ZH

EN

ES

Принцип измерения полупроводников по шкале Кельвина

Принцип измерения полупроводников по шкале Кельвина, Всего: 51 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Принцип измерения полупроводников по шкале Кельвина, являются: Интегральные схемы. Микроэлектроника, Электротехника в целом.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Принцип измерения полупроводников по шкале Кельвина

  • GB/T 14028-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых ключей для полупроводниковых интегральных схем
  • GB 14028-2018 Основные принципы методов испытаний аналоговых переключателей полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 14030-1992 Общие принципы методов измерения таймерных схем полупроводниковых интегральных схем
  • GB 14030-1992 Основные принципы методов временного тестирования полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 6798-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения
  • GB/T 4377-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения регуляторов напряжения
  • GB/T 14031-1992 Общие принципы методов измерения аналоговой фазовой петли для полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 14032-1992 Общие принципы методов измерения цифровой фазовой автоподстройки частоты для полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 14029-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых умножителей для полупроводниковых интегральных схем
  • GB 14029-1992 Основные принципы методов тестирования аналоговых умножителей полупроводниковых интегральных схем
  • GB 14031-1992 Основные принципы методов тестирования аналоговых фазовой автоподстройки частоты полупроводниковых интегральных схем
  • GB 14032-1992 Основные принципы методов цифровой фазовой автоподстройки частоты полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 15136-1994 Общие принципы методов измерения кварцевых часов и часовых схем полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 14115-1993 Общие принципы методов измерения усилителей выборки/хранения для полупроводниковых интегральных схем
  • GB 3442-1986 Основные принципы методов испытаний операционных усилителей (напряжения) полупроводниковых интегральных схем
  • GB/T 6800-1986 Общие принципы методов измерения усилителей мощности звука для полупроводниковых интегральных аудиосхем
  • GB/T 12843-1991 Общие принципы методов измерения параметров микропроцессоров и цепей периферийного интерфейса полупроводниковых интегральных схем
  • GB 12843-1991 Основные принципы методов контроля электрических параметров полупроводниковых интегральных схем микропроцессоров и схем периферийных интерфейсов
  • GB/T 14114-1993 Общие принципы методов измерения преобразователей V/F и F/V для полупроводниковых интегральных схем

Professional Standard - Electron, Принцип измерения полупроводников по шкале Кельвина

  • SJ/T 10735-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ТТЛ-схем.
  • SJ/T 10736-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения HTL-схем.
  • SJ/T 10737-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ЭСЛ-схем.
  • SJ/T 10741-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП схем.
  • SJ/T 10741-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП-схем.
  • SJ/T 10804-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения преобразователя уровня.
  • SJ/T 10805-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
  • SJ/T 10882-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения линейных усилителей.
  • SJ/T 10803-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения линейных цепей.
  • SJ/T 10880-1996 Полупроводниковые интегральные аудиосхемы. Общие принципы методов измерения стереодекодеров.
  • SJ/T 10739-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения МОП-памяти с произвольным доступом.
  • SJ/T 10738-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения операционных усилителей (напряжения)
  • SJ/T 10800-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения усилителей считывания.
  • SJ/T 10802-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов периферийных устройств.
  • SJ/T 10805-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
  • SJ/T 10804-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения для преобразователей уровней.
  • SJ/T 10806-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов дисплеев.
  • SJ/T 11005-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем аудиоканалов.
  • SJ/T 11006-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения для схем строчной и вертикальной развертки.
  • SJ/T 10401-1993 Общие принципы методов измерения стабилизаторов скорости двигателей полупроводниковых интегральных аудиосхем
  • SJ/T 10740-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения биполярных запоминающих устройств с произвольным доступом.
  • SJ/T 10402-1993 Общие принципы методов измерения автоматических музыкальных селекторов полупроводниковых интегральных аудиосхем
  • SJ/T 10400-1993 Общие принципы методов измерения графических эквалайзеров полупроводниковых интегральных аудиосхем
  • SJ/T 11004-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем канала изображения.
  • SJ/T 10879-1996 Полупроводниковые интегральные звуковые схемы. Общие принципы методов измерения звуковых предусилителей.
  • SJ/T 10427.1-1993 Grneral Принципы методов измерения FM-преобразователя для полупроводниковых интегральных аудиосхем
  • SJ/T 10427.2-1993 Общие принципы методов измерения усилителей промежуточной частоты для полупроводниковых интегральных аудиосхем
  • SJ/T 10881-1996 Полупроводниковые интегральные аудиосхемы. Общие принципы методов измерения стереодекодеров.
  • SJ/T 10801-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов магнитной памяти.
  • SJ/T 11007-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем обработки видеосигналов и сигналов цветности.
  • SJ/T 10818-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей нелинейных цепей.

AT-OVE/ON, Принцип измерения полупроводников по шкале Кельвина

  • OVE EN IEC 63284:2021 Полупроводниковые приборы. Метод испытания надежности путем переключения индуктивной нагрузки для транзисторов из нитрида галлия (IEC 47/2681/CDV) (английская версия)




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.