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Distribución de concentración de portadores

Distribución de concentración de portadores, Total: 81 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Distribución de concentración de portadores son: Materiales semiconductores, pruebas de metales, químicos inorgánicos, Fluidos aislantes, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Medición del flujo de fluido., Astronomía. Geodesia. Geografía, Dispositivos semiconductores, Química analítica, Calidad del aire, Sistemas y componentes de fluidos aeroespaciales., Sistemas y operaciones espaciales., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Materiales conductores, Combustibles, Metrología y medición en general..

Professional Standard - Electron, Distribución de concentración de portadores

SJ 3244.4-1989 Métodos de medición para la distribución del perfil de la concentración de portadores de materiales de arseniuro de galio y fosfuro de indio - Método de capacitancia de voltaje electroquímico
SJ 2757-1987 Método de medición por reflexión infrarroja de la concentración de portadores de carga en semiconductores fuertemente dopados.
SJ 3248-1989 Métodos para medir la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio añadidos mediante reflexión infrarroja
SJ 3244.1-1989 Métodos de medición de la movilidad del pasillo y la concentración de portadores de arseniuro de galio y fosfuro de indio.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Distribución de concentración de portadores

GB/T 8757-1988 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 8757-2006 Determinación de la concentración de portadores en arseniuro de galio mediante el mínimo de resonancia plasmática
GB/T 36705-2018 Método de prueba para la concentración de portadores de sustratos de nitruro de galio: método del espectro Raman
GB/T 11068-1989 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación de la concentración de portador. Método de voltaje-capacitancia.
GB/T 14146-1993 Capas epitaxiales de silicio--Determinación de la concentración de portadores--Sonda de mercurio Método de valtage-capacitancia
GB/T 11068-2006 Capa epitaxial de arseniuro de galio. Determinación del método de capacitancia-voltaje de concentración de portadores
GB/T 14146-2009 Capas epitaxiales de silicio-determinación de la concentración de portadores-voltajes de sonda de mercurio-método de capacitancia
GB 11068-1989 Método de medición de voltaje-capacitancia de concentración de portador de capa epitaxial de GaAs
GB/T 14863-2013 Método para la densidad neta de portadores en capas epitaxiales de silicio mediante capacitancia de voltaje de diodos activados y no activados
GB/T 14863-1993 Método de prueba estándar para la densidad neta de portadores en capas equitaxiales de silicio mediante capacitancia de voltaje de diodos activados y no activados
GB/T 42732-2023 Medición de distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en fases acuosas en nanotecnología mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de partícula única

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Distribución de concentración de portadores

GB/T 14146-2021 Método de prueba para la concentración de portadores de capas epitaxiales de silicio: método de capacitancia-voltaje
GB/T 39843-2021 Mediciones características electrónicas: densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de área grande

Group Standards of the People's Republic of China, Distribución de concentración de portadores

T/IAWBS 003-2017 Determinación de la concentración de portador en la capa epitaxial de SiC_Método de capacitancia-voltaje de la sonda de mercurio
T/CASAS 010-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de GaN mediante espectrometría de masas de iones secundarios
T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios

British Standards Institution (BSI), Distribución de concentración de portadores

PD IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación. Características clave de control. Dispositivos nanoelectrónicos orgánicos/de película fina. Medidas de concentración de portadores de carga.
BS ISO 21501-3:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas de extinción de luz
BS ISO 21501-2:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas con dispersión de luz
BS ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula: contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz
BS ISO 21501-2:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de partícula única: contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz
19/30385918 DC BS ISO 21501-3. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 3. Contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz.
19/30385915 DC BS ISO 21501-2. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 2. Contador de partículas transmitidas por líquidos con dispersión de luz
BS PD CEN/TR 13205-3:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Análisis de datos de eficiencia de muestreo.
BS EN IEC 61788-17:2021 Cambios rastreados. Superconductividad. Medidas características electrónicas. Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie.
PD CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías. Distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula

International Organization for Standardization (ISO), Distribución de concentración de portadores

ISO/DIS 19430 Determinación de la distribución del tamaño de partículas y la concentración numérica mediante análisis de seguimiento de partículas (PTA)
ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción luminosa de una sola partícula. Parte 3: Contador de partículas transportadas por líquido de extinción de la luz.
ISO 21501-2:2019 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 2: Contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 14952-3:2003 Sistemas espaciales. Limpieza de superficies de sistemas de fluidos. Parte 3: Procedimientos analíticos para la determinación de residuos no volátiles y contaminación por partículas.
ISO/TS 19590:2017 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula
ISO 28439:2011 Atmósferas laborales - Caracterización de aerosoles/nanoaerosoles ultrafinos - Determinación de la distribución de tamaño y concentración numérica mediante sistemas de análisis de movilidad eléctrica diferencial

IN-BIS, Distribución de concentración de portadores

IS 6339-1971 MÉTODOS DE ANÁLISIS DE CONCENTRACIÓN, DISTRIBUCIÓN DEL TAMAÑO DE PARTÍCULAS Y GRAVEDAD ESPECÍFICA DE SEDIMENTOS EN ARROYOS Y CANALES

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Distribución de concentración de portadores

KS B ISO 4365:2022 Flujo de líquidos en canales abiertos. Sedimentos en arroyos y canales. Determinación de la concentración, distribución del tamaño de partículas y densidad relativa.
KS C IEC 60512-5-2:2003 Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 5-2:Pruebas de capacidad de carga de corriente-Prueba 5b:Reducción de temperatura de corriente
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) Conectores para equipos electrónicos－Pruebas y mediciones－Parte 5－2：Pruebas de capacidad de carga de corriente－Prueba 5b：Reducción de temperatura de corriente－
KS C IEC 60512-5-2:2014 Conectores para equipos electrónicos-Pruebas y mediciones-Parte 5-2:Pruebas de capacidad de carga de corriente-Prueba 5b:Reducción de temperatura de corriente

KR-KS, Distribución de concentración de portadores

KS B ISO 4365-2022 Flujo de líquidos en canales abiertos. Sedimentos en arroyos y canales. Determinación de la concentración, distribución del tamaño de partículas y densidad relativa.

International Electrotechnical Commission (IEC), Distribución de concentración de portadores

IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 5-3: Dispositivos nanoelectrónicos/orgánicos de película delgada - Mediciones de la concentración de portadores de carga
IEC TS 62607-6-16:2022 Nanofabricación. Características clave de control. Parte 6-16: Materiales bidimensionales. Concentración de portadores: método del transistor de efecto de campo.
IEC 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual
IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie
IEC 61788-17:2021 RLV Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie

RU-GOST R, Distribución de concentración de portadores

GOST 25645.146-1989 La ionosfera de la Tierra. Modelo de distribución global de concentración, temperatura y frecuencia efectiva de colisión de electrones.
GOST R 25645.158-1994 La ionosfera más alta de la Tierra. Modelo de distribución de la concentración de electrones en la plana del ecuador geomagnético.
GOST R 25645.157-1994 La ionosfera inferior de la Tierra. Modelo de distribución global de concentración y frecuencia efectiva de colisión de electrones para pronóstico de radio VLE-LF
GOST R 8.775-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Composición dispersa de atmósferas gaseosas. Determinación del tamaño de nanopartículas mediante análisis de movilidad eléctrica diferencial para partículas de aerosol.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Distribución de concentración de portadores

ASTM F398-92(1997) Método de prueba estándar para la concentración de portadores mayoritarios en semiconductores mediante la medición del número de onda o la longitud de onda de la resonancia mínima del plasma
ASTM F1392-00 Método de prueba estándar para determinar perfiles de densidad de portadora neta en obleas de silicio mediante mediciones de capacitancia-voltaje con una sonda de mercurio
ASTM D4438-13(2018)e1 Método de prueba estándar para la distribución del tamaño de partículas de catalizadores y portadores de catalizadores mediante conteo electrónico
ASTM D4438-13 Método de prueba estándar para la distribución del tamaño de partículas de catalizadores y portadores de catalizadores mediante conteo electrónico
ASTM D8049-17 Método de prueba estándar para determinar la concentración, el recuento y la distribución de tamaño de partículas sólidas y agua en combustibles destilados ligeros y medios mediante un analizador de partículas por imágenes directas
ASTM D8049-16 Método de prueba estándar para determinar la concentración, el recuento y la distribución de tamaño de partículas sólidas y agua en combustibles destilados ligeros y medios mediante un analizador de partículas por imágenes directas

Association Francaise de Normalisation, Distribución de concentración de portadores

NF X43-283-4*NF EN 13205-4:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 4: prueba de rendimiento del laboratorio basada en la comparación de concentraciones.
XP T16-401*XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula
NF X43-283-1*NF EN 13205-1:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 1: requisitos generales.
FD X43-711-2*FD CEN/TR 16013-2:2010 Exposición en el lugar de trabajo - Guía para el uso de instrumentos de lectura directa para el monitoreo de aerosoles - Parte 2: evaluación de las concentraciones de partículas en el aire mediante contadores ópticos de partículas
NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: pruebas de capacidad de carga de corriente - Prueba 5b: reducción de temperatura de corriente.
NF X43-283-6*NF EN 13205-6:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 6: pruebas de transporte y manipulación.
XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución del tamaño de partículas y concentración de nanopartículas inorgánicas en un medio acuoso mediante espectrometría de masas con plasma inducido en modo de partícula única

CEN - European Committee for Standardization, Distribución de concentración de portadores

CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula

German Institute for Standardization, Distribución de concentración de portadores

DIN EN 13205-4:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 4: Prueba de rendimiento del laboratorio basada en la comparación de concentraciones; Versión alemana EN 13205-4:2014
DIN EN 60512-5-2:2003-01 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente; Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002); Versión alemana EN 60512-5-2:2002 / Nota: DIN IEC 60512-3 (1994-05) sigue siendo válida junto...
DIN EN 13205-1:2014 Exposición en el lugar de trabajo. Evaluación del rendimiento del muestreador para la medición de concentraciones de partículas en el aire. Parte 1: Requisitos generales; Versión alemana EN 13205-1:2014
DIN CEN ISO/TS 19590:2019-11*DIN SPEC 19286:2019-11 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula (ISO/TS 19590:2017); Versión alemana CEN ISO/TS 19590:2019

Danish Standards Foundation, Distribución de concentración de portadores

DS/CEN/TR 16013-2:2010 Exposición en el lugar de trabajo - Guía para el uso de instrumentos de lectura directa para el monitoreo de aerosoles - Parte 2: Evaluación de concentraciones de partículas en el aire mediante contadores ópticos de partículas
DS/EN 60512-5-2:2002
DS/ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.
DS/EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad – Parte 17: Medidas características electrónicas – Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Distribución de concentración de portadores

JIS C 5402-5-2:2005 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente

AENOR, Distribución de concentración de portadores

UNE-EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones - Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente.

European Committee for Standardization (CEN), Distribución de concentración de portadores

EN ISO 28439:2011 Atmósferas laborales. Caracterización de aerosoles/nanoaerosoles ultrafinos. Determinación de la distribución de tamaño y concentración numérica mediante sistemas de análisis de movilidad eléctrica diferencial (ISO 28439:2011).

Lithuanian Standards Office , Distribución de concentración de portadores

LST EN 60512-5-2-2003 Conectores para equipos electrónicos. Pruebas y mediciones. Parte 5-2: Pruebas de capacidad de carga de corriente. Prueba 5b: reducción de la temperatura actual (IEC 60512-5-2:2002)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Distribución de concentración de portadores

EN 60512-5-2:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y mediciones Parte 5-2: Pruebas de capacidad de transporte de corriente - Prueba 5b: Reducción de temperatura de corriente

ES-UNE, Distribución de concentración de portadores

UNE-EN 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie (Ratificada por AENOR en mayo de 2013.)
UNE-EN IEC 61788-17:2021 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2021.)