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走査型電子顕微鏡SEMと

走査型電子顕微鏡SEMとは全部で 192 項標準に関連している。

走査型電子顕微鏡SEMと 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、光学および光学測定、分析化学、語彙、教育する、長さと角度の測定、空気の質、犯罪予防、熱力学と温度測定、電子表示装置、表面処理・メッキ、建材、鉄鋼製品、セラミックス、非破壊検査、塗料とワニス、医療科学とヘルスケア機器の統合、物理学、化学、計測学と測定の総合。

British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡SEMと

18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
BS EN ISO 9220:1989 金属皮膜皮膜厚さ測定走査型電子顕微鏡法
BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
12/30228339 DC BS ISO 16000-27 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面沈降繊維状粉塵の測定 (直接法)
BS ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形状分布を測定します
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定走査型電子顕微鏡
BS EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
18/30351679 DC BS ISO 19749 ナノテクノロジー走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
BS ISO 14966:2019 走査型電子顕微鏡による大気中の無機繊維粒子の濃度数値測定
BS ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡における横方向分解能の定義と校正
BS ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
BS ISO 14966:2002 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
18/30375050 DC BS ISO 14966 周囲空気中の無機繊維粒子の数値濃度の測定走査型電子顕微鏡
19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
BS EN ISO 17751-2:2023 走査型電子顕微鏡を使用したカシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析

International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡SEMと

ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
ISO 9220:1988 金属皮膜膜厚測定走査型電子顕微鏡
ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面降下繊維粉塵の測定 (直接法)
ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
ISO 14966:2019 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
ISO 14966:2002 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
ISO 14966:2002/cor 1:2007 周囲空気無機繊維粒子の数値濃度の測定走査型電子顕微鏡法技術訂正事項 1

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡SEMと

JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Professional Standard - Machinery, 走査型電子顕微鏡SEMと

JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。技術的条件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順
JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型電子顕微鏡SEMと

GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法
GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型電子顕微鏡SEMと

KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡用語集
KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
KS I 0051-1999 走査型電子顕微鏡検査法の一般原則
KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド
KS D ISO 9220:2009 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
KS D ISO 9220-2009(2022) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 9220-2009(2017) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定

KR-KS, 走査型電子顕微鏡SEMと

KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド
KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Professional Standard - Education, 走査型電子顕微鏡SEMと

JY/T 0584-2020 走査型電子顕微鏡分析法の一般原則
JY/T 010-1996 分析走査型電子顕微鏡法の一般原理

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡SEMと

ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
ASTM E986-04 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2010) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド
ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM E3284-23 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) を使用したプライマー残基 (pGSR) の法医学的検査のトレーニングの標準的な実践方法
ASTM E2142-01 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の不純物の評価と分類のための標準試験方法
ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
ASTM E1813-96e1 走査型検出顕微鏡プローブの測定とレポートの標準的な方法
ASTM E1813-96(2002) 走査型検出顕微鏡プローブの測定とレポートの標準的な方法
ASTM E1813-96(2007) 走査型検出顕微鏡プローブの測定とレポートの標準的な方法
ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法

Professional Standard - Commodity Inspection, 走査型電子顕微鏡SEMと

SN/T 4388-2015 革の識別走査型電子顕微鏡および光学顕微鏡
SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1：X線回折・走査型電子顕微鏡法

Professional Standard - Petroleum, 走査型電子顕微鏡SEMと

SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法

国家能源局, 走査型電子顕微鏡SEMと

SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡SEMと

NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
NF ISO 16000-27:2014 室内空気 - パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面堆積繊維状粉塵の測定 (直接法)
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
NF A91-108:1995 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法)
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
NF T25-111-4:1991 炭素繊維 - テクスチャーと構造 - パート 4: 走査型電子顕微鏡によるフラクトグラフィー
NF X21-010:2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
NF EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。

Group Standards of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

T/SPSTS 032-2023 走査型電気化学顕微鏡の一般仕様
T/QGCML 1940-2023 走査電子顕微鏡その場高温機械試験装置
T/SPSTS 030-2023 走査型電子顕微鏡を使用したグラフェン材料のシートサイズ測定

Professional Standard - Judicatory, 走査型電子顕微鏡SEMと

SF/T 0139-2023 土壌検査走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

RU-GOST R, 走査型電子顕微鏡SEMと

GOST ISO 16000-27-2017 室内空気その27 SEM（走査型電子顕微鏡）による表面に付着した繊維粉塵の定量（直接法）
GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム走査型電子顕微鏡
GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡校正方法
GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡識別方法
GOST R 8.631-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子測定顕微鏡検証方法
GOST 8.593-2009 国家測定均一性保証制度原子間力走査型プローブ顕微鏡識別方法
GOST R 8.630-2007 国家測定均一性保証制度原子力走査型検出顕微鏡検証方法
GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度原子間力走査型プローブ顕微鏡校正方法
GOST R 8.593-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム原子間力走査型トンネル顕微鏡校正手順

German Institute for Standardization, 走査型電子顕微鏡SEMと

DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空気その27：表面に付着した繊維状粉塵のSEM（走査型電子顕微鏡）による測定（直接法）
DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
DIN ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法) (ISO 16000-27-2014)
DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
DIN EN ISO 19749:2023-07 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 金属コーティング、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)、ドイツ語版 EN ISO 9220:1994

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

DB32/T 3459-2018 グラフェンフィルムの微小領域の被覆率をテストするための走査型電子顕微鏡法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
GB/T 23414-2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査パート 6; 走査電子顕微鏡法
GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生体形態効果に対する環境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理
GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法

SE-SIS, 走査型電子顕微鏡SEMと

SIS SS-ISO 9220:1989 金属コーティング。膜厚測定。走査型電子顕微鏡法
SIS SS CECC 00013-1985 基本仕様。半導体チップの走査型電子顕微鏡観察

European Committee for Standardization (CEN), 走査型電子顕微鏡SEMと

EN ISO 9220:2022 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
EN ISO 9220:1994 金属被覆コーティング厚さ測定走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220-1988)
prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Danish Standards Foundation, 走査型電子顕微鏡SEMと

DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。

ES-UNE, 走査型電子顕微鏡SEMと

UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法
UNE-EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

Professional Standard - Public Safety Standards, 走査型電子顕微鏡SEMと

GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1938-2021 法医学金属検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1937-2021 法医学ゴム検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1522-2018 法医学銃撃残渣検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
GA/T 1521-2018 法医学プラスチック元素組成検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1519-2018 法医学トナー元素組成検査走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1520-2018 法医学黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法
GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

AENOR, 走査型電子顕微鏡SEMと

UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , 走査型電子顕微鏡SEMと

LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

AT-ON, 走査型電子顕微鏡SEMと

OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, 走査型電子顕微鏡SEMと

NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

Association of German Mechanical Engineers, 走査型電子顕微鏡SEMと

VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定
VDI 3492-2004 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
VDI 3492-2013 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡

未注明发布机构, 走査型電子顕微鏡SEMと

BS CECC 13:1985(1999) 電子部品の品質評価連携体制：基本仕様：半導体チップの走査型電子顕微鏡検査

American National Standards Institute （ANSI), 走査型電子顕微鏡SEMと

ANSI/ASTM D6059:2001 走査型電子顕微鏡を使用して作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法

工业和信息化部, 走査型電子顕微鏡SEMと

SJ/T 11759-2020 太陽電池電極のグリッドラインのアスペクト比の測定レーザー走査型共焦点顕微鏡

GOSTR, 走査型電子顕微鏡SEMと

PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブ

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡SEMと

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