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Métodos básicos de prueba.
Métodos básicos de prueba., Total: 61 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Métodos básicos de prueba. son: Componentes para equipos eléctricos., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Circuitos integrados. Microelectrónica, Calidad, Metrología y medición en general., Materiales de construcción, Odontología, pruebas de metales.
FI-SFS, Métodos básicos de prueba.
AENOR, Métodos básicos de prueba.
- UNE 33101-1:1973 MÉTODO DE ENSAYO DEL VINAGRE VÍNICO. DETERMINACIÓN DE LOS COMPONENTES FUNDAMENTALES.
RU-GOST R, Métodos básicos de prueba.
- GOST 28381-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Métodos básicos de prueba.
- GB/T 14030-1992 Principios generales de los métodos de medición de circuitos temporizadores para circuitos integrados de semiconductores.
- GB 14030-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de circuitos basados en el tiempo de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 14028-1992 Principios generales de los métodos de medición de interruptores analógicos para circuitos integrados semiconductores.
- GB 14028-2018 Principios básicos de los métodos de prueba de interruptores analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 14029-1992 Principios generales de los métodos de medición del multiplicador analógico para circuitos integrados semiconductores.
- GB 14029-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de multiplicadores analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 6798-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.
- GB/T 4377-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición del regulador de voltaje.
- GB/T 14031-1992 Principios generales de los métodos de medición del bucle de fase analógico para circuitos integrados semiconductores.
- GB/T 14032-1992 Principios generales de los métodos de medición de bucles digitales de fase bloqueada para circuitos integrados semiconductores.
- GB 14031-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de bucles de bloqueo de fase analógicos de circuitos integrados de semiconductores.
- GB 14032-1992 Principios básicos de los métodos de prueba de bucles digitales de fase bloqueada para circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 15136-1994 Principios generales de los métodos de medición para relojes de cuarzo y circuitos de vigilancia de circuitos integrados semiconductores.
- GB/T 14115-1993 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores Sample/Hold para circuitos integrados semiconductores.
- GB 3442-1986 Principios básicos de los métodos de prueba de amplificadores operacionales (voltaje) de circuitos integrados de semiconductores.
- GB/T 6800-1986 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores de potencia de audio para circuitos integrados de audio semiconductores.
Association Francaise de Normalisation, Métodos básicos de prueba.
- NF EN 61300-2-21:2010 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Métodos fundamentales de prueba y medición. Parte 2-21: pruebas. Prueba cíclica compuesta de temperatura/humedad.
- NF EN 61300-3-34:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Métodos fundamentales de prueba y medición. Parte 3-34: exámenes y mediciones. Atenuación debida al acoplamiento de cualquier conector.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Métodos básicos de prueba.
- KS A ISO 5725-4:2012 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos de medición y resultados. Parte 4: Métodos básicos para determinar la veracidad de un método de medición estándar.
International Organization for Standardization (ISO), Métodos básicos de prueba.
- ISO 5725-4:1994 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición - Parte 4: Métodos básicos para la determinación de la veracidad de un método de medición estándar
Standard Association of Australia （SAA）, Métodos básicos de prueba.
- AS 1141.2:1999 Métodos para muestreo y prueba de agregados - Equipo de prueba básico
Professional Standard - Electron, Métodos básicos de prueba.
- SJ/T 10735-1996 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos TTL
- SJ/T 10736-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos HTL
- SJ/T 10737-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos ECL
- SJ/T 10741-2000 Circuitos integrados semiconductores Principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
- SJ/T 10741-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos CMOS.
- SJ/T 10804-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición para traductores de nivel.
- SJ/T 10805-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de métodos de medida para comparadores de tensión.
- SJ/T 10882-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para amplificadores lineales.
- SJ 20961-2006 Principios generales de los métodos de medida de convertidores A/D y D/A para circuitos integrados.
- SJ/T 10803-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para circuitos de línea.
- SJ/T 10739-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio MOS.
- SJ/T 10738-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para amplificadores operacionales (de tensión)
- SJ/T 10800-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para amplificadores de detección.
- SJ/T 10802-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores periféricos.
- SJ/T 10805-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.
- SJ/T 10804-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz: principios generales de métodos de medición para traductores de nivel.
- SJ/T 10806-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición para controladores de pantalla.
- SJ/T 11005-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de métodos de medición para circuitos de canales de audio.
- SJ/T 11006-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de barrido horizontal y vertical.
- SJ/T 10401-1993 Principios generales de métodos de medición para estabilizadores de velocidad de motores de circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10740-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio bipolares.
- SJ 2480-1984 Principios generales de medición estática para convertidores D/A para circuitos integrados híbridos.
- SJ/T 10402-1993 Principios generales de métodos de medición para selectores automáticos de música de circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10400-1993 Principios generales de los métodos de medición para ecualizadores gráficos de circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 11004-1996 Circuitos integrados de TV semiconductores: principios generales de los métodos de medición para circuitos de canales de imágenes.
- SJ/T 10880-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para decodificadores estéreo.
- SJ 2481-1984 Principios generales de medición estática para convertidores A/D para circuitos integrados híbridos.
- SJ/T 10879-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para preamplificadores de audio
- SJ/T 10427.1-1993 Principios generales de los métodos de medición del convertidor FM para circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10427.2-1993 Principios generales de los métodos de medición de amplificadores de frecuencia intermedia para circuitos integrados de audio semiconductores.
- SJ/T 10881-1996 Circuitos de audio integrados semiconductores: principios generales de los métodos de medición para decodificadores estéreo.
SE-SIS, Métodos básicos de prueba.
RO-ASRO, Métodos básicos de prueba.
- STAS 12743/6-1989 Componentes electrónicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS DE ENSAYOS BÁSICOS Y MÉTODOS DE MEDIDA Ensayos climáticos y de soldadura
British Standards Institution (BSI), Métodos básicos de prueba.
- DD ISO/TS 11080:2009 Odontología. Características esenciales de los métodos de prueba para la evaluación de métodos de tratamiento destinados a mejorar o mantener la calidad microbiológica del agua de procedimiento de la unidad dental.
- BS CWA 17793:2021 Método de ensayo para la determinación del trabajo esencial de fractura de láminas metálicas dúctiles delgadas.
European Committee for Standardization (CEN), Métodos básicos de prueba.
- CWA 17793-2021 Método de ensayo para la determinación del trabajo esencial de fractura de láminas metálicas dúctiles delgadas.
- CWA 17793:2021 Método de ensayo para la determinación del trabajo esencial de fractura de láminas metálicas dúctiles delgadas.