ZH
RU
EN

¿Qué pasa con la concentración de portadores?

¿Qué pasa con la concentración de portadores?, Total: 21 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en ¿Qué pasa con la concentración de portadores? son: pruebas de metales, químicos inorgánicos, Fluidos aislantes, Materiales semiconductores, Química analítica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

GB/T 8757-1988 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 8757-2006 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 36705-2018 Método de prueba para la concentración de portadores de sustratos de nitruro de galio: método del espectro Raman
GB/T 11068-1989 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación de la concentración de portador. Método de voltaje-capacitancia.
GB/T 14146-1993 Capas epitaxiales de silicio--Determinación de la concentración de portadores--Sonda de mercurio Método de valtage-capacitancia
GB/T 11068-2006 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación del método de capacitancia-voltaje de concentración de portadores
GB/T 14146-2009 Capas epitaxiales de silicio-determinación de la concentración de portadores-voltajes de sonda de mercurio-método de capacitancia
GB 11068-1989 Método de medición de voltaje-capacitancia de concentración de portador de capa epitaxial de GaAs
GB/T 14863-2013 Método para la densidad neta de portadores en capas epitaxiales de silicio mediante capacitancia de voltaje de diodos activados y no activados
GB/T 14863-1993 Método de prueba estándar para la densidad neta de portadores en capas equitaxiales de silicio mediante capacitancia de voltaje de diodos activados y no activados

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

GB/T 14146-2021 Método de prueba para la concentración de portadores de capas epitaxiales de silicio: método de capacitancia-voltaje

Professional Standard - Electron, ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

SJ 2757-1987 Método de medición por reflexión infrarroja de la concentración de portadores de carga en semiconductores fuertemente dopados.
SJ 3248-1989 Métodos para medir la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio añadidos mediante reflexión infrarroja
SJ 3244.1-1989 Métodos de medición de la movilidad del pasillo y la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio.
SJ 3244.4-1989 Métodos de medición para la distribución del perfil de la concentración de portadores de materiales de arseniuro de galio y fosfuro de indio - Método de capacitancia de voltaje electroquímico

Group Standards of the People's Republic of China, ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

T/IAWBS 003-2017 Determinación de la concentración de portador en la capa epitaxial de SiC_Método de capacitancia-voltaje de la sonda de mercurio

British Standards Institution (BSI), ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

PD IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación. Características clave de control. Dispositivos nanoelectrónicos orgánicos/de película fina. Medidas de concentración de portadores de carga.

International Electrotechnical Commission (IEC), ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 5-3: Dispositivos nanoelectrónicos/orgánicos de película delgada - Mediciones de la concentración de portadores de carga
IEC TS 62607-6-16:2022 Nanofabricación. Características clave de control. Parte 6-16: Materiales bidimensionales. Concentración de portadores: método del transistor de efecto de campo.

American Society for Testing and Materials (ASTM), ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

ASTM F398-92(1997) Método de prueba estándar para la concentración de portadores mayoritarios en semiconductores mediante la medición del número de onda o la longitud de onda de la resonancia mínima del plasma

International Organization for Standardization (ISO), ¿Qué pasa con la concentración de portadores?

ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.