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DE금 단일 입자
모두 223항목의 금 단일 입자와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 금 단일 입자와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 입자 크기 분석, 스크리닝, 합금철, 고무 및 플라스틱 원료, 농업 및 임업, 공기질, 항공우주 전기 장비 및 시스템, 반도체 개별 장치, 분말 야금, 섬유제품, 비철금속 제품, 분석 화학, 절단 도구, 항공우주 제조용 부품, 쓰레기, 비철금속, 화학 제품, 금속 생산, 금속 재료 테스트, 항공우주 시스템 및 운영 장치, 회사(기업)의 조직 및 관리, 종합 전자 부품, 금속 광석, 연료전지, 선상 장비 및 기기, 변압기, 리액터, 인덕터, 항공기 및 우주선 통합, 의료 장비, 전기 장비 부품, 광학 및 광학 측정, 광학 장비, 물리학, 화학, 허리가 두꺼운 배럴, 버킷, 튜브 등, 어휘.
British Standards Institution (BSI), 금 단일 입자
Standard Association of Australia (SAA), 금 단일 입자
Professional Standard - Agriculture, 금 단일 입자
International Organization for Standardization (ISO), 금 단일 입자
German Institute for Standardization, 금 단일 입자
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 금 단일 입자
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 금 단일 입자
未注明发布机构, 금 단일 입자
RU-GOST R, 금 단일 입자
US-FCR, 금 단일 입자
Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, 금 단일 입자
Professional Standard - Aerospace, 금 단일 입자
Danish Standards Foundation, 금 단일 입자
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 금 단일 입자
Group Standards of the People's Republic of China, 금 단일 입자
ES-UNE, 금 단일 입자
AENOR, 금 단일 입자
European Association of Aerospace Industries, 금 단일 입자
American Society for Testing and Materials (ASTM), 금 단일 입자
- ASTM F328-98 거의 단일 발산하는 구형 입자 재료를 사용하여 부유 입자 계수기의 계산 및 크기 정확도 결정
- ASTM F1192-11 반도체 장치의 중이온 조사로 인한 단일 사건 현상(SEP) 측정을 위한 표준 가이드
- ASTM F50-92(1996) 단일 서브마이크로미터 및 더 큰 입자를 감지할 수 있는 장비를 사용하여 통제된 먼지 및 멸균 구역에서 공기 중 입자의 크기를 지속적으로 측정하고 개수를 측정합니다.
- ASTM F50-92(2001)e1 단일 서브마이크로미터 및 더 큰 입자를 감지할 수 있는 장비를 사용하여 통제된 먼지 및 멸균 구역에서 공기 중 입자의 크기를 지속적으로 측정하고 개수를 측정합니다.
- ASTM D7035-16 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 공기 중 입자상 물질의 금속 및 준금속을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D7035-04 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 공기 중 입자상 물질의 금속 및 준금속을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D7035-21 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 공기 중 입자상 물질의 금속 및 준금속을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM F50-07 개별 서브미크론 입자와 더 큰 입자를 감지할 수 있는 장비를 사용하여 분진 관리 구역 및 청정실에서 공기 중 입자의 지속적인 크기 및 계수에 대한 표준 관행입니다.
- ASTM D7035-10 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 공기 중 입자상 물질의 금속 및 준금속을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
- ASTM D5743-97 고체 입자가 있거나 없는 배럴 또는 유사한 용기에 담긴 액체의 단층 또는 다층 샘플링에 대한 표준 관행
- ASTM D5743-97(2003) 고체 입자가 있거나 없는 배럴 또는 유사한 용기에 담긴 액체의 단층 또는 다층 샘플링에 대한 표준 관행
- ASTM D5743-97(2008) 고체 입자가 있거나 없는 배럴 또는 유사한 용기에 담긴 액체의 단층 또는 다층 샘플링에 대한 표준 관행
- ASTM F50-12(2015) 단일 서브미크론 및 더 큰 입자를 감지할 수 있는 장비를 사용하여 먼지 제어 구역 및 청정실에서 공기 중 입자의 크기를 결정하고 계산하는 표준 관행
- ASTM F50-12 단발 미크론 및 대형 입자 감지가 가능한 장비를 사용하여 통제된 먼지 구역 및 청정실에서 공기 중 미립자의 연속적인 크기 및 계산에 대한 표준 관행
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 금 단일 입자
CZ-CSN, 금 단일 입자
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 금 단일 입자
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 금 단일 입자
CEN - European Committee for Standardization, 금 단일 입자
Association Francaise de Normalisation, 금 단일 입자
Professional Standard - Environmental Protection, 금 단일 입자
API - American Petroleum Institute, 금 단일 입자
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 금 단일 입자
European Committee for Standardization (CEN), 금 단일 입자
International Electrotechnical Commission (IEC), 금 단일 입자
(U.S.) Ford Automotive Standards, 금 단일 입자
Society of Automotive Engineers (SAE), 금 단일 입자
CU-NC, 금 단일 입자
KR-KS, 금 단일 입자
SAE - SAE International, 금 단일 입자
PH-BPS, 금 단일 입자
IEC - International Electrotechnical Commission, 금 단일 입자
- PAS 62396-3-2007 항공 전자 공학 프로세스 관리 "대기 방사선 효과" 3부: 대기 방사선의 단일 이벤트 효과(SEE)를 위한 시스템 설계 최적화(버전 1.0)
Defense Logistics Agency, 금 단일 입자
- DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 반도체 장치, N채널 트랜지스터 전계 효과 방사선 내성(총 선량 및 단일 이벤트 효과), 실리콘 모델 2N7405, 2N7406, 2N7407 및 2N7408, JANSD 및 JANSR
- DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 반도체 장치, N채널 트랜지스터 전계 효과 방사선 내성(총 선량 및 단일 이벤트 효과), 실리콘 모델 2N7488T3, 2N7489T3 및 2N7490T3, JANTXVR 및 JANSR
- DLA MIL-PRF-19500/658 VALID NOTICE 2-2011 반도체 장치, 전계 효과 방사선 강화(총 선량 및 단일 이벤트 효과) 트랜지스터, P 채널 실리콘 유형 2N7438 및 2N7439 JANSD 및 JANSR
- DLA MIL-PRF-19500/706 A VALID NOTICE 1-2010 반도체 장치, 전계 효과 방사선 강화(총 선량 및 단일 이벤트 효과) 트랜지스터, N 채널, 실리콘 유형 2N7497T2, 2N7498T2 및 2N7499T2, JANTXVR 및 JANSR
PT-IPQ, 금 단일 입자