ZH
EN
JP
ES
RU
DE

반도체 장치 고온 테스트

모두 44항목의 반도체 장치 고온 테스트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 장치 고온 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 반도체 소재, 전자 장비용 기계 부품.

British Standards Institution (BSI), 반도체 장치 고온 테스트

• BS EN 60749-6:2002 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 높은 온도에서의 보관
• BS EN 60749-23:2004 반도체 장치, 기계 및 기후 테스트 방법, 고온 작동 수명
• BS EN 60749-23:2004+A1:2011 반도체 장치, 기계 및 기후 테스트 방법, 고온 수명
• BS IEC 60747-14-5:2010 반도체 장치 반도체 센서 PN 접합 반도체 온도 센서
• BS EN 60749-6:2017 반도체 장치 고온 보관에 대한 기계적 및 기후적 테스트 방법
• BS EN 60749-25:2003 반도체 장치, 기계 및 기후 테스트 방법, 온도 사이클링
• BS EN 60749-38:2008 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 메모리가 있는 반도체 장치의 소프트 오류 테스트 방법

Danish Standards Foundation, 반도체 장치 고온 테스트

• DS/EN 60749-6/Corr.1:2004 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 6부: 고온 보관
• DS/EN 60749-6:2003 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 6부: 고온 보관
• DS/EN 60749-23/A1:2011 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 23부: 고온 작동 수명
• DS/EN 60749-23:2004 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 23부: 고온 작동 수명

Association Francaise de Normalisation, 반도체 장치 고온 테스트

• NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 6부: 고온 보관
• NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 반도체 장치 - 기계 및 기후 테스트 방법 - 파트 23: 고온 작동 수명.
• NF C96-013-6-16*NF EN 60191-6-16:2013 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA에 대한 반도체 테스트 및 고온 가속 노화 소켓 테스트 용어집
• NF EN 60749-6:2017 반도체 장치 - 기계 및 기후 테스트 방법 - 6부: 고온 보관

AENOR, 반도체 장치 고온 테스트

• UNE-EN 60749-6:2003 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 6부: 고온 보관
• UNE-EN 60749-23:2005 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 23부: 고온 작동 수명
• UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 23부: 고온 작동 수명

German Institute for Standardization, 반도체 장치 고온 테스트

• DIN EN 60749-6:2003 반도체 장치 기계적 및 기후 테스트 방법 6부: 고온 보관
• DIN EN 60749-6:2017-11 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 6부: 고온 보관

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 반도체 장치 고온 테스트

• KS C IEC 60749-6:2004 반도체 장치 기계적 및 기후 테스트 방법 6부: 높은 온도에서의 보관
• KS C IEC 60749-23:2006 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• KS C IEC 60749-23:2021 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• KS C IEC 60749-23-2006(2016) 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 - 파트 23: 고온 작동 수명
• KS C IEC 60749-6:2020 반도체 장치 - 기계 및 기후 테스트 방법 - 파트 6: 고온 보관

International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 장치 고온 테스트

• IEC 60749-6:2002 반도체 장치 기계적 및 기후 테스트 방법 6부: 높은 온도에서의 보관
• IEC 60749-6:2002/COR1:2003 반도체 장치 기계적 및 기후 테스트 방법 6부: 높은 온도에서의 보관
• IEC 60749-6:2017 반도체 장치 기계적 및 기후 테스트 방법 6부: 높은 온도에서의 보관
• IEC 60747-14-5:2010 반도체 장치 파트 14-5: 반도체 센서 PN 접합 반도체 온도 센서
• IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• IEC 60749-23:2004 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• IEC 60749-23:2011 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온에서의 작동 수명

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 반도체 장치 고온 테스트

• EN 60749-6:2017 반도체 장치 기계적 및 기후 테스트 방법 6부: 높은 온도에서의 보관

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 장치 고온 테스트

• GB/T 4937.23-2023 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 23부: 고온 작동 수명

KR-KS, 반도체 장치 고온 테스트

• KS C IEC 60749-23-2021 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• KS C IEC 60749-6-2020 반도체 장치 - 기계 및 기후 테스트 방법 - 파트 6: 고온 보관

Group Standards of the People's Republic of China, 반도체 장치 고온 테스트

• T/IAWBS 009-2019 전력반도체 소자의 정상상태 습열 고전압 바이어스 테스트

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 반도체 장치 고온 테스트

• GJB 128-1986 반도체 개별 장치 테스트 방법
• GJB 128B-2021 반도체 개별 장치 테스트 방법

未注明发布机构, 반도체 장치 고온 테스트

• GJB 128A-1997 반도체 개별 장치 테스트 방법

RU-GOST R, 반도체 장치 고온 테스트

• GOST 28578-1990 반도체 장치, 기계 및 기후 테스트

Defense Logistics Agency, 반도체 장치 고온 테스트

• DLA MIL-STD-750 E-2006 반도체 장치의 표준 테스트 방법

기타:   항공우주 반도체 장치에 대한 중이온 단일 사건 효과 테스트 가이드, 반도체 장치, 미세 전자기계 장비의 인장 시험용 박막 표준 시험편, 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 6부, 반도체 고온 보관 테스트, 반도체 장치 고온, 고온 반도체 장치, 고온의 반도체 장치, 고온 반도체 장치, 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법, 반도체 소자의 기계적 및 기후적 테스트 방법 5부, 반도체 장치 고온 테스트, 반도체 개별 장치 테스트 방법.