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半導体検査

半導体検査は全部で 17 項標準に関連している。

半導体検査 国際標準分類において、これらの分類：ソフトウェア開発とシステム文書化、 無機化学、 半導体ディスクリートデバイス、 長さと角度の測定。

HU-MSZT, 半導体検査

• MSZ 700/23.lap-1965 STマイクロエレクトロニクスはコークスを試験します
• MSZ 700/36.lap-1961 炭鉱での半導体検査実験
• MSZ 700/27.lap-1962 STMicroelectronics テスト フラッシュの定義
• MNOSZ 700-8.lap-1955 STマイクロエレクトロニクスは炭素と黄疸を検査します
• MSZ 700/26.lap-1961 STマイクロエレクトロニクスのテスト。 灰分含有量を迅速に測定する方法
• MSZ 700/41.lap-1961 STマイクロエレクトロニクスのテスト。 総硫黄含有量を迅速に測定
• MSZ 700/24.lap-1965 STマイクロエレクトロニクスのコークス試験

Group Standards of the People's Republic of China, 半導体検査

• T/SHDSGY 113-2022 RFフロントエンド半導体テストソフトウェア
• T/ZACA 041-2022 ミックスドシグナル半導体デバイス試験装置

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 半導体検査

• KS M 1804-2008(2018) 半導体の検査方法に使用されるフッ酸

Danish Standards Foundation, 半導体検査

• DS/EN 60191-6-16:2007 半導体デバイスの機械的標準化 パート 6-16: BGA、LGA、FBGA、および FLGA の半導体テストおよびバーンイン ソケットの用語集

German Institute for Standardization, 半導体検査

• DIN EN 60191-6-16:2007-11 半導体デバイスの機械的標準化 パート 6-16: BGA、LGA、FBGA、および FLGA の半導体テストおよびバーンイン ソケットの用語集

Defense Logistics Agency, 半導体検査

• DLA MIL-STD-750 F-2012 半導体デバイスの試験方法規格

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 半導体検査

• JJG(电子) 04008-1987 QE1A ダブルベース半導体管テスターのパイロット校正手順

Lithuanian Standards Office , 半導体検査

• LST EN 60191-6-16-2007 半導体デバイスの機械的標準化 第 6-16 部：BGA、LGA、FBGA、FLGA の半導体テストおよびバーンインソケットの用語集 (IEC 60191-6-16:2007)

ES-UNE, 半導体検査

• UNE-EN 60191-6-16:2007 半導体デバイスの機械的標準化 第 6-16 部：BGA、LGA、FBGA、FLGA の半導体テストおよびバーンインソケットの用語集 (IEC 60191-6-16:2007)

British Standards Institution (BSI), 半導体検査

• 13/30284029 DC BS EN 60191-6-16 半導体デバイスの機械的標準化 パート 6-16 BGA、LGA、FBGA、FLGA 用の半導体テストおよびバーンインソケットの用語集

その他：   半導体試験装置, ++++半導体テスト手順, 半導体のテスト手順, 半導体試験装置, 半導体検査, 半導体テスター, 半導体検査, 半導体テスター, 半導体材料の試験方法, パワー半導体試験, 半導体試験装置, 半導体テスト装置, 半導体テスト装置, 半導体 + テスト + 装置, 半導体テスト技術, 半導体テスト技術, 半導体の分析と試験, 半導体テストの原理, 半導体テスト分析, 半導体ケルビン試験.