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電子試験

電子試験は全部で 94 項標準に関連している。

電子試験 国際標準分類において、これらの分類：航空宇宙用電気機器およびシステム、 ハンドツール、 半導体ディスクリートデバイス、 ワイヤーとケーブル、 船内機器および計器類、 航空機と宇宙船の統合、 品質、 電気、磁気、電気および磁気測定、 電子管、 分析化学、 繊維製品。


U.S. Military Regulations and Norms, 電子試験

American Society of Mechanical Engineers (ASME), 電子試験

U.S. Air Force, 電子試験

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 電子試験

United States Navy, 電子試験

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 電子試験

PL-PKN, 電子試験

Standard Association of Australia （SAA）, 電子試験

Society of Automotive Engineers (SAE), 電子試験

Professional Standard - Electron, 電子試験

  • SJ 20369-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 一般原則
  • SJ 20373-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 安全要件
  • SJ 20371-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 電源要件とテスト方法
  • SJ 20377-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 品質保証規定
  • SJ/Z 9010.0-1987 電子管の電気的特性の検査 その0 電子管の検査方法に関する注意事項
  • SJ 20376-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 識別マークの梱包要件
  • SJ 20372-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 環境要件とテスト方法
  • SJ 20374-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様、電磁適合性要件とテスト方法
  • SJ 20375-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 信頼性テストの要件と方法
  • SJ 20370-1993 軍用電子テスト機器の一般仕様 設計と構造の基本要件
  • SJ/Z 9010.21-1987 真空管の電気的特性の試験 第 21 部: 真空管の相互変調の試験方法
  • SJ/Z 9036-1987 電気・電子計測・試験装置

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, 電子試験

  • STANAG 3957-1997 アビオニクス試験システムにおける C/ATLAS HOL の応用

Aeronautical Radio Inc., 電子試験

Group Standards of the People's Republic of China, 電子試験

  • T/CEIA 003-2023 電子試験装置のマイクロ波部品（コンポーネント）の品質管理要件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 電子試験

  • JJG(电子) 12022-1989 タイプ VS13 白黒テレビ電子テスト カード ジェネレーターの校正手順

Defense Logistics Agency, 電子試験

ISA - International Society of Automation, 電子試験

  • ISA S82.02-1988 電気電子試験測定制御装置および関連機器電気電子試験測定装置の安全規格 (ANSI C39.5-1974 の一部改正および再指定)
  • ISA 82.02.01-1999 電気および電子のテスト、測定、制御および関連機器の安全規格の一般要件
  • ISA S82.01-1994 電気および電子試験の安全規格 測定制御および関連機器の一般要件 IEC Publication 1010-1 調和規格

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子試験

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子試験

  • ASTM D5015-02(2008) 大気中の湿った堆積物のサンプルの pH を電子的に検査する方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子試験

CZ-CSN, 電子試験

SE-SIS, 電子試験

HU-MSZT, 電子試験

GM Daewoo, 電子試験

US-RTCA, 電子試験

  • RTCA DO-171-1980 既製の電子テスト機器の調達とサポートに関するポリシーと手順に関する推奨事項

Association Francaise de Normalisation, 電子試験

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 電子試験

  • IEEE P1505.1/D4-2018 IEEE Std 1505 を使用した高密度単層電子テスト要件向けの一般的なテスト インターフェイスのピン ダイアグラム構成
  • IEEE P1505.1/D6-2019 IEEE Std 1505 を使用した高密度単層電子テスト要件の共通テスト インターフェイス ピン配置構成標準

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 電子試験

  • IEEE 1505.1-2015 IEEE Std 1505 の高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件を利用したユニバーサル テスト インターフェイスのピン配列図
  • IEEE Std 1505.1-2008 IEEE Std 1505 を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン ダイアグラム構成の IEEE トライアル標準
  • IEEE Unapproved Draft Std P1505.1_D8, Jan 2008 IEEE Std 1505 を利用した高密度、単層電子テスト要件向けのユニバーサル テスト インターフェイス ピン マッピング構成の IEEE ドラフト試用標準
  • IEEE P1505.1/D4, July 2018 IEEE Std 1505 を使用した高密度、単層電子テスト要件のための共通テスト インターフェイスのピン配置構成に関する IEEE ドラフト標準
  • IEEE 1505.1-2019 IEEE Std 1505 を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けのユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ構成の IEEE 規格
  • IEEE Std 1505.1-2019 IEEE Std 1505 を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けのユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ構成の IEEE 規格
  • IEEE Std 1505.1-2008 (Full-Use) IEEE Std 1505 を利用した、高密度、単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイスのピンマップ構成に関する IEEE 規格

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子試験

  • GB/T 35445-2017 生糸の欠陥と均一性を電子的に検出するための試験方法

IEC - International Electrotechnical Commission, 電子試験

  • IEC 63003:2015 IEEE Std 1505 (リビジョン 1.0) を使用した、高密度単層電子テスト要件向けの共通テスト インターフェイス ピン ダイアグラム構成標準

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