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엑스레이와 고에너지 전자빔

모두 394항목의 엑스레이와 고에너지 전자빔와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 엑스레이와 고에너지 전자빔와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 용접, 브레이징 및 저온 용접, 분석 화학, 비파괴 검사, 방사선 측정, 식품 기술, 광학 및 광학 측정, 방사선방호, 의료 장비, 길이 및 각도 측정, 광학 장비, 종합 전자 부품, 식품종합, 범죄 예방, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 계측 및 측정 합성, 항공우주 제조용 재료, 전기 장치, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 반도체 소재, 종이와 판지, 강화 플라스틱, 전자기 호환성(EMC), 도로 차량 장치, 환경 보호, 건강 및 안전, 물리학, 화학, 비철금속, 정보 기술 응용, 치과, 쓰레기, 전자관, 전자 디스플레이 장치, 사진 기술.


AT-ON, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • ONORM S 5233-1987 X선, G선 및 전자빔을 이용한 이온화 챔버 방사선 치료용 선량계
  • ONORM S 5231-1993 방사선 방호 선량계. Y선 및 X선용 이온화 챔버, 전자 계수관 또는 섬광 계수기를 갖춘 개인용 선량계 및 휴대용 특정 범위 방사선 검출기. 자격마크

Association of German Mechanical Engineers, 엑스레이와 고에너지 전자빔

German Institute for Standardization, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN 6809-1:1976 임상 선량 측정, X선, 감마선, 전자빔의 치료 응용
  • DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
  • DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
  • DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
  • DIN EN 60601-2-54:2010 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • DIN 6827-1:2020-10 전리방사선의 의학적 응용에 관한 기록 제1부: 전자가속기와 X선 및 감마선 치료 시스템을 이용한 치료
  • DIN EN 60526:2006-04 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결(IEC 60526:1978 수정)
  • DIN 6800-2:2020-08 광자 및 전자 방사선 프로브 유형 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광자 및 전자 방사선 이온화 챔버 선량 측정
  • DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 광학 및 전자 방사선에 대한 프로브 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광학 및 전자 방사선에 대한 이온화 챔버 선량 측정
  • DIN 6800-2:2008 광학 및 전자 방사선에 대한 프로브 검출기 선량 측정 절차 2부: 고에너지 광학 및 전자 방사선에 대한 이온화 챔버 선량 측정
  • DIN 44402-14:1971-10 전자관의 전기적 특성 측정, 고진공 전자관 및 밸브의 열음극 방출 전류 측정 방법
  • DIN 6809-6:2020-11 임상 선량계측 6부: 원격 방사선 치료에서 고에너지 광자 및 전자 방사선의 사용
  • DIN 6809-6:2020 임상 선량 측정 6부: 원격 방사선 치료에서 고에너지 광자 및 전자 방사선의 사용
  • DIN EN 12543-5:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 5부: 최소 및 최대 초점 X선관의 유효 초점 크기 측정
  • DIN 6871-2:2005 양전자 방출 단층 촬영용 사이클로트론 시스템 2부: 방사선 방호 미로 봉인 및 난간 입구
  • DIN EN 60601-2-54:2016 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특정 요구 사항(IEC 60601-2-54-2009+Cor.-2010+Cor.-2011+A1 -2015) .독일어 버전 EN 60601-2-54-2009+A1-2015
  • DIN IEC 60151-14:1980 전자관의 전기적 특성 측정 14부: 레이더 및 오실로스코프 음극선관 측정 방법
  • DIN EN 60601-2-54 Berichtigung 3:2012 의료 전자 장비 파트 2-54: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특정 요구 사항(IEC 60601-2-54-2009) 독일어 버전 EN 60601-2-54-2009, 기술 DIN EN 60601-2-54에 따른 정오표

British Standards Institution (BSI), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
  • BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
  • BS EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 전자 가속기, 광자 빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용되는 X선 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항입니다.
  • BS EN 60601-2-54:2009 의료 전자 장비 - 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 세부 요구 사항
  • BS EN 60601-2-54:2010 의료 전자 장비의 방사선 촬영 및 방사선 투시를 위한 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 세부 요구 사항
  • BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
  • BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS EN 60526:2005 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • BS EN 60526:2004 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
  • BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
  • BS ISO 19318:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
  • BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
  • BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
  • BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
  • BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • BS ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 추정 및 균질 재료의 원소 검출 한계 보고
  • BS EN 60601-2-54:2009+A2:2019 의료 전기 장비의 방사선 촬영 및 형광투시용 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
  • BS ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
  • BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
  • DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
  • BS ISO 15573:1998 80KeV에서 300KeV 사이의 에너지를 사용하는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 실행 코드
  • BS ISO 15573:1999 80KeV에서 300KeV 사이의 에너지를 사용하는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 실행 코드
  • BS ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
  • BS ISO 15569:1998 300 KeV에서 25 MeV 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장치의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • BS ISO 15569:1999 300 KeV에서 25 MeV 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장치의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • BS ISO 24237:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성 및 안정성
  • BS EN 60601-2-63:2015 의료 전기 장비 치과용 구강외 엑스레이 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • BS EN 60601-2-63:2015+A2:2021 의료용 전기 장비 치과용 구강외 엑스레이 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구사항
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
  • BS EN IEC 61223-3-7:2021 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 승인 및 적합성 테스트 치과용 콘빔 컴퓨터 단층촬영 X선 장비의 영상 성능
  • BS EN 60601-1-3:2008+A1:2013 의료 전기 장비 기본 안전 및 필수 성능에 대한 일반 요구 사항 표준 이하 X선 진단 장비의 방사선 보호
  • BS EN 60601-2-43:2010+A2:2020 의료 전기 장비: 중재 시술용 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
  • BS EN 60601-2-65:2013+A2:2021 의료용 전기 장비 치과용 구강내 엑스레이 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구사항
  • BS EN 60601-2-43:2022 의료 전기 장비: 중재 시술용 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 62607-6-21:2022 나노제조의 주요 제어특성 6-21부: 그래핀 기반 소재 원소 조성, C/O 비율: X선 광전자 분광학
  • BS EN 60601-1-3:2008 의료 전기 장비 기본 안전 및 필수 성능에 대한 일반 요구 사항 보조 표준 X선 진단 장비의 방사선 보호
  • BS EN 60601-1-3:2008+A2:2021 의료 전기 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 일반 요구 사항에 대한 병렬 표준: 진단용 X선 장비의 방사선 방호
  • BS ISO 4037-2:1998 선량계 및 선량 강도 측정기의 교정 및 광자 에너지의 함수로서 감도 결정
  • BS EN 60601-2-65:2013 의료 전기 장비 치과용 구강 내 엑스레이 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • BS EN IEC 60601-2-28:2019 의료 전기 장비의 의료 진단용 X선관 어셈블리의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항
  • BS ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 광전자 분광법(XPS) 및 원자 방출 분광법(AES)의 깊이 프로파일링에서 이온 빔 교정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
  • BS ISO 4037-1:1998 X 및 감마 기준 방사선을 사용하여 선량계 및 선량 강도 측정기의 교정과 광자 에너지의 함수로서 감도 결정 1부: 방사선 특성 및 생성 방법
  • BS ISO 22581:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 측정 스캔을 통한 거의 실시간 정보 탄소질 화합물의 표면 오염에 대한 식별 및 수정 규칙
  • BS EN 60601-2-43:2010 의료 전기 장비 중재적 치료를 위한 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구 사항
  • BS EN 60601-2-44:2009+A2:2016 의료 전기 장비용 컴퓨터 단층 촬영 및 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구 사항

Professional Standard - Hygiene , 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • WS/T 117-1999 X선, γ선, β선 및 전자선에 의한 수정체 선량 추정 기준

International Organization for Standardization (ISO), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • ISO/ASTM 51431:2005 식품 가공을 위한 전자빔 및 X선(bremsstrahlung) 조사 장치의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
  • ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
  • ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
  • ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
  • ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
  • ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
  • ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
  • ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
  • ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 에너지 분광법 및 X선 광전자 분광법 결과 보고에 필요한 피크 강도 결정 방법 및 정보
  • ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
  • ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
  • ISO/ASTM 51818:2009 80~300keV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 장비의 선량 측정 사용 절차
  • ISO/ASTM 51818:2013 80~300keV 에너지의 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정 운영 절차
  • ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 균질 물질의 원소 검출 한계 추정 및 보고
  • ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
  • ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
  • ISO 11452-4:2011 도로 차량 전자기 에너지를 방사하는 협대역 전자 간섭 부품에 대한 테스트 방법 4부: 와이어 하니스 여기 방법
  • ISO 20903:2019 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 결과 보고 시 필요한 피크 강도 및 정보를 결정하는 데 사용되는 방법
  • ISO 15573:1998 80KeV에서 300KeV 사이의 에너지를 사용하는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 실행 코드
  • ISO 4037:1979/Add 1:1983 선량계와 선량률 측정기를 교정하고 광자 에너지의 함수로 반응하는 X 및 감마 기준 방사선을 결정합니다. 부록 1: 필터링된 X 방사선에 대한 고속 시리즈
  • ISO 24237:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 반복성 및 강도 안정성
  • ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
  • ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
  • ISO 15569:1998 300 KeV에서 25 MeV 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장치의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • ISO/ASTM 51649:2002 300keV에서 25MeV 사이의 에너지에서 방사선 처리를 위한 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • ISO/ASTM 51649:2005 300keV에서 25MeV 사이의 에너지에서 방사선 처리를 위한 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • ISO/ASTM 51649:2015 300keV에서 25MeV 사이의 에너지에서 방사선 처리를 위한 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES(원자 방출 분광학) 및 XPS(광전자 분광학)의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 보정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
  • ISO 22581:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 측정 및 스캐닝 거의 실시간 정보 탄소질 화합물의 표면 오염에 대한 식별 및 보정 규칙

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
  • GB/T 15447-1995 X선, γ선, 전자선에 조사되는 이종 물질의 흡수선량 환산법
  • GB/T 15447-2008 X선, γ선, 전자선에 조사되는 이종 물질의 흡수선량 환산법
  • GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
  • GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
  • GB/T 25185-2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
  • GB/T 28633-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
  • GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
  • GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
  • GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
  • GB/T 31470-2015 오제(Auger) 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 테스트에서 검출 신호에 해당하는 샘플 영역을 결정하기 위한 일반 규칙
  • GB/T 28893-2012 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
  • GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
  • GB/T 43598-2023 X선 광전자 분광법을 이용한 나노기술 그래핀 분말의 산소 함량 및 탄소-산소 비율 측정
  • GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
  • GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학
  • GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
  • GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
  • GB/T 32869-2016 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 주사전자현미경 및 에너지 분산형 X선 분광학 특성 분석 방법
  • GB/T 30702-2014 표면 화학 분석 균질 물질의 정량 분석에서 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에 대해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자를 사용하는 방법에 대한 가이드
  • GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
  • GB/Z 21277-2007 전자 및 전기 제품에서 제한 물질인 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬을 신속하게 스크리닝합니다.X선 형광 분광법

RU-GOST R, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • GOST 22091.2-1984 X선 장비.X선 전자 사이클로트론 박스의 주입 전류 및 전압 측정 방법
  • GOST R ISO/ASTM 51431-2012 식품 가공용 전자빔 및 X선(bremsstrahlung) 조사 장치의 투여 절차
  • GOST 34157-2017 식품 가공을 위한 전자빔 및 X선(bremsstrahlung) 조사 시설의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • GOST 8.473-1982 펄스형 X선 방사선 에너지 노출량, 노출량 평균 전력, 평균 광선 빔 및 평균 광선 빔 밀도를 측정하기 위한 국가 특별 벤치마크 및 국가 교정 시스템
  • GOST R IEC 60526-2001 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓용 커넥터
  • GOST R 56811-2015 고분자 복합재 샌드위치 구조의 외부층 및 내부층 재료의 X선 사진
  • GOST R 50267.2.54-2013 의료 전기 장비 2-54부 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • GOST 17226-1971 광자 에너지 8-480 fj를 사용하여 감마 및 X선을 측정하여 방사조도 측정 기술 요구 사항 및 테스트 방법
  • GOST R ISO 16243-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고

VN-TCVN, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • TCVN 7249-2008 식품 가공용 전자빔 및 X선(bremsstrahlung) 방사선 장치의 선량 측정에 대한 표준 관행

Professional Standard - Medicine, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • YY 9706.268-2022 의료전기기기 제2-68부 : 전자가속기, 광이온빔 치료기기, 방사성핵종빔 치료기기용 X선 영상유도…
  • YY/T 0829-2011 양전자 방출 및 X선 컴퓨터 단층촬영 시스템 성능 및 시험 방법
  • YY 0775-2010 원격 방사선 치료 계획 시스템을 위한 고에너지 X(γ) 빔 선량 계산 정확도 요구 사항 및 테스트 방법
  • YY/T 1408-2016 단일광자 방출 및 X선 컴퓨터 단층촬영 시스템 성능 및 테스트 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
  • KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
  • KS A 4722-1996(2016) 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓
  • KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
  • KS A 4509-1991(1996) 필름 배지 X선, 감마선 및 열 중성자의 평가를 위한 선량 등가 방법
  • KS D ISO 19318-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
  • KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
  • KS A IEC 60532-2016(2021) 방사선 방호 장비 - 설치된 선량계, 경고 구성 요소 및 모니터 - 50keV에서 7MeV 사이의 에너지를 갖는 X선 및 감마선
  • KS C IEC 60526:2021 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • KS C IEC 60601-2-68:2018 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온 빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • KS C IEC 60601-2-54:2012 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항
  • KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
  • KS C IEC 60613:2003 의료 진단용 회전형 양극 X선관의 전기적, 열적, 부하 성능
  • KS C IEC 60613:2017 의료 진단용 회전형 양극 X선관의 전기적, 열적, 부하 성능
  • KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
  • KS D ISO 19319:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
  • KS D ISO 18118-2005(2020) 표면 화학 분석에서 균질 물질의 정량 분석을 위해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자 사용에 대한 지침 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법
  • KS A IEC 61525-2003(2013) 방사선 방호 기기 - X, 감마, 고에너지 베타 및 중성자 방사선 - 직접 판독 개인 선량 등가 및/또는 선량 등가 비율 모니터
  • KS A IEC 61525:2016 방사선 방호 장비X 감마선, 고에너지 베타 및 중성자 방사선에 대한 직접 판독 개인 선량당량 및/또는 선량당량률 모니터
  • KS A ISO 4037-1-2003(2018) X 및 감마 표준 방사선을 이용한 광자 에너지 응답 결정 및 선량계 및 선량계 고정 - 1부: 방사선 특성 및 생성 방법
  • KS C IEC 60601-2-44:2011 의료 전기 장비 2-44부: 단층 촬영 계산을 위한 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 개별 요구사항
  • KS C IEC 60601-2-44:2017 의료 전기 장비 2-44부: 단층 촬영 계산을 위한 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특정 요구 사항
  • KS C IEC 60601-2-54:2020 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • KS A ISO 4037-2-2003(2018) 광자 에너지에 기반한 반응 결정과 선량계 및 선량계 보정을 위한 X- 및 감마 표준 방사선 - 2부: 8 KeV ~ 1.3 MeV 및 4MeV ~ 9 MeV 에너지 범위에서 방사선 방호를 위한 선량 측정

Professional Standard - Electron, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SJ/T 10458-1993 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 위한 시료 처리를 위한 표준 가이드
  • SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법
  • SJ/Z 9010.14-1987 전자관의 전기적 특성 테스트 14부: 레이더 및 오실로그래픽 음극선관 테스트 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • ASTM ISO/ASTM 51431-05 식품 가공에 사용되는 전자빔 및 X선(둔위 방사선) 방사선 장비의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
  • ASTM E996-10(2018) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E996-19 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E995-16 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기 기술에 대한 표준 가이드
  • ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E995-11 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에서 배경 제거 기술 적용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
  • ASTM E1523-97 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1523-15 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2735-14(2020) X선 광전자 분광법에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2108-10 X선 광전자 분광계를 사용한 전자 에너지 다발 규모 결정을 위한 표준 관행
  • ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM E2108-00 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도 교정을 위한 표준 운영 절차
  • ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2108-05 X선 광전 분광계의 전자 결합 에너지 스케일 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1523-03 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1523-09 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
  • ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E995-04 나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기에 대한 표준 가이드
  • ASTM ISO/ASTM 51649-15 300keV~25MeV 사이의 에너지 범위에서 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 방사선량에 대한 표준 관행
  • ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
  • ASTM F1467-99 반도체 장치 및 미세 회로에 대한 이온화 방사선 효과를 테스트할 때 X선 테스터(대략 10keV 방사선 양자와 동일) 사용에 대한 표준 가이드
  • ASTM F1467-99(2005) 반도체 장치 및 미세 회로에 대한 이온화 방사선 효과를 테스트할 때 X선 테스터(대략 10keV 방사선 양자와 동일) 사용에 대한 표준 가이드
  • ASTM ISO/ASTM 51649-05 300kev에서 25mev 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM 51649-02 300kev에서 25mev 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM51649-15 300kev에서 25mev 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM51649-02 300kev에서 25mev 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM51649-05 300kev에서 25mev 사이의 에너지를 갖는 방사선 처리용 전자빔 장비의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM E1217-11 X선 광전자 분광계 및 오거 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 작업 절차
  • ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1217-00 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1217-05 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM 51818-09 80~300keV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM 51818-20 80~300keV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM51818-20 80~300keV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM51818-09 80~300keV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM ISO/ASTM51818-13 80~300keV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 선량 측정에 대한 표준 관행
  • ASTM D8064-16 다중 단색 여기빔을 이용한 단색 에너지 분산형 X선 형광 분광법에 의한 토양 및 고형 폐기물의 원소 분석을 위한 표준 시험 방법

未注明发布机构, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
  • BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • JJF 1026-1991 광자 및 고에너지 전자빔 흡수 선량 측정 방법

IAEA - International Atomic Energy Agency, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SSG-8-2010 전자 및 X선 조사시설의 감마선 안전

Indonesia Standards, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SNI ISO/ASTM 51431:2010 식품 가공을 위한 전자빔 및 X선(bremsstrahlung) 조사 시설의 선량 측정에 대한 실천 강령
  • SNI ISO/ASTM 51818:2014 80keV~300keV 사이의 에너지를 사용하는 방사선 처리를 위한 전자빔 시설의 선량 측정

Professional Standard - Judicatory, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

Association Francaise de Normalisation, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • NF M60-513:1990 X선 및 γ선 표준 광선을 사용한 방사선 선량계 및 유량계 교정 및 X선 및 γ선 2광자 에너지에 대한 반응 측정 4MeV ~ 9MeV 에너지의 표준 광자 방사선
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF M60-522:1998 X선 및 감마선 방사선 - 직접 또는 간접 판독 커패시터 코어 선량계
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
  • NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고
  • NF M60-512:1984 원자력 X, r 표준선을 이용한 방사선량계 및 유량계의 교정과 광자 에너지를 이용한 반응 측정
  • NF C74-068*NF EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 300430:1999 통신 - 전송 및 다중화(TM) - 디지털 라디오 빔(DRRS). 고용량 디지털 라디오 빔은 1개의 STM-1 신호를 전달하고 18GHz 대역에서 작동하며...
  • NF EN 60526:2005 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF M60-512-1:1998 선량계 및 선량률 측정기의 교정과 광자 에너지 상호작용 반응으로 X선 및 감마선의 기준 방사선 측정
  • NF X21-061:2008 표면 화학 분석나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 해상도 결정
  • NF A09-230-1:1999 비파괴 검사 X선관 전압 측정 및 평가 1부: 전압 분배기 방법
  • NF C74-167*NF EN 60601-2-54:2009 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • NF A09-230-3:1999 비파괴 검사 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 분광법
  • NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • NF X21-058:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정에 사용되는 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
  • FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • NF EN 60601-2-45/A1:2015 의료 전기 장비 2-45부: X선 유방촬영 장비 및 정위 유방촬영 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-45:2011 의료 전기 장비 2-45부: X선 유방촬영 장비 및 정위 유방촬영 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF C74-215:2005 방사성 핵종 영상 장비 특성 및 시험 조건 제1부: 양전자 방출 단층 촬영
  • NF M60-512-2:2000 선량계 및 선량률 측정기를 교정하고 광자 에너지 상호작용 반응으로 사용되는 X선 및 감마선에 대한 기준 방사선을 측정합니다. 2부: 8KeV~13MeV 및 4~9MeV 에너지 범위의 방사선 보호를 위한 선량 측정 방법.
  • NF A09-231-5*NF EN 12543-5:1999 비파괴 검사 비파괴 검사를 위한 산업용 X선 시스템의 초점 특성 5부: 최소 및 최대 초점 X선관의 유효 초점 크기 측정
  • NF EN 60601-2-54/A2:2019 의료 전기 장비 - 파트 2-54: 방사선 촬영 및 형광투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-54:2009 의료 전기 장비 - 파트 2-54: 방사선 촬영 및 형광투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 60601-2-54/A1:2015 의료 전기 장비 - 파트 2-54: 방사선 촬영 및 형광투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • NF EN 61674:2013 전자 의료 장비 - 진단용 X선 영상 촬영을 위한 이온화 챔버 및/또는 고체 검출기를 갖춘 선량계
  • NF A09-230-2:2000 비파괴검사 X선관 전압의 측정 및 평가 제2부: 두꺼운 필터법에 의한 안정성 시험
  • NF ETS 300234:1998 통신 - 전송 및 다중화(TM) - 1 x STM-1 신호를 전달하고 채널 간격과 직경이 약 30MHz인 주파수 대역에서 작동하는 고용량 디지털 무선 빔입니다.
  • NF C74-167/A2*NF EN 60601-2-54/A2:2019 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • NF C74-167/A1*NF EN 60601-2-54/A1:2015 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • NF M60-512-3:2000 광자 에너지 효과에 대한 반응으로 X선 및 감마선 측정을 위한 선량계, 선량계 및 기준 방사선 교정 3부: 범위 및 개인 선량계 교정, 에너지 효과로서의 반응 측정 및 입사각 결정
  • NF C74-204/A1:2006 의료 전기 장비 X선 진단 영상에 사용하기 위한 이온화 챔버 및/또는 반도체 검출기를 갖춘 선량계

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

中华人民共和国国家卫生和计划生育委员会, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • GBZ 141-2002 감마선 및 전자선 조사 장치의 보호 및 테스트에 대한 사양

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
  • GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항

KR-KS, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
  • KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
  • KS C IEC 60526-2021 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • KS C IEC 60601-2-68-2018 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온 빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
  • KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
  • KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • KS C IEC 60601-2-54-2020 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항

American National Standards Institute (ANSI), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • ANSI N43.3-1993 일반 방사선 안전에 대한 미국 국가 표준 최대 10Mev(메가전자볼트)의 방사선 에너지를 갖는 비의료용 X선 및 밀봉된 감마선 광원을 활용하는 장치
  • ANSI N43.3-2008 일반 방사선 안전 비의료용 X선 및 밀봉형 감마선 광원용 방사선 안전 에너지 10Mev(메가전자볼트) 미만 장치
  • ANSI/HPS N43.16-2021 최대 10MeV 에너지의 X선 또는 감마선을 이용한 화물 및 차량 보안 검색 시스템의 방사선 안전
  • ANSI/ASTM E1649:2013 300 KeV ~ 25 MeV 에너지의 방사선 처리를 위한 전자빔 장비의 선량 측정 실습

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • GB/T 41073-2021 표면 화학 분석을 위한 기본 요구 사항 전자 에너지 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅 보고서
  • GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
  • GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법
  • GB/T 41105.3-2021 비파괴 검사를 위한 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 분광학

Professional Standard - Public Safety Standards, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
  • GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
  • DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

Lithuanian Standards Office , 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • LST EN 60601-2-68-2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • LST EN 60526-2005 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결(IEC 60526:1978, 개정)
  • LST EN 60601-2-54-2009 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 형광투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특정 요구 사항(IEC 60601-2-54:2009)

Canadian Standards Association (CSA), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • CAN/CSA-C22.2 NO.60601-2-68-2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔과 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • EN 60613:2010 의료 진단용 회전형 양극 엑스선관의 전기 가열 및 부하 성능
  • FprEN IEC 60601-2-54:2022 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 형광 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • ECA TEP 170-1972 마이크로파 튜브 X선 검출 및 측정에 대한 권장 사례

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.
  • JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
  • JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • JIS Z 4751-2-54:2012 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구 사항
  • JIS Z 4751-2-54:2017 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구 사항
  • JIS K 0167:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 지침
  • JIS Z 4751-2-44:2012 의료 전기 장비 2-44부: 단층 촬영 계산을 위한 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • JIS T 0601-2-207:2015 의료 전기 장비 2-207부: 크세논 빔 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항

Standard Association of Australia (SAA), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정
  • AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • AS/NZS 4545.1:1999 방사성핵종 영상장치 특성 및 시험조건 양전자방출단층촬영 X선 카메라
  • AS ISO 19318:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 요금통제 및 요금조정 보고방법
  • AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역
  • AS ISO 24237:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 강도 척도 반복성 및 불변성
  • AS ISO 18118:2006 표면 화학 분석. 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법. 균질 물질의 정량 분석에서 실험적으로 결정된 상대 감도 계수의 사용에 대한 안내
  • AS 60601.2.54:2018 의료 전기 장비 2.54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영 검사용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특정 요구 사항(IEC 60601-2-54:2018(ED. 1.2), MOD)
  • AS/NZS IEC 60601.1.3:2015 의료 전기 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 일반 요구 사항에 대한 병렬 표준: 진단용 X선 장비의 방사선 방호
  • AS/NZS IEC 60601.2.28:2015 의료 전기 장비의 의료 진단용 X선관 어셈블리의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구사항

CZ-CSN, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • CSN 36 4771-1998 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결

International Electrotechnical Commission (IEC), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • IEC 60526:1978/COR1:2010 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • IEC 60601-2-54:2015 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 60601-2-54:2018 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 60601-2-68:2014 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 빔 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • IEC 60601-2-54:2009/AMD1:2015 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항, 수정 사항 1
  • IEC 60601-2-54:2009/AMD2:2018 의료 전자 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 특별 요구 사항 수정 2
  • IEC 60601-2-54:2009 IEC 60601-2-54, 제1판: 의료 전자 장비 파트 2-54: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 주요 성능에 대한 개별 요구사항
  • IEC 60601-2-35:2020 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 60601-2-54:2022 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 60601-2-54:2022 RLV 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 60601-2-54:2009+AMD1:2015+AMD2:2018 CSV 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 검사용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • IEC 60601-2-54:2009/COR1:2010 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구 사항
  • IEC 60601-2-54:2009/COR2:2011 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 세부 요구 사항
  • IEC 60601-2-44:2009 의료 전기 장비 2-44부: 단층 촬영 계산을 위한 X선 장비의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 개별 요구사항
  • IEC 60601-2-54:2009+AMD1:2015 CSV 의료 전기 장비 2-54부 특별 요구 사항 방사선 촬영 및 방사선 검사용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능
  • IEC TS 62607-6-21:2022 나노 제조 중요한 제어 특성 파트 6-21: 그래핀 기반 재료 원소 조성 C/O 비율: X선 광전자 분광법
  • IEC 61675-1/AMD1:2008 방사성 핵종 영상 장치 성능 및 시험 조건 제1부: 양전자 방출 단층 촬영 장치 수정 사항 1
  • IEC 60846-2:2007 방사선 방호 장비 주변 및/또는 방향 선량당량(율) 측정기 및/또는 베타용 모니터,

Danish Standards Foundation, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • DS/EN 60526:2004 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • DS/EN 60601-2-54:2009 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 형광 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

AENOR, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • UNE-EN 60526:2005 의료용 X선 장비용 고전압 케이블 플러그 및 소켓 연결
  • UNE-EN 60601-2-54:2010 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 형광 투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항

Group Standards of the People's Republic of China, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법

SE-SIS, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SIS SS-ISO 8963:1990 8킬로전자볼트 ~ 1.3메가전자볼트 범위의 에너지를 갖는 방사선 보호용 X선 및 감마선 관련 방사선 선량계
  • SIS SS-ISO 8769:1990 표면 오염 모니터 교정 참조 소스. 베타선 방사선원(0, 15MeV 이상의 최대 베타 에너지) 및 알파선 방사선원
  • SIS SS-ISO 7503-1:1990 표면 오염 평가. 1부: 베타 방출기(0.155MeV 이상의 최대 방사선 에너지) 및 알파 방출기

GOSTR, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
  • PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

SAE - SAE International, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SAE J1742-2005 고전압 차량 전기 배선 하니스의 연결 테스트 방법 및 일반 성능 요구 사항

Society of Automotive Engineers (SAE), 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SAE J1742-2022 고전압 차량 전기 배선 하니스의 연결 테스트 방법 및 일반 성능 요구 사항
  • SAE J1742-2010 도로 차량의 고전압 전기 배선 하니스에 대한 테스트 방법 및 커넥터의 일반 성능 요구 사항
  • SAE J1742-1998 고전압 온보드 도로 차량 전기 배선 장치에 대한 연결 테스트 방법 및 일반 성능 요구 사항

ES-UNE, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • UNE-EN 60601-2-68:2015 의료 전기 장비 2-68부: 전자 가속기, 광이온빔 치료 장비 및 방사성 핵종 치료 장비와 함께 사용하기 위한 X선 기반 영상 유도 방사선 치료 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • UNE-EN 60601-2-54:2010/A1:2015 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • UNE-EN 60601-2-45:2011/A1:2015 의료 전기 장비 2-45부: 유방 조영술 장비 및 정위 유방 조영술 장치의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
  • UNE-EN 60601-2-54:2009/A2:2019 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 방사선 촬영 검사용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
  • UNE-EN 60601-2-45:2011 의료 전기 장비 2-45부: 유방 조영술 장비 및 정위 유방 조영술 장치의 기본 안전 및 기본 성능에 대한 특별 요구사항

BE-NBN, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • NBN-HD 364-1994 의료용 X선 장비의 고전압용 잭과 플러그를 통해 연결되는 케이블

Professional Standard - Commodity Inspection, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • SN/T 2003.4-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 4부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 정성 스크리닝 방법
  • SN/T 2003.5-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 5부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법 정량 스크리닝 방법
  • SN/T 2003.3-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 카드뮴, 크롬 및 브롬 측정 3부: X선 형광 분광법 정량 스크리닝 방법

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • NEMA XR 7-1979 고전압 X선 케이블 및 콘센트(1980년 1월 1일 개정; 1987년 10월 2일 개정)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • EN 60601-2-54:2009 의료 전기 장비 2-54부: 방사선 촬영 및 형광투시용 X선 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항(수정 A1: 2015 포함)

Professional Standard - Machinery, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • JB/T 11602.3-2013 비파괴 검사 장비의 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 스펙트럼 테스트

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • YS/T 644-2007 백금-루테늄 합금 필름의 테스트 방법 X선 광전자 분광법을 통한 합금 백금 및 합금 루테늄 함량 측정.

TR-TSE, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • TS 2453-1976 전자 튜브 및 전자 밸브의 전기적 성능 테스트. 파트 13: 고진공 전자관의 열음극 방출 전류 테스트 방법
  • TS 2454-1976 전자 튜브 및 전자 밸브의 전기적 성능 테스트. 파트 14: 레이더 및 오실로메트릭 음극선관 테스트 방법

IX-IX-IEC, 엑스레이와 고에너지 전자빔

  • IEC TS 62607-6-17:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-17부: 그래핀 기반 재료 주문 매개변수: X선 회절 및 투과 전자 현미경




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