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Principio de prueba Kelvin de semiconductores
Principio de prueba Kelvin de semiconductores, Total: 51 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Principio de prueba Kelvin de semiconductores son: Circuitos integrados. Microelectrónica, ingenieria electrica en general.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Principio de prueba Kelvin de semiconductores
- GB/T 14028-1992 Principios generales de los métodos de medición de interruptores analógicos para circuitos integrados semiconductores.
- GB 14028-2018 Principios básicos de los métodos de prueba de interruptores analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 14030-1992 Principios generales de los métodos de medición de circuitos temporizadores para circuitos integrados de semiconductores.
- GB 14030-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de circuitos basados en el tiempo de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 6798-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.
- GB/T 4377-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición del regulador de voltaje.
- GB/T 14031-1992 Principios generales de los métodos de medición del bucle de fase analógico para circuitos integrados semiconductores.
- GB/T 14032-1992 Principios generales de los métodos de medición de bucles digitales de fase bloqueada para circuitos integrados semiconductores.
- GB/T 14029-1992 Principios generales de los métodos de medición del multiplicador analógico para circuitos integrados semiconductores.
- GB 14029-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de multiplicadores analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
- GB 14031-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de bucles de bloqueo de fase analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
- GB 14032-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de bucles digitales de fase bloqueada para circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 15136-1994 Principios generales de los métodos de medición para relojes de cuarzo y circuitos de vigilancia de circuitos integrados semiconductores.
- GB/T 14115-1993 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores Sample/Hold para circuitos integrados semiconductores.
- GB 3442-1986 Principios básicos de los métodos de prueba de amplificadores operacionales (voltaje) de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 6800-1986 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores de potencia de audio para circuitos integrados de audio semiconductores.
- GB/T 12843-1991 Principio general de los métodos de medición de parámetros de microprocesadores y circuitos de interfaz periféricos para circuitos integrados de semiconductores.
- GB 12843-1991 Principios básicos de los métodos de prueba de parámetros eléctricos para microprocesadores de circuitos integrados semiconductores y circuitos de interfaz periféricos.
- GB/T 14114-1993 Principios generales de los métodos de medición de convertidores V/F y F/V para circuitos integrados semiconductores.
Professional Standard - Electron, Principio de prueba Kelvin de semiconductores
- SJ/T 10735-1996 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos TTL
- SJ/T 10736-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos HTL
- SJ/T 10737-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos ECL
- SJ/T 10741-2000 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
- SJ/T 10741-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
- SJ/T 10804-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición para traductores de nivel.
- SJ/T 10805-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de métodos de medida para comparadores de tensión.
- SJ/T 10882-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para amplificadores lineales.
- SJ/T 10803-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para circuitos de línea.
- SJ/T 10880-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para decodificadores estéreo.
- SJ/T 10739-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio MOS.
- SJ/T 10738-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para amplificadores operacionales (de tensión)
- SJ/T 10800-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para amplificadores de detección.
- SJ/T 10802-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores periféricos.
- SJ/T 10805-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.
- SJ/T 10804-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz: principios generales de métodos de medición para traductores de nivel.
- SJ/T 10806-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores de pantalla.
- SJ/T 11005-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos de canales de audio.
- SJ/T 11006-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de barrido horizontal y vertical.
- SJ/T 10401-1993 Principios generales de métodos de medición para estabilizadores de velocidad de motores de circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10740-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio bipolares.
- SJ/T 10402-1993 Principios generales de métodos de medición para selectores automáticos de música de circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10400-1993 Principios generales de los métodos de medición para ecualizadores gráficos de circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 11004-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de canales de imágenes.
- SJ/T 10879-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para preamplificadores de audio
- SJ/T 10427.1-1993 Principios generales de los métodos de medición del convertidor FM para circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10427.2-1993 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores de frecuencia intermedia para circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10881-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para decodificadores estéreo.
- SJ/T 10801-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores de memoria magnética.
- SJ/T 11007-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de procesamiento de señales de video y señales de crominancia.
- SJ/T 10818-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para convertidores D/A y A/D de circuitos no lineales.
AT-OVE/ON, Principio de prueba Kelvin de semiconductores
- OVE EN IEC 63284:2021 Dispositivos semiconductores - Método de prueba de confiabilidad mediante conmutación de carga inductiva para transistores de nitruro de galio (IEC 47/2681/CDV) (versión en inglés)