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SEM 교정

모두 15항목의 SEM 교정와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 SEM 교정와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 길이 및 각도 측정.


National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM 교정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM 교정

  • KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

International Organization for Standardization (ISO), SEM 교정

  • ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

Association Francaise de Normalisation, SEM 교정

  • NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

British Standards Institution (BSI), SEM 교정

  • BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
  • BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내

RU-GOST R, SEM 교정

  • GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM 교정

  • JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM 교정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM 교정

  • GB/T 27788-2020 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지의 배율 보정 지침

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM 교정

  • GB/T 27788-2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 보정 지침

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM 교정





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