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microscopio electrónico de metal
microscopio electrónico de metal, Total: 112 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio electrónico de metal son: Medidas lineales y angulares., pruebas de metales, Tratamiento superficial y revestimiento., Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Equipo óptico, Metrología y medición en general., Vocabularios, Calidad del aire, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Finanzas. Bancario. Sistemas monetarios. Seguro, Educación, Conjuntos de componentes electrónicos., Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general..
American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio electrónico de metal
- ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
IT-UNI, microscopio electrónico de metal
- UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
- UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.
British Standards Institution (BSI), microscopio electrónico de metal
- BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
- BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BS EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Vocabulario y propiedades generales.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio electrónico de metal
- KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico-Medición del espesor del revestimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
- KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
- KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
SE-SIS, microscopio electrónico de metal
European Committee for Standardization (CEN), microscopio electrónico de metal
- EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
- EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
- prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
International Organization for Standardization (ISO), microscopio electrónico de metal
- ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
- ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
- ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
- ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
- ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
- ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico.
Association Francaise de Normalisation, microscopio electrónico de metal
- NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
Danish Standards Foundation, microscopio electrónico de metal
German Institute for Standardization, microscopio electrónico de metal
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
- DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
- DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
Professional Standard - Machinery, microscopio electrónico de metal
- JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
- JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
- JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
- JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
- JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.
ES-UNE, microscopio electrónico de metal
- UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopio electrónico de metal
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
Professional Standard - Public Safety Standards, microscopio electrónico de metal
- GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
AENOR, microscopio electrónico de metal
- UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , microscopio electrónico de metal
- LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
KR-KS, microscopio electrónico de metal
AT-ON, microscopio electrónico de metal
- OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
Group Standards of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal
- T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal
- JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
Professional Standard - Education, microscopio electrónico de metal
- JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
- JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
- JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
- JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de metal
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
- GB/T 34831-2017 Nanotecnologías: obtención de imágenes por microscopía electrónica de nanopartículas de metales nobles: método de obtención de imágenes de campo oscuro anular de alto ángulo
RO-ASRO, microscopio electrónico de metal
- STAS 5949-1980 DRTRRMINACIÓN DE ACEROS NO METÁLICOS Método microscópico
- STAS 10552-1976 DETERMINACIÓN DEL CONTENIDO DE DELTA-FERRITA EN EL METAL DEPOSITADO MEDIANTE SOLDADURA DE ACEROS AUSTENÍTICOS Método microscópico
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal
- CNS 2910-2008 Método de prueba microscópica para inclusiones no metálicas en acero.
- CNS 2910-1986 Método de prueba microscópica para inclusiones no metálicas en acero.
- CNS 12114-1987 Medición del espesor del recubrimiento de metal y óxido mediante examen microscópico de una sección transversal
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio electrónico de metal
- GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
- GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
- GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
- GB/T 6462-2005 Recubrimientos metálicos y de óxido-Medición del espesor del recubrimiento-Método microscópico
Association of German Mechanical Engineers, microscopio electrónico de metal
- DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)
BE-NBN, microscopio electrónico de metal
- NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
Professional Standard - Finance, microscopio electrónico de metal
- JRT 0267-2023 Comparación de imágenes de monedas conmemorativas de metales preciosos y microscopía comparativa
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de metal
- GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), microscopio electrónico de metal
RU-GOST R, microscopio electrónico de metal
- GOST 21006-1975 Microscopios electrónicos. Términos, definiciones y símbolos de letras.
ZA-SANS, microscopio electrónico de metal
- SANS 144:1982 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico
Professional Standard - Petroleum, microscopio electrónico de metal
- SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal
- DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
- DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, microscopio electrónico de metal
International Electrotechnical Commission (IEC), microscopio electrónico de metal
- IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.
国家能源局, microscopio electrónico de metal
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.