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電子機器の経年劣化試験時間

電子機器の経年劣化試験時間は全部で 88 項標準に関連している。

電子機器の経年劣化試験時間 国際標準分類において、これらの分類：電子および通信機器用の電気機械部品、ワイヤーとケーブル、工業炉、道路車両装置、造船と海洋構造物の一体化、ガラス、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、コンデンサ、総合電子部品、半導体ディスクリートデバイス。

German Institute for Standardization, 電子機器の経年劣化試験時間

DIN EN 60512-25-3:2002 電子機器用コネクタテストと測定パート 25-3: テスト 25c: 立ち上がり時間エージング
DIN EN 60512-25-3:2002-08 電子機器へのコネクタ - テストと測定 - パート 25-3: テスト 25c: 立ち上がり時間の劣化 (IEC 60512-25-3:2001)
DIN EN 60831-2:1997 定格電圧1KV以下の交流機器用自己修復バイパスコンデンサその2：経年劣化試験、自己修復試験、破壊試験
DIN EN ISO 11554:2008 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
DIN EN 60931-2:1997 定格電圧1kV未満（1kVを含む）の交流機器用非自己修復型並列電力コンデンサその2：経年劣化試験及び破壊試験

British Standards Institution (BSI), 電子機器の経年劣化試験時間

BS EN 60512-25-3:2001 電子機器のコネクタ試験および測定試験 25c 立ち上がり時間劣化
BS DD IEC/TS 60680:2008 電熱および電気化学用途のプラズマ装置の試験方法
BS EN 60512-14-6:2006 電子機器用コネクタ試験と測定密閉試験試験 14f インターフェース間の密閉
BS EN 60512-9-4:2011 電子機器用コネクタ試験・測定耐久性試験試験9d 接点固定システムおよびシールの耐久性（メンテナンス、エージング処理）
DD IEC/TS 60680:2008 電熱および電気化学用途のプラズマ装置の試験方法
BS EN 60512-11-4:2002 電子機器用コネクタテストと測定気候テストテスト 11d 急激な温度変化
BS EN ISO 11554:2017 光学およびフォトニクスレーザーおよび関連レーザー装置レーザービームの出力、エネルギー、および時間特性の試験方法
BS EN ISO 11554:2009 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよび関連レーザー機器のレーザービーム出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
BS EN ISO 11554:2008 光学およびフォトニクスレーザーおよび関連レーザー装置レーザービームの出力、エネルギー、および時間特性の試験方法
BS EN IEC 60512-99-002:2022 電気および電子機器におけるコネクタの試験および測定のための耐久性試験スケジュール試験 99b: 電気負荷下でのプラグ抜きの試験計画 (IEC 60512-99-002:2022)
BS ISO 16750-5:2010 道路車両、電気および電子機器の環境条件とテスト、化学物質の負荷
BS IEC 60747-5-13:2021 半導体デバイス・光電子機器・LEDパッケージの硫化水素腐食試験
BS EN 60512-12-1:2006 電子機器用コネクタ試験・測定はんだ付け試験試験12a 溶融金属浴法によるはんだ付け性の測定
20/30427721 DC BS EN 60512-99-002 電気および電子機器用コネクタの試験および測定パート 99-002 耐久性試験スケジュール試験 99b: 電気負荷下での引き抜き試験計画

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子機器の経年劣化試験時間

KS C IEC 60512-25-3:2004 電子機器用コネクタ、試験および測定、パート 25-3: 試験 25c、立ち上がり時間勾配
KS C IEC 60512-25-3:2014 電子機器用コネクタの試験および測定パート 25-3: 試験 25c 立ち上がり時間の減少
KS C IEC 60512-25-3-2004(2009) 電子機器用コネクタ - 試験および測定 25-3: 試験 25°C: 立ち上がり時間の劣化
KS C IEC 60680:2006 電熱および電気化学用途のプラズマ装置の試験方法
KS B ISO 11554:2013 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー装置レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
KS B ISO 11554:2003 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー装置レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
KS B ISO 11554:2015 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよびレーザー装置のレーザービーム出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
KS C IEC 60512-23-4-2004(2009) 電子機器用コネクタのテストと測定パート 23-4: シールドとフィルタリングのテストテスト 23d: 時間領域の伝送線路の反射
KS C IEC 60512-23-4:2004 電子機器用コネクタテストと測定パート 23-4: シールドおよびフィルタリングテストテスト 23d: 伝送線路の時間領域反射
KS C IEC 60512-23-4:2014 電子機器用コネクタの試験と測定パート 23-4: シールドとフィルタリングの試験試験 23d 伝送線路の時間領域反射
KS C IEC 60512-11-4:2003 電子機器用コネクタテストと測定パート 11-4: 気候テストテスト 11d: 急激な温度変化
KS C IEC 60512-11-4:2014 電子機器用コネクタの試験および測定パート 11-4: 気候試験試験 11d 急激な温度変化

Danish Standards Foundation, 電子機器の経年劣化試験時間

DS/EN 60512-25-3:2002 電子機器コネクタの試験および測定パート 25-3: 試験 25c 立ち上がり時間劣化
DS/EN 60512-11-4:2002 電子機器用コネクタの試験および測定パート 11-4: 気候試験試験 11d: 急速な温度変化

Association Francaise de Normalisation, 電子機器の経年劣化試験時間

NF EN 60512-25-3:2002 電子機器コネクタの試験および測定パート 25-3: 試験 25c 立ち上がり時間劣化
NF EN IEC 61051-2:2021 電子機器の変更第2部臨時追加制限の変更に関する暫定仕様書
NF C93-400-25-3*NF EN 60512-25-3:2002 電子機器用コネクタの試験および測定第 25-3 部: 試験 25c: 増加時間減少
NF C93-400-9-4*NF EN 60512-9-4:2012 電子機器へのコネクタ - 試験と測定 - パート 9-4: 耐久性試験 - 試験 9d: 接点保持機構とシールの耐久性 (メンテナンス、経年劣化)
NF S10-121:2008 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
NF C93-400-23-4*NF EN 60512-23-4:2002 電子機器用コネクタテストと測定パート 23-4: シールドおよびフィルタリングテストテスト 23d: 時間領域での伝送線路の反射
NF C93-400-11-4*NF EN 60512-11-4:2002 電子機器用コネクタの試験および測定パート 11-4: 気候試験試験 11d: 急激な温度変化
NF C93-400-2-3*NF EN 60512-2-3:2002 電子機器用コネクタの試験・測定パート2-3: 活線導通および接触抵抗試験試験2c: 接触抵抗の変化

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子機器の経年劣化試験時間

IEC 60512-25-3:2001 電子機器用コネクタの試験・測定第25-3部：試験25c 立ち上がり時間特性の劣化
IEC TS 60680:2008 電熱および電気化学用途のプラズマ装置の試験方法
IEC 60512-9-4:2011 電子機器用コネクタテストと測定パート 9-5: 耐久性テストテスト 9d: コンタクタ保持システムとシールの耐久性 (修理、経年劣化)
IEC 60512-23-4:2001 電子機器用コネクタのテストと測定パート 23-4: シールドテストとフィルタリングテストテスト 23d: 時間領域での放射線の反射
IEC 63203-406-1:2021 ウェアラブル電子機器および技術パート 406-1: 人間の皮膚と接触した場合の手首装着型電子機器の表面温度測定の試験方法
IEC 27/581/DTS:2007 IEC 60680 TS Edition 1: 電熱および電気化学用途のプラズマ機器の試験方法
IEC 60512-11-4:2002 電子機器用コネクタテストと測定パート 11-4: 気候テストテスト 11d: 急激な温度変化

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子機器の経年劣化試験時間

GB/T 5095.2503-2021 電子機器用電気機械部品の基本的なテスト手順と測定方法パート 25-3: テスト 25c: 立ち上がり時間減衰
GB/T 5095.2504-2021 電子機器用電気機械部品の基本的なテスト手順と測定方法パート 25-4: テスト 25d: 伝送遅延

ES-UNE, 電子機器の経年劣化試験時間

UNE-EN IEC 60512-99-002:2022 電気および電子機器用コネクタの試験および測定パート 99-002: 耐久性試験スケジュール試験 99b: 電気負荷下での引き抜き試験スケジュール
UNE-EN IEC 60512-99-002:2019 電気および電子機器用コネクタの試験および測定パート 99-002: 耐久性試験スケジュール試験 99b: 電気負荷下での引き抜き試験スケジュール

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 電子機器の経年劣化試験時間

EN 60512-25-3:2001 電子機器用コネクタ、試験および測定、パート 25-3: 試験 25c、立ち上がり時間勾配 IEC 60512-25-3-2001
EN 60512-23-4:2001 電子機器用コネクタテストと測定セクション 23-4: スクリーニングおよびフィルタリングテストテスト 23d: 時間領域における伝送線路の反射 IEC 60512-23-4-2001
EN 60512-9-4:2011 電子機器用コネクタ試験および測定パート 9-4: 耐久性試験試験 9d: 接点保持システムおよびシールの耐久性 (メンテナンス、老化処理)

AENOR, 電子機器の経年劣化試験時間

UNE-EN 60512-25-3:2002 電子機器コネクタの試験および測定パート 25-3: 試験 25c 立ち上がり時間低下
UNE-EN 60512-11-4:2002 電子機器用コネクタの試験および測定パート 11-4: 気候試験試験 11d: 急激な温度変化

Professional Standard - Machinery, 電子機器の経年劣化試験時間

JB/T 4278.6-1993 ゴムプラスチック電線およびケーブルの試験機器および装置の検証方法自然換気熱老化試験室
JB/T 4278.9-1993 ゴムおよびプラスチックのワイヤおよびケーブルの試験機器および装置の校正方法酸素ボンベおよび空気ボンベ老化試験チャンバー
JB/T 4278.6-2011 ゴムおよびプラスチックのワイヤおよびケーブルの試験機器および装置の検証方法パート 6: 自然換気熱老化試験室
JB/T 4278.9-2011 ゴムおよびプラスチックのワイヤーおよびケーブルの試験機器および装置の校正方法パート 9: 酸素ボンベおよび空気ボンベ老化試験チャンバー
JB/T 4278.13-2011 ゴムおよびプラスチックのワイヤおよびケーブルの試験機器および装置の検証方法パート 13: 強制換気熱老化試験室

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子機器の経年劣化試験時間

DB44/T 1758-2015 電気自動車用電子機器の信頼性向上試験方法

YU-JUS, 電子機器の経年劣化試験時間

JUS N.R4.448-1987 電子機器用の電気機械部品。テスト方法。テスト 13e: 刺激方法
JUS N.R4.482-1987 電子機器用の電気機械部品。テスト方法。テスト2h：アクチュエータと取付ガイドブッシュ（表面）間の抵抗（接地）

CZ-CSN, 電子機器の経年劣化試験時間

CSN 35 4055 Cast.26-1984 電子機器のモーター部品。接点保持システムの耐久性とシール/メンテナンス、バーンイン/テスト

TR-TSE, 電子機器の経年劣化試験時間

TS 2153-1975 電子機器および電子機器を試験するための基本的な環境試験手順 Db: 交互湿熱試験 (12+12 時間交互)

IN-BIS, 電子機器の経年劣化試験時間

IS 9002 Pt.13/Sec.3-1985 電気・電子製品環境試験装置仕様書第13部温度変化試験装置第3節 2槽
IS 9002 Pt.13/Sec.1-1985 電子・電気製品環境試験装置仕様書第13部温度変化試験装置第1節 2チャンバー方式

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子機器の経年劣化試験時間

JIS C 5402-14-6:2016 電子機器用コネクタ試験および測定パート 14-6: 密閉試験試験 14f: 層間の密閉
JIS C 5402-23-4:2006 電子機器用コネクタテストと測定パート 23-4: シールドテストとフィルタリングテストテスト 23d: 時間領域での伝送線路の反射
JIS C 5402-19-3:2002 電子機器用コネクタ試験および測定パート 19-3: 化学物質に対する耐性の試験試験 19c: 流体に対する耐性
JIS C 5402-11-4:2005 電子機器用コネクタテストと測定パート 11-4: 気候テストテスト 11d: 急激な温度変化

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子機器の経年劣化試験時間

GB/T 43527-2023 船舶電気機器の電磁適合性試験方法及び船舶ケーブル敷設時の敷設間隔の最適化に関する試験方法
GB/T 10066.5-2014 電熱デバイスの試験方法 - パート 5: 電熱および電気化学用途のプラズマ装置

Lithuanian Standards Office , 電子機器の経年劣化試験時間

LST EN 60512-25-3-2002 電子機器用コネクタの試験および測定パート 25-3: 試験 25c: 立ち上がり時間劣化 (IEC 60512-25-3:2001)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子機器の経年劣化試験時間

ASTM E2141-14 密閉された断熱ガラス設備におけるエレクトロクロミック装置の加速劣化に関する標準試験方法
ASTM E2953-14 密閉された断熱ガラス設備におけるエレクトロクロミックデバイスの加速劣化性能を評価するための標準試験方法

International Organization for Standardization (ISO), 電子機器の経年劣化試験時間

ISO 11554:2006 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー装置レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法

NL-NEN, 電子機器の経年劣化試験時間

NEN 10068-2-57-1994 IEC 68-2-57-1989 電気機器の気候および機械的試験。パート 2-57: テスト方法。テスト Ff: 振動。時刻歴法

RU-GOST R, 電子機器の経年劣化試験時間

GOST R ISO 11554-2008 光学およびオプトエレクトロニクスレーザーおよび関連レーザー装置レーザーエネルギー、エネルギー特性および時間特性の試験方法
GOST R 59741-2021 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザー放射パワー、エネルギーおよび時間特性の試験方法

European Committee for Standardization (CEN), 電子機器の経年劣化試験時間

EN ISO 11554:1998 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
EN ISO 11554:2003 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
EN ISO 11554:2017 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法
EN ISO 11554:2008 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法

CEN - European Committee for Standardization, 電子機器の経年劣化試験時間

EN ISO 11554:2006 光学およびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器レーザービームの出力、エネルギーおよび時間特性の試験方法

KR-KS, 電子機器の経年劣化試験時間

KS C IEC 60512-2-3-2008 電子機器用コネクタの試験・測定第2-3部：導通・接触抵抗試験試験2c：接触抵抗の変化