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DE실리콘의 분광화학적 분석
모두 500항목의 실리콘의 분광화학적 분석와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 실리콘의 분광화학적 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비철금속, 검은 금속, 분석 화학, 내화물, 금속 재료 테스트, 원자력공학, 어휘, 합금철, 금속 광석, 비금속 광물, 유리, 화학 제품, 건축 자재, 입자 크기 분석, 스크리닝, 절단 도구, 전기 장치, 무기화학, 광학 및 광학 측정, 절연유체, 환경 보호, 세라믹, 전자 디스플레이 장치, 금속 부식.
PL-PKN, 실리콘의 분광화학적 분석
European Committee for Standardization (CEN), 실리콘의 분광화학적 분석
RU-GOST R, 실리콘의 분광화학적 분석
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 실리콘의 분광화학적 분석
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘의 분광화학적 분석
British Standards Institution (BSI), 실리콘의 분광화학적 분석
- BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
- BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
- BS ISO 17560:2002 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
- BS ISO 17560:2014 표면 화학 분석 재생 이온 질량 분석법 실리콘 내 붕소의 심층 프로파일링 분석
- BS EN 14726:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광법 분석 가이드
- BS DD ISO/TS 25138:2011 표면 화학 분석 글로우 방전 방출 분광법을 이용한 금속 산화막 분석
- BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
- PD ISO/TS 25138:2019 표면 화학 분석 금속 산화막의 글로우 방전 방출 분광 분석
- BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
- PD ISO/TS 15338:2020 표면화학분석 글로우방전 질량분석법 분석 운용과정
- BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
- BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링
- BS EN 14242:2004 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방사 분광학 분석
- BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
- BS PD ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 화학 정보 도출
- BS ISO 14707:2015 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
- BS ISO 14707:2000 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광법, 사용 소개
- BS EN 12441-11:2006 아연 및 아연 합금 화학적 분석 아연 합금의 실리콘 측정 분광광도법
- BS ISO 18115-1:2010 표면 화학 분석, 용어집, 일반 용어 및 분광학 용어
- BS ISO 18115-1:2013 표면 화학 분석, 용어집, 일반 용어 및 분광학 용어
- BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
- BS EN 12019:1998 아연 및 아연 합금 - 광 방출 분광학 분석
- BS ISO 9286:2021 연마 입자 및 원유 탄화 규소의 화학적 분석
- BS ISO 11505:2012 표면 화학 분석, 글로우 방전 방출 분광학, 정량적 조성 깊이 분석을 위한 일반 절차
- BS ISO 16962:2017 표면 화학 분석 글로우 방전 광학 방출 분광법을 이용한 아연 및/또는 알루미늄 기반 금속 코팅 분석
- BS ISO 14706:2000 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 14706:2014 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- BS ISO 14706:2001 표면 화학 분석 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염 물질 측정
- 22/30444828 DC BS EN 14242 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 - 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광 분석
- BS ISO 14707:2021 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법(GD-OES) 사용 소개
- BS ISO 18516:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 가로 해상도 결정
Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘의 분광화학적 분석
Association Francaise de Normalisation, 실리콘의 분광화학적 분석
- NF A06-590:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금 화학 분석 플래시 광 방출 분광 분석 안내
- FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
- NF A08-341:1987 강철의 화학적 분석, 규소 함량 측정, 화염 원자 흡수 분광법
- NF A10-504:1986 크롬과 실리콘의 화학적 분석, 인 함량 측정, 분광광도법
- NF A10-104:1986 페로실리콘의 화학적 분석, 인 함량 측정, 분광광도법
- NF A10-186:1977 합금철의 화학적 분석, 규소철 합금에서 알루미늄 측정, 원자 흡수 분광법
- NF A07-520:1971 알루미늄-실리콘 및 알루미늄-실리콘-구리 합금의 방출 스펙트럼 분석
- NF A06-713:1970 구리 및 구리 합금의 화학적 분석 - 실리콘의 분광광도 측정
- NF A10-304:1986 실리콘-망간 합금의 화학적 분석, 인 함량 측정, 분광광도법
- NF A06-012*NF EN 14242:2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법
- NF X21-051*NF ISO 17560:2006 표면 화학 분석 실리콘 내 붕소의 재생 이온 질량 분광 측정 딥 프로파일링 방법
- NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
- NF A06-713:2021 구리 및 그 합금의 화학적 분석 실리콘 결정 분자 흡수 분광 광도법
- NF B49-418:1970 내화물, 실리콘 재료, 실리카 재료 및 점토 재료의 화학적 분석, 리튬, 칼륨 및 나트륨 함량 측정(불꽃 분광법)
- NF ISO 17560:2006 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 두께 분석을 통한 실리콘 내 붕소 함량 결정
- NF X11-672:1996 입자 크기 분석 상관 광학 양자 분광법
- NF A07-822:1954 주석의 다이캐스팅 분광학 측정을 위한 아연 합금의 화학적 분석
- NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
- NF ISO 14707:2006 표면 화학 분석을 위한 글로우 방전 방출 분광법 사용 소개
- NF A06-840:1998 아연 및 아연 합금 광학 방출 분광 분석
- NF A22-400:1977 망간 광석의 화학적 분석 원자 흡수 분광법을 통한 알루미나, 석회 및 산화마그네슘 측정
- NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
- NF E75-236*NF ISO 9286:2021 연마 입자 및 조질 탄화규소의 화학적 분석
- NF X21-069-1:2010 표면 화학 분석 용어집 1부: 일반 용어 및 분광학 용어
- FD A06-325*FD CEN/TR 10353:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법을 통한 Al, Ti 및 P 측정
- NF X21-061:2008 표면 화학 분석나선형 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 해상도 결정
Professional Standard - Electron, 실리콘의 분광화학적 분석
International Organization for Standardization (ISO), 실리콘의 분광화학적 분석
Standard Association of Australia （SAA）, 실리콘의 분광화학적 분석
Danish Standards Foundation, 실리콘의 분광화학적 분석
American Society for Testing and Materials (ASTM), 실리콘의 분광화학적 분석
- ASTM C791-83(2000) 핵 등급 탄화붕소의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C791-04 핵 등급 탄화붕소의 화학적, 질량 분광학적, 분광화학적 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C791-11 핵등급 탄화붕소의 화학 질량 분석 및 분광화학적 화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C791-19 핵 등급 탄화붕소의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C761-18 육불화우라늄의 화학적 질량 분광화학 핵 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM E716-94(2002) 분광화학 분석을 위한 알루미늄 및 알루미늄 합금 샘플링
- ASTM E716-16(2021)e2 분광화학 분석을 위한 알루미늄 및 알루미늄 합금 샘플링
- ASTM C791-12 핵 등급 탄화붕소의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C809-94(2000) 핵 등급 알루미나 및 알루미나-탄화붕소 복합 펠렛의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C760-90(1996) 핵등급 은-인듐-카드뮴 합금의 화학 및 분광화학적 분석 방법
- ASTM C760-90(2002) 핵등급 은-인듐-카드뮴 합금의 화학 및 분광화학적 분석 방법
- ASTM C760-90(2007) 핵등급 은-인듐-카드뮴 합금의 화학 및 분광화학적 분석 방법
- ASTM C758-04(2010) 핵 등급 플루토늄 금속의 화학, 질량 분석, 분광 화학, 핵 및 방사 화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C758-18 핵 등급 플루토늄 금속의 화학, 질량 분석, 분광 화학, 핵 및 방사 화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C761-04 육불화우라늄의 화학, 질량분석, 분광화학, 핵(방사성) 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C761-04e1 육불화우라늄의 화학, 질량분석, 분광화학, 핵(방사성) 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C761-11 육불화우라늄의 화학, 질량분석, 분광화학, 핵(방사성) 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C698-04 핵 등급 혼합 산화물(UO2, PuO2)의 화학적, 질량 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C759-18 핵 등급 질산플루토늄 용액의 화학, 질량 분광화학, 분광화학, 핵 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C760-90(2020) 핵등급 은-카드뮴 합금의 화학 및 분광화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C696-11 핵 등급 이산화우라늄 분말 및 펠렛의 화학 분석, 질량 분석 및 분광 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C759-10 핵 등급 질산플루토늄 용액의 화학, 질량 분석 및 분광화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C698-98 핵 등급 혼합 산화물 [(U,Pu)O2]의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM E360-96 실리콘 및 페로실리콘의 화학적 분석을 위한 표준시험방법
- ASTM C697-98 핵 등급 이산화플루토늄 분말 및 펠릿의 화학, 질량 분석 및 분광화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C696-99(2005) 핵 등급 이산화우라늄 분말 및 펠렛의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C696-99 핵 등급 이산화우라늄 분말 및 펠렛의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C696-19 핵 등급 이산화우라늄 분말 및 펠렛의 화학, 질량 분광 분석 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C758-04 핵 등급 플루토늄 금속의 화학, 질량 분석, 분광화학, 핵(방사성) 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C758-98 핵 등급 플루토늄 금속의 화학, 질량 분석, 분광화학, 핵(방사성) 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C697-16 핵 등급 이산화플루토늄 분말 및 펠렛의 화학 질량 분광 측정 및 분광 화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C799-19 핵등급 질산우라늄 용액의 화학 질량 분광학 핵 및 방사화학 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM C760-90 핵 등급 은인듐 카드뮴 합금의 화학 및 분광화학적 분석을 위한 표준 테스트 방법
- ASTM E406-81(1996) 분광화학 분석에서 제어된 대기 사용에 대한 표준 관행
CZ-CSN, 실리콘의 분광화학적 분석
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 실리콘의 분광화학적 분석
Lithuanian Standards Office , 실리콘의 분광화학적 분석
BR-ABNT, 실리콘의 분광화학적 분석
Professional Standard - Aviation, 실리콘의 분광화학적 분석
CEN - European Committee for Standardization, 실리콘의 분광화학적 분석
Professional Standard - Rare Earth, 실리콘의 분광화학적 분석
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 실리콘의 분광화학적 분석
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 실리콘의 분광화학적 분석
- YS/T 981.3-2014 고순도 인듐의 화학적 분석 방법 실리콘 함량 측정 실리콘 몰리브덴 블루 분광 광도법
- YS/T 281.3-1994 코발트 화학 분석 방법 몰리브덴 블루 분광광도법으로 실리콘 함량 측정
- YS/T 226.5-2009 셀레늄의 화학적 분석 방법 5부: 실리콘 함량 측정 실리콘-몰리브덴 청색 분광광도법
- YS/T 568.3-2008 산화지르코늄 및 산화하프늄에 대한 화학적 분석 방법 실리콘 함량 측정 몰리브덴 블루 분광광도법
- YS/T 535.3-2006 불화나트륨의 화학적 분석 방법 몰리브덴 블루 광도법을 통한 실리콘 함량 측정
- YS/T 38.1-1992 고순도 갈륨 화학 분석 방법 몰리브덴 블루 분광 광도법으로 실리콘 함량 측정
- YS/T 520.7-2006 갈륨 화학 분석 방법 몰리브덴 청색 광도법 실리콘 함량 결정
- YS/T 37.2-2007 고순도 이산화게르마늄의 화학적 분석 방법 몰리브덴 블루 분광 광도법을 이용한 실리콘 함량 측정.
- YS/T 37.2-1992 고순도 이산화게르마늄의 화학적 분석 방법 몰리브덴 블루 분광 광도법을 이용한 실리콘 함량 측정.
- YS/T 555.2-2009 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법 실리카 함량 측정 실리콘-몰리브덴 블루 분광광도법 및 중량법
- YS/T 360.5-2011 일메나이트 정광의 화학적 분석 방법 5부: 실리카 함량 측정 실리콘-몰리브덴 청색 분광광도법
- YS/T 710.5-2009 산화코발트의 화학적 분석 방법 5부: 실리콘 함량 측정 몰리브덴 블루 분광광도법
- YS/T 990.10-2014 매트의 화학적 분석 방법 10부: 실리카 함량 측정 실리콘 몰리브덴 청색 분광광도법 및 불화규산칼륨 적정
- YS/T 426.5-2000 안티몬 및 베릴륨 펠렛의 화학적 분석 방법 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법을 통한 실리콘 함량 측정.
- YS/T 535.3-2009 불화나트륨의 화학적 분석 방법 3부: 실리콘 함량 측정 몰리브덴 청색 분광광도법
- YS/T 281.3-2011 코발트의 화학적 분석 방법 3부: 실리콘 함량 측정 몰리브덴 블루 분광광도법
- YS/T 536.7-2009 비스무트의 화학적 분석 방법 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 536.11-2009 비스무트의 화학적 분석 방법 수은 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 569.9-2015 탈륨의 화학적 분석 방법 9부: 실리콘 함량 측정 실리콘 몰리브덴 블루 이소아밀 알코올 추출 분광광도법
- YS/T 227.11-2010 텔루르의 화학적 분석 방법 11부: 실리콘 함량 n-부탄올 추출 실리콘 몰리브덴 블루 분광광도법 측정
- YS/T 38.2-1992 고순도 갈륨 화학 분석 방법 망간, 마그네슘, 크롬 및 아연의 화학 분광 측정
- YS/T 38.3-1992 고순도 갈륨 화학 분석 방법 납, 니켈, 주석 및 구리의 화학 분광 측정
- YS/T 520.12-2006 갈륨 화학 분석 방법 납, 구리, 니켈, 알루미늄, 인듐 및 아연의 화학 분광 측정
- YS/T 574.3-2009 전기 진공용 지르코늄 분말의 화학적 분석 방법 몰리브덴 블루 분광 광도법을 이용한 실리콘 함량 측정
- YS/T 534.3-2006 수산화알루미늄의 화학적 분석 방법 몰리브덴 블루 광도법을 이용한 실리카 함량 측정
- YS/T 540.6-2006 바나듐의 화학적 분석 방법 n-부탄올 추출 광도법에 의한 실리콘 함량 측정.
- YS/T 710.4-2009 산화코발트의 화학적 분석 방법 4부: 비소 함량 측정 원자 형광 분광법
- YS/T 461.5-2003 혼합 납-아연 정광의 화학적 분석 방법 실리카 함량 측정 몰리브덴 청색 분광광도법
- YS/T 38.1-2009 고순도 갈륨의 화학적 분석 방법 1부: 실리콘 함량 측정 몰리브덴 블루 분광광도법
- YS/T 575.3-2006 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법: 몰리브덴 블루 광도법을 통한 실리카 함량 측정
- YS/T 555.4-2009 몰리브덴 정광의 화학적 분석 방법, 주석 함량 측정, 원자 형광 분광법
- YS/T 35.3-1992 고순도 안티몬의 화학적 분석방법 및 발광분광법을 이용한 비스무트 함량 측정
- YS/T 422.4-2000 탄화크롬의 화학적 분석 방법 실리콘 함량 측정
- YS/T 240.3-2007 비스무스 정광의 화학적 분석 방법 실리카 함량 측정 몰리브덴 블루 분광광도법 및 중량법
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘의 분광화학적 분석
U.S. Air Force, 실리콘의 분광화학적 분석
AENOR, 실리콘의 분광화학적 분석
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘의 분광화학적 분석
RO-ASRO, 실리콘의 분광화학적 분석
HU-MSZT, 실리콘의 분광화학적 분석
CU-NC, 실리콘의 분광화학적 분석
German Institute for Standardization, 실리콘의 분광화학적 분석
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 실리콘의 분광화학적 분석
Professional Standard - Chemical Industry, 실리콘의 분광화학적 분석
- HG/T 6227-2023 Analysis method of chemical composition of catalytic cracking catalyst X-ray fluorescence spectrometry
- HG/T 6150-2023 윤활유 수소화 이성화 촉매 X선 형광 분광법의 화학 조성 분석 방법
工业和信息化部, 실리콘의 분광화학적 분석
KR-KS, 실리콘의 분광화학적 분석
IN-BIS, 실리콘의 분광화학적 분석
AR-IRAM, 실리콘의 분광화학적 분석
TR-TSE, 실리콘의 분광화학적 분석
Professional Standard - Machinery, 실리콘의 분광화학적 분석
机械电子工业部, 실리콘의 분광화학적 분석
ZA-SANS, 실리콘의 분광화학적 분석
Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘의 분광화학적 분석
YU-JUS, 실리콘의 분광화학적 분석
VN-TCVN, 실리콘의 분광화학적 분석
未注明发布机构, 실리콘의 분광화학적 분석
ES-UNE, 실리콘의 분광화학적 분석
IT-UNI, 실리콘의 분광화학적 분석
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 실리콘의 분광화학적 분석