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광자 광자 파장

모두 500항목의 광자 광자 파장와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 광자 광자 파장와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광섬유 통신, 광학 및 광학 측정, 의료 장비, 광학 장비, 전등 및 관련 기기, 분석 화학, 밥을 먹이다, 기르다, 통신특수측정장비, 기술 도면, 광전자공학, 레이저 장비, 연료, 플라스틱, 금속 재료 테스트, 농업 및 임업, 어휘, 쓰레기, 통신 시스템, 설탕, 설탕제품, 전분, 비금속 광물, 금속 광석, 비철금속, 석유제품 종합, 범죄 예방, 유리, 입자 크기 분석, 스크리닝, 지상 서비스 및 수리 장비, 그래픽 기호, 문자 기호, 실험실 의학, 수질, 사진 기술, 종합 전자 부품, 검은 금속, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 인체 건강 장비, 변압기, 리액터, 인덕터, 태양광 공학, 섬유제품, 원자력공학, 항공기 및 우주선 통합, 화학 제품, 페인트 성분.

British Standards Institution (BSI), 광자 광자 파장

• BS EN 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 일반 통신 하위 시스템 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• BS EN IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• BS EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 기준 파장
• PD ISO/TR 16743:2013 광학 시스템 및 광학 부품 특성화를 위한 광학 및 포토닉스 Wavefront 센서
• BS EN ISO 14880-2:2006 광학 및 포토닉스. 마이크로렌즈 어레이. 파면 수차 테스트 방법
• BS ISO 14594:2003 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
• BS ISO 14594:2014 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
• 20/30421199 DC BS EN IEC 61280-1-3 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 1-3부 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• BS EN 62129-1:2016 파장 교정/광 주파수 측정 장비, 스펙트럼 분석기
• BS EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• BS ISO 10110-14:2008 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 장치 도면 준비 파면 변형 허용 오차
• BS ISO 10110-14:2018 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 준비 도면 파면 변형 변화
• BS EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 파동 수차 테스트 방법
• BS ISO 20473:2007 광학 및 포토닉스.스펙트럼 밴드
• BS EN 61280-2-2:2005 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차디지털 시스템광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• BS PD ISO/TR 20811:2017 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 유도 분자 오염 테스트
• PD ISO/TR 20811:2017 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비의 레이저 유도 분자 오염 테스트
• BS EN ISO 14880-3:2006 광학 및 포토닉스 현미경 시리즈 파면 수차와 다른 광학 특성에 대한 테스트 방법
• BS EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정기 교정 Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• BS ISO 9211-2:2010 광학 및 포토닉스 광학 코팅 광학 특성
• BS EN ISO 15902:2005 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• BS ISO 9211-1:2010 광학 및 포토닉스 광학 코팅 정의
• BS EN ISO 15902:2020 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집
• BS ISO 9211-1:2018 광학 및 포토닉스 광학 코팅 용어집
• BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
• BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
• BS EN 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차, 디지털 시스템, 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• BS EN IEC 61280-4-3:2022 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 프로그램 설치된 수동 광 네트워크 감쇠 및 광 반사 손실 측정
• 23/30425940 DC BS ISO 14594 마이크로빔 분석, 전자 프로브 마이크로 분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드
• BS PD IEC/TS 62129-3:2014 파장/광주파수 측정기의 교정, 광주파수 빗을 이용한 광주파수 측정기
• BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
• PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
• BS ISO 12123:2018 광학 및 포토닉스 광학 유리 원시 시트 사양
• BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
• BS ISO 9211-3:2008 광학 및 포토닉스 광학 코팅 환경 내구성
• 20/30377825 DC BS ISO 23364 광학 및 포토닉스용 벌크 흡수 필터
• BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
• BS EN 61280-2-9:2003 광섬유 통신 하위 시스템의 기본 테스트 절차 디지털 시스템의 테스트 절차 고밀도 파장 분할 다중화 시스템의 광 신호 대 잡음비 측정
• BS EN 61280-2-9:2002 광섬유 통신 하위 시스템의 기본 테스트 절차 디지털 시스템의 테스트 절차 고밀도 파장 분할 다중화 시스템의 광 신호 대 잡음비 측정
• BS EN 61280-2-2:2008 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광 계수 측정
• BS ISO 25297-1:2012 광학 및 전자 광학 데이터의 전자 교환 NODIF 정보 모델
• BS EN 60793-1-44:2002 광섬유 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• BS EN IEC 60793-1-44:2023 광섬유 측정 방법 및 테스트 절차 컷오프 파장
• BS EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• PD CEN/TR 10377:2023 파장 분산형 X선 형광 분광법을 위한 표준 루틴 방법 준비 가이드
• BS EN 62788-1-4:2016 태양광 모듈에 사용되는 재료의 측정 절차 봉지 재료 빛 투과율 측정 및 태양광 가중 광자 투과율, 황변 지수 및 UV 차단 파장 계산
• 23/30464250 DC BS EN ISO 14880-2 광학 및 포토닉스용 마이크로렌즈 어레이 파트 2: 파면 수차 테스트 방법
• BS EN ISO 14880-1:2019 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 용어집
• BS ISO 8036:2006 광학 및 포토닉스 현미경 광학 현미경용 침지액
• BS EN 13506:2002 수질 원자형광분광광도법을 이용한 수은 측정
• BS EN 13506:2002*BS 6068-2.74:2002 수질 원자형광분광광도법을 이용한 수은 측정
• BS EN 62788-1-4:2016+A1:2020 태양광 모듈에 사용되는 재료의 측정 절차 봉지재의 광투과도 측정 및 태양광 가중 광자 투과도, 황색도 지수 및 UV 차단 파장 계산
• BS ISO 21501-3:2007 입자 크기 분포 측정 단일 입자 광학 간섭 방법 소멸 액체 매개 입자 계수기
• BS EN ISO 11145:2016 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 어휘 및 표기법
• BS EN ISO 11145:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 어휘 및 표기법
• BS EN ISO 11145:2018 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비 용어 및 기호
• BS EN 61202-1:2000 광섬유 절연체 일반 사양

Professional Standard - Machinery, 광자 광자 파장

• JB/T 9305-1999 광 오실로스코프 진동기
• JB/T 6780-1993 원자 흡수 분광 광도계
• JB/T 5188-1991 전자 플래시 장치 노출 자동 제어
• JB/T 6841-1993 전자광학 기기 용어
• JB/T 5480-1991 전자현미경용 격막

RU-GOST R, 광자 광자 파장

• GOST R 50314-1992 광학 기준 파장
• GOST R ISO 7944-2013 광학 및 광학 기기 기준 파장
• GOST R 59739-2021 광학 및 포토닉스 광학 코팅 분류
• GOST R 53203-2008 석유 제품 - 파장 산란 X선 형광 분광법을 통한 황 측정
• GOST ISO 14596-2016 석유 제품 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• JJG(邮电) 045-1999 광파장/주파수 측정기
• JJG 963-2022 통신용 광파장 측정기
• JJG 963-2202 통신용 광파장 측정기
• JJG 810-1993 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차
• JJG 963-2001 통신에 사용되는 광파장 측정기의 교정 절차
• JJG 694-1990 원자 흡수 분광 광도계
• JJG 939-2009 원자 형광 광도계의 교정 절차
• JJG(地质) 1003-1990 원자 형광 광도계의 교정 절차
• JJG 694-2009 원자 흡수 분광 광도계의 교정 절차
• JJG(地质) 1001-1990 원자 흡수 분광 광도계의 교정 절차
• JJG(航空) 043-1989 원자 흡수 분광 광도계의 교정 절차

Danish Standards Foundation, 광자 광자 파장

• DS/EN 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 범용 통신 하위 시스템 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• DS/EN ISO 7944:1999 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• DS/EN IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 "1-3부: 일반 통신 하위 시스템" 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• DS/EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• DS/EN ISO 15902:2005 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집
• DS/EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 2부: 파면 수차 테스트 방법
• DS/EN 61280-2-2:2013 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• DS/EN ISO 14880-3:2006 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 3부: 파면 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법
• DS/EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• DS/EN ISO 11145:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 어휘 및 기호
• DS/EN ISO 17852:2008 원자형광분광법을 이용한 수질 내 수은 측정
• DS/EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• DS/EN 62788-1-4:2020 태양광 모듈에 사용되는 재료의 측정 절차 "1-4부: 봉지재" 광투과율 측정 및 태양광 가중 광자 투과율, 황색도 지수 및 UV 차단 파장 계산
• DS/EN ISO 13695:2004 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비의 레이저 스펙트럼 특성 테스트 방법

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 광자 광자 파장

• EN 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 범용 통신 하위 시스템 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• EN IEC 63013:2019/A2:2024 LED 패키지 - 장기 발광, 복사 및 광자속 유지 투영
• EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치 일반 사양 IEC 62099:2001
• EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
• EN 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• EN IEC 61280-4-3:2022 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 4-3부: 설치된 수동 광 네트워크 감쇠 및 광 반사 손실 측정

ES-UNE, 광자 광자 파장

• UNE-EN 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 범용 통신 하위 시스템 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• UNE-EN IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• UNE-EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• UNE-EN ISO 15902:2020 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집
• UNE-EN 61280-2-2:2012/AC:2015 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• UNE-EN 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• UNE-EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
• UNE-EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• UNE-EN ISO 11145:2018 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비 용어 및 기호
• UNE-EN IEC 61280-4-3:2022 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 4-3부: 설치된 수동 광 네트워크 감쇠 및 광 반사 손실 측정

Association Francaise de Normalisation, 광자 광자 파장

• NF S10-020*NF EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• NF EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 - 기준 파장
• NF C93-807-1-3*NF EN IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• NF C93-807-1-3*NF EN 61280-1-3:2013 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• NF EN IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 파트 1-3: 범용 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 스펙트럼 특성에 대한 보충 측정
• NF X21-002:2007 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내입니다.
• NF EN 61280-2-10:2006 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 파트 2-10: 디지털 시스템에서 레이저 송신기의 시간 분해 파장 변동 및 알파 인자 측정
• NF C93-807-2-10*NF EN 61280-2-10:2006 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-10부: 디지털 시스템 시간 분해 레이저 파장 변화 및 레이저 송신기의 알파 인자 측정
• NF T01-032:1976 분자 흡수 분광 광도법 광학 튜브
• NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
• NF C93-918*NF EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• NF EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치 – 일반 사양
• NF S11-700*NF ISO 20473:2007 광학 및 포토닉스.스펙트럼 밴드
• NF ISO 20473:2007 광학 및 포토닉스 - 스펙트럼 대역
• NF X21-013*NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 파장 분산 분광법을 이용한 원소 매핑 분석 방법
• NF EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 2부: 파면 수차 테스트 방법
• NF S10-133*NF EN ISO 15902:2020 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집
• NF EN ISO 15902:2020 광학 및 포토닉스 - 회절 광학 - 어휘
• NF S10-008-14*NF ISO 10110-14:2018 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
• NF ISO 10110-14:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 - 14부: 파면 왜곡 허용 오차
• NF S10-008-14:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
• NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
• NF ISO 12123:2019 광학 및 포토닉스. 광학 유리 원료 사양
• NF C93-807-2-9*NF EN 61280-2-9:2009 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-9부: 디지털 시스템 조밀한 파장 분할 다중화 시스템의 광 신호 대 잡음비 측정
• NF C93-846-2*NF EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비의 교정 파트 2: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기.
• NF S10-132-3*NF EN ISO 14880-3:2006 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 3부: 파동 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법.
• NF C93-807-2-2*NF EN 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• NF EN ISO 14880-3:2006 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 3부: 파면 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법
• NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
• NF ISO 9211-2:2010 광학 및 포토닉스 - 광학 코팅 - 2부: 광학 특성
• NF X11-672:1996 입자 크기 분석 상관 광학 양자 분광법
• NF EN ISO 17852:2008 수질 수은 투여량 원자 형광 분광법
• NF S10-005-1*NF ISO 9211-1:2018 광학 및 포토닉스 광학 코팅 1부: 용어집
• NF ISO 9211-1:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 처리 - 1부: 어휘
• NF EN ISO 11145:2018 광학 및 광자 레이저 및 레이저 장비 협회 어휘 및 기호
• NF M07-080*NF EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• XP A06-379*XP CR 10299:1999 파장 분산형 X선 형광 분광법을 위한 표준 루틴 방법 준비 가이드
• NF M07-080:1998 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• NF EN ISO 14597:1999 석유 제품 - 바나듐 및 니켈 함량 - 파장 분산형 X선 형광 분광법.
• NF EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• NF C93-807-2-2:2005 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램 파형 및 소광비 측정
• NF EN 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 파트 2-2: 디지털 시스템의 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• T01-040:1982 분석 분광 방법 화염 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 용어집
• NF S10-105:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 어휘 및 표기법
• NF S10-105:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 어휘 및 표기법
• NF S10-008-8:2010 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템을 위한 도면 준비 8부: 표면 질감 거칠기와 물결 모양
• NF C93-807-2-2:2008 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 포토아이 패턴, 파형 및 소멸 계수 측정
• NF EN IEC 61280-4-3:2022 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 파트 4-3: 수동 광 네트워크의 설치 손실 및 광 반사 손실 측정

International Organization for Standardization (ISO), 광자 광자 파장

• ISO/CD 7944 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• ISO 7944:1984 광학 및 광학 기기 기준 파장
• ISO/DIS 7944:2023 광학 및 광학 기기 - 기준 파장
• ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
• ISO 14594:2003 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
• ISO 14594:2014 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
• ISO/TR 16743:2013 광학 및 포토닉스 파면 센서를 사용한 광학 시스템 및 광학 부품의 특성화
• ISO 9211-1:2024 광학 및 포토닉스
• ISO 9211-3:2024 광학 및 포토닉스
• ISO 9211-2:2024 광학 및 포토닉스
• ISO/FDIS 6760-1:2024 광학 및 포토닉스
• ISO/CD 19741:2023 광학 및 포토닉스
• ISO/PRF 10109:2024 광학 및 포토닉스
• ISO 20473:2007 광학 및 포토닉스.스펙트럼 밴드
• ISO 9022-11:2015 광학 및 포토닉스 환경 테스트 방법 11부: 곰팡이 성장
• ISO 14594:2003/Cor 1:2009 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분산 분광학에 의한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드 기술 정오표 1
• ISO/DIS 14594 마이크로빔 분석 "전자 프로브 미세분석" 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
• ISO 21094:2008 광학 및 포토닉스 포토닉스 시스템 야간 투시 장치 사양
• ISO/TR 20811:2017 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저로 인한 분자 오염 테스트
• ISO 7944:1998/Cor 1:2009 광학 및 광학 기기 기준 파장 기술 정오표 1
• ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
• ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
• ISO 15902:2004 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• ISO 15902:2019 광학 및 포토닉스 - 회절 광학 - 어휘
• ISO 23364:2021 광학 및 포토닉스 부피 흡수 필터
• ISO 14880-2:2006 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 2부: 파동 수차 테스트 방법
• ISO/DIS 14880-2 광학 및 포토닉스 "마이크로렌즈 어레이" 2부: 파면 수차 테스트 방법
• ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
• ISO 10110-14:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
• ISO 10110-14:2018 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
• ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
• ISO 13321:1996 입자 크기 분석 상관 광자 분광학
• ISO 12123:2018 광학 및 포토닉스 - 원래 광학 안경의 사양
• ISO 9211-2:2010 광학 및 광전자공학 광학 코팅 2부: 광학적 특성
• ISO 11145:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• ISO 11145:2016 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• ISO/DIS 9211-2 광학 및 포토닉스 "광학 코팅" 2부: 광학적 특성
• ISO 14880-3:2006 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 3부: 파동 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법
• ISO/DIS 14880-3 광학 및 포토닉스 "마이크로렌즈 배열" 3부: 파면 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법
• ISO 17852:2006 수질, 수은 측정, 원자 형광 분광법
• ISO 8036:2006 광학 및 포토닉스 현미경 광학 현미경 침지액
• ISO/DIS 9211-1 광학 및 포토닉스 "광학 코팅" 1부: 어휘
• ISO 14596:2007 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• ISO 14596:1998 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• ISO 21475:2019 플라스틱.분광적으로 분산된 방사선을 사용하여 파장 의존적 열화를 결정하는 노출 방법
• ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
• ISO 11145:2018 광학 및 포토닉스 - 레이저 및 레이저 관련 장비 - 어휘 및 표기법
• ISO 12123:2010 광학 및 전자 제품 - 생물학적 광학 안경 사양
• ISO 15902:2004/cor 1:2005 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집 기술 정오표 1

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 광자 광자 파장

• GB/T 10050-2009 광학 및 광학 기기 기준 파장
• GB/T 12085.11-2022 광학 및 포토닉스에 대한 환경 테스트 방법 11부: 곰팡이 성장
• GB/T 21191-2007 원자형광분광계
• GB/T 29230.1-2012 플라스틱 광섬유 시스템용 광-전기-광 양방향 파장 변환기 1부: 100M 이더넷 650nm 및 1550nm/1310nm/850nm 파장 변환기
• GB/T 23870-2009 프로폴리스의 납 측정.전자레인지 소화-흑연로 원자흡광광도법
• GB/T 21187-2007 원자 흡수 분광 광도계
• GB/T 41869.2-2022 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 2부: 파면 수차 테스트 방법
• GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
• GB/T 19627-2005 입자 크기 분석 광자 상관 분광법
• GB/T 26332.2-2015 광학 및 포토닉스 광학 필름 2부: 광학 특성
• GB/T 4470-1998 화염 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 분광법 용어
• GB/T 29783-2013 원자형광분광법을 이용한 전자 및 전기 제품의 6가 크롬 측정
• GB/T 11140-2008 석유 제품의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• GB/T 17593-1998 섬유 중금속 이온 검출법 원자흡광광도법
• GB/T 32266-2015 원자형광분광기 성능 측정 방법
• GB/T 9771.2-2008 통신용 단일모드 광섬유 2부: 차단파장편이 단일모드 광섬유 특성
• GB/T 15489.3-1995 필터 유리 시험 방법 차단 파장 온도 계수
• GB/T 11446.5-1997 전자등급수 내 미량금속에 대한 원자흡광광도계 시험방법
• GB/T 11446.5-2013 전자등급수 내 미량금속에 대한 원자흡광광도계 시험방법
• GB/T 9771.6-2008 통신용 단일모드 광섬유 6부: 넓은 파장 범위에 걸친 광전송을 위한 비제로 분산 단일모드 광섬유의 특성
• GB/T 26332.8-2022 광학 및 포토닉스 광학 필름 8부: 레이저 광학 필름의 기본 요구 사항

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 광자 광자 파장

• KS B ISO 7944:2011 광학 및 광학 기기 기준 파장
• KS B ISO 7944-2011(2021) 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• KS B ISO 7944-2011(2016) 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• KS C IEC 61280-1-3-2003(2018) 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 기본 테스트 절차 - 파트 1-3: 테스트 절차 일반 통신 하위 시스템 - 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• KS D ISO 14594:2012 미세전자빔 분석 전자 검출 미세분석 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내.
• KS D ISO 14594:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
• KS B ISO 21094:2011 광학 및 포토닉스 포토닉스 시스템 야간 투시 장치 사양
• KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
• KS B ISO 15902:2013 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• KS B ISO 15902:2008 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• KS B ISO 15902:2018 광학 및 포토닉스 - 회절 광학 - 어휘
• KS B ISO 10110-14-2010(2020) 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
• KS B ISO 14880-2:2013 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 2부: 파동 수차 테스트 방법
• KS B ISO 14880-2:2008 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 2부: 파동 수차 테스트 방법
• KS B ISO 14880-2:2018 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 2부: 파면 수차 테스트 방법
• KS M ISO 6955:2011 분광학 불꽃 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 방법 어휘
• KS M ISO 14596:2009 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• KS B ISO 11145:2001 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• KS B ISO 11145:2015 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• KS C IEC 61280-2-2:2022 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• KS I ISO 17852:2011 수질, 수은 측정, 원자 형광 분광법
• KS C 7619-1979(2017) 거울 측광 프로젝터 스포트라이트
• KS M ISO 6955-2016(2021) 분석 분광학 불꽃 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 어휘
• KS M ISO 6955:2016 분석 분광학 불꽃 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 어휘
• KS B 8400-1-2010 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 변위 측정 간섭계의 테스트 방법 1부: 안정적인 연속파 레이저 파장의 테스트 방법
• KS B 8400-1-2015 레이저 및 레이저 관련 장비 레이저 변위 측정 간섭계의 테스트 방법 1부: 안정적인 연속파 레이저 파장의 테스트 방법
• KS C 7631-1998(2020) 형광등 전자 스타터
• KS M ISO 14596-2009(2019) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• KS I ISO 17852-2011(2021) 수질, 수은 측정, 원자 형광 분광법
• KS C IEC 61280-2-2-2007(2017) 광섬유 통신 하위 시스템의 기본 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템의 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• KS C 7631-1998 형광등 전자 스타터

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 광자 광자 파장

• JIS B 7090:1999 광학 및 광학 기기 기준 파장
• JIS C 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
• JIS C 6187-2:2014 광학 파장 측정기 2부: 교정
• JIS C 6187:1999 광파장 측정기의 테스트 방법
• JIS C 61280-2-9:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 밀도가 높은 파장으로 차별화된 다층 시스템에 대한 광 신호 대 잡음비 측정
• JIS B 7079:2015 광학 및 포토닉스 스펙트럼 밴드
• JIS C 61280-1-3:2017 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 파트 1-3: 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• JIS C 6187-1:2016 광학 파장 측정기 1부: 테스트 방법
• JIS C 61280-2-2:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• JIS C 61280-2-2:2017 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.
• JIS K 0116:1995 원자 방출 분광 광도법의 일반 규칙
• JIS B 7080-2:2015 광학 및 포토닉스 광학 코팅 2부: 광학 특성
• JIS G 1258:1999 강철 유도결합플라즈마를 이용한 원자발광분광법
• JIS B 7080-1:2015 광학 및 포토닉스 광학 코팅 1부: 정의

German Institute for Standardization, 광자 광자 파장

• DIN EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 기준 파장
• DIN EN ISO 7944:1998-07 광학 및 광학 기기 - 기준 파장(ISO 7944:1998)
• DIN EN 62099:2002-03 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• DIN 51401:2016 원자 흡수 분광법(AAS) 및 원자 형광 분광법(AFS).
• DIN 51401 Beiblatt 1:2017-07 원자 흡수 분광법(AAS) 및 원자 형광 분광법(AFS) 용어
• DIN 51401:2016-11 원자 흡수 분광법(AAS) 및 원자 형광 분광법(AFS) 용어
• DIN EN 62099:2002 광섬유 파장 스위치 일반 사양(IEC 62099:2001)
• DIN EN ISO 14880-2:2007-03 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 2부: 파면 수차 테스트 방법
• DIN EN ISO 15902:2005 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• DIN ISO 23364:2022-11 광학 및 포토닉스 부피 흡수 필터
• DIN EN ISO 15902:2020-05 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집
• DIN ISO 10110-14:2019-09 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
• DIN ISO 9022-11:2016 광학 및 포토닉스 환경 테스트 방법 11부: 곰팡이 성장(ISO 9022-11-2015)
• DIN EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 현미경 대물렌즈 배열 파트 2: 파면 수차 테스트 방법
• DIN ISO 12123:2020-12 광학 및 포토닉스용 광학유리 원료 규격
• DIN ISO 13321:2004 입자 크기 분석 상관 광자 분광법
• DIN EN 61280-2-2:2009 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• DIN EN ISO 14880-3:2006-08 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 3부: 파면 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법
• DIN EN ISO 15902:2020 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집(ISO 15902:2019)
• DIN ISO 9211-2:2012-11 광학 및 포토닉스 광학 코팅 2부: 광학 특성
• DIN 51401 Bb.1:2017 원자 흡수 분광법(AAS) 및 원자 형광 분광법(AFS) 용어집 보충 자료 1: 지침
• DIN ISO 10110-14:2019 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형에 대한 허용 오차(ISO 10110-14:2018)
• DIN ISO 9211-1:2012 광학 및 포토닉스 광학 코팅 1부: 정의
• DIN ISO 9211-1:2020-07 광학 및 포토닉스 광학 코팅 1부: 용어집
• DIN EN ISO 14596:2007 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• DIN EN ISO 14596:2007-12 석유 제품 - 황 함량 측정 - 파장 분산형 X선 형광 분광법
• DIN EN ISO 14880-2:2023-05 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 2부: 파면 수차 테스트 방법(ISO/DIS 14880-2:2023)
• DIN 51009:2013-11 광학 원자 분광학의 원리와 정의
• DIN EN 62129-2:2012-03 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• DIN EN ISO 11145:2019-06 광학 및 포토닉스 레이저와 레이저 관련 장비 용어 및 기호

未注明发布机构, 광자 광자 파장

• BS EN ISO 7944:1998(1999) 광학 및 광학 기기 - 기준 파장
• DIN ISO 9022-11 E:2015-03 광학 및 포토닉스 - 환경 테스트 방법 - 파트 11: 곰팡이 성장
• DIN 51401 E:2015-10 원자 흡수 분광법(AAS) 및 원자 형광 분광법(AFS) - 어휘
• DIN 51401 Beiblatt 1 E:2017-02 원자 흡수 분광법(AAS) 및 원자 형광 분광법(AFS) - 어휘; 보충 1: 설명
• DIN ISO 23364 E:2022-05 광학 및 포토닉스 - 벌크 흡수 광학 필터
• DIN ISO 10110-14 E:2017-04 광학 및 포토닉스 - 광학 요소 및 시스템에 대한 도면 준비 - 파트 14: 파면 변형 허용 오차
• DIN EN ISO 15902 E:2019-10 Optics and Photonics Diffractive Optics Glossary (Draft)
• BS EN 61280-2-2:2012(2015) 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 - 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• DIN ISO 12123 E:2020-03 광학 및 포토닉스 - 원시 광학 유리 사양
• DIN ISO 9211-1 E:2019-09 광학 및 포토닉스 - 광학 코팅 - 1부: 어휘
• DIN 51009 E:2012-07 광학 원자 스펙트럼 분석 - 원리 및 정의

International Electrotechnical Commission (IEC), 광자 광자 파장

• IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• IEC 61280-1-3:2021 RLV 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정
• IEC 63013:2017+AMD1:2021+AMD2:2023 CSV LED 패키지 장기 발광, 방사선 및 광자속 유지 관리
• IEC 63013:2017/AMD2:2023 수정안 2 LED 패키지 장기 발광, 방사선 및 광자속 유지 관리
• IEC 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• IEC 61280-1-3:1998 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 기본 테스트 절차 파트 1-3: 일반 통신 하위 시스템 테스트 절차 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• IEC 61280-2-9:2002 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 파트 2-9: 조밀한 파장 식별 다층 시스템의 광 신호 대 잡음비 측정을 위한 디지털 시스템
• IEC 61280-2-9:2009 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 파트 2-9: 디지털 시스템 밀도가 높은 파장 식별 다층 시스템의 광 신호 대 잡음비 측정
• IEC 61280-2-2:2008 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• IEC 61280-2-2:2005 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• IEC 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정

IX-IX-IEC, 광자 광자 파장

• IEC 63013:2017/AMD1:2021/AMD2:2023 CSV LED 패키지 장기 발광, 방사선 및 광자속 유지 관리

American Society for Testing and Materials (ASTM), 광자 광자 파장

• ASTM E388-04(2009) 형광 분광계의 파장 정밀도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 테스트 방법
• ASTM E388-72(1998) 형광 분광계의 스펙트럼 대역폭 및 파장 정확도를 결정하기 위한 표준 방법
• ASTM E388-04(2023) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E388-04 스펙트럼 대역폭 형광 분광계의 파장 정밀도에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E388-04(2015) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E1621-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM G178-16 장대 통과 필터 또는 분광 기술을 사용하여 물질 활성화 스펙트럼(노출 소스 파장에 대한 감도)을 결정하기 위한 표준 관행
• ASTM E1172-87(2003) 파장 확산 X선 분광계에 대한 설명 및 사양

Group Standards of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• T/CEMIA 013-2018 단파장 파장 분할 다중화 다중 모드 광섬유
• T/NAIA 091-2021 마이크로파 소화-원자 형광 분광법을 통한 경유 내 수은 측정
• T/CSTM 00197-2021 분자형광분광법을 이용한 그래핀 양자점의 청색광 방출 상대형광양자수율 측정
• T/NAIA 0223-2023 마이크로웨이브 소화-원자 형광 광도측정법을 통한 산업용 유황의 수은 함량 측정
• T/ZNZ 183-2023 감자 아밀로스 및 아밀로펙틴 이중 파장 분광 광도법 측정
• T/ZZB 042-2015 파장 범위가 확장된 비분산 이동 단일 모드 광섬유
• T/CVIA 86-2021 레이저 디스플레이용 파장 변환 장치의 기술 사양
• T/CHEAA 0020-2021 가정용 광자 미용 기기
• T/CASAS 026-2023 탄화규소의 소수 캐리어 수명을 측정하기 위한 마이크로파 광전도 감쇠 방법
• T/QAS 062-2021 원자 형광 분광법을 이용한 염수 내 셀레늄 측정
• T/QAS 061-2021 원자 형광 분광법을 이용한 염수 내 수은 측정
• T/CSBM 0012-2021 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 생체의학 재료의 원소 측정
• T/ZZB 1373-2019 7N 광전자 등급 초순수 암모니아

AT-OVE/ON, 광자 광자 파장

• OVE EN IEC 61280-1-3:2021 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장, 스펙트럼 폭 및 추가 스펙트럼 특성 측정(IEC 86C/1701/CDV)

Professional Standard - Agriculture, 광자 광자 파장

• NY/T 1945-2010 사료 마이크로파 소화-원자 형광 분광법에서 셀레늄 측정
• JJG(教委) 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차
• 199药典 三部-2020 분광광도계 0406 원자흡광광도계
• 70药典 四部-2015 0406 원자흡광광도법
• 50药典 四部-2020 0406 원자흡광광도법
• 180药典 三部-2015 분광광도학 0406 원자흡광광도학의 일반원리 21
• 154药典 三部-2010 부록 II 분광광도법 IIB 원자흡광광도법
• 1761药典 一部-2010 부록 VD 원자흡광광도법
• 2299药典 二部-2010 부록 IV D 원자흡광광도법

GOSTR, 광자 광자 파장

• GOST R 58568-2019 광학 및 포토닉스 포토닉스 용어 및 정의
• GOST R 58566-2019 광학 및 포토닉스 광학 및 전자 시스템을 위한 렌즈 테스트 방법
• GOST R 59088-2020 광학 및 포토닉스 광섬유 센서 분류
• GOST R 58565-2019 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어 및 정의
• GOST R 58373-2019 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 관련 장비 용어 및 정의

Lithuanian Standards Office , 광자 광자 파장

• LST EN ISO 7944:2000 광학 및 광학 기기용 기준 파장(ISO 7944:1998)
• LST EN 61280-1-3-2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정(IEC 61280-1-3:2010)
• LST EN ISO 7944:2000/AC:2009 광학 및 광학 기기용 기준 파장(ISO 7944:1998/Cor 1:2009)
• LST EN 62099-2002 광섬유 파장 스위치에 대한 일반 사양(IEC 62099:2001)
• LST EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 파트 2: 파면 수차 테스트 방법(ISO 14880-2:2006)

AENOR, 광자 광자 파장

• UNE-EN ISO 7944:1999 광학 및 광학 기기용 기준 파장(ISO 7944:1998)
• UNE-EN ISO 15902:2007 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집(ISO 15902:2004)
• UNE-EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 파트 2: 파면 수차 테스트 방법(ISO 14880-2:2006)

European Committee for Standardization (CEN), 광자 광자 파장

• EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 기준 파장 ISO 7944-1998
• EN ISO 7944:1998/AC:2009 광학 및 광학 기기 수정 AC를 포함한 기준 파장, 2009
• EN ISO 15902:2020 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• EN ISO 14880-2:2006 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 2부: 파동 수차 테스트 방법
• EN ISO 11145:1994 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• EN ISO 11145:2001 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• EN ISO 11145:2008 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• EN ISO 14596:2007 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• CEN/TR 10377:2023 파장 분산형 X선 형광 분광법을 위한 표준 루틴 방법 준비 가이드
• EN 61280-2-2:2005 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• prEN ISO 14880-2 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 파트 2: 파면 수차 테스트 방법(ISO/DIS 14880:2023)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 광자 광자 파장

• EN 61280-1-3:1999 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 기본 테스트 절차 1-3부: 일반 통신 하위 시스템의 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정을 위한 테스트 절차
• EN 61280-2-2:2008 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• EN 61280-2-2:1999 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기

Professional Standard - Education, 광자 광자 파장

• JY/T 0569-2020 파장 분산형 X선 형광 분광법의 일반 원리
• JY/T 0566-2020 원자 형광 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
• JY/T 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광법에 대한 일반 규칙

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• DB44/T 1934-2016 마이크로파 플라즈마 방출 분광법 방법의 일반 원리

Professional Standard - Commodity Inspection, 광자 광자 파장

• SN/T 2638.5-2013 마이크로파 분해-원자 형광 분광법을 이용한 망간 광석의 비소 및 수은 원소 측정
• SN/T 3004-2011 철광석의 수은 함량 측정. 마이크로파 분해 저온 원자 흡수 분광 광도법
• SN/T 2765.3-2013 마이크로웨이브 소화-원자 형광 분광법을 사용하여 철광석 내 비소 및 수은 함량을 동시에 측정
• SN/T 2780-2011 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 알루미나의 납, 카드뮴 및 크롬 측정
• SN/T 2004.1-2005 전기 및 전자 제품의 수은 측정 1부: 원자 형광 분광법

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• CNS 8445-1982 장석 중의 산화나트륨 정량법(원자흡광분석법)
• CNS 8448-1982 장석 중의 산화칼륨 정량법(원자흡광분석법)
• CNS 13806-1997 발광 다이오드 칩의 발광 파장 및 휘도 측정 방법
• CNS 14896-14-2005 티타늄 원자 발광 분광법
• CNS 12416-2006 원자발광분광학 분석의 일반 원리
• CNS 14896.14-2005 티타늄 원자 발광 분광법
• CNS 14862-2004 휘발유 황 함량 시험 방법(파장 분포 X선 형광 분광법)

Professional Standard - Military and Civilian Products, 광자 광자 파장

• WJ 2278-1995 분광 광도계의 파장 교정에 사용되는 간섭 필터의 교정 절차

KR-KS, 광자 광자 파장

• KS C IEC 61280-1-3-2003(2023) 광통신 하위 시스템에 대한 기본 테스트 절차 - 파트 1-3: 일반 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 - 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정
• KS D ISO 14594-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산 분광학 실험 매개변수 결정 가이드
• KS D ISO 14594-2018(2023) 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 통한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드입니다.
• KS B ISO 15902-2018 광학 및 포토닉스 - 회절 광학 - 어휘
• KS B ISO 15902-2023 광학 및 포토닉스 회절 광학 용어집
• KS B ISO 14880-2-2018 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 2부: 파면 수차 테스트 방법
• KS B ISO 14880-2-2023 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 배열 2부: 파면 수차 테스트 방법
• KS B ISO 12123-2023 광학 및 포토닉스용 광학유리 원료 규격
• KS C IEC 61280-2-2-2022 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• KS M ISO 6955-2016 분석 분광학 불꽃 방출, 원자 흡수 및 원자 형광 어휘
• KS M ISO 14597-2003(2023) 석유제품 - 바나듐 및 니켈 함량 측정 - 파장분산형 X선 형광 분광법

IETF - Internet Engineering Task Force, 광자 광자 파장

• RFC 7446-2015 파장 전환 광 네트워크에 대한 라우팅 및 파장 할당 정보 모델
• RFC 7581-2015 파장 전환 광 네트워크에 대한 라우팅 및 파장 할당 정보 인코딩
• RFC 7689-2015 파장 전환 광 네트워크를 위한 신호 확장

Standard Association of Australia （SAA）, 광자 광자 파장

• AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정
• AS 4392.1:1996 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 티타늄 광석
• AS 2563:2019 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
• AS 4549.1:1999 입자 크기 분석. 광자 상관 분광학
• AS 4392.2:1997 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 석재
• AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
• AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
• AS 2879.7:1997(R2013) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 산화알루미늄의 미량 원소 측정

International Telecommunication Union (ITU), 광자 광자 파장

• ITU-T L.37-2007 광섬유(비파장 선택형) 분배기
• ITU-T L.403-2007 광학 분기 구성요소(파장 선택 불가능)
• ITU-T G.654-2006 차단파장변환 단일모드 광케이블 15그룹의 특성에 관한 연구
• ITU-T L.301-2000 신호를 전달하는 광섬유의 유지 파장
• ITU-T G.694.2 RUSSIAN-2003 WDM 애플리케이션을 위한 스펙트럼 그리드: CWDM 파장 그리드
• ITU-T G.9802 AMD 1-2015 다중 파장 수동 광 네트워크(MW-PON) 수정안 1
• ITU-T G.654 (REV 1)-1993 파장 1550mm에서 손실이 최소인 단일모드 광섬유 케이블의 특성 (연구 15개 그룹) 6pp

Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• DB21/T 3245-2020 태양열 온실에서 가지 장기 재배에 대한 기술 규정

HU-MSZT, 광자 광자 파장

• MNOSZ 2233-1951 빛나는 쐐기
• MNOSZ 10331-1952 구두약 브러쉬
• MSZ 9200/35-1980 전자 신호. 광원
• MSZ 1476-1957 매끄러운 숟가락을 던져라
• MSZ 2173-1957 조명 너트가 있는 클립
• MSZ 2174-1957 조명 너트가 있는 클립

工业和信息化部, 광자 광자 파장

• YD/T 3128-2016 통신용 파장 검출 기반 파이버 브래그 격자
• YD/T 4022-2022 100Gb/s 단일 파장 광 트랜시버 모듈
• YD/T 3598-2019 파장 교환 광 네트워크(WSON) 기술 요구 사항
• YD/T 4113-2022 파장 교환형 광 네트워크(WSON) 테스트 방법
• YD/T 3348-2018 컷오프 파장 이동 단일 모드 광섬유 특성
• YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법

Professional Standard - Electron, 광자 광자 파장

• SJ 20642.7-2000 반도체 광전자소자 GR1325J형 장파장 발광다이오드 어셈블리 상세사양
• SJ 2355.7-1983 반도체 발광 소자의 시험 방법, 발광 피크 파장 및 스펙트럼 반폭 시험 방법
• SJ/T 10632-1995 전자 세라믹 원료인 점토, 장석, 마그네사이트, 방해석, 백운석, 활석, 석영의 불순물에 대한 원자흡광광도법
• SJ/T 10632-2022 전자 세라믹 원료인 점토, 장석, 마그네사이트, 방해석, 백운석, 활석, 석영의 불순물에 대한 원자흡광광도법

ZA-SANS, 광자 광자 파장

• SANS 62099:2002 광섬유 파장 선택 스위치. 일반적인 크기
• SANS 61280-2-2:2009 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
• SANS 61280-2-2:2006 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차 2-2부: 디지털 시스템 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정

TIA - Telecommunications Industry Association, 광자 광자 파장

• EIA/TIA-455-170-1989 FOTP-170 단일모드 광섬유의 케이블 차단파장 (전송전력에 따름)

国家质量监督检验检疫总局, 광자 광자 파장

• SN/T 4658-2016 마이크로파 소화-원자 형광 분광법을 사용하여 형석의 비소 및 수은 함량을 동시에 측정

PL-PKN, 광자 광자 파장

• PN T04880-1972 전자관. 오실로스코프 튜브 및 전파 이미징 거울. 전기 및 광학 테스트 방법

CEN - European Committee for Standardization, 광자 광자 파장

• EN ISO 15902:2005 광학 및 포토닉스 회절 광학 어휘
• EN ISO 11145:2018 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법
• EN ISO 11145:2006 광학 및 포토닉스 레이저 및 레이저 장비 어휘 및 표기법

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• DB63/T 1872-2020 마이크로파 분해/원자형광법을 통한 목초지 내 수은 및 비소 측정

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• JJF 1206-1990 Kr 광파장 부참조 운용 기술 사양
• JJF 1695-2018 원자형광광도계 종류 평가개요

Professional Standard - Post and Telecommunication, 광자 광자 파장

• YD/T 824-1996 케이블형 광섬유의 차단파장 시험방법
• YD/T 5256-2023 파장 교환형 광 네트워크(WSON) 엔지니어링 기술 사양
• YD/T 592-1992 단일 모드 광섬유 파장 분산 테스트 방법 간섭계
• YD/T 504-1991 단파장 광시간 영역 반사계의 기술 조건

Indonesia Standards, 광자 광자 파장

• SNI 13-6180-1999 화염원자흡광광도계(원자흡광광도계) 프로그램 최적화

Professional Standard - Public Safety Standards, 광자 광자 파장

• GA/T 1995-2022 법의학 금속 검사 파장 분산형 X선 형광 분광법

United States Navy, 광자 광자 파장

• NAVY MIL-S-29594 NOTICE 1-1997 7파장 레이저 눈 보호 전단지 안경
• NAVY MIL-S-29594 (1)-1993 7파장 레이저 눈 보호 전단지 안경
• NAVY MIL-S-29594-1992 7파장 레이저 눈 보호 전단지 안경
• NAVY MIL-PRF-29580 C-1998 EDU-5/P 다파장 레이저 보호 파일럿 안경
• NAVY MIL-PRF-29610-1996 조종사용 다파장 레이저 보호 마스크 어셈블리

IT-UNI, 광자 광자 파장

• UNI 6535-1969 광택 있는 무색 크리스탈 거울 또는 밝은 incolagf 유리 거울

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• DB51/T 2181-2016 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 인 함량 측정

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 광자 광자 파장

• TIA-455-236-2004 FOTP-236 IEC 61280-2-9 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 디지털 시스템 파트 2-9: 조밀한 파장 다중화 시스템의 광 신호 대 잡음비 측정

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• DB15/T 1216-2017 마이크로웨이브 소화-원자 흡수 분광법을 통한 사료 내 납 및 카드뮴 측정

Professional Standard - Medicine, 광자 광자 파장

• YY 0599-2007 엑시머레이저 각막굴절치료기
• YY/T 1896-2023 분광 방사선 치료 장비의 파장 범위를 정의하는 방법

IN-BIS, 광자 광자 파장

• IS 9958-1981 원자흡광광도법을 이용한 아연 측정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 광자 광자 파장

• GB/T 26332.1-2018 광학 및 포토닉스 광학 필름 1부: 정의

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 광자 광자 파장

• ITU-T G.9802-2015 다중 파장 수동 광 네트워크(MW-PON)(연구 그룹 15)

化学工业部, 광자 광자 파장

• HG 2080-1991 양이온 형광 노란색 4GL

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 광자 광자 파장

• YS/T 483-2005 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법

Defense Logistics Agency, 광자 광자 파장

• DLA MIL-PRF-49291/1 B (2)-2013 광섬유, 광학, 유형 I, 클래스 I, 구성 요소 A, 크기 III, 파장 B, 방사선 강화(미터법)

Military Standards (MIL-STD), 광자 광자 파장

• DOD A-A-51118-1985 연마 쉴드 및 리벳 광학 기기 플라이어
• DOD A-A-51121-1985 광학 기기 플라이어 절편
• DOD A-A-51224-1985 니들 노즈 광학 기기 플라이어
• DOD A-A-51249 B-1988 엑스레이 필름 상자

Professional Standard - Water Conservancy, 광자 광자 파장

• SL 327.1-2005 수질 비소 측정 원자 형광 분광법
• SL 327.2-2005 수질, 수은 측정, 원자 형광 광도 측정
• SL 327.3-2005 수질 셀레늄 측정 원자 형광 분광법
• SL 327.4-2005 수질, 납 측정, 원자 형광 광도 측정

Professional Standard - Geology, 광자 광자 파장

• DZ/T 0183-1997 원자형광광도계의 일반 기술 조건

Professional Standard - Nuclear Industry, 광자 광자 파장

• EJ/T 805-1993 X선 형광 분석을 위한 저에너지 광자 소스

National Health Commission of the People's Republic of China, 광자 광자 파장

• GBZ/T 302-2018 원자 형광 분광법을 통한 소변 내 안티몬 측정

Professional Standard - Environmental Protection, 광자 광자 파장

• HJ 1211-2021 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 고형 폐기물 내 무기 원소 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 광자 광자 파장

• GB/T 9771.2-2020 통신용 단일모드 광섬유 2부: 컷오프 파장 이동 단일모드 광섬유 특성
• GB/T 9771.6-2020 통신용 단일모드 광섬유 6부: 넓은 파장 범위의 광전송을 위한 비제로 분산 단일모드 광섬유의 특성

IEC - International Electrotechnical Commission, 광자 광자 파장

• TS 62129-3-2014 파장/광주파수 측정기의 교정 제3부: 광주파수 빗을 이용한 광주파수 측정기(버전 1.0)

Professional Standard - Chemical Industry, 광자 광자 파장

• HG/T 2080-2001 양이온 형광 노란색 4GL 500%

기타:   광자, +++++ 광자, +++++ 광자 분광학, 광자 스펙트럼, 광자 상관관계, 광자 파장, 광자 이미징, 광자 형광, 광자 소스, 광자 시스템, 광자 속성, 광자 기술, 광자 스펙트럼, 나노광자, 광자 광자 파장, 단일 광자 및 두 광자, 2광자 파장 3광자 파장, 2광자 광자 파장, 광자와 광자 사이, 2광자 파장.