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機器の寿命に関するドキュメント

機器の寿命に関するドキュメントは全部で 140 項標準に関連している。

機器の寿命に関するドキュメント 国際標準分類において、これらの分類：製品の技術ドキュメント、 化学装置、 石油およびガス産業の機器、 機械的試験、 情報技術の応用、 非破壊検査、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 長さと角度の測定、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 半導体ディスクリートデバイス、 地質学、気象学、水文学、 ソフトウェア開発とシステム文書化、 医療機器、 電気、磁気、電気および磁気測定、 光ファイバー通信、 電子表示装置、 船内機器および計器類、 産業用オートメーションシステム、 天文学、測地学、地理学、 接着剤および接着製品、 果物、野菜およびその製品、 グラフィックシンボル、 鉱山機械、 建設業、 ロープウェイ設備。


German Institute for Standardization, 機器の寿命に関するドキュメント

  • DIN 28000-2:2011 化学機器、プロセス機器のライフサイクル文書、パート 2: 文書ディレクトリ
  • DIN 28000-2:2002 化学計装 プロセス機器のライフサイクル文書タイプ パート 2: 文書タイプの定義
  • DIN EN 62304:2007 医療機器向けソフトウェア ソフトウェアのライフプロセス
  • DIN ISO 15226:2017 製品の技術ドキュメント、ライフサイクル モデルおよびドキュメントの配布 (ISO 15226-1999)
  • DIN ISO 15226:1999 製品の技術ドキュメント、ライフサイクル モデルおよびドキュメントの配布 (ISO 15226-1999)
  • DIN EN ISO 17526:2003-10 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの寿命
  • DIN 28000-1:2002 化学機器 プロセス機器のライフサイクル文書タイプ パート 1: 基本および補足タイプの文書の登録。
  • DIN 28000-1:2011 化学機器 プロセス機器のライフサイクル文書タイプ パート 1: 基本および補足タイプの文書の登録。
  • DIN 28000-3:2009 化学計装 プロセス機器のライフサイクル文書の種類 パート 3: フロー図とプロセス識別コード
  • DIN EN ISO 17526:2003 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの耐用年数
  • DIN EN 62304:2016 医療機器用ソフトウェア ソフトウェア ライフ プロセス (IEC 62304-2006+A1-2015) ドイツ語版 EN 62304-2006+Cor.-2008+A1-2015
  • DIN EN 2591-406:1998 航空宇宙シリーズ、電気および光学機器用の接続コンポーネント、試験方法、パート 406: 機械的寿命
  • DIN 28000-1 Berichtigung 1:2012 化学機器 プロセス機器のライフサイクル文書タイプ パート 1: 基本および補足タイプの文書の登録 DIN 28000-1-2011-01 の修正事項
  • DIN EN 60749-23:2011-07 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
  • DIN EN 62005-7:2004 光ファイバー相互接続デバイスと受動光コンポーネントの信頼性 パート 7: 寿命ストレス モデル
  • DIN EN 3745-410:2015 航空宇宙シリーズ、航空機用光ファイバー ケーブル、試験方法、パート 410: 熱寿命、ドイツ語版および英語版 EN 3745-410-2015
  • DIN EN 3745-410:2016 航空宇宙シリーズ、航空機用光ファイバー ケーブル、試験方法、パート 410: 熱寿命、ドイツ語版および英語版 EN 3745-410-2015
  • DIN EN 60749-23:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温ライフサイクル (IEC 60749-23-2004 + A1-2011)、ドイツ語版 EN 60749-23-2004 + A1-2011
  • DIN EN 302-7:2013 耐荷重木造構造用接着剤 試験方法 パート 7: 標準条件下での耐用年数の決定 ドイツ語版 EN 302-7-2013
  • DIN EN 60749-5:2018-01 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 5: 定常状態の温度湿度バイアス寿命試験
  • DIN EN 60749-5:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 第 5 部: 定常状態の温湿度偏差寿命試験
  • DIN 28000-4:2014 化学計装、製油所のライフサイクル文書、パート 4: バルブ、パイプ、アクチュエーターの図記号
  • DIN CWA 16633:2013 建設設備の包括的な耐用年数評価とその後の資産管理のための関連構造コンポーネントの運用老朽化状況 英語版 CWA 16633-2013

Professional Standard - Petroleum, 機器の寿命に関するドキュメント

  • SY/T 6144-2008 Neutron 寿命ロギングツールの技術的条件
  • SY/T 6144-1995 Neutron 寿命ロギングツールの技術的条件
  • SY 6144-2008 年間中性子寿命記録ツールの技術的条件

IN-BIS, 機器の寿命に関するドキュメント

Society of Automotive Engineers (SAE), 機器の寿命に関するドキュメント

Association Francaise de Normalisation, 機器の寿命に関するドキュメント

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 機器の寿命に関するドキュメント

  • GB/T 37929-2019 非破壊検査装置 X線管寿命試験方法
  • GB/T 40214-2021 プロセス産業における電気および計装エンジニアリングの文書タイプ

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 機器の寿命に関するドキュメント

  • EN 62304:2006 医療機器用ソフトウェア ソフトウェア ライフ サイクル: 2006
  • EN 60749-23:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命 IEC 60749-23-2004
  • EN IEC 60749-5:2024 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 5: 定常状態の温湿度バイアス寿命試験

Professional Standard - Water Conservancy, 機器の寿命に関するドキュメント

  • SL/T 108-1995 水文機器モデルの命名方法
  • SL 108-2006 水文学機器、水利保全および水文学自動化システムのモデル命名方法
  • SL/T 244-1999 水路用電気機械装置および試験装置の一般的な技術条件

American National Standards Institute （ANSI), 機器の寿命に関するドキュメント

British Standards Institution (BSI), 機器の寿命に関するドキュメント

  • BS ISO/IEC 24789-1:2012 ID カード、カードの有効期限、アプリケーションのプロファイルと要件
  • BS EN ISO 17526:2003 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの耐用年数
  • BS EN 60749-23:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、高温動作寿命
  • BS EN 60749-23:2004+A1:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、高温耐用年数
  • BS ISO/IEC/IEEE 26531:2015 システムおよびソフトウェア エンジニアリング、製品ライフサイクルのコンテンツ管理、ユーザーおよびサービス管理の文書化
  • BS EN 60749-5:2003 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、定常状態の温湿度偏差寿命試験
  • BS EN 60749-5:2017 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 定常状態温度湿度バイアス寿命試験

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 機器の寿命に関するドキュメント

  • JJF 1203-2008 電気音響製品（スピーカー）用パワーライフテスターの校正仕様書

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 機器の寿命に関するドキュメント

  • KS B ISO 17526:2020 光学および光学機器 - レーザーおよびレーザー関連機器 - Laser Life
  • KS B ISO 17526:2015 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの寿命
  • KS B ISO 17526:2013 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの耐用年数
  • KS B ISO 17526:2008 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの耐用年数
  • KS C IEC 60749-23:2006 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命
  • KS C IEC 60749-23:2021 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命
  • KS C IEC 60749-23-2006(2016) 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 - パート 23: 高温動作寿命

KR-KS, 機器の寿命に関するドキュメント

  • KS B ISO 17526-2020 光学および光学機器 - レーザーおよびレーザー関連機器 - Laser Life
  • KS C IEC 60749-23-2021 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命

Group Standards of the People's Republic of China, 機器の寿命に関するドキュメント

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 機器の寿命に関するドキュメント

  • GJB 10196-2021 固体マイクロ波パワーデバイスの加速寿命試験方法
  • GJB 9380-2018 表面実装デバイスのはんだ接合寿命試験方法と評価要件
  • GJB 8349-2015 軍事試験機器用のランダム文書の一般要件

GB-REG, 機器の寿命に関するドキュメント

International Organization for Standardization (ISO), 機器の寿命に関するドキュメント

  • ISO 17526:2003 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの耐用年数
  • ISO/IEC 24789-1:2012 ID カード、カードの有効期限、パート 1: アプリケーション プロファイルと要件

Danish Standards Foundation, 機器の寿命に関するドキュメント

  • DS/EN ISO 17526:2003 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの寿命
  • DS/EN 60749-23/A1:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
  • DS/EN 60749-23:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
  • DS/EN 60749-5:2003 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第5部：定常温湿度バイアス寿命試験

JP-JEITA, 機器の寿命に関するドキュメント

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 機器の寿命に関するドキュメント

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 機器の寿命に関するドキュメント

  • DB61/T 1448-2021 高出力半導体ディスクリートデバイスの間欠寿命試験手順

Lithuanian Standards Office , 機器の寿命に関するドキュメント

  • LST EN ISO 17526:2004 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー寿命 (ISO 17526:2003)
  • LST EN 60749-23-2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 23: 高温動作寿命 (IEC 60749-23:2004)
  • LST EN 60749-23-2004/A1-2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 23: 高温動作寿命 (IEC 60749-23:2004/A1:2011)

AENOR, 機器の寿命に関するドキュメント

  • UNE-EN ISO 17526:2004 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー寿命 (ISO 17526:2003)
  • UNE-EN 62005-7:2005 ファイバ相互接続デバイスと受動光コンポーネントの信頼性 パート 7: 寿命応力モデリング
  • UNE-EN 60749-23:2005 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
  • UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
  • UNE-EN 60749-5:2003 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 5: 定常状態の温度湿度バイアス寿命試験

European Committee for Standardization (CEN), 機器の寿命に関するドキュメント

  • EN ISO 17526:2003 光学および光学機器、レーザーおよびレーザー関連機器、レーザーの耐用年数 ISO 17526-2003

RU-GOST R, 機器の寿命に関するドキュメント

American Welding Society (AWS), 機器の寿命に関するドキュメント

  • WRC 374:1992 1989年にAFIAPフランスが主催した会議「圧力容器の寿命」で発表された論文

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 機器の寿命に関するドキュメント

WRC - Welding Research Council, 機器の寿命に関するドキュメント

  • BULLETIN 374-1992 1989年にフランスでAFIAPが開催した「圧力容器寿命」会議で発表された論文

Professional Standard - Building Materials, 機器の寿命に関するドキュメント

  • JC/T 551-1994 トイレ低水タンク付属品 - 排水弁のシールと寿命試験方法

ZA-SANS, 機器の寿命に関するドキュメント

  • SANS 15289:2007 システムおよびソフトウェアエンジニアリング。 システムおよびソフトウェアのライフサイクルプロセス情報製品のコンテンツ（ドキュメント）

Standard Association of Australia （SAA）, 機器の寿命に関するドキュメント

  • AS/NZS ISO/IEC 15289:2007 システムおよびソフトウェアエンジニアリング。 システムおよびソフトウェアのライフサイクル手順情報製品（ドキュメント）の内容

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 機器の寿命に関するドキュメント

  • TIA-1048-2005 IEC 62005-7 - 光ファイバー相互接続コンポーネントと受動コンポーネントの信頼性パート 7: 寿命応力モデリング

International Electrotechnical Commission (IEC), 機器の寿命に関するドキュメント

  • IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命
  • IEC 60749-23:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命
  • IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命
  • IEC 60278:1968 電子測定器に付属のマニュアル
  • IEC 60749-23:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温での動作寿命。
  • IEC 62005-7:2004 光ファイバー相互接続デバイスと受動光コンポーネントの信頼性 パート 7: 寿命ストレス シミュレーション テスト
  • IEC 60749-5:2023 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 5: 定常状態の温度湿度バイアス寿命試験
  • IEC 60749-5:2023 RLV 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 5: 定常状態の温度湿度バイアス寿命試験

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 機器の寿命に関するドキュメント

  • GB/T 4937.23-2023 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
  • GB/T 13972-2010 海洋水路計測機器の一般的な技術条件
  • GB/T 13972-1992 海洋水文観測機器の一般技術条件
  • GB/T 9359-2016 水文学機器の基本的な環境試験条件と方法
  • GB/T 9359-2001 水文学機器の基本的な環境試験条件と方法
  • GB/T 15966-2007 水文学機器の基本パラメータと一般的な技術条件
  • GB/T 15966-1995 水文学機器の基本パラメータと一般的な技術条件
  • GB/T 18522.2-2002 水文学機器の一般原則パート 2; 参考動作条件
  • GB/T 32749-2016 水路用電気機械装置および試験装置の一般的な技術条件

American Society for Testing and Materials (ASTM), 機器の寿命に関するドキュメント

  • ASTM F3487-20 医療機器の洗浄に使用されるブラシ部品の耐用年数を評価するための標準ガイド

Professional Standard - Electron, 機器の寿命に関するドキュメント

  • SJ/Z 9077-1987 電子測定器に付属のマニュアル
  • SJ/T 11461.5.3-2023 有機発光ダイオード表示装置 第5-3部：残像と寿命の試験方法
  • SJ 2259-1982 電子計測器に関するランダムな技術文書の編集

工业和信息化部, 機器の寿命に関するドキュメント

  • SJ/T 11461.5.3-2016 有機発光ダイオード表示装置 第5-3部：残像と寿命の試験方法

Professional Standard - Geology, 機器の寿命に関するドキュメント

  • DZ 0038-1992 地質機器製品のプロセス文書に関する規定
  • DZ/T 0163-1995 地質機器製品設計書の分類と付番方法
  • DZ/T 0198.8-1997 地質計器プロセス管理ガイドライン プロセス文書の変更
  • DZ 0042-1992 地質機器の製品図面および技術文書に関する規定
  • DZ/T 163-1995 地質機器製品設計書の分類と付番方法
  • DZ/T 0042.4-1992 地質機器の製品図面と技術文書の保管方法
  • DZ/Z 5-1981 地質機器の製品図面および技術文書作成の一般原則
  • DZ/T 0042.1-1992 地質機器の製品図面および技術文書作成の一般原則
  • DZ/T 0042.3-1992 地質機器の製品図面および技術文書の変更方法
  • DZ/Z 7-1981 地質機器の製品図面および技術文書の変更方法
  • DZ/Z 8-1981 地質機器の製品図面と技術文書の保管方法
  • DZ/T 0042.2-1992 地質機器の製品図面と技術文書の要件とフォーマット
  • DZ/Z 6-1981 地質機器の製品図面と技術文書の要件とフォーマット
  • DZ/T 0138-1994 地質機器の製品図面と設計書の標準化されたレビュー

CZ-CSN, 機器の寿命に関するドキュメント

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 機器の寿命に関するドキュメント

  • GB/T 15966-2017 水文学機器の基本パラメータと一般的な技術条件

European Association of Aerospace Industries, 機器の寿命に関するドキュメント

  • AECMA PREN 2349-317-1999 航空宇宙シリーズのリレーおよびコンタクタの要件とテスト手順 パート 317: コイル スイッチング デバイスの耐用年数 第 3E 版
  • AECMA PREN 2349-317-2000 航空宇宙シリーズのリレーおよびコンタクタの要件とテスト手順 パート 317: コイル スイッチング デバイスの耐用年数 バージョン P1

RO-ASRO, 機器の寿命に関するドキュメント

  • STAS 11142-1978 電子計測器のドキュメントを提供します。 仕様書の作成

KE-KEBS, 機器の寿命に関するドキュメント

  • KS 09-533-1983 ケニア電子測定器に付随する文書の標準仕様

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