광전자재료 반도체 조명

모두 171항목의 광전자재료 반도체 조명와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 광전자재료 반도체 조명와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 세라믹, 광전자공학, 레이저 장비, 종합 전자 부품, 표면 처리 및 도금, 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 어휘, 광학 및 광학 측정, 전선 및 케이블, 반도체 개별 장치, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 절연유체.

Association Francaise de Normalisation, 광전자재료 반도체 조명

NF ISO 14605:2013 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 재료를 테스트하기 위한 기술 세라믹 광원
XP CEN/TS 16599:2014 광촉매는 반도체 재료의 광촉매 성능을 테스트하기 위해 조사 조건을 결정합니다.
NF B44-105*NF ISO 14605:2013 파인세라믹(현대세라믹, 첨단산업세라믹) - 실내조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재용 시험광원
XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 소재의 광촉매 성능을 테스트하는 데 사용되는 조사 조건 및 이러한 조건의 측정
NF ISO 10677:2011 반도체 광촉매 재료 테스트용 기술 세라믹 UV 광원
NF ISO 18560-1:2014 테크니컬 세라믹 실내 조명 환경에서 테스트 챔버 방식을 이용한 공기 정화용 반도체 광촉매 소재 성능 측정 테스트 방법 - 1부: 제거...
NF B44-103*NF ISO 10677:2011 파인 세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹)을 이용한 반도체 광촉매 소재 테스트에 사용되는 자외선 광원
NF EN 62047-2:2006 반도체 장치 미세 전자기계 장치 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
NF EN 62047-18:2014 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 파트 10: MEMES 재료의 미소극 압축 테스트
NF C96-050-18*NF EN 62047-18:2014 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
NF EN 62047-6:2010 반도체 장치 및 미세 전자기계 장치 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
NF ISO 22197-4:2021 기술적인 세라믹 공기 정화를 위한 반도체 광촉매 재료의 성능 테스트 방법 4부: 포름알데히드 제거
NF C96-050-21*NF EN 62047-21:2014 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 21부: 박막 MEMS 재료의 포아송비 테스트 방법
NF C96-050-6*NF EN 62047-6:2010 반도체 소자용 미세 전자기계 소자 6부: 박막 재료의 축방향 피로 시험 방법
NF EN 62047-21:2014 반도체 장치 미세 전자기계 장치 21부: 박막 MEMS 재료의 포아송비 테스트 방법
NF EN 62047-14:2012 반도체 소자 미세 전자기계 소자 14부: 금속층 재료의 형성 한계 측정 방법
NF C96-050-14*NF EN 62047-14:2012 반도체소자 미세전자기계소자 14부: 금속박막재료의 형성한계 측정방법
NF ISO 22197-5:2021 기술적인 세라믹 공기 정화를 위한 반도체 광촉매 재료의 성능 테스트 방법 5부: 메틸 메르캅탄 제거
NF EN 62047-10:2012 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 10부: Micropillar 기술을 사용한 MEMS 재료의 압축 테스트

International Organization for Standardization (ISO), 광전자재료 반도체 조명

ISO 14605:2013 파인 세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 크래프트 세라믹) 실내 조명 환경을 위한 반도체 광전자 재료 광원 테스트
ISO 24448:2023 파인세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 테크니컬 세라믹) 실내 조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재 테스트용 LED 광원
ISO 17094:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
ISO 19810:2017 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 특성 시험 방법 물 접촉각 측정
ISO 19652:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 완전 분해 성능 시험 방법 아세트알데히드 분해
ISO 18071:2016 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항바이러스 활성 측정 박테리오파지 Q-β를 이용한 시험방법
ISO 17168-2:2018 파인세라믹(어드밴스드세라믹, 어드밴스드인더스트리얼세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 2부: 아세트알데히드 제거
ISO 17168-3:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 3부: 톨루엔 제거
ISO 17168-4:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 4부: 포름알데히드 제거
ISO 22551:2020 파인세라믹(첨단세라믹 및 첨단산업세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재를 이용한 세균 감소율 측정 실제 환경에서 세균으로 오염된 표면의 항균 활성을 추정하기 위한 반건식 방법
ISO 17168-5:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 5부: 메틸 메르캅탄 제거
ISO 17168-1:2018 파인세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 1부: 산화질소 제거
ISO 19810:2023 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 성능 시험 방법 물 접촉각 측정
ISO 13125:2013 파인세라믹(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항진균 효과 시험 방법
ISO 19635:2016 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 조류 억제 활성 시험방법
ISO 27447:2019 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
ISO 27447:2009 파인 세라믹스(Advanced ceramics, Advanced industry ceramics) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 광전자재료 반도체 조명

GJB 8190-2015 항공기 외부 조명용 반도체 고체 광원에 대한 일반 사양

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 광전자재료 반도체 조명

GB/T 36005-2018 반도체 조명 장비 및 시스템의 광방사선 안전 시험 방법

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 광전자재료 반도체 조명

DB44/T 1639.1-2015 반도체 조명 표준 광학 부품의 일반 원리 1부 계층 구분

KR-KS, 광전자재료 반도체 조명

KS L ISO 14605-2023 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재 테스트를 위한 파인 세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 크래프트 세라믹) 광원
KS C IEC 62899-203-2023 인쇄전자부품 203: 재료반도체잉크
KS L ISO 17168-2-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
KS L ISO 17168-4-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 4부: 포름알데히드 제거
KS L ISO 17168-3-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 3부: 톨루엔 제거
KS L ISO 17168-1-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거
KS L ISO 10677-2023 파인 세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 크래프트 세라믹) 반도체 광촉매 소재 테스트용 자외선 광원
KS C IEC 62047-18-2016 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 파트 18: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
KS C IEC 62047-22-2016 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 파트 18: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
KS L ISO 18560-1-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 실험실 방법에 따른 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 측정을 위한 테스트 방법 - 1부: 포름알데히드 제거
KS L ISO 27447-2023 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법

Professional Standard - Electron, 광전자재료 반도체 조명

SJ/T 11067-1996 적외선탐지재료 중 반도체광전자재료와 초전재료의 공통용어
SJ/Z 3206.13-1989 반도체 재료의 방출 스펙트럼 분석 방법에 대한 일반 원리
SJ 20744-1999 반도체 재료의 불순물 함량에 대한 적외선 흡수 분광 분석에 대한 일반 지침

European Committee for Standardization (CEN), 광전자재료 반도체 조명

PD CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 재료의 광촉매 특성을 위한 조사 조건 및 이러한 조건 결정
CEN/TS 16599:2014 광촉매 시험 반도체 소재의 광촉매 성능을 위한 조사조건 및 측정조건

British Standards Institution (BSI), 광전자재료 반도체 조명

BS ISO 14605:2013 파인세라믹(현대세라믹, 첨단산업세라믹) 실내조명환경에 사용되는 반도체 광촉매재료용 시험광원
BS PD CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 재료의 광촉매 특성을 테스트하기 위한 조사 조건 및 이러한 조건의 측정
BS IEC 62899-203:2018 인쇄전자재료 반도체 잉크
BS ISO 24448:2023 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹). 실내 조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재 테스트용 LED 광원
BS ISO 17094:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
21/30403033 DC BS EN ISO 24448. 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹). 실내 조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재 테스트용 LED 광원
BS ISO 22551:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 세균 감소율 측정 항균 활성 추정을 위한 반건식 방법...
BS ISO 17168-2:2018 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 아세트알데히드 제거
BS ISO 17168-4:2018 파인 세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 포름알데히드 제거를 위한 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법
BS ISO 19810:2017 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 특성 시험 방법 물 접촉각 측정
BS ISO 17168-5:2018 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 메틸메르캅탄 제거
BS ISO 19652:2018 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 완전 분해 성능을 위한 시험 방법 아세트알데히드 분해
BS ISO 17168-3:2018 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험 방법 톨루엔 제거
BS ISO 17168-1:2018 파인 세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험 방법 산화질소 제거
BS ISO 19810:2023 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 성능 시험 방법 물 접촉각 측정
BS ISO 18071:2016 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항바이러스 활성 측정 박테리오파지 Q-β를 이용한 시험방법
BS ISO 10677:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단기술세라믹) 반도체 광촉매 재료 시험용 자외선 광원
BS EN 62047-18:2013 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 박막 재료의 굽힘 시험 방법
BS EN 62047-2:2006 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 박막 재료의 인장 시험 방법
21/30428334 DC BS EN IEC 62899-203 인쇄 전자 부품 203 재료 반도체 잉크
BS EN 62047-10:2011 반도체 장치, 마이크로 전자 기계 장치, MEMS 재료의 마이크로 컬럼 압축 테스트
BS EN 62047-21:2014 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 박막 MEMS 재료에 대한 포아송 비 테스트 방법
BS EN 62047-6:2010 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 박막 재료의 축 피로 테스트 방법
BS EN 62047-14:2012 반도체 소자, 마이크로 모터 소자, 금속박막재료의 성형한계 측정방법.
BS ISO 27447:2019 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매재료의 항균활성 시험방법
BS ISO 13125:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항진균 효과 시험 방법
BS ISO 19635:2016 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 조류 억제 활성 시험방법
PD IEC TS 62607-3-3:2020 나노제조 발광 나노물질의 주요 제어 특성 시간 상관 단일 광자 계수(TCSPC)를 사용한 반도체 양자점의 형광 수명 결정
BS IEC 62047-31:2019 반도체 소자 및 미세 전자기계 소자용 적층형 MEMS 재료의 계면 접착 에너지에 대한 4점 굽힘 시험 방법
BS ISO 27447:2009 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항균 활성 시험 방법

German Institute for Standardization, 광전자재료 반도체 조명

DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 광촉매 시험 반도체 소재의 광촉매 성능을 위한 조사조건 및 측정조건
DIN 50447:1995 반도체 공정 재료 검사, 와전류법에 의한 반도체층의 표면저항 비접촉 측정
DIN 50448:1998 반도체 공정 재료 테스트 용량성 검출기를 사용하여 반절연 반도체 슬라이스의 비저항 측정
DIN 50455-2:1999-11 반도체 기술 재료 테스트 포토레지스트 특성화 방법 2부: 포지티브 포토레지스트의 감광성 결정
DIN 50455-1:2009-10 반도체 기술 재료 테스트 포토레지스트 특성화 방법 1부: 광학적 방법을 통한 코팅 두께 결정
DIN EN 62047-2:2007-02 반도체 장치 미세 전자기계 장치 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
DIN EN 62047-10:2012-03 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 10부: MEMS 재료의 미세기둥 압축 테스트
DIN 50455-1:2009 반도체 기술에 사용되는 재료 테스트 포토레지스트 특성화 방법 1부: 코팅 두께의 광학적 결정
DIN EN 62047-18:2014-04 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 파트 18: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
DIN EN 62047-2:2007 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
DIN EN 62047-6:2010-07 반도체 장치 및 미세 전자기계 장치 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
DIN 50441-3:1985 반도체 공정 재료 검사 3부: 반도체 슬라이스의 기하학적 치수 측정 3부: 다중선 간섭계를 사용한 연마된 슬라이스의 평면 편차 결정
DIN 50440:1998 반도체 공정 재료 테스트 실리콘 단결정의 캐리어 수명 측정 광전도법에 의한 마이크로젯의 복합 캐리어 수명 측정
DIN 50452-3:1995 반도체 공정 재료 검사 액체 입자 분석 테스트 방법 3부: 광학 입자 계수기 교정
DIN 50455-2:1999 반도체 기술에 사용되는 재료 테스트 포토레지스트 특성화 방법 2부: 양극 포토레지스트의 감광성 측정
DIN 50452-3:1995-10 반도체 기술 자료 테스트 - 액체 입자 분석 테스트 방법 - 3부: 광학 입자 계수기 교정
DIN EN 62047-14:2012-10 반도체소자 미세전자기계소자 14부: 금속박막재료의 형성한계 측정방법
DIN 50452-2:2009-10 반도체 기술 재료용 테스트 액체의 입자 분석 테스트 방법 2부: 광학 입자 계수기를 사용한 입자 측정
DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 광전자재료 반도체 조명

GB/T 1550-2018 외부 반도체 재료의 전도성 유형 테스트 방법
GB/T 37131-2018 나노기술 반도체 나노분말 재료의 자외선-가시선 확산 반사 스펙트럼 테스트 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 광전자재료 반도체 조명

GB/T 1550-1997 외부 반도체 재료의 전도성 유형 테스트 방법
GB/T 3048.3-1994 전선 및 케이블의 전기적 특성 시험 방법 반도체 고무 및 플라스틱 재료의 체적 저항률 시험
GB/T 3048.3-2007 전선 및 케이블의 전기적 특성 테스트 방법 3부: 반도체 고무 및 플라스틱 재료의 체적 저항률 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 광전자재료 반도체 조명

IEC 62899-203:2018 인쇄전자부품 203: 재료반도체잉크
IEC 62047-2:2006 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
IEC 62047-18:2013 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
IEC 62047-6:2009 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
IEC 62047-21:2014 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 21부: 박막 MEMS 재료의 포아송비 테스트 방법
IEC 62047-10:2011/COR1:2012 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 파트 10: MEMS 재료의 미세극 압축 시험 정오표 1
IEC 62047-14:2012 반도체 장치, 미세 전자기계 장치, 파트 14: 금속 필름 재료의 형성 한계 측정 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 광전자재료 반도체 조명

JIS R 1750:2012 파인 세라믹 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재 테스트용 광원
JIS C 5630-2:2009 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
JIS C 5630-18:2014 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
JIS R 1712:2022 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항조류 활성 시험방법
JIS C 5630-6:2011 반도체 장치, 미세 전자 기계 장치, 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
JIS R 1708:2016 파인세라믹(Advanced ceramics, 첨단기술세라믹) 용존산소 소모량을 이용한 반도체 광촉매 소재의 광촉매 활성 측정 시험방법

RU-GOST R, 광전자재료 반도체 조명

GOST 22622-1977 반도체 재료, 기본 전기 및 물리적 매개변수, 용어 및 정의

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 광전자재료 반도체 조명

KS L ISO 17168-2:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
KS L ISO 17168-3:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 3부: 톨루엔 제거
KS L ISO 17168-4:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 4부: 포름알데히드 제거
KS L ISO 17168-1:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거
KS C IEC 62047-18:2016 반도체 장치 "Microelectromechanical Devices" 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
KS C IEC 62047-22:2016 반도체 장치 "Microelectromechanical Devices" 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
KS C IEC 62047-18-2016(2021) 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
KS C IEC 62047-22-2016(2021) 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
KS L ISO 18560-1:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 실험실 방법에 따른 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 측정을 위한 테스트 방법 - 1부: 포름알데히드 제거
KS L ISO 27447-2011(2016) 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
KS L ISO 27447-2011(2021) 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) - 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
KS L ISO 27447:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법

TR-TSE, 광전자재료 반도체 조명

TS 2959-1978 선박 전기 설비: 전력 및 조명 변압기, 반도체 정류기, 발전기 및 엔진, 전기 추진 장치, 연료 탱크

American Society for Testing and Materials (ASTM), 광전자재료 반도체 조명

ASTM D6095-99 압출된 가교 및 열가소성 반도체 도체 및 절연 보호 재료의 체적 저항률에 대한 표준 테스트 방법
ASTM D6095-05 압출된 가교 및 열가소성 반도체 도체 및 절연 차폐 재료의 체적 저항률에 대한 표준 테스트 방법
ASTM D6095-06 압출된 가교 및 열가소성 반도체 도체 및 절연 보호 재료의 체적 저항의 경도 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6095-12 압출된 가교 및 열가소성 반도체 도체 및 절연 보호 재료의 체적 저항의 경도 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6095-12(2023) 압출된 가교 및 열가소성 반도체 도체 및 절연 차폐 재료의 체적 저항률을 세로로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6095-12(2018) 압출된 가교 및 열가소성 반도체 도체 및 절연 차폐 재료의 체적 저항률을 세로로 측정하기 위한 표준 테스트 방법

American National Standards Institute （ANSI), 광전자재료 반도체 조명

ANSI/ASTM D6095:2012 압축 성형된 교차 연결된 열가소성 반도체, 도체 및 절연 차폐 재료의 체적 저항의 종방향 측정을 위한 테스트 방법

Danish Standards Foundation, 광전자재료 반도체 조명

DS/EN 62047-10:2011 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 파트 10: MEMS 재료의 미세기둥 압축 테스트
DS/EN 62047-2:2007 반도체 장치 미세 전자기계 장치 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법
DS/EN 62047-18:2013 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
DS/EN 62047-6:2010 반도체 장치 및 미세 전자기계 장치 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
DS/EN 62047-14:2012 반도체소자 및 미세전자기계소자 14부: 금속박막재료의 형성한계 측정방법

ES-UNE, 광전자재료 반도체 조명

UNE-EN 62047-10:2011 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 10부: MEMS 재료의 미세기둥 압축 테스트
UNE-EN 62047-18:2013 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
UNE-EN 62047-6:2010 반도체 장치 미세 전자기계 장치 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
UNE-EN 62047-21:2014 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 21부: 박막 MEMS 재료의 포아송 비 테스트 방법
UNE-EN 62047-14:2012 반도체소자 미세전자기계소자 14부: 금속박막재료의 형성한계 측정방법
UNE-EN 301908-11 V3.2.1:2006 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법(IEC 62047-2:2006).
UNE-EN 62047-2:2006 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법(IEC 62047-2:2006).
UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법(IEC 62047-2:2006).

ICEA - Insulated Cable Engineers Association Inc., 광전자재료 반도체 조명

T-32-645-2012 압출형 반도체 차폐재료를 이용한 방수부품의 체적저항 호환성 확립을 위한 시험방법

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 광전자재료 반도체 조명

EN 62047-18:2013 반도체 장치 미세 전자기계 장치 18부: 박막 재료의 굽힘 시험 방법
EN 62047-21:2014 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 21부: 박막 MEMS 재료에 대한 푸아송 비 테스트 방법
EN 62047-6:2010 반도체 장치 및 미세 전자기계 장치 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법
EN 62047-14:2012 반도체소자 및 미세전자기계소자 14부: 금속박막재료의 형성한계 측정방법
EN 62047-10:2011 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 10부: 미세 전자 기계 시스템(MEMS) 재료의 미세 기둥 압축 테스트
EN 62047-2:2006 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법 IEC 62047-2:2006

Insulated Cable Engineers Association （ICEA), 광전자재료 반도체 조명

ICEA T-32-645-2012 방수 부품 및 압출 반도체 차폐 재료의 체적 저항 호환성을 결정하는 테스트 방법

Standard Association of Australia （SAA）, 광전자재료 반도체 조명

AS/NZS 1660.2.3:1998 케이블, 피복 및 도체에 대한 테스트 방법 절연, 압출형 반도체 차폐 및 비금속 인클로저에 대한 특정 방법 PVC 및 할로겐 열가소성 재료
AS/NZS 1660.2.2:1998 케이블, 피복 및 도체에 대한 테스트 방법 절연체, 압출형 반도체 차폐 및 비금속 인클로저에 대한 특정 방법 엘라스토머, XLPE 및 XLPVC 재료

Lithuanian Standards Office , 광전자재료 반도체 조명

LST EN 62047-10-2011 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 파트 10: MEMS 재료의 미세기둥 압축 테스트(IEC 62047-10:2011)
LST EN 62047-2-2007 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 2부: 박막 재료의 인장 시험 방법(IEC 62047-2:2006)
LST EN 62047-6-2010 반도체 장치 미세 전자기계 장치 6부: 박막 재료의 축방향 피로 테스트 방법(IEC 62047-6:2009)