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化学質量分析

化学質量分析は全部で 24 項標準に関連している。

化学質量分析 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 原子力工学。


International Organization for Standardization (ISO), 化学質量分析

  • ISO 12406:2010 表面化学分析、二次イオン質量分析、シリコン中のヒ素の深さプロファイリング。
  • ISO 13084:2011 表面化学分析 二次イオン質量分析 飛行時間型二次イオン質量分析計の質量スケールの校正
  • ISO 17560:2014 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - シリコン中のシリコンを深く分析する方法
  • ISO/TS 15338:2009 表面化学分析 グロー放電質量分析法 (GD-MS) 使い方の紹介
  • ISO/TS 22933:2022 表面化学分析、二次イオン質量分析、模擬イオン質量分析における質量分解能の測定方法。
  • ISO 13084:2018 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 飛行時間型二次イオン質量分析計用の質量分析計の校正

British Standards Institution (BSI), 化学質量分析

  • BS ISO 12406:2010 表面化学分析、二次イオン質量分析、シリコン中のヒ素の深さプロファイリング。
  • BS ISO 23812:2009 表面化学分析、二次イオン質量分析、マルチデルタ層基準物質を使用したシリコンの深さ校正方法。
  • BS DD ISO/TS 15338:2009 表面化学分析 グロー放電質量分析法（GD-MS） 使い方の紹介
  • BS ISO 22048:2005 表面化学分析 - 静的二次イオン質量分析のための情報フォーマット

Association Francaise de Normalisation, 化学質量分析

  • NF X21-066*NF ISO 23812:2009 表面化学分析 二次イオン質量分析 マルチデルタ層標準物質を使用したシリコンの詳細な校正方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 化学質量分析

  • ASTM C698-04 核グレード混合酸化物 (UO2、PuO2) の化学分析、質量分析分析、および分光化学分析のための標準試験方法
  • ASTM C698-98 核グレードの混合酸化物 [(U,Pu)O2] の化学分析、質量分析分析、および分光化学分析の標準試験方法
  • ASTM C889-06 核グレードの酸化ガドリニウム (Gd2O3) 粉末の化学分析および質量分析のための標準試験方法
  • ASTM C889-11 核グレードの酸化ガドリニウム (Gd2O3) 粉末の化学分析および質量分析のための標準試験方法
  • ASTM C698-16 核グレードの混合酸化物 (U、Pu)O2 の化学分析、質量分析分析、分光分析のための標準試験方法
  • ASTM C889-99 核グレードの酸化ガドリニウム (Gd2O3) 粉末の化学分析および質量分析のための標準試験方法

Professional Standard - Electron, 化学質量分析

  • SJ 2594-1985 高純度四塩化ケイ素中のホウ素および金属不純物の化学分光分析法

IT-UNI, 化学質量分析

  • UNI 6714-1970 鉱物マンガンの化学分析。 亜鉛の決定。 ポーラログラフィー

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 化学質量分析

  • GB/T 33236-2016 グロー放電質量分析法による多結晶シリコンの微量元素化学分析

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 化学質量分析

  • GB/T 42518-2023 グロー放電質量分析法によるゲルマニウム酸ビスマス (BGO) 結晶の微量元素化学分析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 化学質量分析

  • KS D ISO 22048:2005 表面化学分析 - 静的二次イオン質量分析のための情報フォーマット

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 化学質量分析

  • JIS K 0168:2011 表面化学分析 - 静的二次イオン質量分析のための情報フォーマット

Standard Association of Australia （SAA）, 化学質量分析

  • AS ISO 17560:2006 表面化学分析。 二次イオン質量分析。 シリコンへのボロン注入の深さ分布解析法

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