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단일 입자 조사

모두 5항목의 단일 입자 조사와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 단일 입자 조사와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 단일 입자 조사

• ASTM F1192-11 반도체 장치의 중이온 조사로 인한 단일 사건 현상(SEP) 측정을 위한 표준 가이드

German Institute for Standardization, 단일 입자 조사

• DIN EN 60749-44:2017-04 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 44부: 반도체 장치에 대한 중성자 빔 조사의 단일 이벤트 효과(SEE)에 대한 테스트 방법

ES-UNE, 단일 입자 조사

• UNE-EN 60749-44:2016 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 44부: 반도체 장치에 대한 중성자 빔 조사의 단일 이벤트 효과(SEE)에 대한 테스트 방법
• UNE-EN 300386 V1.5.1:2016 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 44부: 반도체 장치에 대한 중성자 빔 조사의 단일 이벤트 효과(SEE)에 대한 테스트 방법

PH-BPS, 단일 입자 조사

• PNS IEC 60749-44:2021 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 44: 반도체 장치에 대한 중성자 빔 조사의 단일 이벤트 효과에 대한 테스트 방법(참조)

기타:   단일 입자 방사선 효과, 단일 입자 조사, 항공우주 반도체 장치에 대한 중이온 단일 사건 효과 테스트 가이드, 단일 입자 추적, 단일 입자 추적, 금 단일 입자, 단일 입자, 단일 입자 조사, 입자 조사, 단일 이벤트 효과, 단일 입자 감지, 하루에 300개의 단일 입자.