ZH
RU
EN
ES

SEMキャリブレーション

SEMキャリブレーションは全部で 15 項標準に関連している。

SEMキャリブレーション 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 長さと角度の測定。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEMキャリブレーション

• JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEMキャリブレーション

• KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

International Organization for Standardization (ISO), SEMキャリブレーション

• ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

Association Francaise de Normalisation, SEMキャリブレーション

• NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

British Standards Institution (BSI), SEMキャリブレーション

• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
• BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。

RU-GOST R, SEMキャリブレーション

• GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 校正方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEMキャリブレーション

• JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEMキャリブレーション

• DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEMキャリブレーション

• GB/T 27788-2020 マイクロビーム解析のための走査型電子顕微鏡画像の倍率校正に関するガイドライン

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEMキャリブレーション

• GB/T 27788-2011 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正のガイドライン。

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEMキャリブレーション

• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法

その他：   走査型電子顕微鏡, 走査型電子顕微鏡,, 走査型電子顕微鏡,, ++++SEM, 機器の校正, XPSキャリブレーション, 顕微鏡の校正, 校正範囲, 校正偏差, 校正エラー, 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, 環境走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, SEMキャリブレーション, 走査型電子顕微鏡校正フィルム, 、走査型電子顕微鏡, 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, 走査型電子顕微鏡。, ・走査型電子顕微鏡, 原子吸光校正 校正, ph校正 校正.