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光学式検出システム

光学式検出システムは全部で 10 項標準に関連している。

光学式検出システム 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光ファイバー通信。

Group Standards of the People's Republic of China, 光学式検出システム

• T/SZIEIA 02-2022 AOI自動光学検査装置

International Electrotechnical Commission (IEC), 光学式検出システム

• IEC 62150-4:2009 光ファイバーのアクティブコンポーネントおよびデバイス テストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズの検出

British Standards Institution (BSI), 光学式検出システム

• BS EN 62150-4:2010 光ファイバーのアクティブコンポーネントおよびデバイス テストおよび測定手順 時間領域光検出システムの相対強度ノイズ

Danish Standards Foundation, 光学式検出システム

• DS/EN 62150-4:2010 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスのテストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズ

Association Francaise de Normalisation, 光学式検出システム

• NF C93-845-4*NF EN 62150-4:2015 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスのテストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズ
• NF EN 62150-4:2015 光ファイバーのアクティブコンポーネントおよび装置 - テストおよび測定手順 - パート 4: 時間領域光学を使用した検出システムの相対ノイズ強度

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 光学式検出システム

• EN 62150-4:2010 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスのテストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズ

German Institute for Standardization, 光学式検出システム

• DIN EN 62150-4:2010-08 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスのテストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズ

ES-UNE, 光学式検出システム

• UNE-EN 62150-4:2010 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイスの基本的なテストおよび測定手順 パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズ

Lithuanian Standards Office , 光学式検出システム

• LST EN 62150-4-2010 光ファイバーアクティブコンポーネントおよび装置のテストおよび測定手順パート 4: 時間領域光検出システムを使用した相対強度ノイズ (IEC 62150-4:2009)

その他：   光学イメージングシステム, ビーム光学系, 光学測定システム, 光学式検出システム, 光学測定システム, 光学系, 光学系の構成, 電子光学系, 光学系測定, レーザー光学系, 色収差光学系, 光学式検出システム, 分光光学系, 光電子システム, システム光学系, 光学検査システム, 光学系機能, 光学補正システム, 光学システムの信号対雑音比, 光学的に薄いシステム.