ZH
EN
ES

Основной метод тестирования

Основной метод тестирования, Всего: 61 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Основной метод тестирования, являются: Компоненты для электрооборудования, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Качество, Метрология и измерения в целом, Строительные материалы, Стоматология, Испытание металлов.

FI-SFS, Основной метод тестирования

SFS 2866-1980

AENOR, Основной метод тестирования

UNE 33101-1:1973 МЕТОД ИСПЫТАНИЯ ВИННОГО УКСУСА. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОСНОВНЫХ КОМПОНЕНТОВ.

RU-GOST R, Основной метод тестирования

GOST 28381-1989 Электромеханические компоненты электронного оборудования. Основные процедуры испытаний и методы измерения

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Основной метод тестирования

GB/T 14030-1992 Общие принципы методов измерения таймерных схем полупроводниковых интегральных схем
GB 14030-1992 Основные принципы методов временного тестирования полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14028-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых ключей для полупроводниковых интегральных схем
GB 14028-2018 Основные принципы методов испытаний аналоговых переключателей полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14029-1992 Общие принципы методов измерения аналоговых умножителей для полупроводниковых интегральных схем
GB 14029-1992 Основные принципы методов тестирования аналоговых умножителей полупроводниковых интегральных схем
GB/T 6798-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения
GB/T 4377-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения регуляторов напряжения
GB/T 14031-1992 Общие принципы методов измерения аналоговой фазовой петли для полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14032-1992 Общие принципы методов измерения цифровой фазовой автоподстройки частоты для полупроводниковых интегральных схем
GB 14031-1992 Основные принципы методов тестирования аналоговых фазовой автоподстройки частоты полупроводниковых интегральных схем
GB 14032-1992 Основные принципы методов цифровой фазовой автоподстройки частоты полупроводниковых интегральных схем
GB/T 15136-1994 Общие принципы методов измерения кварцевых часов и часовых схем полупроводниковых интегральных схем
GB/T 14115-1993 Общие принципы методов измерения усилителей выборки/хранения для полупроводниковых интегральных схем
GB 3442-1986 Основные принципы методов испытаний операционных усилителей (напряжения) полупроводниковых интегральных схем
GB/T 6800-1986 Общие принципы методов измерения усилителей мощности звука для полупроводниковых интегральных аудиосхем

Association Francaise de Normalisation, Основной метод тестирования

NF EN 61300-2-21:2010 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные методы испытаний и измерений. Часть 2-21. Испытания. Испытание составным циклом температуры/влажности.
NF EN 61300-3-34:2009 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные методы испытаний и измерений. Часть 3-34. Исследования и измерения. Затухание из-за сопряжения любых разъемов.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Основной метод тестирования

KS A ISO 5725-4:2012 Точность (правильность и прецизионность) методов измерений и результатов. Часть 4. Основные методы определения правильности стандартного метода измерений.

International Organization for Standardization (ISO), Основной метод тестирования

ISO 5725-4:1994 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 4. Основные методы определения правильности стандартного метода измерений.

Standard Association of Australia （SAA）, Основной метод тестирования

AS 1141.2:1999 Методы отбора проб и испытаний агрегатов. Основное испытательное оборудование.

Professional Standard - Electron, Основной метод тестирования

SJ/T 10735-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ТТЛ-схем.
SJ/T 10736-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения HTL-схем.
SJ/T 10737-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения ЭСЛ-схем.
SJ/T 10741-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП схем.
SJ/T 10741-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения КМОП-схем.
SJ/T 10804-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения преобразователя уровня.
SJ/T 10805-2000 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
SJ/T 10882-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения линейных усилителей.
SJ 20961-2006 Общие принципы методов измерения аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей для интегральных схем
SJ/T 10803-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения линейных цепей.
SJ/T 10739-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения МОП-памяти с произвольным доступом.
SJ/T 10738-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения операционных усилителей (напряжения)
SJ/T 10800-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения усилителей считывания.
SJ/T 10802-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов периферийных устройств.
SJ/T 10805-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения компараторов напряжения.
SJ/T 10804-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения для преобразователей уровней.
SJ/T 10806-1996 Полупроводниковые интегральные схемы, используемые в качестве интерфейсных схем. Общие принципы методов измерения драйверов дисплеев.
SJ/T 11005-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем аудиоканалов.
SJ/T 11006-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения для схем строчной и вертикальной развертки.
SJ/T 10401-1993 Общие принципы методов измерения стабилизаторов скорости двигателей полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10740-1996 Полупроводниковые интегральные схемы. Общие принципы методов измерения биполярных запоминающих устройств с произвольным доступом.
SJ 2480-1984 Общие принципы статических измерений цифро-аналоговых преобразователей для гибридных интегральных схем
SJ/T 10402-1993 Общие принципы методов измерения автоматических музыкальных селекторов полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10400-1993 Общие принципы методов измерения графических эквалайзеров полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 11004-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения схем канала изображения.
SJ/T 10880-1996 Полупроводниковые интегральные аудиосхемы. Общие принципы методов измерения стереодекодеров.
SJ 2481-1984 Общие принципы статических измерений аналого-цифровых преобразователей для гибридных интегральных схем
SJ/T 10879-1996 Полупроводниковые интегральные звуковые схемы. Общие принципы методов измерения звуковых предусилителей.
SJ/T 10427.1-1993 Grneral Принципы методов измерения FM-преобразователя для полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10427.2-1993 Общие принципы методов измерения усилителей промежуточной частоты для полупроводниковых интегральных аудиосхем
SJ/T 10881-1996 Полупроводниковые интегральные аудиосхемы. Общие принципы методов измерения стереодекодеров.

SE-SIS, Основной метод тестирования

SIS SS CECC 00009-1981 Базовая спецификация: Основные процедуры испытаний и методы измерения электромеханических компонентов.

RO-ASRO, Основной метод тестирования

STAS 12743/6-1989 Электронные компоненты электронного оборудования ПРОЦЕДУРЫ ОСНОВНЫХ ИСПЫТАНИЙ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ Климатические и сварочные испытания

British Standards Institution (BSI), Основной метод тестирования

DD ISO/TS 11080:2009 Стоматология. Существенная характеристика методов испытаний для оценки методов обработки, направленных на улучшение или поддержание микробиологического качества процедурной воды стоматологической установки.
BS CWA 17793:2021 Метод испытаний для определения существенной работы разрушения тонких пластичных металлических листов.

European Committee for Standardization (CEN), Основной метод тестирования

CWA 17793-2021 Метод испытаний для определения существенной работы разрушения тонких пластичных металлических листов.
CWA 17793:2021 Метод испытаний для определения существенной работы разрушения тонких пластичных металлических листов.