ZH
EN
ES
электронный микроскоп из металла
электронный микроскоп из металла, Всего: 112 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный микроскоп из металла, являются: Линейные и угловые измерения, Испытание металлов, Обработка поверхности и покрытие, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Метрология и измерения в целом, Словари, Качество воздуха, Сварка, пайка и пайка, Финансы. Банковское дело. Денежные системы. Страхование, Образование, Электронные компоненты в сборе, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные компоненты в целом.
American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный микроскоп из металла
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
IT-UNI, электронный микроскоп из металла
- UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
- UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.
British Standards Institution (BSI), электронный микроскоп из металла
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- BS EN ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас и общие свойства
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронный микроскоп из металла
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
SE-SIS, электронный микроскоп из металла
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS-ISO 1463:1983 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
European Committee for Standardization (CEN), электронный микроскоп из металла
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
International Organization for Standardization (ISO), электронный микроскоп из металла
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 1463:2021 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
Association Francaise de Normalisation, электронный микроскоп из металла
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Danish Standards Foundation, электронный микроскоп из металла
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
German Institute for Standardization, электронный микроскоп из металла
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
- DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
Professional Standard - Machinery, электронный микроскоп из металла
- JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
- JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
- JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
ES-UNE, электронный микроскоп из металла
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный микроскоп из металла
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
Professional Standard - Public Safety Standards, электронный микроскоп из металла
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
AENOR, электронный микроскоп из металла
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , электронный микроскоп из металла
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
KR-KS, электронный микроскоп из металла
AT-ON, электронный микроскоп из металла
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, электронный микроскоп из металла
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Group Standards of the People's Republic of China, электронный микроскоп из металла
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, электронный микроскоп из металла
Professional Standard - Education, электронный микроскоп из металла
- JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп из металла
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 34831-2017 Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.
RO-ASRO, электронный микроскоп из металла
- STAS 5949-1980 ДИРЕКТОРАЦИЯ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ СТАЛЕЙ Метод микроскопии
- STAS 10552-1976 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ДЕЛЬТА-ФЕРРИТА В НАПЛАВЛЕННОМ МЕТАЛЛЕ ПРИ СВАРКЕ АУСТЕНИТНЫХ СТАЛЕЙ Микроскопический метод
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп из металла
- CNS 2910-2008 Метод микроскопического контроля неметаллических включений в стали.
- CNS 2910-1986 Микроскопический метод контроля неметаллических включений в стали
- CNS 12114-1987 Измерение толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронный микроскоп из металла
- GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 6462-2005 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
Association of German Mechanical Engineers, электронный микроскоп из металла
BE-NBN, электронный микроскоп из металла
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
Professional Standard - Finance, электронный микроскоп из металла
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп из металла
- GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), электронный микроскоп из металла
RU-GOST R, электронный микроскоп из металла
- GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
ZA-SANS, электронный микроскоп из металла
- SANS 144:1982 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
Professional Standard - Petroleum, электронный микроскоп из металла
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп из металла
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, электронный микроскоп из металла
International Electrotechnical Commission (IEC), электронный микроскоп из металла
国家能源局, электронный микроскоп из металла
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии