스펙트럼 실리콘

모두 95항목의 스펙트럼 실리콘와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 스펙트럼 실리콘와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분말 야금, 반도체 소재, 비금속 광물, 분석 화학, 비철금속, 검은 금속, 가죽 기술, 금속 광석, 도체 재료, 세라믹, 유리, 광섬유 통신, 천연 가스, 무기화학, 금속 재료 테스트, 내화물, 화학 제품, 연료.

RO-ASRO, 스펙트럼 실리콘

STAS 11359/8-1980 국내 유황광석 및 정광 내 알루미늄, 칼슘, 마그네슘, 철, 규소의 스펙트럼 분석

RU-GOST R, 스펙트럼 실리콘

GOST 16412.9-1991 철분말 실리콘과 망간의 분광학적 측정
GOST 23687.2-1979 구리-베릴륨 합금, 마그네슘, 철, 알루미늄, 규소-납의 분광학적 측정
GOST 9853.6-1979 분광법을 통한 스폰지 티타늄 실리콘, 철 및 니켈 측정
GOST 18385.2-1979 니오븀 규소, 티타늄 및 철 함량의 분광학적 측정
GOST R ISO 7530-8-2017 니켈 합금 불꽃 원자 흡수 분광법 8부 실리콘 함량 측정
GOST R 50233.4-1992 오산화 니오븀 원자 방출 분광법을 통해 티타늄, 규소, 철, 니켈, 알루미늄, 마그네슘, 망간, 코발트, 크롬, 납 및 지르코늄을 측정합니다.
GOST 23201.1-1978 알루미나 스펙트럼 분석 방법 실리카, 산화철 산화나트륨 및 산화칼슘 함량 측정
GOST 23862.4-1979 희토류 금속 및 그 산화물 바나듐, 철, 코발트, 실리콘, 망간, 구리, 니켈, 티타늄 및 크롬 측정을 위한 분광학적 방법

Professional Standard - Electron, 스펙트럼 실리콘

SJ/T 11491-2015 짧은 기준선 적외선 흡수 분광법을 사용하여 실리콘의 격자간 산소 함량 측정
SJ/T 11552-2015 브루스터 각도 입사 P-편광 복사 적외선 흡수 분광법을 이용한 실리콘의 격자간 산소 함량 측정
SJ 3198-1989 진공 실리콘-알루미늄 합금 내 실리콘, 철, 마그네슘, 구리의 방출 스펙트럼 분석 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 스펙트럼 실리콘

JIS H 0615:2021 광발광 분광법을 이용한 실리콘 결정의 불순물 농도 측정 시험 방법
JIS H 0615:1996 광발광 분광법을 이용한 실리콘 결정의 불순물 농도 측정 시험 방법
JIS K 0164:2010 표면 화학 분석, 재생된 이온 질량의 분광학 측정, 실리콘 내 붕소 심층 압착 방법

GOSTR, 스펙트럼 실리콘

GOST 9853.23-1996 스폰지 티타늄 실리콘, 철 및 니켈의 분광학적 측정

British Standards Institution (BSI), 스펙트럼 실리콘

BS ISO 17560:2002 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
BS ISO 17560:2014 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
23/30433267 DC BS EN ISO 2613-2 천연 가스 바이오메탄 분석 파트 2: 가스 크로마토그래피 이온 이동도 분광법을 통한 실록산 함량 측정
BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
DD ENV 14226:2002 첨단 기술 세라믹 세라믹 분말의 테스트 방법 화염 원자 흡수 분광법을 이용한 질화규소의 칼슘, 마그네슘, 철 및 알루미늄 측정

International Organization for Standardization (ISO), 스펙트럼 실리콘

ISO 17560:2002 표면 화학 분석 재생된 이온 질량의 분광학 측정 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 방법
ISO 5400:1984 가죽의 실리콘 함량 측정 - 환원 규몰리브덴산염 분광법
ISO 9502:1993 환원된 규몰리브덴산염 분광법을 통한 야금학적 형석의 실리콘 함량 측정
ISO 7530-8:1992 니켈 합금 불꽃 원자 흡수 분광법 8부: 실리콘 함량 측정
ISO 5438:1993 환원된 규소몰리브덴산염 분광법을 통한 산성 및 세라믹 형석의 실리콘 함량 측정
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 9502:1989 야금 등급 형석 실리카 함량 측정 환원 규몰리브덴산염 분광법
ISO 2613-1 천연가스 분석 "바이오메탄의 실리콘 함량" 1부: 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 측정
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 2613-1:2023 바이오메탄 내 실리콘 함량의 천연가스 분석 1부: 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 측정
ISO 5438:1985 형석의 산성 및 세라믹 등급 실리카 함량 측정 감소된 규소몰리브덴산염 분광법
ISO 5935:1980 실리코몰리브덴산염 분광법을 이용한 공업용 붕산나트륨의 총 실리카 함량 및 알칼리 가용성 실리카 함량 측정
ISO 5935:1984 실리코몰리브덴산염 분광법을 이용한 공업용 붕산나트륨의 총 실리카 함량 및 알칼리 가용성 실리카 함량 측정
ISO 10136-1:1993 유리 및 유리 제품의 추출 용액 분석 1부: 분자 흡수 분광법을 통한 실리카 측정

Association Francaise de Normalisation, 스펙트럼 실리콘

NF X21-051*NF ISO 17560:2006 표면 화학 분석 실리콘 내 붕소의 재생 이온 질량 분광 측정 딥 프로파일링 방법
NF A07-520:1971 알루미늄-실리콘 및 알루미늄-실리콘-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
NF T90-053*NF EN ISO 16264:2004 흐름 분석(FIA 및 CFA) 및 분광학적 방법을 통한 가용성 규산염의 수질 측정
NF EN ISO 2613-1:2023 천연가스 분석 - 바이오메탄의 실리콘 함량 - 1부: 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 함량 측정
NF ISO 7530-8:2007 니켈 합금 화염 원자 흡수 분광법을 이용한 분석 8부: 실리콘 측정
NF A08-908*NF ISO 7530-8:2007 니켈 합금 불꽃 원자 흡수 분광법 분석 방법 8부: 실리콘 함량 측정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 스펙트럼 실리콘

KS D ISO 17560:2003 표면 화학 분석 재생된 이온 질량의 분광학 측정 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 방법
KS M ISO 5400-2012(2022) 환원된 실리코몰리브덴산염 분광법을 통한 가죽의 총 실리콘 함량 측정
KS M ISO 5400:2012 가죽 총 실리콘 함량 측정 감소된 규소몰리브덴산염 분광법
KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
KS E 3076-2017 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
KS E 3076-2022 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
KS D ISO 7530-8:2012 니켈 합금 화염 원자 흡수 분광법 8부: 실리콘 함량 측정
KS D ISO 7530-8-2012(2017) 니켈 합금의 화염 원자 흡수 분광법 분석 8부: 실리콘 함량 측정
KS D ISO 7530-8-2012(2022) 니켈 합금의 화염 원자 흡수 분광법 분석 8부: 실리콘 함량 측정

European Committee for Standardization (CEN), 스펙트럼 실리콘

CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정
prEN ISO 2613-2 바이오메탄의 천연가스 분석 2부: 가스 크로마토그래피 이온 이동도 분광법을 통한 실록산 함량 측정(ISO/DIS 2613-2:2023)
FprEN ISO 2613-1 천연가스 분석 - 바이오메탄의 실리콘 함량 - 1부: 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 측정(ISO/FDIS 2613-1:2023)

AENOR, 스펙트럼 실리콘

UNE 59027:1988 가죽의 총 실리콘 함량 측정 감소된 규몰리브덴산 분광법

ES-UNE, 스펙트럼 실리콘

UNE 59027:1988 ERRATUM 가죽의 총 실리콘 함량 측정 감소된 몰리브덴 규산염 분광법
UNE-EN ISO 2613-1:2023 바이오메탄의 실리콘 함량에 대한 천연가스 분석 1부: 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 측정(ISO 2613-1:2023)

American National Standards Institute （ANSI), 스펙트럼 실리콘

BS EN ISO 2613-1:2023 천연가스 분석 바이오메탄의 실리콘 함량 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 측정(영국 표준)

Professional Standard - Aviation, 스펙트럼 실리콘

HB 7716.12-2002 티타늄 합금의 화학적 조성에 대한 스펙트럼 분석 방법 12부: 화염 원자 흡수 분광법 실리콘 함량 측정
HB 6731.12-2005 알루미늄 합금의 화학적 조성에 대한 스펙트럼 분석 방법 12부: 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 통한 실리콘 함량 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 스펙트럼 실리콘

ASTM E463-98 규몰리브덴산염 가시 분광법을 이용한 형석 내 실리카 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E463-08 규몰리브덴산염 가시 분광법을 이용한 형석 내 실리카 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E463-14 규몰리브덴산염 가시 분광법을 사용하여 형석 내 실리카 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1614-94(1999) 원격 광섬유 분광학 및 광대역 시스템용 실리카 기반 광섬유 케이블의 이온화 방사선 유도 감쇠 측정 절차에 대한 표준 가이드
ASTM E1614-94(2021) 원격 광섬유 분광학 및 광대역 시스템에 사용되는 실리콘 기반 광섬유 및 케이블의 전리 방사선 유발 감쇠 측정 절차에 대한 표준 가이드
ASTM E1614-94(2013) 원격 광섬유 분광학 및 광대역 시스템에 사용되는 실리콘 기반 광섬유 및 케이블의 전리 방사선 유발 감쇠 측정 절차에 대한 표준 가이드
ASTM F1723-96 부동 영역 결정 성장 및 분광학을 사용하여 다결정 실리콘 막대를 평가하기 위한 표준 사례
ASTM F1724-96 산 추출 원자 흡수 분광법을 이용한 다결정 실리콘 표면의 금속 불순물 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1619-95(2000) 브루스터각에 입사하는 p-편광 방사선을 이용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1708-96 계측 구역 정화기 분광법을 사용한 입상 다결정 실리콘 평가를 위한 표준 관행

PL-PKN, 스펙트럼 실리콘

PN C04348-1970 분광법에 의한 재 속의 규소, 알루미늄, 철, 칼슘, 마그네슘 측정

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 스펙트럼 실리콘

YS/T 426.5-2000 안티몬 및 베릴륨 펠렛의 화학적 분석 방법 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법을 통한 실리콘 함량 측정.

YU-JUS, 스펙트럼 실리콘

JUS B.G8.305-1988 광석과 농축. 크롬광석과 농축물. 실리콘 함량을 결정합니다. 분광학 및 중량 측정
JUS H.B8.091-1980 천연 및 인공 빙정석. 실리콘 함량 측정. 환원된 규소몰리브덴산염 분광법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 스펙트럼 실리콘

YB/T 5159-2007 고순도 흑연 제품의 규소 및 철 분광 측정 분말법
YB/T 5159-1993 고순도 흑연 제품의 규소 및 철 분광 측정 분말법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 스펙트럼 실리콘

GB/T 24579-2009 산성 침출 원자 흡수 분광법을 통해 다결정 실리콘 표면의 금속 오염 물질을 측정합니다.
GB/T 24581-2009 저온 푸리에 변환 적외선 분광법을 이용한 실리콘 단결정의 III족 및 V족 불순물 함량 측정 시험 방법
GB/T 29057-2023 영역 용융 및 분광 분석을 통해 다결정 실리콘 막대를 평가하는 절차
GB/T 29057-2012 영역 용융 및 분광 분석을 통해 다결정 실리콘 막대를 평가하는 절차

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 스펙트럼 실리콘

GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
GB/T 40915-2021 X선 형광 분광법을 이용한 소다석회실리카 유리의 SiO2, Al2O3, Fe2O3, K2O, Na2O, CaO 및 MgO 함량 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, 스펙트럼 실리콘

SN/T 2489-2010 선철의 크롬, 망간, 인 및 규소 측정 광전 방출 분광법

BE-NBN, 스펙트럼 실리콘

NBN T 03-367-1988 산업용 천연 붕사의 알칼리 가용성 규소 함량 측정. 텅스텐 몰리브덴 규산염 분광법

German Institute for Standardization, 스펙트럼 실리콘

DIN EN ISO 2613-1:2023-11 바이오메탄의 실리콘 함량에 대한 천연가스 분석 1부: 원자 방출 분광법(AES)을 통한 총 실리콘 측정(ISO 2613-1:2023)
DIN 38405-21:1990-10 물, 폐수 및 슬러지 검사를 위한 독일 표준 방법, 음이온(그룹 D), 용존 규산염의 분광학적 측정(D 21)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 스펙트럼 실리콘

GB/T 33465-2016 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법을 통한 가솔린 내 염소 및 실리콘 측정
GB/T 35309-2017 구역 용융 및 분광 분석을 통한 입상 다결정 실리콘 평가 절차

VN-TCVN, 스펙트럼 실리콘

TCVN 7207-1-2002 유리 및 유리 제품 추출 용액 분석 1부: 분자 흡수 분광법을 통한 실리카 측정