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电子设备老化试验 时间

本专题涉及电子设备老化试验 时间的标准有89条。

国际标准分类中，电子设备老化试验 时间涉及到电子电信设备用机电元件、电线和电缆、工业炉、道路车辆装置、造船和海上构筑物综合、玻璃、光电子学、激光设备、电容器、电子元器件综合、半导体分立器件。

在中国标准分类中，电子设备老化试验 时间涉及到连接器、电子元件综合、非金属材料试验机、工业电热设备、电子、电气设备、电缆及其附件、船舶电气、观通、导航设备综合、光电子器件综合、激光器件、光学仪器综合、电容器。


德国标准化学会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • DIN EN 60512-25-3:2002 电子设备用连接器.试验和测量.第25-3部分:试验25c:上升时间老化
  • DIN EN 60512-25-3:2002-08 电子设备连接器 - 测试和测量 - 第 25-3 部分：测试 25c：上升时间退化 (IEC 60512-25-3:2001)
  • DIN EN 60831-2:1997 额定电压不超过1KV交流设备用自恢复型旁路电容器.第2部分:老化试验、自恢复试验和破坏试验
  • DIN EN ISO 11554:2008 光学和光子学.激光器和激光器相关设备.激光束功率、能量和时间特征的试验方法
  • DIN EN 60931-2:1997 额定电压在1kV以下(含1KV)交流设备用非自恢复型并联功率电容器.第2部分:老化试验和破坏试验

英国标准学会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • BS EN 60512-25-3:2001 电子设备连接器 测试和测量 测试25c 上升时间退化
  • BS DD IEC/TS 60680:2008 电热和电化学用等离子设备的试验方法
  • BS EN 60512-14-6:2006 电子设备用连接器.试验和测量.密封试验.试验14f.界面间的密封
  • BS EN 60512-9-4:2011 电子设备连接器.试验和测量.耐久试验.试验9d.触点固定系统及密封件的耐久性(维护,老化处理)
  • DD IEC/TS 60680:2008 电热和电化学应用等离子设备的试验方法
  • BS EN 60512-11-4:2002 电子设备连接器.试验和测量.气候试验.试验11d.温度的快速变化
  • BS EN ISO 11554:2017 光学和光子学.激光和相关激光设备.激光束功率、能量和时间特性的试验方法
  • BS EN ISO 11554:2009 光学和光子学 激光和相关激光设备 激光束功率、能量和时间特性的试验方法
  • BS EN ISO 11554:2008 光学和光子学.激光和相关激光设备.激光束功率、能量和时间特性的试验方法
  • BS EN IEC 60512-99-002:2022 电气和电子设备连接器 测试和测量 耐力测试时间表 测试 99b：电力负载下拔出的测试计划（IEC 60512-99-002:2022）
  • BS ISO 16750-5:2010 道路车辆.电气和电子设备用环境条件和试验.化学载荷
  • BS IEC 60747-5-13:2021 半导体器件 光电子设备 LED封装的硫化氢腐蚀试验
  • BS EN 60512-12-1:2006 电子设备连接器.试验和测量.焊接试验.试验12a.金属熔化浴法测量可焊性
  • 20/30427721 DC BS EN 60512-99-002 电气和电子设备连接器 测试和测量 第99-002部分 耐力测试时间表 测试 99b：电力负载下拔出的测试计划

韩国科技标准局，关于电子设备老化试验 时间的标准

丹麦标准化协会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • DS/EN 60512-25-3:2002 电子设备连接器 测试和测量 第 25-3 部分：测试 25c 上升时间退化
  • DS/EN 60512-11-4:2002 电子设备连接器 试验和测量 第 11-4 部分：气候试验 试验 11d：温度快速变化

法国标准化协会，关于电子设备老化试验 时间的标准

国际电工委员会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • IEC 60512-25-3:2001 电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分：试验25c 上升时间特性变坏
  • IEC TS 60680:2008 电热和电化学用等离子设备的试验方法
  • IEC 60512-9-4:2011 电子设备连接器.试验和测量.第9-5部分:耐久试验.试验9d:接触器保持系统和密封的耐久性(维修,老化)
  • IEC 60512-23-4:2001 电子设备用连接器 试验和测量 第23-4部分：屏蔽试验和滤波试验 试验23d：时域中的射输线反射
  • IEC 63203-406-1:2021 可穿戴电子设备和技术.第406-1部分:手腕可穿戴电子设备与人体皮肤接触时表面温度测量的试验方法
  • IEC 27/581/DTS:2007 IEC 60680 TS版本1:电热和电气化学用等离子设备的试验方法
  • IEC 60512-11-4:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-4部分:气候试验.试验11d:温度的快速变化

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
  • GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延

ES-UNE，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • UNE-EN IEC 60512-99-002:2022 电气和电子设备连接器 测试和测量 第99-002部分：耐久性测试时间表 测试 99b：电气负载下拔出测试时间表
  • UNE-EN IEC 60512-99-002:2019 电气和电子设备连接器 测试和测量 第99-002部分：耐久性测试时间表 测试 99b：电气负载下拔出测试时间表

欧洲电工标准化委员会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • EN 60512-25-3:2001 电子设备用连接器.试验和测量.第25-3部分:试验25c.上升时间梯度 IEC 60512-25-3-2001
  • EN 60512-23-4:2001 电子设备用连接器.试验和测量.第23-4:筛选和过滤试验.试验23d:时间域中的传输线路反射IEC 60512-23-4-2001
  • EN 60512-9-4:2011 电子设备连接器.试验和测量.第9-4部分:耐久性试验.试验9d:触点保持系统及密封件的耐久性(维护,老化处理)

AENOR，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • UNE-EN 60512-25-3:2002 电子设备连接器 测试和测量 第 25-3 部分：测试 25c 上升时间下降
  • UNE-EN 60512-11-4:2002 电子设备连接器 试验和测量 第 11-4 部分：气候试验 试验 11d：温度的快速变化

行业标准-机械，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • JB/T 4278.6-1993 橡皮塑料电线电缆试验仪器设备检定方法 自然通风热老化试验箱
  • JB/T 4278.9-1993 橡皮塑料电线电缆试验仪器设备检定方法 氧弹、空气弹老化试验箱
  • JB/T 4278.6-2011 橡皮塑料电线电缆试验仪器设备检定方法.第6部分：自然通风热老化试验箱
  • JB/T 4278.9-2011 橡皮塑料电线电缆试验仪器设备检定方法.第9部分：氧弹、空气弹老化试验箱
  • JB/T 4278.13-2011 橡皮塑料电线电缆试验仪器设备检定方法.第13部分：强迫通风热老化试验箱

广东省标准，关于电子设备老化试验 时间的标准

YU-JUS，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • JUS N.R4.448-1987 电子设备用机电元件．测试方法．试验13e：激化法
  • JUS N.R4.482-1987 电子设备用机电元件．测试方法．试验2h：执行器到安装导套（表面）间的电阻（接地）

CZ-CSN，关于电子设备老化试验 时间的标准

TR-TSE，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • TS 2153-1975 电子器件和电子设备测试基本环境测试规程　Db：交变湿热试验（12+12小时交变）

IN-BIS，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • IS 9002 Pt.13/Sec.3-1985 电子电气产品环境试验设备规范 第13部分温度变化试验设备 第3节：两浴
  • IS 9002 Pt.13/Sec.1-1985 电子和电气产品环境试验设备规范 第13部分温度变化试验设备 第1节：两室系统

日本工业标准调查会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • JIS C 5402-14-6:2016 电子设备连接器. 试验和测量. 第14-6部分: 密封试验. 试验14f: 层间的密封
  • JIS C 5402-23-4:2006 电子设备用连接器.试验和测量.第23-4部分:屏蔽试验和滤波试验.试验23d:时域中的传输线反射
  • JIS C 5402-19-3:2002 电子设备连接器.试验和测量.第19-3部分:耐化学物质试验.试验19c: 耐流体
  • JIS C 5402-11-4:2005 电子设备连接器.试验和测量.第11-4部分:气候试验.试验11d:温度的快速变化

国家质检总局，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • GB/T 43527-2023 船舶电气设备 电磁兼容性 船舶电缆敷设优化 敷设间距的试验方法
  • GB/T 10066.5-2014 电热装置的试验方法 第5部分:电热和电化学用等离子体设备

立陶宛标准局，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • LST EN 60512-25-3-2002 电子设备连接器 测试和测量 第 25-3 部分：测试 25c：上升时间下降（IEC 60512-25-3:2001）

美国材料与试验协会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • ASTM E2141-14 密封绝缘玻璃装置中电致变色设备加速老化的标准试验方法
  • ASTM E2953-14 评估密封绝缘玻璃装置中电致变色设备加速老化性能的标准试验方法

国际标准化组织，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • ISO 11554:2006 光学和光子学.激光和激光设备.激光束功率、能量和时间特征的试验方法

NL-NEN，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • NEN 10068-2-57-1994 IEC 68-2-57-1989 电气设备的气候和机械试验．第2-57部分：试验方法．试验Ff：振动．时间历程法

RU-GOST R，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • GOST R ISO 11554-2008 光学及光电子学.激光器及相关的激光设备.激光能量,能量特性及时间特性的试验方法
  • GOST R 59741-2021 光学和光子学 激光及激光相关设备 激光辐射功率、能量和时间特性的试验方法

欧洲标准化委员会，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • EN ISO 11554:1998 光学和光子学.激光和激光相关设备.激光束功率,能量和时间特性的试验方法
  • EN ISO 11554:2003 光学和光子学.激光和激光相关设备.激光束功率,能量和时间特性的试验方法
  • EN ISO 11554:2017 光学和光子学.激光和激光相关设备.激光束功率,能量和时间特性的试验方法
  • EN ISO 11554:2008 光学和光子学.激光和激光相关设备.激光束功率,能量和时间特性的试验方法

CEN - European Committee for Standardization，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • EN ISO 11554:2006 光学和光子学.激光和激光相关设备.激光束功率,能量和时间特性的试验方法

KR-KS，关于电子设备老化试验 时间的标准

  • KS C IEC 60512-2-3-2008 电子设备连接器试验和测量第2-3部分:电气连续性和接触电阻试验试验2c:接触电阻变化

电子设备老化试验 时间，老化试验时间，老化试验 时间，紫外老化试验时间。

 

可能用到的仪器设备

 

200W高功率皮秒激光器AMPHOS3000

200W高功率皮秒激光器AMPHOS3000

上海屹持光电技术有限公司

 

高功率连续绿光DPSS激光器

高功率连续绿光DPSS激光器

先锋科技股份有限公司

 

高功率DPSS激光器

高功率DPSS激光器

先锋科技股份有限公司

 

量子和带间级联激光器(QCL和ICL)，3 - 11 µm

量子和带间级联激光器(QCL和ICL)，3 - 11 µm

森泉光电有限公司

 

迷你量子级联激光器Mini-QCL

迷你量子级联激光器Mini-QCL

北京先锋泰坦科技有限公司

 

 



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