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フォトダイオードの検出方法

フォトダイオードの検出方法は全部で 104 項標準に関連している。

フォトダイオードの検出方法 国際標準分類において、これらの分類：光ファイバー通信、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、半導体ディスクリートデバイス、プリント回路およびプリント回路基板、テレビ放送とラジオ放送、オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアルエンジニアリング、原子力工学、道路車両装置、電灯および関連器具、電子管、電子表示装置、太陽工学。

Professional Standard - Post and Telecommunication, フォトダイオードの検出方法

YD/T 835-1996 アバランシェフォトダイオード検出方式
YD/T 834-1996 分布帰還型レーザーダイオード検出法

邮电部, フォトダイオードの検出方法

YD/T 0835-1996 アバランシェフォトダイオード検出方式
YD/T 0834-1996 分布帰還型レーザーダイオード検出法

Professional Standard - Military and Civilian Products, フォトダイオードの検出方法

WJ 2100-2004 シリコンフォトダイオード、シリコンアバランシェフォトダイオードの試験方法
WJ 2506-1998 フォトダイオードダイナミックテスターの校正手順

British Standards Institution (BSI), フォトダイオードの検出方法

BS IEC 60747-5-8:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの光電効率の試験方法
BS IEC 60747-5-11:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの放射電流および非放射電流の試験方法
BS IEC 60747-5-16:2023 半導体デバイス - オプトエレクトロニクスデバイス発光ダイオード GaNベースの発光ダイオード光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 半導体デバイスパート 5-8 光電子デバイス発光ダイオード発光ダイオードの光電効率の試験方法
PD IEC/TS 62916:2017 太陽電池モジュールのバイパスダイオードの静電気放電感受性試験
BS ISO 13207-1:2012 道路車両、電球互換性障害検出用の発光ダイオード (LED) 電球の特性、方向指示用発光ダイオード (LED) 電球
18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 半導体デバイスパート 5-11 光電子デバイス発光ダイオード発光ダイオード放射電流および非放射電流の試験方法
PD IEC TR 60747-5-12:2021 半導体デバイス・光電子デバイス・発光ダイオード・LED効率試験方法
BS EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ、光学および光電子パラメータの測定方法
BS IEC 60747-5-15:2022 電気反射スペクトルに基づく半導体デバイス・光電子デバイス発光ダイオードのフラットバンド電圧試験方法
PD IEC TS 63109:2022 太陽光発電 (PV) モジュールとセルは、エレクトロルミネッセンス画像定量分析によってダイオードの理想性係数を測定します
BS IEC 60747-5-9:2019 温度可変エレクトロルミネッセンスに基づく半導体デバイス光電子デバイス発光ダイオードの内部量子効率試験方法
14/30313209 DC BS EN 62341-6-1 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
BS IEC 60747-5-10:2019 室温基準点に基づく半導体デバイス光電子デバイス発光ダイオード内部量子効率試験方法
23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 半導体デバイスパート 5-16 光電子デバイス発光ダイオード光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15 半導体デバイスパート 5-15 光電子デバイス発光ダイオード電気反射分光法に基づくフラットバンド電圧試験方法
BS EN 62341-6-2:2012 有機エレクトロルミネッセントダイオード (OLED) ディスプレイ、視覚的な品質と環境パフォーマンスの測定方法
18/30367367 DC BS IEC 60747-5-62 半導体デバイスパート 5-9 光電子デバイス発光ダイオード温度変化エレクトロルミネッセンスに基づく内部量子効率試験方法

CZ-CSN, フォトダイオードの検出方法

CSN 35 8761-1973 半導体装置。フォトトランジスタフォトダイオード。光電流測定
CSN 35 8762-1973 半導体装置。フォトトランジスタフォトダイオード。暗電流測定
CSN 35 8781-1983 半導体UHFダイオードの混合と検出。電気的パラメータの測定方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), フォトダイオードの検出方法

KS C 6991-2013 光ファイバー伝送フォトダイオードのテスト方法
KS C 6991-2001(2011) 光透過率の試験方法に記載されているフォトダイオード
KS C IEC 62341-6-1:2020 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ - パート 6-1: 光学および電気光学パラメーターの測定方法
KS C IEC 62341-6:2007 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), フォトダイオードの検出方法

JIS C 5991:1997 光ファイバ伝送用フォトダイオード測定方法

Professional Standard - Electron, フォトダイオードの検出方法

SJ/T 2214-2015 半導体フォトダイオードおよびフォトトランジスタの試験方法
SJ/T 2354-2015 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
SJ/T 2354-2015/0352 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
SJ 2354.5-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオード静電容量のテスト方法
SJ 2354.1-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの光電パラメータのテスト方法一般原理
SJ 2214.10-1982 半導体フォトダイオードおよび三極管の光電流のテスト方法
SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
SJ 2354.6-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの応答性のテスト方法
SJ 2354.13-1983 アバランシェフォトダイオード増倍率の試験方法
SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
SJ 2214.5-1982 半導体フォトダイオードの接合容量の試験方法
SJ 2354.10-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードアレイストリングの光因子の試験方法
SJ 1230-1977 ゲルマニウム検波ダイオードの高周波整流電流の試験方法
SJ 2354.4-1983 PINとアバランシェフォトダイオードの順方向電圧降下の試験方法
SJ 2354.2-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの逆耐圧試験方法
SJ 2354.14-1983 アバランシェフォトダイオードの過剰ノイズ指数の試験方法
SJ 2215.6-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）接合容量の試験方法
SJ 2354.11-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードアレイのブラインドゾーン幅のテスト方法
SJ 2215.3-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の順電流試験方法
SJ 2214.4-1982 半導体フォトダイオードの逆耐圧試験方法
SJ 2215.4-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の逆電流試験方法
SJ 2354.9-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードのノイズ等価電力の試験方法
SJ 2658.4-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法静電容量の試験方法
SJ 2354.12-1983 アバランシェフォトダイオードの逆耐圧温度係数の試験方法
SJ 2658.3-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法逆電圧試験方法
SJ 2354.7-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードのスペクトル応答曲線とスペクトル応答範囲のテスト方法
SJ 2354.8-1983 PINとアバランシェフォトダイオードのパルス立ち上がり時間と立ち下がり時間の試験方法
SJ 2215.5-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の逆耐圧試験方法
SJ 2658.5-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法順直列抵抗の試験方法
SJ/T 2658.16-2016 半導体赤外発光ダイオードの測定方法第16回光電変換効率

Group Standards of the People's Republic of China, フォトダイオードの検出方法

T/CVIA 11-2016 有機発光ダイオード (OLED) TV の測定方法
T/CVIA 59-2016 有機発光ダイオード (OLED) TV の測定方法
T/CSA 048-2019 一般照明用発光ダイオードの電流・温度可変光電特性試験方法

Professional Standard - Commodity Inspection, フォトダイオードの検出方法

SN/T 3723-2013 レーザーや発光ダイオードを搭載した玩具からの放射線を検出する方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, フォトダイオードの検出方法

GB/T 23729-2009 シンチレーション検出器用フォトダイオードテスト方法
GB/T 20871.61-2013 有機発光ダイオードディスプレイ - パート 61: 光学および光電子パラメータの試験方法

German Institute for Standardization, フォトダイオードの検出方法

DIN IEC 62088:2002 核計装機器、シンチレーション検出器用フォトダイオード、試験手順 (IEC 62088:2001)
DIN IEC 62088:2002-09 原子力機器のシンチレーション検出器フォトダイオードのテスト手順
DIN EN 62341-6-1:2011-07 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
DIN EN 62595-2:2013 液晶ディスプレイ (LCD) バックライトモジュールパート 2: 発光ダイオード (LED) バックライトモジュールの電気光学測定方法 (IEC 62595-2-2012) ドイツ語版 EN 62595-2-2013
DIN EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオードディスプレイパート 6-1: 光学および光電子パラメータの測定方法 (IEC 62341-6-1-2009)、ドイツ語版 EN 62341-6-1-2011

IEC - International Electrotechnical Commission, フォトダイオードの検出方法

TS 62916-2017 太陽光発電モジュール - バイパスダイオードの静電気放電感受性テスト (バージョン 1.0)

International Organization for Standardization (ISO), フォトダイオードの検出方法

ISO 13207-1:2012 道路車両ランプ互換性障害検出用の発光ダイオードランプバルブの特性パート 1: 方向指示用発光ダイオードランプバルブ

RU-GOST R, フォトダイオードの検出方法

GOST 21107.10-1978 ガス放電計器、グロー放電ダイオードおよびトランジスタの使用および測定方法の電気的パラメータの測定方法
GOST 19656.7-1974 超高周波検出用半導体ダイオード電流感度測定法
GOST 19656.1-1974 超高周波混合検波半導体ダイオード電圧定在波係数測定法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, フォトダイオードの検出方法

GB/T 33762-2017 有機発光ダイオード（OLED）TVディスプレイの性能測定方法

GB-REG, フォトダイオードの検出方法

REG NASA-LLIS-1840--2006 教訓 CALIPSO アバランシェフォトダイオード (APD) 検出器アセンブリの電気的故障

HU-MSZT, フォトダイオードの検出方法

MSZ 11453/2-1987 ツールや集積回路への直接接続。ダイオード検出の定義を修正

KR-KS, フォトダイオードの検出方法

KS C IEC 62341-6-1-2020 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ - パート 6-1: 光学および電気光学パラメーターの測定方法

Danish Standards Foundation, フォトダイオードの検出方法

DS/EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法

International Electrotechnical Commission (IEC), フォトダイオードの検出方法

IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法
IEC 62341-6-1:2022 RLV 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
IEC 62341-6-1:2017 RLV 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
IEC 62341-6-1:2022 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法
IEC 62595-2:2012 液晶ディスプレイ (LCD) バックライトモジュールパート 2: 発光ダイオード (LED) バックライトモジュールの電気光学測定方法
IEC TS 63109:2022 太陽光発電 (PV) モジュールとセル、エレクトロルミネッセンス画像の定量分析によるダイオードの理想性係数の測定
IEC 62341-6-1:2017 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法
IEC 62341-6-1:2009 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, フォトダイオードの検出方法

EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法

GOSTR, フォトダイオードの検出方法

GOST IEC 62341-6-1-2016 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1 光学および光電子パラメータの測定方法

Association Francaise de Normalisation, フォトダイオードの検出方法

NF EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ - パート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
NF C96-565-2*NF EN 62595-2:2013 液晶ディスプレイ (LCD) バックライトモジュールパート 2: 発光ダイオード (LED) バックライトモジュールの電気光学測定方法
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法。

Lithuanian Standards Office , フォトダイオードの検出方法

LST EN 62341-6-1-2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイパート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法 (IEC 62341-6-1:2009)

American Society for Testing and Materials (ASTM), フォトダイオードの検出方法

ASTM F3095-17 回転レーザーダイオードと閉回路テレビカメラシステムによるパイプや導管の断面形状の直接測定のためのレーザー技術の標準的な実践
ASTM F3095-14 回転レーザーダイオードと閉回路テレビカメラシステムを使用して、パイプと導管の断面形状を直接測定するためのレーザー技術の標準的な手法
ASTM F3095-17a 回転レーザーダイオードと閉回路テレビカメラシステムを使用して、パイプと導管の断面形状を直接測定するためのレーザー技術の標準的な手法
ASTM F3095-17a(2022) 回転レーザーダイオードと閉回路テレビカメラシステムによるパイプや導管の断面形状の直接測定のためのレーザー技術の標準的な実践

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, フォトダイオードの検出方法

JEDEC JESD51-51-2012 冷却を露出させた発光ダイオードの実際の熱抵抗とインピーダンスを測定する電気的試験方法の実装