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oblea de silicio
oblea de silicio, Total: 222 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en oblea de silicio son: ingeniería de energía solar, Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Pilas y baterías galvánicas., Fluidos aislantes, pruebas de metales, Circuitos integrados. Microelectrónica, Productos de hierro y acero., Herramientas de corte, Vaso, Vocabularios, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Residuos, Dispositivos semiconductores, Materiales aislantes, Sellos, glándulas, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., GENERALIDADES. TERMINOLOGÍA. ESTANDARIZACIÓN. DOCUMENTACIÓN, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Componentes para equipos eléctricos., Medidas lineales y angulares., Máquinas, implementos y equipos agrícolas., Motores de combustión interna, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Dispositivos de almacenamiento de datos, Química analítica, Sistemas de alarma y alerta., Ventiladores. Aficionados. Acondicionadores de aire.
German Institute for Standardization, oblea de silicio
- DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 Obleas solares - Parte 2-1: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Espesor de la oblea
- DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Obleas solares - Parte 3: Daño por corrosión alcalina de obleas de silicio cristalino - Método para determinar la velocidad de corrosión de obleas de silicio mono y multicristalinas (tal como se cortan)
- DIN V VDE V 0126-18-5:2007 Obleas solares - Parte 5: Proceso para medir la resistencia eléctrica de las obleas de silicio
- DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 Obleas solares - Parte 2-2: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Variaciones de espesor
- DIN EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares; Versión alemana EN 50513:2009
- DIN V VDE V 0126-18-2-3:2007 Obleas solares - Parte 2-3: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Ondulación y deformación
- DIN V VDE V 0126-18-2-4:2007 Obleas solares - Parte 2-4: Medición de las dimensiones geométricas de las obleas de silicio - Marcas de sierra y marcas de sierra escalonada
- DIN V VDE V 0126-18-4-1:2007 Obleas solares - Parte 4-1: Proceso para medir las características eléctricas de las obleas de silicio - Vida útil de los portadores minoritarios, método de medición en línea
- DIN EN 62047-9:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS (IEC 62047-9:2011); Versión alemana EN 62047-9:2011
- DIN 50435:1988 Pruebas de materiales semiconductores; determinación de la variación de la resistividad radial de láminas de silicio o germanio mediante el método de las cuatro sondas/corriente continua
- DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007 Obleas solares - Parte 4-2: Proceso para medir las características eléctricas del silicio - Vida útil de los portadores minoritarios, método de medición de laboratorio
- DIN V VDE V 0126-18-6:2007 Obleas solares - Parte 6: Método para medir el carbono atómico sustitucional y el oxígeno intersticial en silicio utilizado para energía fotovoltaica
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), oblea de silicio
- JIS H 0613:1978 Inspección visual de obleas de silicio cortadas y lapeadas
- JIS H 0614:1996 Inspección visual de obleas de silicio con superficies especulares
- JIS H 0611:1994 Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
- JIS H 0602:1995 Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos
Professional Standard - Non-ferrous Metal, oblea de silicio
Group Standards of the People's Republic of China, oblea de silicio
- T/CNIA 0174-2022 Oblea de silicio cortando residuos de silicio reciclado
- T/CPIA 0037-2022 Especificaciones para obleas cristalinas fotovoltaicas
- T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
- T/ZZB 0594-2018 Hilo de diamante electrochapado para chips de silicio
- T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
- T/SHDSGY 135-2023 Nueva tecnología de materiales de obleas de silicio semiconductores de energía
- T/QGCML 2024-2023
- T/CPIA 0038-2022 Hilo de diamante galvanizado para corte de obleas de silicio fotovoltaico
- T/ZPP 016-2022 Requisitos técnicos integrados para la desunión e inserción de obleas de silicio fotovoltaico
- T/SHDSGY 160-2022 Especificación técnica para dispositivos de transmisión de obleas de silicio sin contacto
- T/CPIA 0022-2020 Requisitos de evaluación para una fábrica ecológica en la industria de fabricación de obleas de silicio fotovoltaicas
- T/CPIA 0021-2020 Especificación técnica de evaluación de productos de diseño ecológico para obleas de silicio fotovoltaicas
- T/CECA 39-2020 Chapas de acero al silicio para transformadores.
- T/SAAMM 1016-2023 Película de silicio compensada por presión para emisores.
- T/QGCML 947-2023 Junta de silicona térmicamente conductora
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, oblea de silicio
- GB/T 14140-2009 Método de prueba para medir el diámetro de una oblea semiconductora.
- GB/T 6619-1995
- GB/T 6619-2009 Método de prueba para el arco de obleas de silicio.
- GB/T 29055-2012 Oblea de silicio multicristalino para células solares
- GB/T 15615-1995 Método de prueba para medir la resistencia a la flexión de láminas de silicio.
- GB/T 26067-2010 Método de prueba estándar para dimensiones de muescas en obleas de silicio
- GB/T 32279-2015 Especificación para el formato de entrada de pedidos de obleas de silicio.
- GB/T 6621-2009 Métodos de prueba para determinar la planitud de la superficie de rodajas de silicio.
- GB/T 29055-2019(英文版) Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
- GB/T 14140.2-1993 Rodajas y obleas de silicio. Medición del diámetro. Método micrométrico.
- GB/T 42789-2023 Método de prueba para determinar el brillo superficial de una oblea de silicio.
- GB/T 14140.1-1993 Rebanadas y obleas de silicio. Medición del diámetro. Método de proyección óptica.
- GB/T 6620-1995
- GB/T 6620-2009 Método de prueba para medir la deformación en rodajas de silicio mediante escaneo sin contacto
- GB/T 11073-1989
- GB/T 6617-1995
- GB/T 6618-1995
- GB/T 11073-2007 Método estándar para medir la variación de la resistividad radial en rodajas de silicio
- GB/T 6617-2009 Método de prueba para medir la resistividad de una oblea de silicio utilizando una sonda de resistencia de extensión
- GB/T 6618-2009 Método de prueba para el espesor y la variación del espesor total de rodajas de silicio.
- GB/T 32280-2015 Método de prueba para la deformación de obleas de silicio. Método de escaneo automatizado sin contacto.
- GB/T 29505-2013 Método de prueba para medir la rugosidad de la superficie en superficies planas de oblea de silicio.
- GB/T 32814-2016
- GB/T 19922-2005 Métodos de prueba estándar para medir la planitud del sitio en obleas de silicio mediante escaneo sin contacto
- GB/T 13388-2009 Método para medir la orientación cristalográfica de planos en rodajas y obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X.
- GB/T 14143-1993 Método de medición de la absorción infrarroja del contenido de oxígeno en el espacio de una oblea de silicio de 300-900 μm
- GB/T 13388-1992 Método para medir la orientación cristalográfica de planos en láminas y obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X.
- GB/T 14139-1993 Obleas epitaxiales de silicio
- GB/T 14139-2009 Obleas epitaxiales de silicio
- GB/T 19444-2004 Caracterización de la precipitación de oxígeno de obleas de silicio mediante la medición de la reducción de oxígeno intersticial.
- GB/T 32281-2015 Método de prueba para medir oxígeno, carbono, boro y fósforo en obleas y materias primas de silicio solar. Espectrometría de masas de iones secundarios
- GB/T 6616-1995
- GB/T 30859-2014 Método de prueba para determinar la deformación y la ondulación de obleas de silicio para células solares
- GB/T 30869-2014 Método de prueba para determinar el espesor y la variación del espesor total de obleas de silicio para células solares
- GB/T 24577-2009 Métodos de prueba para analizar contaminantes orgánicos en superficies de agua de silicio mediante cromatografía de gases por desorción térmica.
- GB/T 26068-2018 Medición de la vida útil de la recombinación del portador de lingotes y obleas de silicio Método de desintegración de la fotoconductividad por reflexión de microondas sin contacto
- GB/T 6616-2009 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas semiconductoras o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
- GB/T 30860-2014 Métodos de prueba para determinar la rugosidad de la superficie y las marcas de sierra de obleas de silicio para células solares
- GB/T 24578-2015 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total
- GB/T 24578-2009 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total
- GB/T 26069-2010 Especificación para obleas recocidas de silicio.
- GB/T 29507-2013 Método de prueba para medir la planitud, el espesor y la variación del espesor total en obleas de silicio. Escaneo automatizado sin contacto
- GB/T 42907-2023 Método de inducción por corrientes de Foucault sin contacto para probar la vida útil de la recombinación de portadores en desequilibrio en lingotes, bloques y obleas de silicio
- GB/T 26068-2010 Método de prueba para determinar la vida útil de la recombinación de portadores en obleas de silicio mediante medición sin contacto de la decadencia de la fotoconductividad mediante reflectancia de microondas
- GB/T 28276-2012 Tecnología de fabricación MEMS basada en silicio. Especificación para el proceso de oblea disuelta
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, oblea de silicio
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), oblea de silicio
- KS D 0261-2012 Inspección visual de obleas de silicio con superficies especulares
- KS D 0261-2012(2022) Inspección visual de obleas de silicio con superficies especulares
- KS D 0262-2002(2022) Inspección visual de obleas de silicio cortadas y lapeadas
- KS D 0262-2002(2017) Inspección visual de obleas de silicio cortadas y lapeadas
- KS D 0259-2012(2017) Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
- KS D 0259-2012(2022) Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
- KS C 0256-2002(2022) Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos
- KS D 0260-1999 MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS
- KS C 0256-2002 Método de prueba de resistividad para cristales y obleas de silicio con sonda de cuatro puntos
- KS D 0259-2012 Métodos de medición de espesor, variación de espesor y arco para oblea de silicio.
- KS D 0261-2012(2017) Inspección visual de obleas de silicio con superficies especulares
- KS D 0260-1989(1994) MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS
- KS C IEC 62276:2019 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
- KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, oblea de silicio
- GB/T 29055-2019 Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
- GB/T 40279-2021 Método de prueba para determinar el espesor de películas sobre la superficie de una oblea de silicio: método de reflexión óptica
- GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
- GB/T 14139-2019 Obleas epitaxiales de silicio
- GB/T 32280-2022 Método de prueba para la deformación y el arco de obleas de silicio: método de escaneo automatizado sin contacto
- GB/T 39145-2020 Método de prueba para determinar el contenido de elementos metálicos superficiales en obleas de silicio: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
- GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, oblea de silicio
American Society for Testing and Materials (ASTM), oblea de silicio
- ASTM F534-02 Método de prueba estándar para arco de obleas de silicio
- ASTM F534-97 Método de prueba estándar para arco de obleas de silicio
- ASTM F1152-93 Método de prueba estándar para dimensiones de muescas en obleas de silicio
- ASTM F1152-93(2001) Método de prueba estándar para dimensiones de muescas en obleas de silicio
- ASTM F1618-96 Práctica estándar para la determinación de la uniformidad de películas delgadas en obleas de silicio
- ASTM F1726-97 Guía estándar para el análisis de la perfección cristalográfica de obleas de silicio
- ASTM F1049-00 Práctica estándar para la detección de picaduras de grabado poco profundas en obleas de silicio
- ASTM F104-00 Sistema de clasificación estándar para materiales de juntas no metálicos
- ASTM F533-96 Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio
- ASTM F533-02 Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio
- ASTM F951-01 Método de prueba estándar para la determinación de la variación radial del oxígeno intersticial en obleas de silicio
- ASTM F81-00 Método de prueba estándar para medir la variación de la resistividad radial en obleas de silicio
- ASTM F1727-97 Práctica estándar para la detección de defectos inducidos por la oxidación en obleas de silicio pulidas
- ASTM F951-96 Método de prueba estándar para la determinación de la variación radial del oxígeno intersticial en obleas de silicio
- ASTM F1810-97 Método de prueba estándar para contar defectos superficiales preferentemente grabados o decorados en obleas de silicio
- ASTM F523-93(1997) Práctica estándar para la inspección visual sin ayuda de superficies de obleas de silicio pulidas
- ASTM F1239-94 Métodos de prueba estándar para la caracterización de la precipitación de oxígeno de obleas de silicio mediante la medición de la reducción de oxígeno intersticial
- ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
- ASTM F1527-00 Guía estándar para la aplicación de materiales de referencia estándar de silicio y obleas de referencia para la calibración y control de instrumentos para medir la resistividad del silicio
工业和信息化部, oblea de silicio
- YS/T 26-2016 Método de inspección del contorno del borde de la oblea de silicio
- HG/T 5962-2021 Métodos de tratamiento y eliminación de líquidos residuales de corte de obleas de silicio.
- SJ/T 11631-2016 Método de prueba para detectar defectos de apariencia en obleas de silicio para células solares
- SJ/T 11630-2016 Método de prueba para las dimensiones geométricas de obleas de silicio para células solares.
- SJ/T 11627-2016 Método de prueba en línea de resistividad de obleas de silicio para células solares
- SJ/T 11632-2016 Método de prueba para detectar defectos por microfisuras en obleas de silicio para células solares
- SJ/T 11629-2016 Método de análisis de fotoluminiscencia en línea de obleas y células de silicio para células solares.
- SJ/T 11628-2016 Método de prueba en línea para el tamaño de oblea de silicio y caracterización eléctrica de células solares.
Association Francaise de Normalisation, oblea de silicio
- NF C57-203*NF EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares.
- NF EN 50513:2009 Obleas de silicio solar: hoja de datos e información del producto sobre obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
- NF C96-050-9*NF EN 62047-9:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS.
- NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones que utilizan dispositivos de ondas acústicas de superficie (OAS): especificaciones y métodos de medición
Defense Logistics Agency, oblea de silicio
- DLA SMD-5962-77054 REV F-2004 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE SEGUIMIENTO DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA MIL-M-38510/23 D VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, Digital, TTL, Alta Velocidad, Nand Gates Silicio Monolítico
- DLA DSCC-VID-V62/08625 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CONTROLADOR DE CAPA DE ENLACE IEEE-1394, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA MIL-M-38510/104 C VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, Lineales, Controladores y Receptores de Línea, Silicio Monolítico
- DLA SMD-5962-90549 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CODIFICADOR/DECODIFICADOR MANCHESTER, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-95551 REV C-2008 MICROCIRCUITO, LINEAL, COMPARADORES DE TENSIÓN DE MICROENERGÍA DUAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93184 REV B-2008 MICROCIRCUITO, LINEAL, DUAL/QUAD, AMPLIFICADOR DE REALIMENTACIÓN DE CORRIENTE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89552 REV B-2008 MICROCIRCUITOS DIGITALES, CMOS AVANZADOS, FLIP-FLOP TIPO QUAD D, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA MIL-M-38510/440C-1986 MICROCIRCUITOS DIGITALES, MICROPROCESADOR DE CUATRO BITS SLICE SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88677 REV B-2004 MICROCIRCUITO DIGITAL, MICROPROCESADOR BIPOLAR DE 4 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-97510 REV C-2008 MICROCIRCUITO, LINEAL, AMPLIA TENSIÓN DE ENTRADA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93195 REV C-2008 MICROCIRCUITO LINEAL, 12 BITS + DATOS DE SIGNO, SISTEMA DE ADQUISICIÓN CON AUTOCALIBRACIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88736 REV A-1992 MICROCIRCUITO, DIGITAL, REGISTRO DE TUBERÍA MULTINIVEL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89588 REV A-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89504 REV B-2005 MICROCIRCUITO, LINEAL, DUAL, COMPARADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89805 REV A-2002 MICROCIRCUITO LINEAL, CONVERTIDOR RMS A CC, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93074 REV H-2008 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, LINEAL, +5 Y ?5 VOLTIOS, TRIPLE CANAL, CONVERTIDOR CC/CC
- DLA SMD-5962-77028 REV G-2005 MICROCIRCUITO, LINEAL, REFERENCIA DE TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87774 REV A-2004 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN, 5 VOLTIOS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87780-1989 MICROCIRCUITO LINEAL AMPLIFICADOR DE INSTRUMENTACIÓN SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87803 REV C-2004 MICROCIRCUITOS LINEALES, DETECTOR DE FRECUENCIA DE FASE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88630 REV E-2006 MICROCIRCUITO LINEAL AMPLIFICADOR DE INSTRUMENTACIÓN SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88631 REV D-2004 DRIVER DE MICROCIRCUITO, LINEAL Y PERIFÉRICO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88657 REV A-1992 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, CONTADORES BINARIOS PREAJUSTABLES SINCRÓNICOS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-97543 REV C-2003 MICROCIRCUITO DIGITAL, CMOS DE BAJA TENSIÓN, TRANSCEPTOR DE BUS OCTAL CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89644 REV B-2005 MICROCIRCUITO LINEAL AMPLIFICADOR OPERACIONAL DE SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87740 REV D-2007 MICROCIRCUITO LINEAL, CIRCUITO DE SUPERVISIÓN DE FUENTE DE ENERGÍA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89778 REV A-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, OSCILADOR CONTROLADO POR TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89803-1990 MICROCIRCUITO LINEAL AMPLIFICADOR DE REGISTRO DE BANDA ANCHA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87743 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, ECL, PREESCALADOR DE DOS MÓDULOS, DIVIDIR POR 8 Y 9, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88511 REV B-2005 TRANSCEPTORES DE LÍNEA DIFERENCIAL, LINEALES, DE MICROCIRCUITO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88519 REV A-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, CONTROLADORES DE FUENTE DE ALTA CORRIENTE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90507 REV A-2000 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSDUCTOR DE TEMPERATURA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90521-1993 MICROCIRCUITO LINEAL AMPLIFICADOR DE BANDA ANCHA DE SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-88641 REV B-2002
- DLA SMD-5962-88644 REV E-2003
- DLA SMD-5962-90627 REV C-2003
- DLA SMD-5962-90650 REV B-2003 MICROCIRCUITO LINEAL, CONTROLADOR REGULADOR, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93139-1993 MICROCIRCUITO, LINEAL, PREDRIVER, MOSFET, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89464 REV B-1994 MICROCIRCUITO DIGITAL MICROPROCESADOR DE 32 BITS DE SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-97521 REV A-2002 MICROCIRCUITO LINEAL AMPLIFICADOR DE REALIMENTACIÓN DE CORRIENTE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89637 REV B-2004 MICROCIRCUITO LINEAL CONVERTIDOR RMS A CC DE BANDA ANCHA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA MIL-PRF-47009 D-2006 COMPUESTO, SILICONA, DISIPADOR DE CALOR
- DLA A-A-55757 A-2012 CAUCHO, SILICONA; JUNTA, FORMA 13
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, oblea de silicio
- YB/T 4397-2014 Alambre de sierra de acero chapado en latón para chip de silicio
Professional Standard - Building Materials, oblea de silicio
- JC/T 2065-2011 Barcos de cuarzo para silicio para células solares.
- JC/T 2066-2011 Tubos de difusión de vidrio de cuarzo para silicio para células solares.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, oblea de silicio
- GJB 1944-1994 Especificaciones de las obleas de silicio de células solares espaciales
- GJB 2052-1994 Especificación para obleas de silicio para dispositivos de carga acoplada por infrarrojos
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), oblea de silicio
International Electrotechnical Commission (IEC), oblea de silicio
- IEC 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
- IEC 62047-9:2011/COR1:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
- IEC 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, oblea de silicio
- DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, oblea de silicio
- EN 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
Professional Standard - Machinery, oblea de silicio
- JB/T 9658-1999 Cortadora para acero electrico
- JB/T 904-1999 Aceite - barniz resinoso de chapa de acero al silicio.
- JB/T 7061-1993 Obleas de silicio destinadas a ser utilizadas en dispositivos semiconductores de potencia
- JB/T 56175-1999 Clasificación de calidad del producto de la máquina cortadora de láminas de acero al silicio.
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