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霍尔电阻率的测量

本专题涉及霍尔电阻率的测量的标准有37条。

国际标准分类中,霍尔电阻率的测量涉及到半导体材料、电工和电子试验、半导体分立器件、流体流量的测量、塑料、导体材料、建筑材料、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中,霍尔电阻率的测量涉及到半导体分立器件综合、半导体二极管、化合物半导体材料、、基础标准与通用方法、粉末冶金分析方法、电磁兼容、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、物理学与力学、电磁计量、半金属与半导体材料综合、电工材料和通用零件综合。


美国材料与试验协会,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • ASTM F76-86(1996)e1 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
  • ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
  • ASTM F76-08 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
  • ASTM F76-08(2016)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM F76-08(2016) 测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法
  • ASTM B855-06 用阿诺德测量计和霍尔漏斗测定金属粉末体流率的标准试验方法
  • ASTM B855-11 使用阿诺德测量计和霍尔流量计漏斗的金属粉末体积流量率的标准试验方法

未注明发布机构,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • ASTM RR-F01-1018 2008 F0076-测量单晶半导体中的电阻率和霍尔系数以及确定霍尔迁移率的测试方法

台湾地方标准,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • CNS 13623-1995 单芯片之电阻率、霍尔系数及霍尔移动率之测定法(范德普法)

行业标准-电子,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
  • SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法

CZ-CSN,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • CSN 34 5941-1984 砷化镓和磷化镓单晶硅.电阻率和霍尔系数测定

国家质检总局,关于霍尔电阻率的测量的标准

中国团体标准,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • T/CASAS 027-2023 射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法

UY-UNIT,关于霍尔电阻率的测量的标准

韩国科技标准局,关于霍尔电阻率的测量的标准

英国标准学会,关于霍尔电阻率的测量的标准

丹麦标准化协会,关于霍尔电阻率的测量的标准

法国标准化协会,关于霍尔电阻率的测量的标准

国际标准化组织,关于霍尔电阻率的测量的标准

德国标准化学会,关于霍尔电阻率的测量的标准

ES-UNE,关于霍尔电阻率的测量的标准

GSO,关于霍尔电阻率的测量的标准

日本工业标准调查会,关于霍尔电阻率的测量的标准

  • JIS H 7312:2007 超导电性.剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导电体的剩余电阻率




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