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半導体テスター

半導体テスターは全部で 4 項標準に関連している。

半導体テスター 国際標準分類において、これらの分類：電気、磁気、電気および磁気測定、 半導体ディスクリートデバイス。

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 半導体テスター

• JJG(电子) 04008-1987 QE1A ダブルベース半導体管テスターのパイロット校正手順
• JJG(电子) 04023-1989 BJ2970 高出力半導体トランジスタ TF テスターの校正規定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体テスター

• GB/T 13974-1992 半導体チューブ特性図形測定器試験方法

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 半導体テスター

• JEDEC JESD22-B108A-2003 表面実装半導体機器のコプラナリティ試験

その他：   半導体層, 半導体キュ, 半導体触媒, 半導体検査, 半導体規格, 半導体ゴム, 直接半導体, 半導体検査, 半導体寿命, 半導体硫黄, 材料 半導体, 半導体テスター, 半導体検査, 半導体コンバータ, 個別の半導体, 半導体電流, スペクトル半導体, 半導体テスター, 半導体パラメータテスタ, 半導体パラメータテスタ.