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반도체 테스트

모두 44항목의 반도체 테스트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전자 장비용 기계 부품, 기술 도면, 반도체 개별 장치, 어휘, 반도체 소재, 무기화학, 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치.


German Institute for Standardization, 반도체 테스트

  • DIN EN 60191-6-16:2007 반도체 장치의 기계적 표준 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA 유형에 대한 반도체 테스트 용어 및 번인 소켓 용어집
  • DIN 50441-5:2001 반도체 기술 테스트 반도체 웨이퍼의 기하학적 치수 결정 5부: 모양 및 평탄도 편차에 대한 용어
  • DIN 50441-1:1996 반도체 공정 재료 테스트 반도체 웨이퍼 기하학적 치수 측정 1부: 두께 및 두께 변화
  • DIN 50441-2:1998 반도체 공정 재료 테스트 반도체 칩의 기하학적 치수 측정 2부: 각도 단면 테스트
  • DIN 50453-3:2001 반도체 기술 테스트 에칭 혼합물 에칭 속도 결정 3부: 알루미늄 중량법
  • DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정
  • DIN EN 60749-38:2008 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 38부: 메모리가 있는 반도체 장치에 대한 소프트 오류 테스트 방법

HU-MSZT, 반도체 테스트

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 반도체 테스트

  • EN 60191-6-16:2007 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA에 대한 반도체 테스트 용어 및 번인 소켓 용어집
  • EN 60749-38:2008 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 38부: 메모리가 있는 반도체 장치에 대한 소프트 오류 테스트 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 테스트

  • IEC 60191-6-16:2007 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA에 대한 반도체 테스트 용어 및 번인 소켓 용어집
  • IEC 60700:1981 고전압 직류 전송용 반도체 진공관 테스트
  • IEC 60749-38:2008 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 38부: 메모리가 있는 반도체 장치에 대한 소프트 오류 테스트 방법
  • IEC 60749:2002 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법
  • IEC 60749:1996 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법
  • IEC 60749:1984 반도체 장치 - 기계 및 기후 테스트 방법

Association Francaise de Normalisation, 반도체 테스트

  • NF C96-013-6-16*NF EN 60191-6-16:2013 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA에 대한 반도체 테스트 및 고온 가속 노화 소켓 테스트 용어집
  • NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 38부: 메모리가 있는 반도체 장치에 대한 소프트 오류 테스트

Defense Logistics Agency, 반도체 테스트

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 반도체 테스트

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 반도체 테스트

KR-KS, 반도체 테스트

未注明发布机构, 반도체 테스트

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 테스트

Professional Standard - Electron, 반도체 테스트

  • SJ 20079-1992 금속 산화물 반도체 가스 센서 테스트 방법
  • SJ/Z 9016-1987 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법

CZ-CSN, 반도체 테스트

RU-GOST R, 반도체 테스트

YU-JUS, 반도체 테스트

British Standards Institution (BSI), 반도체 테스트

  • BS EN 60749-38:2008 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 메모리가 있는 반도체 장치의 소프트 오류 테스트 방법
  • BS EN 62416:2010 반도체 장치 MOS(금속 산화물 반도체) 트랜지스터의 핫 캐리어 테스트
  • BS EN 60749:1999 반도체 장치 - 기계 및 기후 테스트 방법

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 반도체 테스트

  • IEEE 857-1990 고전압 DC 반도체 Thyratron 밸브용 테스트 가이드
  • IEEE 857-1996 고전압 DC 반도체 사이라트론 밸브에 권장되는 테스트 절차

Group Standards of the People's Republic of China, 반도체 테스트

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