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IEC+温度

IEC+温度は全部で 78 項標準に関連している。

IEC+温度 国際標準分類において、これらの分類：熱力学と温度測定、導体材料、環境試験、光ファイバー通信、半導体ディスクリートデバイス、電子および通信機器用の電気機械部品、断熱材、電気、磁気、電気および磁気測定、太陽工学、送配電網、建物内の設備、電気工学総合、抵抗器、電灯および関連器具、ワイヤーとケーブル、回転モーター、開閉装置とコントローラー。

German Institute for Standardization, IEC+温度

DIN EN IEC 60751:2023-06 工業用白金測温抵抗体および白金温度センサー (IEC 60751:2022)
DIN EN IEC 60751:2019 産業用白金測温抵抗体および白金温度センサー（IEC 65B/1144/CD:2018）
DIN EN 61788-10:2007 超電導パート 10: 臨界温度測定抵抗法による複合超電導体の臨界温度の測定 (IEC 61788-10-2006)
DIN EN 60068-2-39:2016 環境試験試験パート 2-39: 試験とガイダンス: 低圧試験によって得られる温度または温度と湿度の組み合わせ (IEC 60068-2-39-2015) ドイツ語版 EN 60068-2-39-2016
DIN EN 61152:1994-12 金属被覆温度計要素の寸法 (IEC 61152:1992、修正)
DIN EN 60682:1994-06 石英タングステンハロゲンランプのピンチ温度を測定するための標準方法 (IEC 60682:1980 + A1:1987)
DIN EN IEC 61757-2-1:2023-11 光ファイバーセンサーパート 2-1: 温度測定ファイバーブラッググレーティングに基づく温度センサー (IEC 61757-2-1:2021)
DIN EN IEC 61757-2-1:2021-07 光ファイバーセンサー - パート 2-1: 温度測定 - ファイバーブラッググレーティングベースの温度センサー (IEC 86C/1702/CDV:2021)
DIN EN IEC 61757-2-1:2021 光ファイバーセンサーパート 2-1: 温度測定ファイバーブラッググレーティングに基づく温度センサー (IEC 86C/1702/CDV:2021); 英語版 prEN IEC 61757-2-1:2021
DIN EN 60068-2-14:2010 環境試験パート 2-14: 試験試験 N: 温度変化 (IEC 60068-2-14-2009) ドイツ語版 EN 60068-2-14-2009
DIN EN 60793-1-52:2002 光ファイバー、パート 1-51: 測定方法と試験手順、温度変化 (IEC 60793-1-52:2001)、ドイツ語版 EN 60793-1-52:2002
DIN EN 60512-9-2:2012 電子機器用コネクタ試験および測定パート 9-2: 耐久性試験試験 9b: 電気負荷および温度 (IEC 60512-9-2-2011) ドイツ語版 EN 60512-9-2-2012
DIN EN 60749-15:2011 半導体デバイス、機械的および気候試験方法、パート 15 - リード付きプラグインパッケージ機器のはんだ付け温度に対する耐性 (IEC 60749-15-2010)、ドイツ語版 EN 60749-15-2010 + AC-2011
DIN EN IEC 60539-2:2020 直接加熱型負温度係数サーミスタパート 2: サブ仕様表面実装負温度係数サーミスタ (IEC 60539-2-2019)、ドイツ語版 EN IEC 60539-2-2019
DIN EN IEC 61300-2-22:2022 光ファイバー相互接続機器および受動部品の基本的なテストおよび測定手順パート 2-22: 温度変化のテスト (IEC 86B/4445/CD:2021)
DIN EN 60512-5-2:2003-01 電子機器へのコネクタ - テストと測定 - パート 5-2: 電流容量テスト、テスト 5b: 電流温度ディレーティング (IEC 60512-5-2:2002)
DIN EN 60598-2-24:2014 照明器具、パート 2-24: 詳細要件、表面温度が制限された照明器具 (IEC 60598-2-24-2013)、ドイツ語版 EN 60598-2-24-2013
DIN EN 60721-2-1:2015 環境条件の分類パート 2-1: 自然界に見られる環境条件温度および湿度 (IEC 60721-2-1-2013)、ドイツ語版 EN 60721-2-1-2014
DIN EN 60947-8:2007 低圧開閉装置および制御装置パート 8: 回転電機用組み込み熱保護制御装置 (正の温度係数) (IEC 60947-8:2003 + A1:2006)
DIN EN 60749-42:2015 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 42: 温度および湿度の保管 (IEC 60749-42:2014)、ドイツ語版 EN 60749-42:2014
DIN EN 60317-52:2014-12 特定のタイプの巻線の仕様 - パート 52: 銅線に巻かれたアラミド (アラミド) テープ、温度指数 220 (IEC 60317-52:2014)
DIN EN 62059-31-1:2009 電気エネルギー測定装置、信頼性、パート 31-1: 加速信頼性試験、温度および湿度の上昇 (IEC 62059-31-1-2008)、ドイツ語版 EN 62059-31-1-2008
DIN EN 60512-11-4:2003-01 電子機器へのコネクタ - 試験および測定 - パート 11-4: 気候試験、試験 11d: 急速な温度変化 (IEC 60512-11-4:2002)
DIN EN 60172:2016 エナメル被覆巻線および被覆巻線の温度指数を決定するための試験手順 (IEC 60172-2015)、ドイツ語版 EN 60172-2015
DIN EN 60317-52:2014 特殊な巻線の仕様パート 52: アラミドテープで覆われた丸銅線温度指数 220 (IEC 60317-52-2014)、ドイツ語版 EN 60317-52-2014
DIN EN 60793-1-52:2014 光ファイバーパート 1-51: 測定方法と試験手順温度シフト試験 (IEC 60793-1-52-2014) ドイツ語版 EN 60793-1-52-2014
DIN EN 61074:1994-07 示差走査熱量測定による電気絶縁材料の溶融および結晶化の熱および温度を測定するための試験方法 (IEC 61074:1991)

Lithuanian Standards Office , IEC+温度

LST EN 60751-2008 産業用白金測温抵抗体および白金温度センサー（IEC 60751:2008）
LST EN 61788-10-2007 超電導パート 10: 臨界温度測定抵抗法による複合超電導体の臨界温度 (IEC 61788-10:2006)
LST EN 60068-2-14-2009 環境試験パート 2-14: 試験試験 N: 温度変化 (IEC 60068-2-14:2009)
LST EN 60793-1-52-2003 光ファイバーパート 1-52: 測定方法と試験手順温度変化 (IEC 60793-1-52:2001)
LST EN 61152-2001 金属被覆温度計要素の寸法 (IEC 61152:1992、修正)
LST EN IEC 60749-15:2020 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性 (IEC 60749-15:2020)
LST EN 60749-15-2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性 (IEC 60749-15:2010)
LST EN 60749-15-2011/AC-2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性 (IEC 60749-15:2010)
LST EN 60749-25-2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 25: 温度サイクル (IEC 60749-25:2003)
LST HD 478.2.4 S1-2002 環境条件の分類パート 2: 自然界で発生する環境条件日射量と温度 (IEC 60721-2-4:1987+A1:1988)
LST HD 478.2.1 S1-2002 環境条件の分類パート 2: 自然界で発生する環境条件の温度と湿度 (IEC 60721-2-1:1982+A1:1987)
LST EN 60512-9-2-2012 電子機器用コネクタの試験および測定パート 9-2: 耐久性試験試験 9b: 電気負荷および温度 (IEC 60512-9-2:2011)
LST EN 61006-2004 電気絶縁材料のガラス転移温度を測定するための試験方法 (IEC 61006:2004)
LST EN 60904-5-2011 太陽光発電デバイスパート 5: 開回路電圧法による太陽光発電 (PV) デバイスの等価セル温度 (ECT) の決定 (IEC 60904-5:2011)
LST EN 60793-1-52-2014 光ファイバーパート 1-52: 測定方法と試験手順温度変化試験 (IEC 60793-1-52-2014)
LST EN 62059-31-1-2009 電力計測装置の信頼性パート 31-1: 高温高湿での加速信頼性試験 (IEC 62059-31-1:2008)
LST EN 60068-3-5-2003 環境試験パート 3-5: 恒温槽の性能を確認するためのサポート文書とガイダンス (IEC 60068-3-5:2001)
LST EN 60068-2-38-2010 環境試験パート 2-38: 試験試験 Z/AD: 複合温度/湿度サイクル試験 (IEC 60068-2-38:2009)
LST EN IEC 60068-2-38:2021 環境試験パート 2-38: 試験試験 Z/AD: 複合温度/湿度サイクル試験 (IEC 60068-2-38:2021)
LST EN 62373-2006 金属酸化物、半導体、および電界効果トランジスタ (MOSFET) のバイアス温度安定性試験 (IEC 62373:2006)
LST EN 61300-2-22-2007 光ファイバー相互接続機器および受動部品の基本的なテストおよび測定手順パート 2-22: 温度変化のテスト (IEC 61300-2-22:2007)
LST EN 60539-2-2004 直熱型負温度係数サーミスタパート 2: 表面実装負温度係数サーミスタのサブ仕様 (IEC 60539-2:2003)
LST EN 60512-5-2-2003 電子機器コネクタの試験および測定パート 5-2: 電流容量試験試験 5b: 電流温度ディレーティング (IEC 60512-5-2:2002)
LST EN 60539-2-2004/A1-2011 直熱型負温度係数サーミスタパート 2: 表面実装負温度係数サーミスタの仕様 (IEC 60539-2:2003/A1:2010)
LST EN 60598-2-24-2000 照明器具パート 2: 特別要件セクション 24: 表面温度が制限された照明器具 (IEC 60598-2-24:1997、修正)
LST EN 60068-3-2-2001 環境試験パート 3: 背景情報パート 2: 温度/低圧複合試験 (IEC 60068-3-2:1976)
LST EN 60317-52-2002 特定の種類の巻線の仕様パート 52: 芳香族ポリアミド (アラミド) 銅巻き丸線、温度指数 220 (IEC 60317-52:1999)
LST EN 60317-53-2002 特定の種類の巻線の仕様パート 53: アラミドテープ巻平銅線、温度指数 220 (IEC 60317-53:1999)
LST EN 61300-2-48-2009 光ファイバー相互接続機器および受動部品の基本的なテストおよび測定手順パート 2-48: 温度湿度サイクルのテスト (IEC 61300-2-48:2009)
LST EN 60068-3-7-2003 環境試験パート 3-7: サポート文書とガイダンス試験 A および試験 B の温度室測定 (負荷あり) (IEC 60068-3-7:2001)
LST EN 60317-49-2013 特別なタイプの巻線の仕様パート 49: ガラス繊維で巻かれた高温樹脂またはワニス含浸、裸またはエナメル丸銅線、温度指数 180 (IEC 60317-49:2012)
LST EN 60512-11-4-2003 電子機器用コネクタの試験および測定パート 11-4: 気候試験試験 11d: 温度の急激な変化 (IEC 60512-11-4:2002)
LST EN IEC 60068-3-7:2020 環境試験パート 3-7: サポート文書およびガイダンス試験 A (低温) および B (乾燥高温) の温度室測定 (負荷あり) (IEC 60068-3-7:2020)

British Standards Institution (BSI), IEC+温度

19/30406424 DC BS EN IEC 60751 工業用白金測温抵抗体および白金温度センサー
19/30382658 DC BS EN IEC 60751 工業用白金測温抵抗体および白金温度センサー

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, IEC+温度

EN 61788-10:2006 超電導パート 10: 臨界温度測定抵抗法による複合超電導体の臨界温度の測定 IEC 61788-10-2006
EN 61074:1993 示差走査熱量測定による電気絶縁材料の溶融および結晶化の熱および温度の測定 (IEC 1074-1991)
EN 60749-25:2003 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 25: 温度サイクル IEC 60749-25-2003
EN 61006:2004 電気絶縁材料、ガラス転移温度測定のための試験方法 IEC 61006:2004
EN 62373:2006 金属酸化物半導体電界効果トランジスタ (MOSFET) の基本的な温度安定性試験 IEC 62373:2006
EN 60539-2:2004 直接加熱型負温度係数サーミスタパート 2: サブ仕様表面実装型負温度係数サーミスタ IEC 60539-2:2003
EN 60512-5-2:2002 電子機器用コネクタ試験と測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度降下 IEC 60512-5-2:2002
HD 323.2.33 S1-1992 基本的な環境試験手順パート 2: 試験温度変化試験ガイドライン (IEC 68-2-33-1971+A1-1978)1978)

AT-OVE/ON, IEC+温度

OVE EN IEC 60751:2021 産業用白金測温抵抗体および白金温度センサー（IEC 65B/1187/CDV）（英語版）
OVE EN IEC 61757-2-1:2021 光ファイバセンサパート 2-1: 温度測定ファイバブラッググレーティング (IEC 86C/1702/CDV) に基づく温度センサ

AENOR, IEC+温度

UNE-EN 61788-10:2007 超電導パート 10: 臨界温度測定抵抗法による複合超電導体の臨界温度 (IEC 61788-10:2006)

Standard Association of Australia （SAA）, IEC+温度

AS 60068.2.14:2023 環境試験パート 2.14: 試験試験 N: 温度変化 (IEC 60068-2-14:2009 (ED. 6.0) MOD)

PL-PKN, IEC+温度

PN-EN IEC 60749-15-2021-04 E 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性 (IEC 60749-15:2020)
PN E04613-01-1985 電気・電子製品。環境試験手順。テスト N: 温度変化 [IEC 出版翻訳 68-2-14 (1984)]
PN-EN IEC 60068-3-7-2021-04 E 環境試験パート 3-7: サポート文書およびガイダンス試験 A (低温) および B (乾燥高温) の温度室測定 (負荷あり) (IEC 60068-3-7:2020)

ES-UNE, IEC+温度

UNE-EN 61300-2-22:2007 光ファイバー相互接続機器および受動部品の基本的なテストおよび測定手順パート 2-22: 温度変化のテスト (IEC 61300-2-22:2007)