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探针 阻抗
本专题涉及探针 阻抗的标准有68条。
国际标准分类中，探针 阻抗涉及到无损检测、金属材料试验、绝缘流体、半导体材料、有色金属、复合增强材料、电学、磁学、电和磁的测量、电子元器件综合、消防、半导体分立器件、建筑材料、导体材料、塑料、微生物学、建筑物的防护、陶瓷、农业和林业、电子显示器件。
在中国标准分类中，探针 阻抗涉及到交直流电工仪器记录仪器、电磁计量、金属物理性能试验方法、半金属与半导体材料综合、无线电计量、半金属及半导体材料分析方法、、基础标准与通用方法、氧化物、单质、电子元件综合、特种陶瓷、元素半导体材料、电工材料和通用零件综合、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、食品卫生、电阻器。
美国材料与试验协会，关于探针 阻抗的标准
- ASTM E1629-07 绝对涡流探针的阻抗测定用标准实施规程
- ASTM E1629-94 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E1629-94(2001) 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-02ae1 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-98e1 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-02a 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-08 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-08a 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-08b 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-87 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E1629-12(2020) 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM E162-22 确定绝对涡流探头阻抗的标准实践
- ASTM F397-93(1999) 用两点探针测定硅棒电阻率的标准试验方法
- ASTM E1629-12 测定绝对式涡流探头阻抗的标准实施规程
- ASTM B667-97(2003)e1 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
- ASTM B667-97(2019) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
- ASTM B667-97(2014) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
- ASTM B667-97(2009) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
- ASTM F390-98 具有共线四探针阵列的金属薄膜的片电阻的标准试验方法
- ASTM F390-11 用共线四探针法测定金属薄膜的薄膜电阻的标准试验方法
- ASTM F1711-96(2016) 采用四点探针法测量平板显示器制造用薄膜导体的薄层电阻的标准实施规程
国家计量检定规程，关于探针 阻抗的标准
- JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪
- JJG 508-1987 四探针电阻率测试仪检定规程
国家质检总局，关于探针 阻抗的标准
- GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
- GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
- GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
- GB/T 30820-2014 无损检测 绝对式涡流探头阻抗测定方法
- GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于探针 阻抗的标准
- GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
- GB/T 39978-2021 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法
行业标准-有色金属，关于探针 阻抗的标准
- YS/T 602-2007 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
- YS/T 602-2017 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
RU-GOST R，关于探针 阻抗的标准
- GOST 24392-1980 单晶硅和锗.四探针法测定电阻系数
中国团体标准，关于探针 阻抗的标准
- T/CSTM 00252-2020 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法
- T/CASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
河北省标准，关于探针 阻抗的标准
- DB13/T 5255-2020 石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法
- DB13/T 5026.3-2019 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法
行业标准-电子，关于探针 阻抗的标准
- SJ/T 10314-1992 直流四探针电阻率测试仪通用技术条件
- SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法
韩国科技标准局，关于探针 阻抗的标准
- KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
- KS C 0256-2022 四点探针硅晶体及硅片电阻率测试方法
- KS L 1619-2013(2018) 四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法
- KS C 0256-2002(2022) 硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
- KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
- KS L 1619-2003 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
- KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
- KS L 1619-2023 四点探针阵列导电精细陶瓷薄膜电阻率测试方法
- KS C 0256-2002 硅单结晶及硅片的4探针法的抵抗率测定方法
- KS C 0256-2002(2017) 具有四点探针的硅晶体和硅晶片的电阻率测试方法
- KS C IEC TS 62607-6-1:2022 纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法
德国标准化学会，关于探针 阻抗的标准
- DIN 50431:1988 半导体材料的试验.用探针直线排列的四探针/直流法测量单晶硅或锗单晶体的电阻率
- DIN 10115:1999 用阻抗法探测和测定食品中微生物的基本原则
- DIN 50435:1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
日本工业标准调查会，关于探针 阻抗的标准
- JIS H 0602:1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法
- JIS K 7194:1994 用四点探针排列法测定传导塑料电阻率的测试方法
- JIS R 1637:1998 用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法
KR-KS，关于探针 阻抗的标准
- KS L 1619-2013(2023) 用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法
- KS C IEC TS 62607-6-1-2022 纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法
英国标准学会，关于探针 阻抗的标准
- BS ISO 9869-3:2023 建筑构件的隔热 热阻和热传导率的原位测量-探针插入法
- PD IEC TS 62607-6-1:2020 纳米制造 关键控制特性 石墨烯基材料 体积电阻率：四探针法
SCC，关于探针 阻抗的标准
- BS PD IEC TS 62607-6-1:2020 纳米制造 关键控制特性 石墨烯基材料 体积电阻率：四探针法
- ASTM F1529-97 采用双配置程序的在线四点探针评估薄层电阻均匀性的标准测试方法（2003 年撤回）
江苏省标准，关于探针 阻抗的标准
- DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于探针 阻抗的标准
- 337-1967 玻璃探针和玻璃棒中的玻璃涂层热敏电阻珠和热敏电阻珠（负温度系数） 一般规格 为了
IX-IX-IEC，关于探针 阻抗的标准
- IEC TS 62607-6-8:2023 纳米制造 关键控制特性 第 6-8 部分：石墨烯 方块电阻：串联四点探针
国际电工委员会，关于探针 阻抗的标准
- IEC TS 62607-6-1:2020 纳米制造关键控制特性第6-1部分:石墨烯基材料体积电阻率:四探针法
