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Microscopio electrónico de metales preciosos.

Microscopio electrónico de metales preciosos., Total: 65 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopio electrónico de metales preciosos. son: Óptica y medidas ópticas., Equipo óptico, Finanzas. Bancario. Sistemas monetarios. Seguro, Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Metales no ferrosos, Productos de metales no ferrosos., pruebas de metales, Productos de la industria química., producción de metales, Química analítica.


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • GB/T 34831-2017 Nanotecnologías: obtención de imágenes por microscopía electrónica de nanopartículas de metales nobles: método de obtención de imágenes de campo oscuro anular de alto ángulo
  • GB/T 34168-2017 Método de prueba del efecto biológico de los materiales de nanopartículas de oro y plata mediante microscopio electrónico de transmisión.

Professional Standard - Finance, Microscopio electrónico de metales preciosos.

British Standards Institution (BSI), Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico-Medición del espesor del revestimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido

SE-SIS, Microscopio electrónico de metales preciosos.

European Committee for Standardization (CEN), Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
  • prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

International Organization for Standardization (ISO), Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

Association Francaise de Normalisation, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido

Danish Standards Foundation, Microscopio electrónico de metales preciosos.

German Institute for Standardization, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • GB/T 17472-2008 Especificación para pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
  • GB/T 17472-2022 Especificación para pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
  • GB/T 17473.2-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de finura
  • GB/T 17473.3-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resistencia de las láminas.
  • GB/T 17473.5-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la viscosidad.
  • GB/T 17473.4-2008 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Determinación de la adhesión.
  • GB/T 17473.6-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resolución.
  • GB/T 17473.2-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la finura.
  • GB/T 17473.3-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resistencia de las láminas.
  • GB/T 17473.1-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación del contenido de sólidos.
  • GB/T 17473.5-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la viscosidad.
  • GB/T 17473.6-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resolución.
  • GB/T 17473.4-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la adhesión.
  • GB/T 17473.1-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación del contenido de sólidos.
  • GB/T 17473.7-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura.
  • GB/T 17473.7-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa: prueba de soldabilidad y resistencia a la lixiviación de soldadura.
  • GB/T 43088-2023 Método para la determinación de la densidad de dislocaciones en muestras de cristales finos metálicos mediante análisis de microhaces y microscopía electrónica.

ES-UNE, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

Professional Standard - Public Safety Standards, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

AENOR, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

IT-UNI, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
  • UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

AT-ON, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2012)

BE-NBN, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • JIS H 7804:2005 Método para la determinación del tamaño de partículas en catalizadores metálicos mediante microscopio electrónico.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • GB/T 17473.7-2022 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Parte 7: Determinación de la soldabilidad y la resistencia a la lixiviación de la soldadura.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • GJB 950.3A-2008 Métodos de análisis de elementos menores de metales preciosos y sus aleaciones. Parte 3: Determinación de paladio menor y rodio en aleaciones de platino mediante método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
  • GJB 950.2A-2008 Métodos de análisis de elementos menores de metales preciosos y sus aleaciones.Parte 2: Determinación de oro y hierro menores en platino y aleaciones de platino, aleaciones de paladio mediante método pedrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GJB 950.1A-2008 Métodos de análisis de elementos menores de metales preciosos y sus aleaciones. Parte 1: Determinación de plomo, antimonio, bismuto y hierro en cantidades menores en oro y aleaciones de oro, plata y aleaciones de plata, aleaciones de paladio mediante espectro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Microscopio electrónico de metales preciosos.

  • GJB 950.1A-2021 Métodos de análisis de oligoelementos de metales preciosos y sus aleaciones Parte 1: Determinación de trazas de plomo, antimonio, bismuto, hierro, zinc y cadmio en oro y aleaciones de oro, plata y aleaciones de plata y aleaciones de paladio mediante acoplamiento inductivo




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