프로브 임피던스

모두 64항목의 프로브 임피던스와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 프로브 임피던스와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비파괴 검사, 금속 재료 테스트, 절연유체, 반도체 소재, 비철금속, 복합강화재료, 소방, 종합 전자 부품, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 반도체 개별 장치, 도체 재료, 플라스틱, 미생물학, 건물 보호, 세라믹, 농업 및 임업, 전자 디스플레이 장치.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 프로브 임피던스

ASTM E1629-07 절대 와전류 프로브의 임피던스 결정을 위한 표준 사례
ASTM E1629-94 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E1629-94(2001) 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-02ae1 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-98e1 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-02a 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-08 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-08a 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-08b 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-87 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E1629-12(2020) 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM E162-22 절대 와전류 프로브 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM F397-93(1999) 2점 프로브를 사용하여 실리콘 막대의 저항률을 측정하는 표준 테스트 방법
ASTM E1629-12 절대 와전류 프로브의 임피던스를 결정하기 위한 표준 사례
ASTM B667-97(2003)e1 전기 접촉 저항 측정을 위한 프로브 구성 및 사용에 대한 표준 사례
ASTM B667-97(2019) 전기 접촉 저항 측정을 위한 프로브 구성 및 사용에 대한 표준 사례
ASTM B667-97(2014) 전기 접촉 저항 측정을 위한 프로브 구성 및 사용에 대한 표준 사례
ASTM B667-97(2009) 전기 접촉 저항 측정을 위한 프로브 구성 및 사용에 대한 표준 사례
ASTM F390-98 동일 선상에 있는 4개 프로브 배열을 사용한 금속 박막의 면저항에 대한 표준 테스트 방법
ASTM F390-11 공선형 4-프로브 방법을 통한 금속 박막의 시트 저항 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1711-96(2016) 4점 프로브 방법을 사용하여 평면 패널 디스플레이 제조에 사용되는 박막 도체의 시트 저항을 측정하는 표준 사례

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 프로브 임피던스

JJG 508-2004 4개 프로브 저항률 테스터
JJG 508-1987 4개 프로브 저항률 테스터의 교정 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 프로브 임피던스

GB/T 6617-1995 확장된 저항 프로브 방법을 이용한 실리콘 웨이퍼 저항률 측정
GB/T 6617-2009 확장된 저항 프로브 방법을 이용한 실리콘 웨이퍼 저항률 측정
GB/T 1552-1995 인라인 4개 프로브 방법을 사용한 실리콘 및 게르마늄 단결정 저항률 측정
GB/T 1551-1995 실리콘 및 게르마늄 단결정의 저항률을 측정하는 DC 2탐침 방법
GB/T 26074-2010 게르마늄 단결정 저항률 DC 4탐침 측정 방법
GB/T 30820-2014 비파괴 검사를 위한 절대 와전류 프로브 임피던스 측정 방법
GB/T 14141-2009 실리콘 에피택셜 층, 확산층 및 이온 주입층의 시트 저항 측정 인라인 4-프로브 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 프로브 임피던스

GB/T 1551-2021 직류 4탐침법과 직류 2탐침법을 이용한 실리콘 단결정의 저항률 측정
GB/T 39978-2021 나노기술 탄소 나노튜브 분말 저항성 4탐침 방법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 프로브 임피던스

YS/T 602-2007 존 용융 게르마늄 잉곳 저항률 테스트 방법 2개 프로브 방법
YS/T 602-2017 존 용융 게르마늄 잉곳 저항률 테스트 방법 2개 프로브 방법

RU-GOST R, 프로브 임피던스

GOST 24392-1980 단결정 실리콘 및 게르마늄 4개 프로브 방법을 통한 저항률 측정

Group Standards of the People's Republic of China, 프로브 임피던스

T/CSTM 00252-2020 탄소섬유 체적저항률 시험법 4탐침법
T/CASAS 019-2021 마이크로나노금속소결체 비저항 측정법 4탐침법

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 프로브 임피던스

DB13/T 5255-2020 그래핀 전도성 잉크의 면저항 측정을 위한 4탐침 방법
DB13/T 5026.3-2019 그래핀 전도성 슬러리의 물성 측정 방법 3부: 슬러리 극편 저항률 측정 4탐침 방법

Professional Standard - Electron, 프로브 임피던스

SJ/T 10314-1992 DC 4개 프로브 저항률 테스터의 일반 기술 조건
SJ/T 10481-1994 실리콘 에피택시층 저항률을 위한 표면 접촉 3개 프로브 테스트 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 프로브 임피던스

KS D 0260-1999 단결정 실리콘 웨이퍼의 저항률을 테스트하기 위한 4점 프로브 방법
KS L 1619-2013(2018) 4개 프로브 어레이 전도성 세라믹 박막 저항률 테스트 방법
KS C 0256-2002(2022) 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률에 대한 4점 프로브 테스트 방법
KS L 1619-2013 전기전도성 세라믹박막의 비저항 측정방법 4점 탐침법
KS L 1619-2003 전기전도성 세라믹박막의 비저항 측정방법 4점 탐침법
KS D 0260-1989(1994) 4점 프로브를 이용한 단결정 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
KS C 0256-2002 4-프로브법을 이용한 실리콘 단결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정 방법
KS C 0256-2002(2017) 4점 프로브를 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
KS C IEC TS 62607-6-1:2022 나노제조 중요한 제어 특성 6-1부: 그래핀 기반 재료 체적 저항률: 4-프로브 방법

German Institute for Standardization, 프로브 임피던스

DIN 50431:1988 반도체 재료의 테스트 프로브를 직선으로 배열한 4-프로브/DC 방식을 사용하여 단결정 실리콘 또는 게르마늄 단결정의 저항률을 측정합니다.
DIN 10115:1999 임피던스 방법을 이용한 식품 내 미생물 검출 및 측정의 기본 원리
DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 프로브 임피던스

JIS H 0602:1995 4점 탐침법을 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률 테스트 방법
JIS K 7194:1994 4점 프로브 배열 방식을 이용한 전도성 플라스틱의 저항률 측정 테스트 방법
JIS R 1637:1998 4점 탐침 배열법에 의한 전도성 파인 세라믹 박막의 비저항 측정 시험 방법

KR-KS, 프로브 임피던스

KS L 1619-2013(2023) 4점 프로브 어레이를 이용한 전도성 세라믹 박막의 저항률 테스트 방법
KS C IEC TS 62607-6-1-2022 나노제조 중요한 제어 특성 6-1부: 그래핀 기반 재료 체적 저항률: 4-프로브 방법

British Standards Institution (BSI), 프로브 임피던스

BS ISO 9869-3:2023 건물 구성 요소의 단열 저항 및 열전도도 현장 측정 - 프로브 삽입 방법
PD IEC TS 62607-6-1:2020 나노제조를 위한 주요 제어 특성 그래핀 기반 재료의 체적 저항률: 4개 프로브 접근 방식

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 프로브 임피던스

DB32/T 4378-2022 기판 표면의 나노 및 서브 마이크론 규모의 박막 시트 저항에 대한 비파괴 테스트를 위한 4개 프로브 방법

ECIA - Electronic Components Industry Association, 프로브 임피던스

337-1967 유리 코팅된 서미스터 비드 및 유리 프로브 및 유리 막대의 서미스터 비드(부온도 계수) 일반 사양

IX-IX-IEC, 프로브 임피던스

IEC TS 62607-6-8:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-8부: 그래핀 시트 저항기: 직렬로 연결된 4점 프로브

International Electrotechnical Commission (IEC), 프로브 임피던스

IEC TS 62607-6-1:2020 나노 제조의 주요 제어 특성 6-1부: 그래핀 기반 재료의 체적 저항률: 4탐침 방법