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電子顕微鏡と電子顕微鏡

電子顕微鏡と電子顕微鏡は全部で 71 項標準に関連している。

電子顕微鏡と電子顕微鏡 国際標準分類において、これらの分類：空気の質、 光学および光学測定、 分析化学、 光学機器、 計測学と測定の総合、 語彙、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 教育する、 電子部品および部品。


American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正

Professional Standard - Machinery, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • ISO 8036:2006 光学およびフォトニクス、顕微鏡、光学顕微鏡用液浸液
  • ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
  • ISO 11884-2:2007 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 パート 2: 高性能顕微鏡

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • BS ISO 11884-2:2007 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 高性能顕微鏡
  • BS ISO 8036:2006 光学およびフォトニクス、顕微鏡、光学顕微鏡用浸漬液
  • BS ISO 11884-1:2006 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 一般的な実体顕微鏡
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
  • BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

KR-KS, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡の用語
  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

Group Standards of the People's Republic of China, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

Professional Standard - Education, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

Association of German Mechanical Engineers, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • DVS 2803-1974 顕微鏡下での電子ビーム溶接（調査）

RU-GOST R, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • GOST 21006-1975 電子顕微鏡、用語、定義、およびアルファベット記号

Military Standards (MIL-STD), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

Professional Standard - Medicine, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • YY 1296-2016 光学およびフォトニクス 外科用顕微鏡 眼科用外科用顕微鏡の光の危険性

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析 透過電子顕微鏡法 透過電子顕微鏡法 植物ウイルスの形態の同定

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 電子顕微鏡と電子顕微鏡

German Institute for Standardization, 電子顕微鏡と電子顕微鏡

  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

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