光谱化学分析硅
本专题涉及光谱化学分析硅的标准有19条。
国际标准分类中，光谱化学分析硅涉及到有色金属、分析化学、金属矿、黑色金属、耐火材料。
在中国标准分类中，光谱化学分析硅涉及到轻金属及其合金分析方法、基础标准与通用方法、重金属矿、基础标准与通用方法、化学、硅质耐火材料。
国家质检总局，关于光谱化学分析硅的标准
- GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法
- GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
- GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分：元素含量的测定.X射线荧光光谱法
未注明发布机构，关于光谱化学分析硅的标准
- GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
英国标准学会，关于光谱化学分析硅的标准
- BS ISO 17560-2014 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
- BS ISO 17560-2002 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
国际标准化组织，关于光谱化学分析硅的标准
- ISO 17560-2014 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
- ISO 14706:2014 表面化学分析 - 通过全反射X射线荧光（TXRF）光谱测定硅晶片上的表面元素污染
- ISO 17560-2002 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
行业标准-商品检验，关于光谱化学分析硅的标准
- SN/T 2763.7-2014 红土镍矿化学分析方法 第7部分;铁、镍、硅、铝、镁、钙、钛、锰、铜和磷含量的测定 波长色散X荧光光谱法
行业标准-有色金属，关于光谱化学分析硅的标准
- YS/T 820.19-2012 红土镍矿化学分析方法.第19部分：铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅量的测定.能量色散X射线荧光光谱法
欧洲标准化委员会，关于光谱化学分析硅的标准
- PD CEN/TR 10354-2011 黑色金属材料的化学分析 硅铁的分析 X射线荧光光谱法测定硅和铝
日本工业标准调查会，关于光谱化学分析硅的标准
- JIS K0164-2010 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深压型用方法
法国标准化协会，关于光谱化学分析硅的标准
- NF X21-051-2006 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
- NF B49-418-1970 耐火材料化学分析.硅材料.硅土材料和粘土材料.锂、钾、钠含量测定.(火焰光谱法)
韩国标准，关于光谱化学分析硅的标准
- KS D ISO 14706-2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
- KS D ISO 14706-2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
- KS D ISO 17560-2003 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
- KS D ISO 17560-2003 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
