for Standardization (ISO), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • ISO 4518:1980 Recubrimientos metálicos; Medición del espesor del recubrimiento; método perfilométrico
  • ISO 4591:1992 Plástica; películas y láminas; Determinación del espesor medio de una muestra, y del espesor medio y rendimiento de un rodillo, mediante técnicas gravimétricas (grosor gravimétrico)
  • ISO 8255-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Cubre vasos; Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
  • ISO 5972:1978 Bloques, adelgazamientos, películas y escisiones de mica - Medición de espesores
  • IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
  • IEC/TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
  • ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • JJG 818-2005 Instrumento de medición de corrientes magnéticas y de Foucault para espesor de recubrimiento
  • JJG(轻工) 50-1990 Reglamento de verificación para medidor de espesor de papel y cartón
  • JJG 819-1993 Reglamento de verificación del instrumento para medir la variación del espesor del anillo del rodamiento
  • JJG 818-2018 Normas de verificación para instrumentos de medición de espesores de recubrimientos magnéticos y por corrientes de Foucault

RU-GOST R, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • GOST 8.502-1984 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Medidores de espesor de recubrimiento. Métodos y medios de verificación.
  • GOST 24680-1981 Maquinaria eléctrica rotativa. Placas colectoras aislantes. Fila de espesores
  • GOST 8.495-1983 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Instrumentos ultrasónicos de contacto para medición de espesores. Métodos y medios de verificación.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • DB44/T 1207-2013 Medidor de espesor de recubrimiento magnético y de corrientes de Foucault

Association Francaise de Normalisation, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • NF EN ISO 12625-3:2014 Papel tisú y productos tisú - Parte 3: determinación del espesor, espesor medio de una hoja en un paquete y densidad media y mano
  • NF A91-114:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método perfilométrico.
  • NF C96-050-9*NF EN 62047-9:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • YS/T 23-2016 Método de prueba para el espesor de capas epitaxiales. Tamaño de falla de apilamiento
  • YS/T 23-1992 Método de tamaño de falla de apilamiento para la determinación del espesor de la capa epitaxial de silicio
  • YS/T 15-1991 Determinación de la capa epitaxial de silicio y el espesor de difusión mediante el método de tinción en ángulo de molienda
  • YS/T 14-2015 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.
  • YS/T 14-1991 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.
  • YS/T 15-2015 Determinación del espesor de la capa epitaxial de silicio y la capa de difusión mediante el método de teñido en ángulo de molienda

RO-ASRO, Medidor de espesor de oblea de silicio

IN-BIS, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • IS 9044-1979 MÉTODO DE MEDICIÓN DE ESPESOR DE BLOQUES, DELGADOS, PELÍCULAS Y DIVISIONES DE MICA
  • IS 12434-1988 ESPECIFICACIÓN PARA EL PROBADOR DE ESPESOR DE RECUBRIMIENTOS/PLACADOS, TIPO DESTRUCTIVO
  • IS 12554 Pt.1-1988 ESPECIFICACIÓN PARA INSTRUMENTOS DE PRUEBA DE ESPESOR DE RECUBRIMIENTOS NO DESTRUCTIVOS PARTE 1 INSTRUMENTOS DE CORRIENTES EDDY

ZA-SANS, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • SANS 4591:2003 Plásticos - Películas y láminas - Determinación del espesor medio de una muestra, y del espesor medio y rendimiento de un rollo, mediante técnicas gravimétricas (grosor gravimétrico)
  • SANS 4518:1980 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método perfilométrico
  • SANS 4593:2003 Plásticos - Películas y láminas - Determinación del espesor mediante escaneo mecánico
  • SANS 10834:2003 Revestimientos de suelo textiles: medición no destructiva del espesor del pelo sobre el soporte: método de medición WRONZ

PT-IPQ, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • NP 2214-1986 MATERIAIS PL?STICOS Filme e folha. Determinación de la presión por medio directo
  • NP 770-1988 Papel y cartón Determinación del espesor de hojas sueltas y método de cálculo de la densidad aparente del cartón.

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • NEMA MS 5-2003 Determinación del espesor del corte en imágenes de resonancia magnética de diagnóstico

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • NEMA MS 5-2010 Determinación del espesor del corte en imágenes de resonancia magnética de diagnóstico
  • NEMA MS 5-1991 Determinación del espesor del corte en imágenes de resonancia magnética de diagnóstico
  • NEMA MS 5-2018 Determinación del espesor del corte en imágenes de resonancia magnética de diagnóstico

AENOR, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • UNE-ISO 4591:2010 Plásticos -- Películas y láminas -- Determinación del espesor medio de una muestra, y del espesor medio y rendimiento de un rollo, mediante técnicas gravimétricas (grosor gravimétrico)

YU-JUS, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • JUS C.A6.037-1991 Recubrimientos metálicos. Medición del grosor del revestimiento. Metbo perfilométrico?

European Committee for Standardization (CEN), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • EN ISO 4518:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método perfilométrico (ISO 4518:2021)
  • EN ISO 4518:1995 Recubrimientos Metálicos - Medición del Espesor del Recubrimiento - Método Perfilométrico (ISO 4518:1990)
  • EN 20534:1993 Papel y cartón: determinación del espesor y la densidad aparente aparente o densidad aparente de la hoja (ISO 534: 1988)

工业和信息化部/国家能源局, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • GJB/J 5463-2005 Reglamento de verificación para equipos de medición del índice de refracción y espesor de películas ópticas.

Danish Standards Foundation, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • DS/EN ISO 4518:1995 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método perfiliométrico

Professional Standard - Nuclear Industry, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • EJ/T 1141-2002 Medición del espesor del revestimiento de placas de combustible USi-Al Método de corrientes parásitas sensibles a la fase

未注明发布机构, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • BS IEC 61336:1996(1999) Instrumentación nuclear. Sistemas de medición de espesores que utilizan radiación ionizante. Definiciones y métodos de prueba.

International Electrotechnical Commission (IEC), Medidor de espesor de oblea de silicio

  • IEC 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
  • IEC 62047-9:2011/COR1:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • GB/T 33826-2017 Medición del espesor de nanopelículas sobre sustrato de vidrio: método perfilométrico

Professional Standard - Commodity Inspection, Medidor de espesor de oblea de silicio

  • SN/T 0770-1999 Determinación de óxido de silicio en grafito en escamas de carbono medio. Método fotométrico de azul de molibdeno.

  Medidor de espesor de hoja, Espesor del elipsómetro, Medidor de espesor de cuero, Medidor de espesor de fluorescencia, medidor de espesor de recubrimiento, Medidor de espesor de película delgada, Medidor de espesor de recubrimiento, Medidor de espesor de película de pintura, Medidor de espesor de recubrimiento, Medidor de espesor de película de pintura, Medidor de espesor por infrarrojos, Medidor de espesor de película delgada, medidor de espesor de tejido, Medidor de espesor de placa, Medidor de espesor de placa, medidor de espesor de recubrimiento, Medidor de espesor de oblea de silicio, Medidor de espesor de oblea de silicio, Calibración del medidor de espesor, Lente del medidor de espesor.

 



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