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스펙트럼 분석 분석 시스템

모두 500항목의 스펙트럼 분석 분석 시스템와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 스펙트럼 분석 분석 시스템와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 공기질, 비철금속, 분석 화학, 검은 금속, 광섬유 통신, 비금속 광물, 비철금속 제품, 분말 야금, 표준화의 일반 원칙, 종합 전자 부품, 정보학, 출판, 금속 재료 테스트, 기르다, 입자 크기 분석, 스크리닝, 원자력공학, 품질, 어휘, 강화 플라스틱, 비파괴 검사, 합금철, 금속 광석, 철강 제품, 목공 장비, 광전자공학, 레이저 장비, 건축 자재, 천연 가스, 내화물, 화학 제품, 통신특수측정장비, 석탄, 길이 및 각도 측정, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 건물 구성요소, 수질, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 보석류, 파이프 부품 및 파이프, 의료 장비, 페인트 성분, 연료, 표면 처리 및 도금, 섬유제품, 전선 및 케이블.


Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 스펙트럼 분석 분석 시스템

RO-ASRO, 스펙트럼 분석 분석 시스템

U.S. Air Force, 스펙트럼 분석 분석 시스템

Group Standards of the People's Republic of China, 스펙트럼 분석 분석 시스템

RU-GOST R, 스펙트럼 분석 분석 시스템

ZA-SANS, 스펙트럼 분석 분석 시스템

BR-ABNT, 스펙트럼 분석 분석 시스템

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 스펙트럼 분석 분석 시스템

European Committee for Standardization (CEN), 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • CEN EN 62129-2006 스펙트럼 분석기 교정
  • CEN EN 62129-2006_ 스펙트럼 분석기 교정
  • EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • PREN 14726-2003 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내
  • CEN EN 14726-2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 "화학 분석" 불꽃 방출 분광법 분석 가이드
  • EN 12019:1997 아연 및 아연 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
  • PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정

Association Francaise de Normalisation, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • NF C93-845:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • NF A06-001:1979 경금속의 스펙트럼 분석, 실험 결과의 데이터 처리, 통계 분석
  • NF A06-590:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광 분석 안내
  • NF X11-672:1996 입자 크기 분석 상관 광학 양자 분광법
  • NF A07-510X2:1975 비합금 알루미늄의 방출 스펙트럼 분석
  • NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
  • NF A06-840:1998 아연 및 아연 합금 광학 방출 분광 분석
  • NF A07-510:1971 비합금 알루미늄의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A07-515:1971 알루미늄-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • NF X21-013*NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 EPMA(전자탐침 미세분석) 파장 분산 분광법을 이용한 원소 매핑 분석 방법
  • NF A07-500:1979 알루미늄 및 그 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A06-012*NF EN 14242:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법
  • NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • NF X21-002:2007 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내입니다.
  • NF ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자마이크로프로브 분석(캐스트 마이크로프로브) 파장분산분광법을 이용한 원소 매핑 분석법
  • NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF A07-520:1971 알루미늄-실리콘 및 알루미늄-실리콘-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
  • NF A07-830:1973 전기도금용 아연 방출 분광법 분석을 위한 기술 사양
  • NF A01-811:1975 아연 주괴 스펙트럼 분석을 위한 샘플 준비 및 선택
  • NF ISO 4735:2002 감귤 에센셜 오일의 UV 분광법을 통한 CD 값 측정

British Standards Institution (BSI), 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • BS EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • BS EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광법 분석 가이드
  • PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
  • BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
  • BS EN 12019:1998 아연 및 아연 합금 - 광 방출 분광학 분석
  • PD ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석
  • BS ISO 11505:2012 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광학, 정량적 조성 깊이 분석을 위한 일반 절차
  • BS EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방사 분광학 분석
  • BS EN 62129-1:2016 파장 교정/광 주파수 측정 장비, 스펙트럼 분석기
  • BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
  • BS ISO 16962:2017 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
  • BS ISO 19264-1:2021 사진 보관 시스템 이미징 시스템 품질 분석 반사 원본
  • 22/30444828 DC BS EN 14242 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 - 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
  • PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
  • BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
  • PD IEC/TR 62010:2016 분석시스템 유지관리
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • BS ISO 20498-2:2017 한의학 컴퓨터 혀 영상 분석 시스템 조명 환경
  • BS ISO 24417:2022 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 철 기반 기판의 금속 나노층 표면 화학 분석

Professional Standard - Electron, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • SJ 2656-1986 텅스텐의 스펙트럼 분석 방법
  • SJ 2657-1986 몰리브덴의 스펙트럼 분석 방법
  • SJ/Z 3206.10-1989 방출 스펙트럼의 정성 분석을 위한 일반 원칙
  • SJ/Z 3206.11-1989 방출 스펙트럼의 정량적 분석을 위한 일반 원칙
  • SJ/Z 1544-1979 니켈-텅스텐-마그네슘 합금의 스펙트럼 분석 방법
  • SJ/Z 3206.7-1989 분광 분석을 위한 표준 시료 준비에 대한 일반 규칙
  • SJ/Z 3206.1-1989 방출 분광학 실험실에 대한 일반 요구 사항
  • SJ/Z 3206.3-1989 방출 스펙트럼 분석용 기기 및 성능 요구 사항
  • SJ/Z 3206.8-1989 방출 분광학 분석을 위한 샘플링 및 준비 방법에 대한 일반 원칙
  • SJ/Z 3206.12-1989 전기진공 물질 방출 분광법 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • SJ/Z 3206.13-1989 반도체 재료의 방출 스펙트럼 분석 방법에 대한 일반 원리

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • YS/T 82-2006 분광 분석용 백금 매트릭스
  • YS/T 83-2006 분광 분석을 위한 팔라듐 매트릭스
  • YS/T 84-2006 분광 분석용 이리듐 매트릭스
  • YS/T 85-2006 분광 분석용 로듐 매트릭스
  • YS/T 82-1994 분광 분석용 백금 매트릭스
  • YS/T 83-1994 분광 분석을 위한 팔라듐 매트릭스
  • YS/T 84-1994 분광 분석용 이리듐 매트릭스
  • YS/T 85-1994 분광 분석용 로듐 매트릭스
  • YS/T 631-2007 아연 분석 방법 광전자 방출 분광법
  • YS/T 558-2009 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 559-2009 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 558-2006 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 559-2006 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 464-2003 구리 음극의 직독 분광 분석 방법
  • YS/T 482-2005 구리 및 구리 합금 분석 방법 광전 방출 분광법
  • YS/T 361-2006 순수 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 362-2006 순수 팔라듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 363-2006 순수 로듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 364-2006 순수 이리듐의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 361-1994 순수 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 362-1994 순수 팔라듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 363-1994 순수 로듐의 불순물 원소에 대한 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 364-1994 순수 이리듐의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 1036-2015 마그네슘 희토류 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • YS/T 365-2006 고순도 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석
  • YS/T 365-1994 고순도 백금의 불순물 원소의 방출 스펙트럼 분석

International Electrotechnical Commission (IEC), 스펙트럼 분석 분석 시스템

Danish Standards Foundation, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • DS/EN 62129/Corr. 1:2007 스펙트럼 분석기 교정
  • DS/EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • DS/EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석을 위한 스파크 광학 방출 분광법 가이드
  • DS/EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광학 분석
  • DS/CEN/TR 10354:2012 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 Si 및 Al 측정
  • DS/ISO 19264-1:2021 사진 "보관 시스템" 이미징 시스템 품질 분석 "1부: 반사 원본"
  • DS/EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 스펙트럼 분석 분석 시스템

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 스펙트럼 분석 분석 시스템

工业和信息化部, 스펙트럼 분석 분석 시스템

IN-BIS, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • IS 7658-1975 알루미늄의 스펙트럼 분석 방법
  • IS 2271-1967 백금 분광 분석을 위한 권장 방법
  • IS 11035-1984 알루미늄 합금 가공을 위한 스펙트럼 분석 방법
  • IS 8858-1978 순은 잉곳(등급 9999 및 999)에 대한 스펙트럼 분석 방법

CEN - European Committee for Standardization, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • EN 14726:2019 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석 안내

Professional Standard - Education, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • JY/T 0571-2020 형광 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0566-2020 원자 형광 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0573-2020 레이저 라만 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 002-1996 레이저 라만 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 0572-2020 원형 이색성 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0565-2020 전열 원자 흡수 분광 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • JY/T 0570-2020 자외선 및 가시광선 흡수 분광법의 분석 방법에 대한 일반 규칙

American Society for Testing and Materials (ASTM), 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • ASTM D8340-20a 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM D8340-20 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM D8340-22 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM C791-83(2000) 핵 등급 탄화붕소의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D8340-21 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 기반 인증을 위한 표준 사례
  • ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
  • ASTM E718-80 총알 황동의 스펙트럼 분석 방법
  • ASTM C696-11 핵 등급 이산화우라늄 분말 및 펠렛의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E168-92 적외선분광학의 일반원리 정량분석 기술
  • ASTM E1097-97 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E10-08 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E10-15 DC 전류 플라즈마 방출 분광 분석 방법
  • ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM F1375-92(2005) 가스 분배 시스템 부품의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광 분석 시험 방법
  • ASTM E2105-00(2016) 열중량 분석(TGA) 및 적외선 분광 분석(TGA/IR)에 대한 일반 기술 표준 실습
  • ASTM E716-94(2002) 분광화학 분석을 위한 알루미늄 및 알루미늄 합금 샘플링
  • ASTM E716-16(2021)e2 분광화학 분석을 위한 알루미늄 및 알루미늄 합금 샘플링
  • ASTM C809-94(2000) 핵 등급 알루미나 및 알루미나-탄화붕소 복합 펠렛의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM E1835-14 화염원자흡광분광법을 이용한 니켈합금 분석의 표준시험방법

International Organization for Standardization (ISO), 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • ISO 3815:1976 아연 및 아연 합금의 스펙트럼 분석
  • ISO 13321:1996 입자 크기 분석 상관 광자 분광학
  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
  • ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
  • ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 - 글로우 방전 방출 분광법을 통한 금속 산화물 필름 분석
  • ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
  • ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
  • ISO 16962:2017 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
  • ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
  • ISO/TS 25138:2010 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
  • ISO 16962:2005 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
  • ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
  • ISO 24417:2022 표면 화학 분석 글로우 방전 광방출 분광법을 이용한 철 기반 기판의 금속 나노층 분석
  • ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
  • ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
  • ISO 3816:1976 아연 잉곳의 스펙트럼 분석을 위한 시료 선택 및 준비
  • ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.

Standard Association of Australia （SAA）, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • AS 4549.1:1999 입자 크기 분석. 광자 상관 분광학
  • AS 2347:1998 아연 및 아연 합금. 화학 분석 및 분광화학 분석을 위한 샘플링
  • AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • GB/T 19627-2005 입자 크기 분석 광자 상관 분광법
  • GB/T 25481-2010 온라인 UV/가시광선 분광계
  • GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
  • GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • GB/T 16599-1996 몰리브덴의 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 16600-1996 텅스텐 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 6040-2002 적외선 분광학 분석 방법에 대한 일반 규칙
  • GB/T 15337-1994 원자 흡수 분광법의 일반 원리
  • GB/T 15337-2008 원자 흡수 분광법의 일반 원리
  • GB/T 29858-2013 분자 분광학의 다변량 교정 및 정량 분석의 일반 원리
  • GB/T 5678-2013 주조 합금의 스펙트럼 분석을 위한 샘플링 방법
  • GB/T 32199-2015 적외선분광법 정성분석기술의 일반원리
  • GB/T 32198-2015 적외선분광학의 일반원리 정량분석 기술
  • GB/T 14203-1993 철강 및 합금의 광전 방출 분광학 분석에 대한 일반 규칙
  • GB/T 26042-2010 아연 및 아연 합금 분석 방법 광전 방출 분광법
  • GB/T 29559-2013 표면 화학 분석 글로우 방전 원자 방출 분광법 아연 및/또는 알루미늄 기반 합금 코팅 분석
  • GB/T 7999-2000 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전(측광) 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
  • GB/T 7999-2015 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 7999-2007 알루미늄 및 알루미늄 합금의 광전 직접 판독 방출 스펙트럼 분석 방법
  • GB/T 14203-2016 스파크 방전 원자 방출 분광법의 일반 원리

German Institute for Standardization, 스펙트럼 분석 분석 시스템

  • DIN ISO 13321:2004 입자 크기 분석 상관 광자 분광법
  • DIN 51008-1:2004 광학 방출 분광학 분석(OES) 스파크 및 저전압 방전 시스템 용어
  • DIN 51008-2:2001 광학 방출 분광법(OES) 분석 2부: 화염 및 플라즈마 시스템 용어
  • DIN 51009:2013-11 광학 원자 분광학의 원리와 정의
  • DIN 51009:2013 원자 분광 분석 원리 및 정의
  • DIN EN 62129:2007 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129-2006)
  • DIN 51009:2001 원자 분광 분석 원리 및 정의
  • DIN EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 발광 분광 분석에 대한 지침 독일어 버전 EN 14726-2005
  • DIN EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
  • DIN 66160:2017-02 분산 시스템 분석 어휘
  • DIN 51008-1 Bb.1:2004 광학 방출 분광법(OES) 분석 1부: 스파크 및 저전압 방전 시스템 용어 해석
  • DIN EN 14242:2023-04 알루미늄 및 알루미늄 합금-화학 분석-유도 결합 플라즈마 방출 분광학 분석
  • DIN EN 14242:2023 알루미늄 및 알루미늄 합금. 화학 분석. 유도 결합 플라즈마 방출 분광학 분석
  • DIN 51820-1:1989 윤활유 검사 적외선 분광법을 이용한 그리스 분석 3부: 적외선 스펙트럼 사진 촬영 및 분석
  • DIN ISO 11505:2018-02 표면 화학 분석을 위한 일반 절차 글로우 방전 방출 분광법을 통한 정량적 조성 깊이 분석
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  • SN/T 3914-2014 광물 적외선 분광학 분석에 대한 일반 규칙
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