ZH
EN
ES
СЭМ-калибровка
СЭМ-калибровка, Всего: 15 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЭМ-калибровка, являются: Оптическое оборудование, Линейные и угловые измерения.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, СЭМ-калибровка
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЭМ-калибровка
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
International Organization for Standardization (ISO), СЭМ-калибровка
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Association Francaise de Normalisation, СЭМ-калибровка
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
RU-GOST R, СЭМ-калибровка
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
British Standards Institution (BSI), СЭМ-калибровка
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), СЭМ-калибровка
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ-калибровка
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ-калибровка
- GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЭМ-калибровка
- GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
American Society for Testing and Materials (ASTM), СЭМ-калибровка
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа