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microscopio electrónico de metal

microscopio electrónico de metal, Total: 112 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio electrónico de metal son: Medidas lineales y angulares., pruebas de metales, Tratamiento superficial y revestimiento., Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Equipo óptico, Metrología y medición en general., Vocabularios, Calidad del aire, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Finanzas. Bancario. Sistemas monetarios. Seguro, Educación, Conjuntos de componentes electrónicos., Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general..


American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio electrónico de metal

  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

IT-UNI, microscopio electrónico de metal

  • UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
  • UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

British Standards Institution (BSI), microscopio electrónico de metal

  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • BS EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Vocabulario y propiedades generales.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio electrónico de metal

  • KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico-Medición del espesor del revestimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

SE-SIS, microscopio electrónico de metal

European Committee for Standardization (CEN), microscopio electrónico de metal

  • EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
  • prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

International Organization for Standardization (ISO), microscopio electrónico de metal

  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
  • ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
  • ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO 1463:2021 Recubrimientos metálicos y de óxido. Medición del espesor del recubrimiento. Método microscópico.

Association Francaise de Normalisation, microscopio electrónico de metal

  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.

Danish Standards Foundation, microscopio electrónico de metal

German Institute for Standardization, microscopio electrónico de metal

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994

Professional Standard - Machinery, microscopio electrónico de metal

  • JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
  • JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
  • JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
  • JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.

ES-UNE, microscopio electrónico de metal

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopio electrónico de metal

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Public Safety Standards, microscopio electrónico de metal

  • GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

AENOR, microscopio electrónico de metal

  • UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , microscopio electrónico de metal

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

KR-KS, microscopio electrónico de metal

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

AT-ON, microscopio electrónico de metal

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal

  • T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal

  • JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, microscopio electrónico de metal

  • JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de metal

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 34831-2017 Nanotecnologías: obtención de imágenes por microscopía electrónica de nanopartículas de metales nobles: método de obtención de imágenes de campo oscuro anular de alto ángulo

RO-ASRO, microscopio electrónico de metal

  • STAS 5949-1980 DRTRRMINACIÓN DE ACEROS NO METÁLICOS Método microscópico
  • STAS 10552-1976 DETERMINACIÓN DEL CONTENIDO DE DELTA-FERRITA EN EL METAL DEPOSITADO MEDIANTE SOLDADURA DE ACEROS AUSTENÍTICOS Método microscópico

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal

  • CNS 2910-2008 Método de prueba microscópica para inclusiones no metálicas en acero.
  • CNS 2910-1986 Método de prueba microscópica para inclusiones no metálicas en acero.
  • CNS 12114-1987 Medición del espesor del recubrimiento de metal y óxido mediante examen microscópico de una sección transversal

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio electrónico de metal

  • GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
  • GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
  • GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
  • GB/T 6462-2005 Recubrimientos metálicos y de óxido-Medición del espesor del recubrimiento-Método microscópico

Association of German Mechanical Engineers, microscopio electrónico de metal

  • DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)

BE-NBN, microscopio electrónico de metal

  • NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Professional Standard - Finance, microscopio electrónico de metal

  • JRT 0267-2023 Comparación de imágenes de monedas conmemorativas de metales preciosos y microscopía comparativa

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de metal

  • GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), microscopio electrónico de metal

  • IPC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos
  • IPC TM-650 2.6.22-1995 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.

RU-GOST R, microscopio electrónico de metal

  • GOST 21006-1975 Microscopios electrónicos. Términos, definiciones y símbolos de letras.

ZA-SANS, microscopio electrónico de metal

  • SANS 144:1982 Recubrimientos metálicos y de óxido - Medición del espesor del recubrimiento - Método microscópico

Professional Standard - Petroleum, microscopio electrónico de metal

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de metal

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
  • DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, microscopio electrónico de metal

  • JEDEC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos

International Electrotechnical Commission (IEC), microscopio electrónico de metal

  • IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.

国家能源局, microscopio electrónico de metal

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.




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